【課題】
光プローブ部との接続端面における汚れを検出できるようにした画像診断装置及びその処理方法を提供する。
【解決手段】
画像診断装置は、プローブ部と接続される接続部を有し、光源からの光を接続部を介してプローブ部における送受信部に伝送し、送受信部により外部から受信された反射光を接続部を介して受光部に伝送するアダプタ装置と、光源からの光の射出を制御し、受光部により受光された反射光に基づいて断層画像を生成する信号処理手段とを具備する。ここで、信号処理手段は、光源から光を射出させることにより取得された反射光に基づく光強度データを算出し、当該算出した光強度データと、接続部の接続端面に汚れがない状態時の光強度データである基準データとの比較に基づいて接続端面に汚れがあるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】乾燥等の特定の処理を行い測定対象成分の量が減少又は消失している試料から、上記変化前の測定対象成分の量を高精度に推定することのできる含有成分量推定方法、及び該方法を実行するためのプログラムを提供すること。
【解決手段】予め測定対象成分の含有量の把握されている原試料に対し、該測定対象成分の一部又は全部を消失させるための処理を行なった後に、当該消失処理後の原試料について光スペクトルを測定して採取し、この光スペクトルのデータに基づいて説明変数を設定し、消失処理前の測定対象成分の量を目的変数として回帰式を設定し、上記消失処理と同一の処理を施した測定対象原試料の光スペクトルのデータに基づいて、上記回帰式を検量線として測定対象原試料の前記測定対象成分の量を推定算出する。 （もっと読む）

【課題】モードロックレーザを用い高速で波長を掃引しても高コヒーレンス性を保つ光源を用いて光断層画像表示システムの分解能、および深達度を向上させること。
【解決手段】波長走査型レーザ光源１０に一対の回折格子３２，３３を対向して配置し、これを分散素子として用いる。この分散素子に半導体光増幅器３５を接続し、モードロック信号発生部３８よりクロック信号を与えて光信号を増幅する。このクロック信号のクロック周波数を変化させることによってクロック周波数に応じて発振波長を走査することで、高速で波長を可変でき、この光源を用いることで光断層画像表示システムの分解能、および深達度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】眼部を撮影した光干渉断層画像において、異なる複数の構造が現れる場合であっても、層境界の種類を特定する際の誤りを減らす。
【解決手段】特徴取得部１０６は各位置のＳｏｂｅｌ画像のプロファイルから層境界の位置を示す特徴領域を取得する。テンプレート選択部１０７は、プロファイルから取得された特徴領域の数に応じてそのプロファイルに対応するテンプレート情報を選択する。層境界特定部１０８は、テンプレートを各プロファイルに適用して断層画像から層構造を特定する。 （もっと読む）

【課題】半導体のような試料の表面特性を測定するためのシステムに関し、自己較正機能を備えたエリプソメータを提供する。
【解決手段】照会用放射ビーム１１を試料２０に照射する前および後に、前記ビームの偏光を変調するために２つの位相変調器または偏光要素が用いられる。試料からの変調放射が検出され、検出された信号から解析器２６までの高調波が導出する。解析器２６までの高調波は、固定偏光要素、円形減衰補償、偏光要素の偏光解消および位相変調器のリターダンスなどのエリプソメトリックパラメータおよびシステムパラメータを導出するために用い得る。自己較正エリプソメータならびに組合わせシステムは、膜厚および試料により引き起こされた放射の偏光解消さなどの試料特性を測定するために用い得る。 （もっと読む）

【課題】被検査物である被検眼の複数箇所の断層画像の撮像が、簡単な操作で行える光断層画像撮像装置を提供する。
【解決手段】干渉信号の強度により被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、
前記被検眼に注視させるための固視灯の点灯位置を、第一の観察部位に対する点灯位置から第二の観察部位に対する点灯位置に移動制御する点灯位置制御手段と、
固視灯の点灯位置の移動距離に基づいて、参照光路の光路長を第二の観察部位に対応した光路長に調整するため、参照光路の光路長を調整する参照光路調整手段を制御する光路長制御手段と、を有する。 （もっと読む）

【課題】少なくとも裏側に高濃度ドープ層を有するシリコンウエハの厚さを測定する装置を提供する。
【解決手段】装置３４は，複数波長のコーヒレントな光を放射する光源２を有する。また，本装置は，シリコンウエハと非接触に配置され，シリコンウエハの少なくとも一部を複数波長のコーヒレントな光によって照射し，シリコンウエハからの反射光の少なくとも一部を受光する測定ヘッド３を含む。さらに，本装置は，分光器５，ビームスプリッター，及び評価装置６を含む。評価装置は，シリコンウエハからの反射光を，光コーヒレンストモグラフィー法により分析することで，シリコンウエハの厚さを測定する。コーヒレントな光は，中央波長Ｗ_Ｃを有する帯域幅ｂの複数波長で放射される。シリコンウエハの高濃度ドープ層の光吸収率を最少とする波長は，帯域幅ｂ内に存在する範囲である。 （もっと読む）

