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Fターム[2G059JJ30]の内容

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Fターム[2G059JJ30]に分類される特許

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【課題】虫や埃による誤検知を低減した小型の煙感知器を提供する。
【解決手段】煙感知器1は、外部からの光の進入を抑制し且つ煙の出入りを許容する煙感知室2と、煙感知室2内の複数の検知領域A1,A2にそれぞれ光を照射する発光部3a,3bと、発光部3a,3bからの直接光は入射せず、それぞれの検知領域A1,A2に流入した煙による散乱光を受光可能な受光部4と、発光部3aのみを点灯させた時の受光部4の出力と発光部3bのみを点灯させた時の受光部4の出力とをもとに煙の有無を判別する判定部5を備えている。発光部3a,3bの各々には、検知領域A1,A2が重ならないように照射光の照射範囲S1,S2を制限する光制限部材11が一体に設けられている。受光部4には、検知領域A1,A2が重ならないように受光光の受光範囲S3を制限する光制限部材12が一体に設けられている。 (もっと読む)


【課題】 低コストでしかも高精度な位置補正処理が短時間で実施可能な断層撮影装置を供給すること。
【解決手段】 B−スキャン像の端から1/4位置におけるA−スキャンのデータのピーク値(P点)を含んだ所定の領域を持つ参照像を作成する参照像作成手段と、この参照像を隣接するB−スキャン像内において平行移動させながら、各々の画素における前記参照像の画素値と前記隣接するB−スキャン像の画素値の差の総和(評価関数)を算出する評価関数算出手段と、この評価関数が最小となる位置を検出し、隣接するB−スキャン像間の相対的位置ずれ量を算出する相対的位置ずれ量算出手段と、この相対的位置ずれ量を用いて、No.1のB−スキャン像を基準として各B−スキャン像の絶対的位置ずれ量を算出する絶対的位置ずれ量算出手段と、この絶対的位置ずれ量を用いて、各B−スキャン像の位置を補正する位置補正手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】EMセンサの領域では、センサがパッケージ型で提供されることが望ましいという特別な要求がある。
【解決手段】本発明は、第1の基板に形成されたセンサ素子と第2の基板に形成された少なくとも1つの光学素子とを提供するものであって、第2の基板が少なくとも1つのセンサ素子の上を覆うキャップを形成するように第1および第2の基板が互いに関連するように配置されていて、少なくとも1つの光学素子がキャップ上にくる入射光を少なくとも1つのセンサ素子に導くように構成されている。 (もっと読む)


【課題】焦点調節と開口調節とを選択的に、または同時に行ってNAを制御するNA(numerical aperture)制御ユニット、それを採用した可変型光プローブ、映像診断システム、深度スキャニング方法、イメージ検出方法、及び映像診断方法を提供する。
【解決手段】NA制御ユニット1000は、光が透過する開口が調節される開口調節ユニットVAと、開口を通過した光をフォーカシングし、焦点距離が調節される焦点調節ユニットVFと、を含む。 (もっと読む)


【課題】測定対象に応じた適切な空間分解能で複数位置の分光特性を取得可能な分光特性取得装置を提供する。
【解決手段】光照射手段11から前記画像担持媒体90に照射された光の反射光を複数の開口部を有する開口部列により複数の領域に分割し、分光手段15により複数の開口部に対応する複数の回折像を形成された複数の回折像を受光手段16の複数の画素で受光して電気信号に変換し、演算手段17により画像担持媒体の複数の位置における反射光の光量の割合を示す分光特性を演算し、演算手段は隣接するa個(aは2以上の自然数)の回折像の電気信号に対応する分光特性を算出するための変換行列を記憶する変換行列記憶手段17aと、隣接するa個の前記回折像の電気信号とそれに対応する変換行列とから隣接するa個の回折像の開口部に対応する画像担持媒体の位置における分光特性を算出する分光特性算出手段17bとを有する。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成の波長可変光源装置を提供すること。
【解決手段】波長可変光源装置は、光源と、前記光源から出射される光線が入射され、印加される電圧に応じて前記光線を偏向して出力する光偏向素子と、前記光偏向素子から出力される光線が入射され、当該光線の入射角に応じて当該光線のうちの特定の波長の光線を共鳴反射する共鳴フィルタとを含む。 (もっと読む)


【課題】先端部の外径を小さく形成することを可能にすると共に、前歯部や臼歯部等の口腔内組織を撮影する際に容易に撮影することができるプローブを提供すること。
【解決手段】プローブ30は、レーザ光を、被写体照射用の計測光と参照ミラー照射用の参照光とに分配し、被写体Sからの散乱光と参照ミラー21で反射した反射光とを合成させた干渉光を解析して光干渉断層画像を生成する光干渉断層画像生成装置1に使用され、被写体Sに照射して戻ってきた散乱光を回収する。光ファイバ60Aと、光ファイバ60Aからのレーザ光の照射方向を変化させる走査手段33と、走査手段33からの計測光を被写体に照射して散乱光を回収するノズル37と、光ファイバ60A、走査手段33及びノズル37を保持するハウジング3と、を備えている。ハウジング3には、先端部にノズル37が着脱可能に配置されている。 (もっと読む)


