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Fターム[2G059JJ13]の内容

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【課題】流路構造の工夫により試料の位置分布拡がりを低減しつつ、感度を向上させたフローセルを提供する。
【解決手段】測定光が通過する第一の筒状流路104と第二の筒状流路105を備える。第一の筒状流路及び第二の筒状流路は入射光軸に垂直な断面積が一定又は入射光の進行方向へ連続的に増加している形状であり、第一の筒状流路の光出射端における断面積が第二の筒状流路の光入射端における断面積以下である。第一の筒状流路には流体導入部106から試料が導入され、第二の筒状流路を通った試料は流体排出部107から排出される。好ましくは、流体排出部の流路断面積が流体導入部の流路断面積より大きく、フローセル本体101が紫外から赤外の波長域の光の反射を防止する材質で作製されている。 (もっと読む)


【課題】撮影する被写体の断層画像を被写体の基準面から深さ方向に容易に調整することができる光干渉断層画像生成装置及び光干渉断層画像生成方法を提供すること。
【解決手段】光干渉断層画像生成装置(1)は、レーザ光を照射する光源11と、レーザ光を被写体(S)に照射する計測光と参照ミラー21に照射する参照光に分配する光分割器(12)と、被写体(S)の内部で散乱して戻って来た散乱光を受光するプローブ(30)と、参照ミラー21から反射して戻って来た反射光と散乱光とを合成させて干渉光を生成する光合波器(16)と、を有し、干渉光を解析して光干渉断層画像を生成する。レーザ光は、可干渉距離が10mm以上である高コヒーレント光である。プローブ(30)は、計測光を被写体(S)に集光させる集光レンズ34と、集光レンズ34と被写体(S)との距離を調整して集光点を調整する集光点調整機構35と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】光学的手法を用いて被処理基板の構造をより高精度に評価することができるプロセスモニター装置を提供する。
【解決手段】プロセスモニター装置11は、光を出射する光源部と、光の強度を検知可能な光検知部と、光源部から出射された光をウェハWまで導き、ウェハWから反射した反射波を光検知部まで導く第一光経路21と、第一光経路21と同等の光伝搬特性を有するように構成され、光源部から出射された光を、ウェハWを経由することなく光検知部まで導く第二光経路と、第二光経路を通して光検知部により検知された光の強度情報に基づいて、第一光経路21を通して光検知部により検知された光の強度情報を補正し、ウェハWの構造を解析するコントローラ17とを備える。 (もっと読む)


【課題】 経過観察に適した断層像の撮影を容易に行うことが可能な光干渉断層撮影技術を提供すること。
【解決手段】 光干渉断層撮影装置は光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、参照光を参照光路に導き、参照光と被検眼からの戻り光とを干渉させた干渉光を出力する撮影光学系と、撮影光学系から出力された干渉光に基づき、被検眼の断層像を生成する生成部と、撮影光学系を構成する部材を駆動するための駆動部と、生成部によって生成された2つの断層像の画像情報の差分が所定の範囲以内になるように駆動部を制御する制御部とを備える。 (もっと読む)


【課題】撮影後に撮影の成否確認が行えるようにする。
【解決手段】走査光学系を介して被測定物体に照射された光の戻り光と参照光とを干渉させた干渉光に基づいて被測定物体の複数の断層画像を生成する生成部301と、複数の断層画像の少なくともいずれかに対して画質を向上させる画像処理をする画像処理部304と、生成部301で生成した断層画像のいずれかを表示した後に画像処理部304で画像処理した画像をモニタ320に表示する表示制御部310と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 調整時間が不要に長くなることを防ぐ
【解決手段】 本発明に係る眼科システムは、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した合波光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼の眼底の合焦位置を変更する合焦位置変更手段と、
前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、
前記光路長差が所定の範囲になるように前記光路長差変更手段を制御した後に、前記合焦位置変更手段への変更指示を受け付ける制御手段と、を有する。 (もっと読む)


【課題】センサー種類、構造によらず、測定前のセンサー表面をリフレッシュでき、かつ化学物質検出に影響を与え難い化学物質検出装置、及び化学物質検出装置と組み合わせて使用するクリーニング装置を提供する。
【解決手段】化学物質検出素子1と、化学物質検出素子を収納し、室内を減圧可能なセル2と、セルに気体試料を供給する気体供給流路12と、気体吸引口11とセル2の間の気体移動を遮断する弁13と、セルから気体試料を排出する気体排出流路21と、セルや気体流路内を減圧するための真空ポンプ23と、セルに気体試料を供給するための気体吸引手段24を設ける。 (もっと読む)