【課題】試料及び試薬の浪費を低減することができる自動分析装置を提供する。
【解決手段】試料と試薬の混合液を収容する反応容器３と、反応容器３に光を照射する光源７１と、光源７１を格納するランプハウス８２と、ランプハウス８２に配置された光源７１から照射される光を検出する第２の光検出器８０とを備え、第２の光検出器８０により検出された検出信号に基づいて、光源７１が点灯している間、光源７１の状態を監視する。 （もっと読む）

【課題】 所望の波長範囲で、安定的に発振可能で且つ高速に波長掃引可能な光源装置を提供する。
【解決手段】 発振波長を連続的に変化可能な波長掃引光源装置であって、共振器内に、光を増幅させる光増幅媒体と、該光増幅媒体より放出される光を波長に応じて分散させる第一の手段と、第一の手段により分散した波長の異なる光束同士を平行化させる非集光光学素子で構成された第二の手段と、第二の手段により平行化した光束から所定波長の光束を選択する選択手段と、を備え、前記選択手段により選択された前記所定波長の光束を前記光増幅媒体に帰還させる波長掃引光源装置。 （もっと読む）

【課題】 被検体と非接触で被検体の立体形状を測定することができるコモンパス型の測定システムを提供することを目的とする。
【解決手段】 測定システム（１００Ａ）は測定ビーム（Ｌ１）と測定ビームに対して基準となる基準ビーム（Ｌ２）とを出射する光源部１１と、被検物体に隣接して配置され、基準ビームを反射させ測定ビームを被検物体へ透過させる平板状の参照素子（１３）と、被検物体で反射された測定ビームと参照素子で反射された基準ビームとが干渉した干渉ビームを各波長に分光する分光素子（２０）と、分光素子で分光された各波長を検出する検出部（２４）と、光源部から被検物体および分光素子を介して検出部に至る測定ビームの光路長と、光源部から参照素子および分光素子を介して検出部に至る基準ビームの光路長とを揃える迂回路を有する測定光学系（１２）を備える。 （もっと読む）

【課題】光量変化を保ちながら気泡・ごみの影響を低減するデータ処理方法。
【解決手段】前方方向に２つの散乱光受光器を配置し、光軸に近い側の受光器３３ａを主角度受光器とし、光軸から遠い側の受光器３３ｂを副角度受光器とする。副角度受光器の反応過程データからノイズを推定し、推定したノイズを主角度受光器の反応過程データから差引くことによりノイズを低減する。 （もっと読む）

【課題】計測対象物の色情報及び付加価値情報を全幅で取得することが可能な画像特性計測方法、画像特性計測装置、画像評価装置、及び画像形成装置を提供する。
【解決手段】画像担持媒体及び前記画像担持媒体上の画像の所定の領域に、可視域の光及び可視域外の光を含む照射光を照射する光照射工程と、前記所定の領域からの拡散反射を、複数の領域に分割する領域分割工程と、分割された各領域の前記拡散反射光を、前記可視域及び前記可視域外で分光する分光工程と、前記可視域で分光された前記拡散反射光を可視光受光領域で受光し、前記可視域外で分光された前記拡散反射光を可視外光受光領域で受光する受光工程と、を有し、前記可視域の前記拡散反射光の受光強度により、前記各領域の色を計測し、前記受光工程で受光した前記可視域外の前記拡散反射光の受光強度により、前記各領域の透明を呈する色材の状態を計測する。 （もっと読む）

【課題】標本中の分子のテラヘルツ振動を利用して標本のイメージングを行うレーザ顕微鏡装置において、特定の分子振動に注目し、かつ高速にイメージングできるレーザ顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】２つの異なる周波数を有するパルスレーザ光を導光する２つの光路６，７と、２つの光路６，７を導光されてきたパルスレーザ光を合波するレーザコンバイナ８と、レーザコンバイナ８により合波されたパルスレーザ光を標本Ｓ上で走査するスキャナ１２と、標本Ｓからの光を検出する光検出器１６と、２つの光路６，７の一方に設けられ、一方の光路を導光されてきたパルスレーザ光を、標本Ｓ内の特定の分子振動の周波数と同じ周波数で繰返されるパルス列に変換するパルス列変換装置３０とを備えるレーザ顕微鏡装置１を採用する。 （もっと読む）

