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Fターム[2G059HH05]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 使用波長 (9,065) | その他の電磁波(X線、マイクロ波など) (77)

Fターム[2G059HH05]に分類される特許

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【課題】外光の影響を抑えて、雨滴検出の精度を向上させた画像処理システム及びそれを備えた車両を提供する。
【解決手段】フロントガラス105の内壁面105a側からフロントガラス105に向けて光を照射する光源202と、フロントガラス105の外壁面105bに付着した雨滴203などの異物によって反射された光源202からの光、及び、外壁面105b側からフロントガラス105を透過した光を撮像する撮像装置201と、撮像装置201で撮像された撮像画像データを解析する画像解析ユニット102と、を備え、撮像装置201は、有効撮像領域の所定領域に入射した光の分光情報を取得するためのカラーセンサを有し、画像解析ユニット102は、前記分光情報に光源202からの光の波長情報が含まれているか否かを判定することにより、撮像画像データからフロントガラス105に付着した雨滴203などの異物を検出する。 (もっと読む)


【課題】イメージング画像を簡易な装置構成で高速に取得することができ、透過方式および反射方式のいずれにも適用できるテラヘルツ波イメージング装置を提供する。
【解決手段】サンプル5にテラヘルツ波101を照射する照射手段10と、複数のマイクロミラー7を有し、マイクロミラー7のそれぞれがサンプル5からのテラヘルツ波103を反射するマイクロミラーアレイ6と、単一の受光素子から構成され、マイクロミラーアレイ6からのテラヘルツ波105を検出して電気信号に変換する検出手段20と、電気信号を処理して、サンプル5のイメージング画像を得る画像処理部72と、複数のマイクロミラー7を制御する制御部71を備える。複数のマイクロミラー7は、それぞれの傾斜角度が独立して制御可能である。制御部71は、傾斜角度を変えるマイクロミラー7を特定するための走査アドレス情報71aを保持し、マイクロミラー7のそれぞれの傾斜角度を変える。 (もっと読む)


【課題】フォトニック結晶のような周期構造部を有する装置を用いて、電磁波の周波数や装置構成を調節することが可能な測定装置を提供し、被測定物の測定を高感度に再現性良く行うこと。
【解決手段】平板状の周期的構造体11,12のギャップ部2に被測定物を保持し、上記周期的構造体を透過した電磁波を検出し、上記周期的構造体で分散した電磁波の周波数特性もしくは位相特性が上記被測定物の存在により変化することに基づいて被測定物の特性を測定する測定装置であって、上記周期的構造体は、平板形状の高屈折率層11a,12aと平板状の低屈折率層11b,12bとが交互に積層されてなることにより複素誘電率が周期的に変化する第1周期構造部11および第2周期構造部12が、被測定物を配置するためのギャップ部を介して平行に配置されている。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ電磁波の検出または発生が効率良く行われ、S/N比を向上させることができる光伝導基板およびこれを用いた電磁波発生検出装置を提供する。
【解決手段】基板3と、基板3上に積層された半導体積層群5と、を備え、半導体積層群5は、第1化合物半導体層51と、第1化合物半導体層51上に、第1化合物半導体層51と屈折率が異なると共に励起光の表面反射を低減できる層厚で成長させた第2化合物半導体層52と、を有している。 (もっと読む)


【課題】キャリア寿命を短縮(制御)することで、テラヘルツ電磁波の発生または検出を効率良く行うことのできる光伝導基板およびこれを用いた電磁波発生検出装置を提供する。
【解決手段】本発明の電磁波発生検出装置1は、基板3と、基板3上に成長させたバッファ層4と、バッファ層4上に成長させた半導体層5と、を備え、半導体層5は、光電効果が生じる領域内に転位を有した光伝導基板2を備え、半導体層5上に形成されたアンテナ6を備えている。 (もっと読む)


【課題】 反射電子像と光学像とを同時に取得することができる電子線分析装置の提供。
【解決手段】 試料表面上の分析位置に所定方向から電子線を照射する電子線源20と、試料表面上の分析位置で反射した反射電子による信号を検出する反射電子検出器40と、試料表面上の分析位置を含む領域に前記所定方向から可視光を照射する落射光用光源部60と、試料表面上の分析位置を含む領域から前記所定方向と逆方向に反射した可視光が入射して、試料表面上の分析位置を含む領域の光学像を取得する画像取得部51b、71と、試料表面上の一次元又は二次元範囲内で分析位置を走査させることにより、反射電子検出器40で信号を収集し、信号の強度に基づいて試料表面上の一次元又は二次元範囲の反射電子像を取得する制御部51とを備える電子線分析装置1であって、落射光用光源部60は、赤色領域の光を出射しないものとする。 (もっと読む)


