【課題】 発振スペクトル線幅の狭小化と、波長掃引範囲の広帯域化と、を同時に達成し得る光源装置を提供する。
【解決手段】 光を増幅させる光利得媒体と屈折率の波長分散を有する光導波路とを含んで構成される光共振器と、該光共振器内における光の強度を変調する光変調器と、を備え、該光変調器の変調周波数に応じて光パルスの発振波長が変化する光源装置であって、
前記光変調器が、前記光変調器を透過する光の透過率を調整可能であり、かつ、前記光変調器を透過する光の透過時間のデューティー比が５０％未満であることを特徴とする光源装置。 （もっと読む）

【課題】小型化及び消費電力の低減化を図ることができるうえ、パーティクルを安定して精度良く計測すること。
【解決手段】試料気体Ｓの流動経路上に配設され、該試料気体を内部通過させる内部通路１１が形成されたフローセル１０と、内部通路の内面に形成された観察面１０ａを撮像する撮像部１２と、内部通路内を通過している試料気体に向けて光束Ｌを平行光状態で照射させると共に、該試料気体中に含まれるパーティクルＰの有無に基づいて観察面に該パーティクルの陰影を生じさせる照射部１３と、撮像部で撮像された撮像画像の経時的変化に基づいてパーティクルを計測する計測部１４と、を備えているパーティクルカウンタ１を提供する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、歯科用などの光断層画像取得装置に関するもので、正確な断層画像を取得することを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、測定対象の断層画像情報を生成する断層画像用演算部２３と、この断層画像用演算部２３の演算結果を表示部１７へ出力する表示制御部４４と、を備え、断層画像用演算部２３の演算結果より、前記プローブの光入出部２と測定対象との間の距離が測定距離範囲外となったことを検出する測定距離範囲外検出部４３を設け、この測定距離範囲外検出部４３が検出した結果を、表示部１７に通知する通知手段を設けた。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、ＯＣＴの分野に関する、既知の機器及び方法と比較して、より高い測定速度及びより広い測定領域によって特徴付けられるデバイス及び方法を提供することである。
【解決手段】透明物体又は拡散物体の少なくとも第１の領域（ＭＢ１）からの幾何学量及び第１の領域（ＭＢ１）から離れた第２の領域（ＭＢ２）からの幾何学量を確定するデバイスは、物体アーム、基準アーム、検出器アーム、及び光を放出する光源（ＡＬＱ）を有するコヒーレンス断層撮影装置を備える。デバイスは、物体アーム及び／又は基準アームによって形成された、第１の光路長を有する第１の経路及び第２の光路長を有する第２の経路を有し、光源（ＡＬＱ）によって放出される光は、第１の経路及び第２の経路を通って伝播することができる。 （もっと読む）

【課題】 断層画像の画像欠陥部分や組織構造上画像取得の困難な部位を画像化できる。
【解決手段】 測定光源から出射された光を測定光と参照光に分割し、所定部位で反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する干渉光学系と、干渉光学系における測定光の光路中に配置され、所定部位上で測定光を走査させる光スキャナと、光スキャナを制御し，所定部位上のある撮影領域に対して測定光を走査させ、検出器からの撮像信号を処理することにより撮影領域における断層画像を取得する制御手段と、撮影領域に対する測定光の入射角を変更する入射角変更手段と、を備え、撮影領域に関して入射角が異なる複数の断層画像を取得する画像取得手段と、画像取得手段によって取得された入射角が異なる複数の断層画像を，画像処理により合成し、合成断層画像を取得する画像処理手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】簡易かつ高精度にガスの濃度を計測することを目的とする。
【解決手段】ガス濃度計測装置は、計測対象とされる対象ガスを含む排ガスにレーザ光を、波長を変化させながら照射するＬＤモジュール、排ガスを透過したレーザ光を受光するフォトダイオード、フォトダイオードによって受光されたレーザ光を示す受光信号に基づいて、ガス吸収スペクトル波形を生成する測定ユニットを備える。そして、ガス濃度計測装置は、測定ユニットによって生成されたガス吸収スペクトル波形における、対象ガスがレーザ光に吸収される吸収波長を基準とした所定の波長幅内の信号強度を積分し、得られた積分値に基づいて、対象ガスの濃度を算出する。 （もっと読む）

