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Fターム[2G059JJ14]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学要素 (16,491) | ミラー、反射面 (2,430) | 曲面ミラー、曲面反射面 (409)

Fターム[2G059JJ14]に分類される特許

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【課題】細胞のような透明で微細な被写体を高い分解能で簡易に観察する。
【解決手段】試料Aを載置する載置面6aを有する光学結晶6と、該光学結晶6に向けて第1の電磁波Lを載置面6aとは反対側から照射する第1の照射系4および第2の電磁波Lを照射する第2の照射系5と、該第2の照射系5から照射され試料Aの載置面6aにおいて反射した第2の電磁波Lを検出する検出系7とを備え、第1の電磁波Lは、パルス状のテラヘルツ波であり、第2の電磁波Lは、テラヘルツ波Lよりも波長が短いパルス状の電磁波であり、第1の電磁波Lの照射領域と第2の電磁波Lの照射領域の少なくとも一部が光学結晶6内の載置面6a近傍で重なるように、第1の照射系4と第2の照射系5が配置され、検出系7は、その合焦位置が光学結晶6の載置面6a近傍と一致するように配置されている観察装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ光検出器の検出信号の強度を確認しながら調整を繰り返すという作業を行なわずに、テラヘルツ光学系のアライメントを容易に行なえるようにする。
【解決手段】テラヘルツ光発生器を、テラヘルツ光を透過する光透過性基板1と、光透過性基板1の第1の面に形成され、可視光を発光する発光素子2と、光透過性基板2の第2の面に形成され、テラヘルツ光を発生させる光伝導性アンテナ素子3とを備えるものとする。 (もっと読む)



【課題】コンクリートの化学的な劣化度の評価方法を提供する。
【解決手段】コンクリート12に照射されたテラヘルツ波の吸光度を用いたコンクリートの化学的な劣化度の評価方法であって、前記コンクリート12に一対のボーリング孔14を形成し、第1光ファイバ42により一方のボーリング孔14aの所定の深さ位置まで前記テラヘルツ波を導入して他方のボーリング孔14bに向けて前記テラヘルツ波を照射し、前記他方のボーリング孔14bに導入された第2光ファイバ46を介して、前記テラヘルツ波の透過波を検出して前記吸光度を算出し、前記吸光度と、前記コンクリート12と同一組成を有し劣化度が既知のコンクリートの吸光度と、を対比してなる。 (もっと読む)


【課題】検査時における照明光の光量を安定させた表面検査装置を提供する。
【解決手段】表面検査装置1は、照明部が、ランプハウス61からの光のうち所定の波長領域の光を透過させるバンドパスフィルターが設けられた波長選択機構70,75を有し、当該バンドパスフィルターを透過して得られた所定の波長領域の光を照明光として被検基板10の表面に照射するように構成されており、紫外光を遮断するUVカットフィルター65がランプハウス61と波長選択機構70,75との間の光路上に挿抜可能に設けられ、非検査時にUVカットフィルターが光路上に挿入され、また前記バンドパスフィルターの保持基板に「(1)熱線吸収膜(2)熱線反射膜及び熱線吸収膜の積層膜(3)熱線吸収膜及び熱伝導性膜の積層膜(4)熱線反射膜及び熱伝導性膜の積層膜(5)熱線反射膜、熱線吸収膜及び熱伝導性膜の積層膜の」うちのいずれかが設けられている。 (もっと読む)



【課題】ランニングコストの低下を図り、しかも、粉粒体の損傷を抑制して適正な測定を行える粉粒体の内部品質測定装置を提供する。
【解決手段】光が横断透過可能に構成された粉粒体収納容器Uが装填される装填箇所Pに対してその装填箇所Pを横断する横断方向に向けて計測用光を投光する投光手段1と、装填箇所Pからの光を受光する受光手段2とが、装填箇所Pの両側に振り分け配置され、装填箇所Pが、投光手段1と受光手段2との並び方向に沿って光を通過自在に構成され、粉粒体収納容器Uが、投光手段1と受光手段2並び方向に沿って光を透過させる状態で前記装填箇所Pに装填自在に構成され、受光手段2の受光用端部2Aが、装填箇所Pに装填される粉粒体収納容器Uに近接する状態で配設されている。 (もっと読む)



【課題】被測定物の光学特性を測定する装置には、被測定物の形状等の制約があり、光強度の感度が悪いという問題があったので、平面から非平面まで測定可能で被測定物の制約条件がなく、感度の優れた全球散乱測定装置及び方法を提供することを目的とする。
【解決手段】2つの楕円体面鏡の各々の焦点の1つを共通焦点にして結合して、3つの焦点を一軸上に有する光学系である双楕円型光学系において、一方の楕円体面鏡を回転させ、回転される楕円体面鏡の焦点に集光する散乱光を検出して、被測定物の全球散乱を測定する。 (もっと読む)


【課題】標準ガスを用いることなく装置の経時変化等を簡単な操作でチェックすることができる分光吸光分析法によるガス分析装置を提供する。
【解決手段】ガスセル1を備えた分光吸光分析装置において、同一の吸光度を有する複数の光学フィルタの1枚及び複数枚を測定光の光路A中に枚数を変えて逐次に挿入し、またその挿入位置から離脱させるフィルタ挿脱機構5を備える。この構成により、標準ガスの代わりに吸光度が2倍、3倍等に異なる複数の光学フィルタを光路中に逐次に挿入して、簡便に装置の性能チェックを行うことができる。 (もっと読む)