【課題】散乱体が一定の波長分布の電磁波を受けた際の立体的な散乱分布から、その散乱体の物性を測定する散乱体物性測定装置を提供する。
【解決手段】試料載置台に測定すべき散乱体を置き、該電磁波を前記焦点を中心とする仮想球面の、一以上の任意の方向、及び、一以上の連続する方向の、少なくともいずれかの方向から前記散乱体に照射し、その際に該散乱体で散乱されて前記放物面鏡または放物面スクリーンに反射または投影された散乱波を 平面的な撮像データとして前記撮像手段で撮像し、こうして得られた撮像データから、該散乱体から発生する散乱波の立体的な分布を得て、その結果から該散乱体の物性を測定する場合に、前記散乱波を前記散乱体を中心とする仮想球面の中心軸を含む断面上の円弧の3π/4ラジアンより小さい範囲内に渡って撮像する。 (もっと読む)


【課題】 半導体露光装置の光学系に用いるレンズ、窓材、プリズムなどの真空紫外光を透過させて使用するフッ化カルシウムなどのフッ化金属単結晶のレーザー耐久性を、短時間且つ簡単で高精度に評価する。
【解決手段】 エックス線又はガンマ線照射の照射によりフッ化金属単結晶に色中心を生成させ、該照射前後の光透過率の変化によりレーザー耐久性を評価する方法において、エックス線又はガンマ線照射後の光透過率の測定前に、紫外線及び/又は真空紫外線照射を行なうことで、短時間に変化する色中心を除去し、残ったほとんど変化がない色中心だけを測定する。これにより測定誤差を大幅に低減することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】ショットキー接合部に光照射してテラヘルツ波を発生または検出するタイプの、テラヘルツ波発生効率及び検出効率を向上させた光素子を提供する。
【解決手段】光素子は、光のフォトンエネルギーよりも大きいエネルギーバンドギャップを持つ半導体層2と、半導体層2と電気的に接触した複数の電極3を備える。電極3のうち少なくとも1つは、半導体層2との間に光6のフォトンエネルギー以下の障壁高さを持つショットキー接合を形成する。ショットキー接合を形成する電極3と半導体層2との接合面の少なくとも一部は、電極3の形成されていない半導体層2の面側から光3が照射される光照射面を含み、且つ光3の照射により発生または検出するテラヘルツ波7と結合する結合構造体の構成部分となっている。 (もっと読む)


テラヘルツ周波数レンジの放射線を使用してサンプルを分析する装置が提供される。装置は、電磁THz信号を生成するTHz信号発生器5、6、7;51を含む送信器3を有し、前記THz信号発生器は、非線形伝送線路7;52を有する。装置は更に、THz信号を表面プラズモンポラリトンに変換するように構成される表面プラズモンポラリトン生成ユニット8を有する。送信器3及び表面プラズモンポラリトン生成ユニット8は、1つの共通基板に又は2つの別個の基板に組み込まれる。
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【課題】外乱が大きく、光強度が大幅に低下した場合であっても、対象物の成分及び濃度の特定を精度良く行うこと。
【解決手段】複数の波長の光に対して、試料が存在しない場合の基準光強度I0、及び試料を透過した透過光強度I1を計測し、I1/I0 を波長に対して微分した後、その自然対数をとった数値と、I1/I0 の自然対数をとった数値との差に基づいて、試料成分の特定及び定量を行う。 (もっと読む)


【課題】本発明は、プラスチック製ボトルの壁部、特にボトル肩部および/またはボトル首部の近傍の一部分の質量および/または質量比率を決定する方法、および、本発明に係る方法を使用するための装置に関する。
【解決手段】側壁5の相対質量分布がボトル2の側壁5を透過する光の分布から計算されるという事実に起因して、側壁5の質量から決定されるべき壁部3の質量比率を、絶対質量値の計算をしなくても質量分布に基づいて誤差を殆ど伴うことなく決定することができる。 (もっと読む)