【課題】病変部の可能性が高い領域を観察者が容易に把握することができ、作業負担を軽減することが可能となる診断支援装置を提供する。
【解決手段】ＯＣＴ装置１の演算処理装置９０は、生体内部の内壁部において、病変部の疑いのある複数の特徴領域を抽出し、各特徴領域に対して病変部の可能性の度合いに応じた点数を割り当てる。そして、各特徴領域に割り当てられた点数に基づいて、内壁部の各位置における危険度を設定し、前記立体構造データを可視化した画像上に内壁部の各位置を危険度毎に色分けして表示する。 （もっと読む）

【課題】キャリア周波数の干渉により生じる深さ方向の像の不鮮明さや誤差を低減して、深さ方向の構造をより鮮明かつ高精度に観察・測定する。
【解決手段】周波数が異なる複数のレーザ光を発生する光源１１と、コム周波数間隔が可変で中心角周波数が異なる複数のコム光を順次生成するコム光生成装置１２からのコム光が順次入射され参照鏡からの戻り光と測定対象からの戻り光との干渉出力を、コム周波数間隔を掃引することにより複数回検出する光学干渉計１３と、複数のコム光の中心角周波数を設定し、コム周波数間隔を掃引し、所定の演算を行う演算制御部１４は、光学干渉計１３における参照鏡からの戻り光と測定対象からの戻り光との干渉出力を、コム周波数間隔を掃引することにより複数回検出し、各検出において得られた干渉成分の検出値から、測定対象の深さ方向の反射構率分布や散乱係数分布のみを取り出す演算を行うことで、測定対象の構造測定を行う。 （もっと読む）

【課題】 分散チューニングによる波長掃引では共振器内の分散が必須なため、光の周回時間と変調周波数のＦＭ変調を同期させた高速波長掃引の達成が難しかった。
【解決手段】 光を増幅させる光利得媒体と屈折率の波長分散を有する光導波路とを含んで構成される光共振器と、該光共振器内における光の強度を変調する変調手段と、を備え、該変調手段の変調周波数に応じて光パルスの発振波長を掃引変化させる光源装置であって、
前記光共振器内を周回する光の前記波長分散に起因する遅延を含んだ光パルス列の時間的推移に呼応して、前記変調周波数の変化割合を推移させ、前記発振波長を掃引変化させることを特徴とする光源装置。 （もっと読む）

【課題】ポリゴンミラーを用いた従来技術の波長掃引光源では、発振波長は、時間に対してやや上に凸で概ね線形的に変化する。一方、ＳＳ−ＯＣＴの波長掃引光源では、時間軸上で、波数（波長の逆数）が直線的に変化するように、波長変化することが求められる。従来技術の波長掃引光源ではこのような波長変化を実現できず、得られるＯＣＴイメージに非線形な歪が生じ、点像をシャープに保つことができない問題があった。
【解決手段】ＫＴＮ等を含む電気光学偏向器を利用した波長掃引光源において、発振出力の一部を２つの光路長の間に差を設けた干渉計に入射し、干渉光強度の交流成分を含む電気信号に基づいてＰＬＬ回路引き込み動作時のＶＣＯ入力信号を、高電圧増幅器のゲイン制御電圧に印加する。回折格子方程式に由来する非線形性に拘らず、波数が時間に対して直線的に変化する波長掃引を実現できる。電気光学偏向器の材料の不均一性、温度分布や変化または個体ばらつきによる制御電圧対偏向角特性のばらつきや非線形性も解消する。 （もっと読む）