【課題】
キセノンフラッシュランプを用いた分光光度計において、過去の蓄積データとの照合が可能な分光光度計、及びその性能測定方法を提供する。
【解決手段】
通常は、キセノンフラッシュランプ１からの光束２を用い、凹面鏡３を介して分光器４で任意の波長に分光し、試料５を透過した光束を光検知器６で検出することで、分光分析を行う。性能測定を行うときは、キセノンフラッシュランプ１と分光器４との間の光束２上に低圧水銀ランプ９を配置し、シャッター機構を構成する遮光板１１を作動して遮光及び透過させて光強度を検出することで、低圧水銀ランプ９の輝線スペクトルを用いた「波長正確さ」または「分解」の測定を行う。 （もっと読む）

【課題】フローセル本体の形成と同時に光案内部材をフローセル本体内部に形成する。
【解決手段】フローセルのフローセル本体２０は、二つの端部間に延びる光案内部材２８と、二つの端部にそれぞれ近接して配置された二つの端部インターフェース４０とを備える。光案内部材２８は、流体を受ける貫通穴３０を画成する。各端部インターフェース４０は、光伝送部材（光ファイバ）および流体伝導部材（毛管）を有するインターフェースハウジング４２を備える。二つの端部インターフェース４０は、二つの端部クランプ止め部材１２によって、フローセル本体２０の二つの端部に締結される。各端部インターフェース４０は各端部と整合する。流体伝導部材は貫通穴３０と流体連通する。光伝送部材は貫通穴３０と光連通する。 （もっと読む）

【課題】フィールドヘッドおよびフィールドヘッドのコントローラを備える光学機器のシステムを提案する。
【解決手段】フィールドヘッドの測定プリズム境界面に接触する媒質の屈折率または屈折率から導出可能な数量を測定するように構成され、広帯域光を提供する第１の導波手段と、上記測定プリズムの上記境界面から反射された少なくとも１つの成分光線を第２の導波手段に集める集光器とを備え、上記散乱要素は、少なくとも１つの成分光線を上記境界面からの全反射臨界角に向け、少なくとも１つの別の成分光線を、上記集光器に繋がる角度に向けるように構成され、上記集光器は、少なくとも１つの別の成分光線を集めて、到達した成分光線の分光解析を行うように構成された分光計に渡すように構成される。 （もっと読む）

【課題】操作性のよいクロマトグラフィー定量測定方法を提供する。
【解決手段】被検査溶液を展開する展開層と、展開層の一部に被検査溶液中の測定対象物に対する試薬を固定化することにより形成された試薬固定化部と、展開層の他の一部に被検査溶液の展開により溶出可能な標識試薬を保持することにより形成された標識試薬保持部と、展開層から試薬固定化部、及び標識試薬保持部を除いた部分である生地部とを備えたクロマトグラフィー試験片に、光源から出射された光ビームを照射し、クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して光学的な信号検出を行い、信号から定量的に被検査溶液中に含まれる分析対象物の濃度を測定するクロマトグラフィー定量測定方法において、クロマトグラフィー試験片に被検査溶液を添加し、被検査溶液添加後の展開速度を検出し、展開速度からクロマトグラフィー試験片の性能の良否を判定するようにする。 （もっと読む）

【課題】光コヒーレンストモグラフィ（以下「ＯＣＴ」という。）手法を用いて紙葉類の断面構造情報を検出する。
【解決手段】搬送機構部２０にセットされた検出対象である紙葉類１０に対し、ＯＣＴ信号検出部３０から低干渉性（コヒーレンス）光を照射し、紙葉類１０からの反射光を受光して、参照光との間で得られる干渉光の強さを検出する（ＯＣＴ生信号の検出）。得られたＯＣＴ生信号は、データ処理および判定部５０へ与えられて、データ処理および判定処理として、「反射率の深さ方向のプロファイル算出処理」（Ｓ１）、「反射率の深さ方向プロファイル解析処理」（Ｓ２）および「判定処理」（Ｓ３）が行われる。 （もっと読む）

【課題】上水、各種排水、地下水、河川水、土壌溶出水などの環境水中に含まれる微量Seを、簡便、迅速に目視蛍光分析し、その試料を高精度で定量するために持ち帰ることができる分析器具およびそれを用いる環境水中の微量Seの目視蛍光分析法および二段分析方法を提供する。
【解決手段】シクロデキストリン等の包摂化合物を固定化した基板又は粒子等の吸着担体を用い、目視蛍光分析する器具および方法であって、環境水中の被検体を蛍光誘導体化（Ｓｅ−ＤＡＮ又はＣｒ−ＤＡＮ）してこれを選択的に取り出し、固体相上の包摂化合物に吸着させて蛍光被検体を励起し、目視的に一次蛍光分析できるようにしたもので、この担体上の蛍光被検体はアルコール等の有機溶媒で抽出することができ、有機溶媒中の蛍光被検体を蛍光分析計を用いて高精度二次分析を行い、環境水中の微量Seを二段分析できる。 （もっと読む）