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Fターム[2G059JJ18]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学要素 (16,491) | 液晶、電気光学結晶 (257)

Fターム[2G059JJ18]に分類される特許

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【課題】 テラヘルツ波検出器で広い波長範囲で用いることができる非線形結晶を用いた方法では、高感度、広帯域を両立することが難しい。
【解決手段】 テラヘルツ波素子は、電気光学結晶を含み光を伝搬する導波路(2、4、5)と導波路(2、4、5)にテラヘルツ波を入射させる結合部材(7)を備える。導波路(2、4、5)を伝搬する光の伝搬状態は、結合部材(7)を介して導波路(2、4、5)にテラヘルツ波が入射することで変化する。 (もっと読む)


【課題】 検出用電磁波の時間波形の観測可能な時間幅を延長することが困難である。
【解決手段】 検出用電磁波とプローブ波とを、検出用電磁波の波面に対して、パルス状のプローブ波のパルス面を傾斜させて、電気光学結晶に入射させる。プローブ波のビーム断面を、検出用電磁波の波面とプローブ波のパルス面との交線方向に並ぶ複数の主走査単位領域に区分する。主走査単位領域ごとに、プローブ波のパルス面の、電気光学結晶への到達時刻を異ならせる。遅延装置が、プローブ波及び検出用電磁波の一方に対する他方の遅延時間を変化させる。遅延装置により遅延時間を異ならせて、検出用電磁波の複数の波形を取得し、取得された複数の波形の時間軸方向のずれに基づいて波形補正情報を求める。被測定物を測定することによって得られた波形データを、波形補正情報に基づいて補正することにより補正波形を求める。 (もっと読む)


【課題】流通ガスに含まれる測定対象物質の濃度、量等を高い応答性で高精度に計測すること。
【解決手段】流通ガスに含まれる測定対象物質を計測する物質計測装置であって、流通ガスが流れる計測セルと、測定対象物質の吸収波長を含む波長の範囲で波長を変調したレーザ光を計測セルに入射させる状態と入射させない状態とを切り換えるレーザ光照射ユニットと、計測セルから出射されるレーザ光を受講する受光装置と、計測セルとレーザ光照射ユニットとの間に配置されレーザ光を反射させる第1反射部と、計測セルと前記受光装置との間に配置され、レーザ光を反射させる第2反射部と、レーザ光照射ユニットがレーザ光を計測セルに入射させる状態から入射させない状態に切り換えた受光装置が受光した光の強度の減衰に基づいて、流通ガスに含まれる前記測定対象物質を検出する解析装置と、を有すること。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波の発生及び検出を行うテラヘルツ波発生検出室を有するテラヘルツ波伝播装置において、テラヘルツ波の伝播経路を簡単に調整できるテラヘルツ波発生検出室を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係るテラヘルツ波発生検出室200においては、テラヘルツ波発生部107及びテラヘルツ波検出部111は、壁面の開口部に挿入され、壁面の外側から固定部材203によって固定される。固定部材203は、凹型固定部材204と、凸型固定部材205とを含む。凹型固定部材204が有する凹面と、凸型固定部材205が有する凸面とを合致させて固定することによって、テラヘルツ波発生部107及びテラヘルツ波検出部111を所望の位置及び向きに調整することができる。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成により、高パワーを有し、細いパルス幅であり、変調されたフェムト秒レーザ光パルスをテラヘルツ波発生部に入射可能なテラヘルツ波発生検出装置、およびフェムト秒レーザ発生装置を提供する。
【解決手段】ファイバレーザ発振器108からの光パルスをビームスプリッタ109にて2つに分岐し、該分岐された一方の光パルスに強度変調器110にて種光の段階で変調をかける。次いで、該変調済み光パルスのパワーをファイバ増幅器115にて出力値まで増幅し、上記変調済み光パルスのパルス幅をファイバ圧縮器116にて出力値まで細くして、高パワーおよび細いパルス幅を有する、変調済みのフェムト秒レーザ光パルスを、テラヘルツ波発生部102に出射する。 (もっと読む)


【課題】環境変化による、テラヘルツ波発生用光パルスおよびテラヘルツ波検出用光パルス間の相対的な時間差の変動を低減し、かつ光パルスの時間波形および/またはスペクトル波形の変形を低減することが可能なテラヘルツ波発生検出装置を提供すること。
【解決手段】ビームコンバイナ107にて直交偏光の、第1の経路からのテラヘルツ波発生用光パルスと、第2の経路からのテラヘルツ波検出用光パルスとを合波し、ファイバ伝送部108の複屈折軸にそれぞれ入射させる。第2の経路には、ファイバ伝送部108にて、発生用光パルスと検出用光パルスとが時間的に重ならないようにするパルス時間間隔調整部105が設けられている。偏光ビームスプリッタ109とTHz波発生部111との間に、時間的に重ならない発生用光パルスとテラヘルツ波検出用光パルスとを時間的に重なるようにするパルス時間間隔補正部110が設けられている。 (もっと読む)