【課題】 撮影条件を好適に調整し、眼底断層像を取得する。
【解決手段】 光源から出射された光束を測定光と参照光に分割し、眼底から反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する干渉光学系と、測定光を眼底上で走査させる光スキャナと、光路長を調整するために配置された光学部材を駆動させる駆動手段と、を備え、検出器からの出力信号に基づいて眼の断層画像を撮像する眼底撮影装置において、駆動手段を制御して光学部材を移動させると共に、光学部材の各位置にて検出器から出力される出力信号に基づいて,眼底断層像が取得される位置に光学部材を移動させる第1光路長調整手段と、第1光路長調整手段によって調整された位置から光学部材の位置を再調整する第2光路長調整手段と、第1光路長調整手段と第2光路長調整手段の間に干渉光学系を調整する光学調整手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】加算平均処理を行うために、同一領域において複数枚の画像を撮像する場合に、画質の良い断層像を得るためには、より多くの枚数の断層像を取得する必要があり、撮像に時間がかる。
【解決手段】測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて該被検眼の断層画像を取得する眼科撮像装置であって、測定光を被検眼上で走査する走査部と、走査部の被検眼上の走査位置に応じて走査部の走査回数を制御する制御部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】検者による確認時間を短くして、診断の効率を向上させること。
【解決手段】測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した合波光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する眼科装置を有する眼科システムであって、前記複数の断層画像をそれぞれ連続的に表示する際、該複数の断層画像の表示枚数に基づいて断層画像の表示時間を変更する。 (もっと読む)


【課題】培地の劣化の程度を客観的に判定することができる培養細胞観察用顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】照明手段は培地に照明光を照射する。検出手段は前記照明手段からの前記照明光に基づく前記培地の透過光または前記照明光に基づく前記培地からの反射光を検出する。算出手段は前記検出手段により検出された前記透過光または前記反射光に基づいて、複数の波長帯域の光についての前記培地の透過光強度または前記培地からの反射光強度の比を算出する。 (もっと読む)


【課題】 往復走査における画像のずれを軽減し、良好な眼画像を得る。
【解決手段】 光源から発せられた少なくとも一部の光を測定光として被検眼上で走査させる光走査手段と、その反射光を含む光を受光する受光手段と、を有し、被検眼の所定部位の眼画像を撮像するための撮像光学系と、光走査手段の駆動を制御し、被検眼上で測定光を所定方向に関して往復走査させ、往復走査中に受光手段から出力される出力信号から所定の走査領域に対応する受光信号を取得して眼画像を形成する制御手段と、受光信号が受光手段から出力される際の往路走査と復路走査での時間的なずれを考慮した受光信号の信号取得条件を記憶する記憶手段と、制御手段は、記憶手段によって記憶された信号取得条件を用いて所定の走査領域に対応する受光信号を得て、眼画像を形成する。 (もっと読む)


【課題】 反射電子像と光学像とを同時に取得することができる電子線分析装置の提供。
【解決手段】 試料表面上の分析位置に所定方向から電子線を照射する電子線源20と、試料表面上の分析位置で反射した反射電子による信号を検出する反射電子検出器40と、試料表面上の分析位置を含む領域に前記所定方向から可視光を照射する落射光用光源部60と、試料表面上の分析位置を含む領域から前記所定方向と逆方向に反射した可視光が入射して、試料表面上の分析位置を含む領域の光学像を取得する画像取得部51b、71と、試料表面上の一次元又は二次元範囲内で分析位置を走査させることにより、反射電子検出器40で信号を収集し、信号の強度に基づいて試料表面上の一次元又は二次元範囲の反射電子像を取得する制御部51とを備える電子線分析装置1であって、落射光用光源部60は、赤色領域の光を出射しないものとする。 (もっと読む)


【課題】被写体の所望の断層画像を高速に取得すること。
【解決手段】OCT装置(光干渉断層画像生成装置)1のOCT制御装置100は、レーザ光に同期してガルバノミラー33を制御することで撮影を行うと共にディテクタ23の検出信号を変換したデータから被写体のOCT画像(光干渉断層画像)を生成する制御を行うものであって、被写体の内部情報を測定するためにガルバノミラー33にサンプルSの撮影対象範囲を所定ピッチで走査させる測定指示の入力を受け付けたと判別したときに撮影を開始し、所定ピッチに応じた撮影時間で撮影を終了する第1撮影制御手段141と、ガルバノミラー33に撮影対象範囲を前記所定ピッチよりも粗いピッチで走査させるプレビュー指示の入力を受け付けたと判別したときに撮影を開始し、プレビュー指示を解除する指示として前記測定指示の入力を受け付けたと判別したときに撮影を終了する第2撮影制御手段142とを備える。 (もっと読む)