【課題】ＯＣＴ装置により撮像される断層画像から被検眼の曲率を正確に計測する。
【解決手段】本発明は、測定光を被検眼に照射して得られる戻り光と参照光とを合波して得られる合波光より断層画像を得る画像撮像方法に関し、被検眼と対物レンズとの距離を計測する第１の工程、被検眼の断層画像を取得する第２の工程、断層画像における曲率を計算する領域を設定する第３の工程、及び計測した距離を用いて設定した領域の曲率を計算する第４の工程、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波の波長以下の微小な試料でも、ペレットを使用することなくテラヘルツ波を用いて短時間で分光情報が得られる分析装置を提供する。
【解決手段】パルス状のテラヘルツ波からなる第１の電磁波を試料１５に照射する第１の照射系２１と、第１の電磁波の照射により試料１５から放射される第２の電磁波を伝播する電気光学結晶１４と、電気光学結晶１４における第２の電磁波の伝播領域に、該伝播領域における第２の電磁波の伝播タイミングに合わせて、第１の電磁波よりも波長が短いパルス状の第３の電磁波を照射する第２の照射系２２と、電気光学結晶１４と相互作用した伝播領域における第３の電磁波の偏光状態を検出する検出部２３と、検出部２３の出力に基づいて試料１５の分光情報を取得する処理部２４と、を備える。 （もっと読む）

【課題】可動鏡などの光路長変化機構の機械的振動による信号対雑音比の低下を低減させることができるテラヘルツ波装置及びその動作方法を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波装置は、光源１０１、テラヘルツ波発生器１１０、テラヘルツ波検出器１１１、光源から発せられテラヘルツ波発生器に入射する発生側ポンプ光１０３の光路長を変化させる光路長変化機構１０６を有する。テラヘルツ波装置は、更に、発生側ポンプ光の強度を増減させる強度増減機構１０５と、光路長変化機構を停止させた状態で発生側ポンプ光の照射位置をテラヘルツ波発生器１１０に対して変動させる光軸変調機構１０９を備える。また、テラヘルツ波検出器で検出されるテラヘルツ波のピーク電場、及び光軸変調に対するテラヘルツ波のピーク電場変動値を取得する取得機構１１５と、テラヘルツ波発生器を流れる電流を測定する電流測定機構１１４を備える。 （もっと読む）

【課題】内部への入射界面および外部への出射界面における透過効率が高く、かつ音響反射界面における反射効率が高い光音響ミラーを提供する。
【解決手段】互いに音速の異なる第一の三角プリズムと第二の三角プリズムとを有し、第一の三角プリズムと第二の三角プリズムが接合面にて接合されており、光が入射する第一の面と、光が出射する第二の面と、第二の面から入射し接合面で反射した音響波が出射する第三の面とを有し、第一の面は、第一の三角プリズムに属し、前記第二の面および第三の面は、第二の三角プリズムに属し、第一の三角プリズム内の音速より、第二の三角プリズムの音速が低い光音響ミラーを用いる。 （もっと読む）

【課題】既存の生体内または生体外ＯＣＴ／ＯＣＭシステムに現在実施されているようなシリアル走査の代わりに、複数本のファイバ(すなわちチャネル)を採用して画像の様々な部分のパラレル走査を可能にするＯＣＴを有する内視顕微鏡を提供する。
【解決手段】複数の光放射源からの光（２１，２２，２３）が第１の光路に沿って進行する。第１の光路において、装置はそれぞれの光源からの光を第１の光路に沿う複数の焦点（２１ａ，２２ａ、２３ａ）のそれぞれに集束させて、第１の光路の選ばれた部分の実質的に連続な覆域を提供する。次いで、試料内に延び込む選ばれた長さの範囲内にある第１の光路上の試料が、第１の光路の選ばれた範囲に沿って走査される。 （もっと読む）