【課題】信号伝播チャネルおよび参照チャネルによって平衡になる平衡検出スキームを可能にするシステム、構成、およびプロセスを提供する。
【解決手段】少なくとも1つの第1の電磁放射がサンプルに与えられ得、少なくとも1つの第2の電磁放射が参照物(例えば無反射参照物)に与えられ得る。そのような放射周波数は、第1の固有周期の時間にわたって繰り返し変化され得る。さらに、第1の電磁放射、第2の電磁放射、第3の電磁放射(第5の放射と関連する)または第4の電磁放射(第2の電磁放射と関連する)の偏光状態は、第1の周期より短い第2の固有周期の時間にわたって繰り返し変化され得る。サンプルの少なくとも一部分を画像化するためのデータは、偏光状態に応じて提供され得る。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成の波長可変光源装置を提供すること。
【解決手段】波長可変光源装置は、光源と、前記光源から出射される光線が入射され、印加される電圧に応じて前記光線を偏向して出力する光偏向素子と、前記光偏向素子から出力される光線が入射され、当該光線の入射角に応じて当該光線のうちの特定の波長の光線を共鳴反射する共鳴フィルタとを含む。 (もっと読む)


【課題】 被測定物の複数個所のイメージングを同時に行う。
【解決手段】 被測定物に照射された検出用電磁波が、電気光学結晶に入射する。検出用電磁波の波面に対して、プローブ波の波面を傾斜させて、プローブ波を電気光学結晶に照射する。 電気光学結晶を透過したプローブ波を撮像装置が検出する。検出用電磁波の波面とプローブ波の波面とに直交する第1の仮想平面内において、検出用電磁波またはプローブ波のビーム断面が、光路長の異なる複数の第1の単位領域に区分される。電気光学結晶の表面と第1の仮想平面との交線方向の複数個所で、検出用電磁波の波面とプローブ波の波面との位相ずれが補償される。第1の仮想平面と直交し、プローブ波の進行方向と平行な第2の仮想平面内において、プローブ波のビーム断面が複数の第2の単位領域に区分される。さらに、第2の単位領域の各々が、プローブ波の波面の遅延時間が異なる複数の領域に区分される。 (もっと読む)


【課題】電磁波パルスを利用して取得される試料の情報の画像化を、効率良く行う技術を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波測定装置100は、照射部12を試料Wに対して相対的に移動させる移動機構15と、検出部13に入射するプローブ光LP12の光路長が互いに相違する第1の測定用光路長、第2の測定用光路長および第3の測定用光路長のそれぞれに設定されるように遅延部14を制御する制御部17を備えている。また、テラヘルツ波測定装置100は、検出部13にて検出された電界強度を、RGBの階調特性を示す階調データに変換するデータ変換部25と、検出部13にて検出される電界強度に関する情報が前記階調データに応じた色調で表現された画像を生成する画像生成部26とを備える。 (もっと読む)


【課題】高速現象を精度よく測定できる、ポンププローブ測定装置を提供する。
【解決手段】ポンププローブ測定装置1は、ポンプ光3aとなる第1の超短光パルス列とプローブ光となる第2及び第3の超短光パルス列3b,3cとを発生させる超短光パルスレーザー発生部2と、第2及び第3の超短光パルス列3b,3cが入射される光シャッタ部6と、ポンプ光3a及びプローブ光3b,3cを試料7に照射する照射光学系8と、試料7からのプローブ信号を検出するセンサー11と、センサー11に接続される位相敏感検出手段12と、を含む検出部20とを備え、光シャッタ制御部10によってポンプ光3aに対するプローブ光3b,3cの遅延時間が周期的に変調されて交互にプローブ光3b,3cとして試料7に照射され、プローブ信号を遅延時間の周期的変調信号に同期して位相敏感検出手段12で検出する。 (もっと読む)


【課題】画像化可能な深度範囲の拡大を低コストで実現可能な光画像形成方法を提供する。
【解決手段】光画像形成装置400は、FD−OCTを用いて対象物の断層像を形成する装置であり、スキャンステップと、検出ステップと、画像形成ステップとを実行する。スキャンステップでは、信号光と参照光との間の位相差をあらかじめ設定された2つの位相差に交互に変更しながら対象物を信号光でスキャンする。検出ステップでは、対象物を経由した信号光と参照光との干渉光を検出する。画像形成ステップは、スキャンに伴い検出ステップで逐次に得られた複数の干渉光の検出結果に基づいて対象物の断層像を形成する。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波を変調し検出するにあたって機械的振動や高電界の変調による影響を防止する。
【解決手段】励起光を発生する励起光源10と、前記励起光の偏波方向を変調する偏波制御器20と、前記偏波変調された励起光が照射され、該励起光の偏波方向に応じた発生効率でテラヘルツ波を発生する光伝導アンテナ30と、を備える。 (もっと読む)


【課題】凝集性のある被測定物を高感度に測定することのできる測定方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、金属からなり、複数の空隙部が少なくとも1つの配列方向に規則的に配列された空隙配置構造体の少なくとも一方の主面側に、凝集性を有する被測定物を保持し、上記空隙配置構造体に対して一方の主面側から電磁波を照射し、上記空隙配置構造体を透過した電磁波、または、上記空隙配置構造体で反射された電磁波を検出し、検出された電磁波の周波数特性から上記被測定物の物質量を測定する測定方法に関する。 (もっと読む)