【課題】 光干渉断層診断装置において、光プローブ部内の光学ミラー部の回転速度に関する誤操作を起こりにくくし、且つ、操作性に優れたスキャンを行うことを可能にする。
【解決手段】 光干渉断層診断装置は、ラジアルスキャンを指示するスイッチの操作を検出すると、光プローブの先端の光学ミラー部を1800rpmの速度で回転駆動し、その速度で血管断層像の測定と表示を行う。また、9600rpmでの回転駆動を指示するプルバックスイッチは、そのスイッチ操作が行われる時点で既に1800rpmで光学ミラー部が回転している場合に限って、有効と判断される。 (もっと読む)


【課題】レーザの進行方向に垂直な面内での強度分布のばらつきを抑え、対象面を一様にかつ十分明るく照明することのできるレーザ照明装置を実現する。
【解決手段】レーザ光源からのレーザ6の光路に設置された、光拡散状態を変動可能な少なくとも1つの光拡散手段3と、少なくとも1つの光拡大抑制手段100とを有し、光拡散手段3は、光をランダムに拡散ないしは散乱する手段であり、光拡大抑制手段100は、拡散ないしは散乱されたことによりその光束径が拡大し位相が乱され全体の直進性が失われたレーザ光を、位相は乱れたままで直進性のみを回復させる手段であり、レーザ光源からのレーザ光6を光拡散手段3を通過させ、光拡大抑制手段から拡散されかつ拡大しない光6−2として、出射させて、対象を照射する光を生成するレーザ照明装置。 (もっと読む)


【課題】基板に形成された凹部の深度を、非破壊、非接触で検査できるとともに、高速に検査できるようにする技術を提供する。
【解決手段】基板検査装置100は、ポンプ光の照射に応じて、基板Wに向けてテラヘルツ波を照射する照射部12と、プローブ光の照射に応じて、基板Wを透過したテラヘルツ波の電場強度を検出する検出部13と、テラヘルツ波が検出部13に到達する時間と、検出部13における検出タイミングを遅延させる遅延部14とを備える。また、基板検査装置100は、基板Wの第1領域を透過した第1テラヘルツ波の時間波形を構築する時間波形構築部21と、基板Wの第2領域を透過した第2テラヘルツ波について、特定の検出タイミングで検出される電場強度と、前記時間波形とを比較することにより、第1テラヘルツ波と第2テラヘルツ波の位相差を取得する位相差取得部24とを備える。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波発生素子及びテラヘルツ波検出素子が一体に設けられた内部全反射プリズムにおいて、被測定物の加熱・冷却に伴う影響を抑制できるテラヘルツ波分光計測装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るテラヘルツ波分光計測装置では、内部全反射プリズム31は、全反射面31cを含む第1のプリズム部分31fと、テラヘルツ波発生素子32及びテラヘルツ波検出素子33が一体に固定される本体部分31gと、を有し、第1のプリズム部分31fと本体部分31gとの嵌合部分に断熱材31hが介在している。これにより、被測定物34を加熱・冷却する際の温度変化が、第1のプリズム部分31fから本体部分31gに伝わり難くなっている。従って、テラヘルツ波発生素子32及びテラヘルツ波検出素子33に温度変化が過剰に伝わることを防止できる。 (もっと読む)


【課題】薄膜の物性を非破壊かつ高精度で測定することができる物性測定装置及び物性測定方法を提供する。
【解決手段】薄膜の物性を測定する装置において、レーザ発生源と、薄膜を励起する励起手段と、レーザ発生源が発生するレーザの偏光方向を制御する制御手段と、該制御手段により制御されたレーザを受光することによりp偏光およびs偏光のテラヘルツ波を発生し、励起手段により励起にされた薄膜にテラヘルツ波を照射する照射手段と、照射手段によりテラヘルツ波が照射された薄膜で反射したp偏光及びs偏光のテラヘルツ波を検出する検出手段と、検出手段により検出されたp偏光及びs偏光のテラヘルツ波夫々の振幅及び位相スペクトルを測定する測定手段と、測定手段が測定した振幅及び位相スペクトルに基づいて、検出手段により検出されたp偏光及びs偏光のテラヘルツ波の振幅比及び位相差を測定する手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】対象標本の現象に即して、対象標本画像を高精度で解析できる画像処理装置を提供する。
【解決手段】染色標本の染色に使用される色素のスペクトルを記憶する色素のスペクトル記憶部233と、記憶された色素のスペクトルに基づいて、当該色素のスペクトルの波長方向の鮮鋭または緩慢な変化を表す変化特性を算出する変化特性算出部2501と、記憶された色素のスペクトルと算出された変化特性とに基づいて、染色標本画像の各画素の画素値から色素量および変化特性に基づく変化量を推定する色素量・変化量推定部2503とを有し、少なくとも変化量に基づいて染色標本画像を解析する演算部250と、を備える。 (もっと読む)


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