【課題】
同じ支持板の半径(面積)であっても、より光路長の変化を大きくすることのできる断層測定装置を提供する。
【解決手段】
断層測定装置の光路可変部材を、第一の支持板及び第二の支持板と、第一の支持板を回転可能に支持する第一の回転支持部材と、第二の支持板を回転可能に支持する第二の回転支持部材と、第一の支持板に配置された第一の支持反射部材と、第二の支持板に配置された第二の支持反射部材と、固定反射部材とを有し、第二の支持反射部材に反射された第一の光が第一の支持反射部材に入射及び反射され、第一の支持反射部材に反射された第一の光が固定反射部材に入射され、第一の支持板と第二の支持板が反対向きに回転するものとする。 (もっと読む)


【課題】効率良く安価に電磁波パルスの測定精度を向上する技術を提供すること。
【解決手段】テラヘルツ波測定装置100は、テラヘルツ波を試料Wに照射する照射部12と、試料Wを透過したテラヘルツ波の電界強度を検出する検出部13と、レーザ光源11から検出部13までの光路長を段階的に変更することによって、検出部が前記電磁波パルスの電界強度を検出するタイミングを段階的に変更する遅延部14と、光路長を変更する変更範囲を設定する変更範囲設定部23とを備えている。変更範囲設定部23は、遅延部14が、光路長を第1の変更範囲で段階的に変更した場合に、前記試料を透過または反射した前記電磁波パルスが前記検出部で検出されるときの前記光路長を含む前記光路長の範囲を、第2の変更範囲に設定する、前記遅延部14は、光路長を変更範囲R2で段階的に変更する際に、光路長を変更範囲R1で段階的に変更する場合よりも細かく変更する。 (もっと読む)


【課題】例えばOCT撮影処理のための光量低下を最低限にとどめ、眼底像の劣化を防ぐ。
【解決手段】CPUは、第1の撮像手段により所定の領域で撮像された被検眼の眼底像から特徴点を抽出し(S401)、特徴点を含む、所定の領域より小さい領域を設定する(S403)。そしてCPUは、設定した領域で第1の撮像手段によって被検眼の眼底像を撮像させ、撮像された被検眼の眼底像に基づいて特徴点の位置のずれを検出する(S405)。そしてCPUは、検出した特徴点の位置のずれに基づいて、第2の撮像手段による被検眼の眼底像の撮像位置を補正する(S409)。 (もっと読む)


【目的】干渉信号が必ず得られるようにする。
【構成】4つの干渉信号生成装置21〜24には測定光L1が測定対象Sbに照射され,反射した反射光が分岐された反射光L21〜L24と,参照光L3が分岐され,参照ミラー43,53,63,73において反射された反射光L41〜L44と,が入射する。干渉信号生成装置21〜24に入射する参照光の4つの伝搬ルートの光学的距離は異なるが,干渉信号生成装置21〜24に入射する測定光の反射光L21〜L24の光学的距離とほぼ同じである。したがって,干渉信号生成装置21〜24のうちのいずれかから必ず干渉信号が得られる。 (もっと読む)


【課題】高感度かつ測定時間が短い光断層画像測定装置および光断層画像測定システムを提供することを課題とする。
【解決手段】光源2から入射された光を、参照光と、信号光と、に分割するする光分割手段11と、測定対象物3から反射された反射信号光を複数の反射信号光に分割する光分割手段34と、参照光を、反射信号光の分割数と同じ数の参照光に分割する光分割手段21と、分割された参照光および反射信号光のそれぞれを合波することによって、分割された参照光および反射信号光に対応する干渉光を生成する光合波手段41と、波長スペクトルをそれぞれの干渉光から取得し、取得したそれぞれの波長スペクトルをフーリエ変換する解析手段53と、を有し、分割された参照光または反射信号光におけるそれぞれの光路の長さが、異なるよう固定されている光路長変化部101を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 手間無く、詳細な診断を行うことができる。
【解決手段】 測定光源から発せられた光を被検眼眼底上で二次元的に走査させるための光スキャナと、測定光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検眼眼底の三次元断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された三次元断層像に基づいて眼底上の走査位置に関して互いに近接する複数の断層像を抽出し、抽出された複数の断層像をモニタ上に並べて表示する表示制御手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】発光手段および/または受光受光手段を基板に対して所定の姿勢で表面実装することができる光学センサおよび画像形成装置を提供する。
【解決手段】プリント基板34の発光素子31の胴体部前側端部(レンズ側)と対向する箇所、胴体部後側端部(レンズ側と反対側)近傍と対向する箇所に支持突起34eを設けた。これにより、支持突起34eにより素子の胴体部の前側と後側とが支持され、素子が端子を支点にして揺動することがない。その結果、素子をプリント基板34の接続部34dと端子との間に充填された溶融したハンダが固まるまでの間に、素子に触れるなどしても、素子が前後(光軸方向)に傾くことが防止される。 (もっと読む)