【課題】 複数種のガス成分が同時に検出可能とされた新規構造の多層型マルチパスセルおよび複数種のガス成分を同時に高精度で検出可能とされた小型のガス測定器の提供。
【解決手段】 多層型マルチパスセルは、セル本体内に互いに光軸が一致する状態で対向配置された、球面状または放物面状の反射面を有する2つの反射鏡の各々の反射面上においてレーザ光の反射点が反射鏡の光軸を中心とする円軌道または楕円軌道上に並ぶよう位置される多重反射光路を形成する基準光学測定系を具えてなり、当該多重反射光路は、反射鏡の光軸に沿って伸びる円環状空間領域内において形成されており、当該円環状空間領域内側の空間領域に、前記反射鏡の各々の反射面上におけるレーザ光の反射点が円軌道または楕円軌道上に並ぶよう位置される多重反射光路を形成する他の光学測定系が少なくとも一つ位置されている。ガス測定器は、上記多層型マルチパスセルを具えてなる。 (もっと読む)


【課題】複数種のガス成分を同時に検出可能とされた新規構造のマルチパスセルおよび複数種のガス成分を同時にかつ高精度で検出可能とされた小型化のガス測定器を提供する。
【解決手段】マルチパスセルは、セル本体内において、球面状または放物面状の反射面を有する2つの反射鏡が互いに光軸が一致する状態で対向配置され、各々の反射面上におけるレーザ光の反射点が反射鏡の光軸を中心とする円軌道または楕円軌道上に並ぶよう位置される多重反射光路を形成する少なくとも一の光学測定系を具えてなり、当該多重反射光路は、反射鏡の光軸に沿って伸びる円環状空間領域内において形成されており、セル本体に対するレーザ光の入射位置と、セル本体外部へのレーザ光の出射位置とが互いに異なる位置とされるよう構成されている。ガス測定器は、上記マルチパスセルを具えてなる。 (もっと読む)


【課題】 複数種のガス成分を同時に検出可能とされた新規構造の複合型マルチパスセルおよび複数種のガス成分を同時にかつ高精度で検出可能とされた小型化のガス測定器を提供すること。
【解決手段】 複合型マルチパスセルは、セル本体内において、球面状または放物面状の反射面を有する2つの反射鏡が互いに光軸が一致する状態で対向配置され、各々の反射面上におけるレーザ光の反射点が反射鏡の光軸を中心とする円軌道または楕円軌道上に並ぶよう位置される多重反射光路を形成する基準光学測定系を具えてなり、当該多重反射光路は、反射鏡の光軸に沿って伸びる円環状空間領域内において形成されており、この円環状空間領域の内側の円柱状空間領域内に、前記基準光学測定系とは互いに独立した、例えば非分散型赤外線吸収法などによる他の光学測定系が構成されている。ガス測定器は、上記複合型マルチパスセルを具えてなる。 (もっと読む)


【課題】実時間での測定を行うことが可能な偏光特性測定装置及び偏光特性測定方法を提供すること。
【解決手段】光源12から出射された光を、偏光子22、第1の1/4波長板24を介して試料30に入射させ、試料30を透過した光を、第2の1/4波長板42、検光子44を介して円錐ミラー62の頂点に入射させる。第1の1/4波長板24の各位置における主軸方位と、第2の1/4波長板42の各位置における主軸方位の比が、それぞれ1:Nとなるように構成する。カメラ50は、円筒形スクリーン60の内面に投射されたリングビームRBを撮像し、画像データを演算装置70に対して出力する。 (もっと読む)


【課題】太陽などの光を利用して発電する光電池の開発研究や使用時において、簡便に光電池の分光感度スペクトルとともに、同時に光電池の電流電圧特性を測定する評価装置を提案する。
【解決手段】一つの白色光源3の周囲に2つの集光ミラー1,2を配置し、集光された光の一方は分光器4に導入され単色光に変換されたのち出射され、もう一方の光は擬似太陽光スペクトルフィルタ5を通じて出射され、これら二つの光は二分岐ファイバ8,9を通じて重畳されて被測定光電池101を照射することができる光電池の分光感度測定装置および電流−電圧特性測定装置、で分光感度測定および電流電圧特性測定を測定する。 (もっと読む)





【課題】 物体からのテラヘルツ波のうち、物体における任意の位置からのテラヘルツ波を選択的に検出すること。
【解決手段】 以下を備える分析装置である。まず、発生部101から発生したテラヘルツ波を物体107における第1の位置121に集光させる第1の光学部111を備える。次に、物体107からのテラヘルツ波を第2の位置122に集光させる第2の光学部112を備える。また、第2の位置122に集光したテラヘルツ波を第3の位置123に集光させる第3の光学部113を備える。また、第3の位置123に集光したテラヘルツ波を検出するための検出部102を備える。そして、物体107からのテラヘルツ波のうち、物体107における第1の位置121からのテラヘルツ波を選択的に検出可能に構成される。 (もっと読む)



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