【課題】外部光源の放射スペクトルを測定する分光光度計において、外部光を導入するための専用の導入開口及び光軸を切り換えるための光軸切換機構を必要としない分光光度計を提供する。
【解決手段】内部光源を交換可能な分光光度計において、内部光源を取り外した後、図示しない光源位置決め部品に着脱可能な、外部ミラー5及び内部ミラー6により構成される外部光導入光学装置4が装着されることを特徴とする。また、外部ミラー5に、その鏡面を外部光源の方向に向けるための光軸調整軸7を備えさせることにより、外部光源を専用の保持機構に取り付けることなく、設置状態のままで測定することができる。 (もっと読む)


試料中の分析物の存在を検出するためのセンサ検定の方法が提供される。方法の態様は、試料および近接標識を含む検定組成物と接触する近接センサなどのセンサを設けることを含む。次に、近接標識と分析物とに結合するように構成された捕獲プローブが、標識化分析物を生成するために検定組成物中に導入される。捕獲プローブの導入後に、センサから試料中の標識化分析物の存在を検出するための信号が獲得される。また、手持ち式装置を含むセンサ装置と、本発明の方法を実施するのに利用できるキットも提供される。
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【課題】 印刷インキ等による特定波長の吸収や透過又は基材や貼付物による分子振動等に由来する特定波長の吸収に影響されずに真偽を判別するシート類の判別方法及び判別装置を提供する。
【解決手段】 シート類に中赤外線乃至遠赤外線の領域である波長2〜15μmの範囲の電磁波を照射して、照射された電磁波のエネルギのうち、シート類を透過するエネルギ及びシート類に吸収されたエネルギがシート類の裏面から放射されたエネルギを、受光素子で指定の角度で検知し、検知したエネルギを、あらかじめ測定しておいた各シート類のエネルギの基準値と照合することで、シート類の材質と材料の状態を認識して判別することを特徴とするシート類の判別方法。 (もっと読む)


【課題】計測対象である動物のX線CTによる画像データと、この動物の蛍光トモグラフィによる画像データとを重ね合わせることを可能にして、正確な判断を行うことができる計測装置を提供することを課題とする。
【解決手段】計測装置10は、計測対象の検体を保持した検体ホルダ64を移動させる移動ステージ11と、移動ステージ11上の計測対象物を計測するX線CTユニット8と、移動ステージ11上の計測対象物を計測する蛍光トモグラフィユニット6と、を備えている。検体ホルダ64は、光の等方散乱が生じる光学特性を有する材質によって形成されている。 (もっと読む)


【課題】従来から用いられる載置台に載置された試料を加熱する方法では、複数の発熱体を使用することで、温度に斑が生じたり、載置台の回転によって生じる風、特に乱流によって試料の温度にばらつきが生じる恐れがあった。
【解決手段】本件発明では、複数個の試料を円形に載置可能で、その円の中心を中心として回転する載置台と、載置台の下に空間を隔てないで前記回転の軌跡に沿った円環状の円環状発熱体と、載置台と円環状発熱体とを収納して内部を一定雰囲気に保つチャンバと、チャンバに設けられる分光測定用ガラス窓と、前記測定のための分光測定部と、を有する分光測定装置を提供する。これにより、載置台に載置された複数の試料を均一に加熱することが可能となり、正確な分光測定を行うことが可能となる。 (もっと読む)


【課題】 気体を供給する部位から供給された気体を効率良く分析する。
【解決手段】 気体を捕獲する捕獲膜3(例えば、多孔質性のポリマーなど。)を含み、該捕獲膜3に捕獲された気体(例えば、人体から発生した皮膚ガス。)と前記発生部8から発生したテラヘルツ波もしくは赤外光とが相互作用するように該捕獲膜3を配置可能な捕獲部(捕獲膜3と捕集容器2とで構成される部材。)を備える。前記捕獲部は、前記気体を供給する部位1(例えば、腕や手などの人体。)に接触可能な構造体(捕集容器2)を含む。そして、前記構造体2は、前記捕獲膜と前記部位1とを非接触状態として維持するように設けられる。 (もっと読む)


【課題】本発明はX線分光装置に関し、広い波長範囲でX線の分光を再現性よく得ることができるX線分光装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 試料11から発生した特性X線13を受ける互いにほぼ90°の角度で配置された2つの分光素子1,2と、該2つの分光素子からの分散光を同時に受けて電気信号に変換する位置敏感検出器15と、該位置敏感検出器の出力を記憶するメモリと、該メモリに記憶されたデータを読み出して所定の画像処理を行なう画像処理部と、該画像処理部の出力を受けて分光情報を表示する表示部と、を有して構成される。 (もっと読む)


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