【課題】フォトニック結晶のような周期構造部を有する装置を用いて、電磁波の周波数や装置構成を調節することが可能な測定装置を提供し、被測定物の測定を高感度に再現性良く行うこと。
【解決手段】平板状の周期的構造体11,12のギャップ部2に被測定物を保持し、上記周期的構造体を透過した電磁波を検出し、上記周期的構造体で分散した電磁波の周波数特性もしくは位相特性が上記被測定物の存在により変化することに基づいて被測定物の特性を測定する測定装置であって、上記周期的構造体は、平板形状の高屈折率層11a,12aと平板状の低屈折率層11b,12bとが交互に積層されてなることにより複素誘電率が周期的に変化する第1周期構造部11および第2周期構造部12が、被測定物を配置するためのギャップ部を介して平行に配置されている。 (もっと読む)


【課題】画質の良好な撮像装置を提供する。
【解決手段】レーザ光源10と、ポンプ光L3の入力により被測定物50に電磁波L4を照射する照射部30と、被測定物を透過又は反射した電磁波とプローブ光L2とを合波する合波部14と、合波部により合波された電磁波とプローブ光とが入射され、電磁波の電界強度に応じて誘起される複屈折によりプローブ光の偏光状態を変調させる電気光学素子32と、電気光学素子により偏光状態が変調されたプローブ光のうちの所定の偏光成分の光を通過させる検光子34と、検光子を通過した光を光電変換する光電変換部36と、分岐部と合波部との間におけるプローブ光の進行経路に配され、電気光学素子の各箇所における複屈折性のばらつきに起因して生じるプローブ光の偏光状態の変調のばらつきを相殺するように各箇所における複屈折の程度が設定され、プローブ光の偏光状態を予め調整する光学補償素子とを有している。 (もっと読む)


【課題】高速に測定を行うことができるスペクトル計測装置を実現すること。
【解決手段】波長可変光源10はErドープ超短パルスレーザファイバー11とEOM12と偏波保持シングルモードファイバーを有し、パルス光の強度を変更することで出力される光ソリトンパルスの波長を掃引することができる。波長可変光源10からの光ソリトンパルスは、櫛歯状分布ファイバー20によって断熱ソリトンスペクトル圧縮され、スペクトルが狭窄化される。この狭窄化された光ソリトンパルスは試料70を透過してフォトダイオード40aにより受光され、デジタルオシロスコープ50によって光強度が計測される。この時間波形と、波長可変光源10での波長掃引との関係から、試料70の吸収スペクトルを計測することができる。 (もっと読む)


【課題】分析対象試料に赤外線とX線とを同時に透過させて測定することができると共に、装置の小型化を図ることができる赤外透過スペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】赤外線を照射するための赤外線発生器10と、赤外線発生器10からの赤外線を分析対象試料30に向けて反射させる第1反射鏡11と、分析対象試料30を透過した赤外線を赤外線検出器13に向けて反射させる第2反射鏡12とを備え、受光した赤外線をフーリエ変換分光法によって分光して分析対象試料を測定する赤外透過スペクトル測定装置において、分析対象試料30に照射するためのX線発生器20と、分析対象試料30を透過したX線を受光する小角散乱検出器21または広角散乱検出器22のいずれか一方または両方とを備え、X線を挟んだ一方の側に第1反射鏡11を配置し、X線を挟んだ他方の側に第2反射鏡12を配置した。 (もっと読む)


【課題】 検査の信頼性を高めてリアルタイム計測が可能な検出装置等を提供すること。
【解決手段】 検査装置は、光学デバイス20と、流体試料を光学デバイスに吸引する吸引部40と、光学デバイスに光を照射する光源50と、光デバイスから出射される光を検出する光検出部60と、吸引部を駆動制御する制御部71と、を有する。光学デバイスは、吸着される流体試料を反映する光を出射する。制御部71は、光検出部にて検出する期間を含む第1モードでは、光学デバイス上での流体試料の吸引流速をV1とし、第2モードでは、光学デバイス上での流体試料の吸引流速をV2(V2>V1)とし、光検出部からの信号に基づいて第1,第2モードを切換える。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波発生素子及びテラヘルツ波検出素子が一体に設けられた内部全反射プリズムにおいて、被測定物の加熱・冷却に伴う影響を抑制できるテラヘルツ波分光計測装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るテラヘルツ波分光計測装置では、内部全反射プリズム31は、全反射面31cを含む第1のプリズム部分31fと、テラヘルツ波発生素子32及びテラヘルツ波検出素子33が一体に固定される本体部分31gと、を有し、第1のプリズム部分31fと本体部分31gとの嵌合部分に断熱材31hが介在している。これにより、被測定物34を加熱・冷却する際の温度変化が、第1のプリズム部分31fから本体部分31gに伝わり難くなっている。従って、テラヘルツ波発生素子32及びテラヘルツ波検出素子33に温度変化が過剰に伝わることを防止できる。 (もっと読む)


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