【課題】向上した測定感度と高い再現性を有する、被測定物の特性を測定する方法、ならびに、それに用いられる平板状の空隙配置構造体を提供すること。
【解決手段】本発明は、平板状の空隙配置構造体に被測定物を保持し、上記空隙配置構造体に電磁波を照射し、上記空隙配置構造体で前方散乱または後方散乱された電磁波を検出し、上記前方散乱された電磁波の周波数特性に生じるディップ波形、または、上記後方散乱された電磁波の周波数特性に生じるピーク波形が、上記被測定物の存在により変化することに基づいて被測定物の特性を測定する測定方法であって、上記電磁波は、上記空隙配置構造体の主面に対して垂直な方向から照射され、上記空隙配置構造体の主面の面積に対して、上記空隙配置構造体の主面を含む平面上における上記電磁波のビームスポットの面積の比率が１０％以上であることを特徴とする、測定方法である。 （もっと読む）

【課題】測光データの信頼性の向上。
【解決手段】光源１１は、光を発生する。反射／透過器１４は、光源１１から発生され、試料と試薬との混合液が収容された反応管を透過した光の第１の部分光を透過し、光のうちの第２の部分光を反射する。分光器１５は、反射／透過器１４からの第１の部分光を波長毎に分解する。第１受光部１６は、分光器１５からの第１の部分光を受光し、受光された第１の部分光の強度に応じた第１の受光データを発生する。測光データ生成部４は、第１の受光データに基づいて混合液の吸光度に関する測光データを生成する。第２受光部１７は、反射／透過器１４からの第２の部分光を受光し、受光された第２の部分光の強度に応じた第２の受光データを発生する。判定部５は、第２の受光データの強度に応じて測光データの信頼性の有無を判定する。 （もっと読む）

【課題】パターンドガラス基板の透過率を高い信頼度で測定することのできる透過率測定装置を提供する。
【解決手段】本発明は、パターンドガラス基板の透過率測定装置であって、レーザービームを放射するレーザービーム照射部と、レーザービーム照射部から放射されるレーザービーム（ｂｅａｍ）を反射する反射ミラー（ｍｉｒｒｏｒ）と、反射ミラー（ｍｉｒｒｏｒ）で反射されるレーザービーム（ｂｅａｍ）をコリメートするコリメーションレンズと、コリメーションレンズでコリメートされたレーザービーム（ｂｅａｍ）のサイズを拡大するビーム拡大器（ｂｅａｍ ｅｘｐａｎｄｅｒ）と、ビーム拡大器（ｂｅａｍ ｅｘｐａｎｄｅｒ）で拡大された後にパターンドガラス基板を透過したレーザービーム（ｂｅａｍ）を受光する受光部を含むディテクターと、ディテクターで受光されたレーザービーム（ｂｅａｍ）を利用してパターンドガラス基板の透過率を測定する測定部とを含む。 （もっと読む）

【課題】局所的な領域における圧力あるいは温度の測定を可能にするための装置および方法を提供する。
【解決手段】圧力検出装置１００は、光源１０１と、基板２０に固定された金属ナノ粒子集積構造体１０と、分光器１０５と、演算部１０６とを備える。金属ナノ粒子集積構造体１０は、マイクロオーダーのサイズを有するビーズと、そのビーズの表面に固定化された金属ナノ粒子とを含む。圧力によるビーズの変形により、金属ナノ粒子の局在表面プラズモン共鳴による消衰スペクトルのピーク波長が変化する。これを利用して圧力を検出できる。同様に、温度によるビーズの変形により、局在表面プラズモン共鳴による消衰スペクトルのピーク波長が変化するので、これを利用して温度を検出できる。 （もっと読む）

【課題】光干渉断層計を用いた断層像撮像装置において、設定された計測範囲において断層像の深さ方向の撮影位置を容易且つ適切に設定可能にする。
【解決手段】光干渉断層計により眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置は、眼底における二次元の計測範囲の中央部及び端部のいずれか２以上の複数の位置の断層像を取得し、取得された前記複数の位置での断層像を表示装置の画面に隣り合わせで並べて表示させる。 （もっと読む）