【課題】光学素子の厚み測定を不要としつつ高い精度で光学素子の屈折率を測定する。
【解決手段】屈折率測定装置20は、被検光と参照光とを互いに干渉させる光学系であり、被検光の光路内に被検光学素子の設置が可能で、かつ被検光および参照光のうち一方の光路長を変更する光路長変更手段3を含む干渉光学系とともに用いられる。該装置は、被検光および参照光の波長帯域に含まれる互いに異なる第1の波長と第2の波長のそれぞれにおいて、光路内に設置された被検光学素子を透過した被検光と参照光とが干渉するときの光路長変更手段3の干渉設定値と、被検光学素子が光路から取り除かれた状態で被検光と参照光とが干渉するときの干渉設定値との差を求める。そして、第1の波長における上記差、第2の波長における上記差および被検光学素子の分散を用いて被検光学素子の屈折率を算出する。 (もっと読む)


【課題】被計測部位内部の位置による空間分解能や雑音特性の差を抑制し、より均一に近い画像を作成することができる生体計測装置および画像作成方法を提供する。
【解決手段】生体計測装置10は、被計測部位Bに光を照射する光照射部と、被計測部位からの拡散光を検出する光検出部と、被計測部位の内部に関する再構成画像を作成する演算部14とを備える。演算部14は、再構成画像の各画素毎に設定される、0より大きく且つ1以下であるJ個の係数wj(Jは再構成画像の画素数)を算出し、次の反復式
【数1】


(但し、kは1からNまでの整数であり、Nは反復演算の回数である。xj(k)は第j番目の画素のk回目の反復演算時における画素値であり、dj(k)は第j番目の画素のk回目の反復演算時における更新量である。)を用いた逐次近似演算を行うことにより再構成画像を作成する。 (もっと読む)


【課題】光測定分析を行う装置において、分析対象物の全面に光を照射して、光スペクトルを取得することができる光分析測定装置を提供する。
【解決手段】本発明に関わる光測定分析装置は、光源10と、光照射部11と、受光部13と、分光部14と、分光部で得た光のスペクトルを分析する分析部17とで構成され、容器12の内壁は、測定対象物から反射した光と透過した光を、反射するように構成されている。このような光測定分析装置を用いることで、分析対象物のほぼ全面に効率よく光を照射し、分析の精度を向上させることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】ガスを効率的に検出できるガスセンサを提供する。
【解決手段】 一態様に係るガスセンサは,1500nm以上,1600nm以下の少なくとも一部を含む第1の波長域の光を掃引発振する第1のレーザ光源と,1000nm以上,1100nm以下の第2の波長域の光を発振する第2のレーザ光源と,前記第1,第2のレーザ光源からの光を混合する混合器と,前記混合された光からの差周波発生により3200nm以上,3400nm以下の第3の波長域の光を生成する波長変換素子と,検査対象ガスが封入され,かつ前記生成された光が通過する内部空間を有する容器と,前記内部空間を通過した光を受光する光検出器と,前記光検出器からの信号に基づき,前記検査対象ガス中の所定のガスの量を算出する算出器と,を具備する。 (もっと読む)


【課題】 簡単な構成で断層画像をスムーズに取得できる。
【解決手段】 光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を互いに独立した第1のビームと第2のビームに分けて、各ビームを被検物上の異なる位置に照射しながら走査する走査光学系と、前記測定光の光路中に配置され、前記第1のビームと第2のビームとの間に光路長差を生じさせる光遅延路と、被検物からの前記第1ビームの反射光と,被検物からの前記第2ビームの反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、検出器から出力される干渉信号を処理して、前記第1ビームによって形成される第1断層画像と前記第2ビームによって形成される第2断層画像とを取得する演算処理部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】試料上の微小領域を加熱し、この加熱に伴う同領域の温度計測並びに磁気計測を実施することが可能な磁気光学効果計測装置を提供するにある。
【解決手段】磁気光学効果計測装置においては、磁気計測モードにおいて、直線偏光又は円偏光の特性を与えられている第1の光ビームが発生され、また、温度計測モードにおいて、赤外波長を有する第2の光ビームが発生される。磁性体試料上の微小領域に第2の光ビームが直入射型反射光学素子によって集光されてこの領域が加熱され、この微小領域の加熱に伴いこの微小領域から輻射される赤外線が直入射型反射光学素子によって伝播されて温度が計測される。また、磁性体試料に磁界が印加された状態で、第1の光ビームが直入射型反射光学素子によって集光照射され、微小領域で磁気光学効果の作用を受けて伝播される。 (もっと読む)


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