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Fターム[2G059LL03]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光学系の特徴及び補助機能 (1,276) | 光利用効率の向上 (282) | 光路長増大(例;多重光路) (180)

Fターム[2G059LL03]に分類される特許

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【課題】セル長を切り換えて変更することができ、試料水の性状に応じて正確な測定を行うことが可能な回転式測定セルを提供する。
【解決手段】周壁の一部に開口19が形成された筒体12の両端開口部がそれぞれ閉塞板14、16により閉塞され、両閉塞板の外面中央にそれぞれ回転軸18が固定されたセル本体10を具備する回転式測定セルにおいて、セル本体の上記回転軸の中心軸から等距離を隔てた複数箇所に、セル長が互いに異なる複数の光路38、40を設ける。 (もっと読む)


【課題】検出結果に影響を及ぼす部分に付着した汚れを簡易な構造で減少させることが可能な検出器及び水質測定装置を提供する。
【解決手段】検出器1は、供給部21から試料水が供給されて排出部22から排出されるセル2と、セル2内に光を照射する光源3と、光源3からの光を受ける受光部4と、光源3及び受光部4の配置された壁部と対向する壁部に配置される反射部5と、を備えている。反射部5は、超音波振動子51と、超音波振動子51を駆動する高周波電力を出力する超音波発振器52と、を備えている。超音波振動子51の鏡面化により、光源3の光を反射して受光部4に導くミラー面51aが形成される。ミラー面51aに付着した汚れは、超音波振動により剥離する。光源3のセル窓3aおよび受光部4のセル窓4aは、ミラー面51aに対向して配置される。 (もっと読む)


【課題】流通ガスに含まれる測定対象物質の濃度、量等を高い応答性で高精度に計測すること。
【解決手段】流通ガスに含まれる測定対象物質を計測する物質計測装置であって、流通ガスが流れる計測セルと、測定対象物質の吸収波長を含む波長の範囲で波長を変調したレーザ光を計測セルに入射させる状態と入射させない状態とを切り換えるレーザ光照射ユニットと、計測セルから出射されるレーザ光を受講する受光装置と、計測セルとレーザ光照射ユニットとの間に配置されレーザ光を反射させる第1反射部と、計測セルと前記受光装置との間に配置され、レーザ光を反射させる第2反射部と、レーザ光照射ユニットがレーザ光を計測セルに入射させる状態から入射させない状態に切り換えた受光装置が受光した光の強度の減衰に基づいて、流通ガスに含まれる前記測定対象物質を検出する解析装置と、を有すること。 (もっと読む)


【課題】容易かつ高精度に測定対象物の屈折率を測定することができる屈折率測定装置を提供する。
【解決手段】入射させた照明光を内面反射させて端面まで導く導光ロッド10と、導光ロッド10の端面から所定位置における導光ロッド10からの光の光束径を測定するラインセンサー20と、ラインセンサー20により測定された光束径から導光ロッド10からの光の拡がり角を算出し、該拡がり角に基づいて導光ロッド10の側面に接触する試料Sの屈折率を算出するCPU30とを備える屈折率測定装置1を採用する。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ波の発生及び検出を行うテラヘルツ波発生検出室を有するテラヘルツ波伝播装置において、テラヘルツ波の伝播経路を簡単に調整できるテラヘルツ波発生検出室を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係るテラヘルツ波発生検出室200においては、テラヘルツ波発生部107及びテラヘルツ波検出部111は、壁面の開口部に挿入され、壁面の外側から固定部材203によって固定される。固定部材203は、凹型固定部材204と、凸型固定部材205とを含む。凹型固定部材204が有する凹面と、凸型固定部材205が有する凸面とを合致させて固定することによって、テラヘルツ波発生部107及びテラヘルツ波検出部111を所望の位置及び向きに調整することができる。 (もっと読む)


【課題】実測温度の検出精度を高め、排ガス中の成分濃度の測定精度を向上させた排ガス分析装置および排ガス分析方法を提供する。
【解決手段】排気経路3中の排ガスにレーザ光を照射し、排ガスを透過したレーザ光を受光する測定部5と、測定部5の上流側の排気経路3中に配設され、排気経路3中の排ガスの実測温度T1を検出する温度センサ55と、測定部5にて受光されたレーザ光より排ガス中に吸収されたレーザ光の吸収スペクトルを検出する差分型光検出器64と、差分型光検出器64により検出された吸収スペクトルから排ガスの理論温度T2を算出する温度算出部70と、排ガス中の所定成分の濃度が低い場合には温度センサ55により検出された実測温度T1を用いて、又は排ガス中の所定成分の濃度が高い場合には温度算出部70により算出された理論温度T2を用いて、排ガスの成分濃度Cを算出する成分濃度算出部73とを有する排ガス分析装置。 (もっと読む)


【課題】試料ガスを従来に比して正確に分析可能とする測定ユニットおよびガス分析装置を提供する。
【解決手段】煙道壁の外側に配置される1つの照射部と、照射部から出射され煙道の中を通過した測定光を反射する第1リフレクタと、煙道壁の外側に配置され第1リフレクタで反射された測定光を受光する1つの受光部と、煙道壁の外側に配置され測定光を受光部に向けて反射する第2のリフレクタと、照射部と第2リフレクタの間の光路上の空間に設けられ、既知物質を収容する既知物質収容部と、照射部から出射された測定光を第1リフレクタで反射させて試料ガスを分析し、照射部から出射された測定光を第2リフレクタで反射させてガス分析装置の既知物質を用いた補正又は校正を行う演算部と、煙道壁の外側に配置され成分濃度の分析を行うときに第2リフレクタを光路上から外し、補正又は校正を行うときに第2リフレクタを光路上に配置する切替部とを備える。 (もっと読む)


【課題】 被測定物の複数個所のイメージングを同時に行う。
【解決手段】 被測定物に照射された検出用電磁波が、電気光学結晶に入射する。検出用電磁波の波面に対して、プローブ波の波面を傾斜させて、プローブ波を電気光学結晶に照射する。 電気光学結晶を透過したプローブ波を撮像装置が検出する。検出用電磁波の波面とプローブ波の波面とに直交する第1の仮想平面内において、検出用電磁波またはプローブ波のビーム断面が、光路長の異なる複数の第1の単位領域に区分される。電気光学結晶の表面と第1の仮想平面との交線方向の複数個所で、検出用電磁波の波面とプローブ波の波面との位相ずれが補償される。第1の仮想平面と直交し、プローブ波の進行方向と平行な第2の仮想平面内において、プローブ波のビーム断面が複数の第2の単位領域に区分される。さらに、第2の単位領域の各々が、プローブ波の波面の遅延時間が異なる複数の領域に区分される。 (もっと読む)


【課題】天然ガスの水分を検出するように構成された、光スペクトル法による水分分析器を提供する。
【解決手段】水分分析器10は、天然ガスを封入し、案内する吸収セル20を含む。水分分析器はまた、吸収セル内の天然ガスの圧力を減少させることができる圧力制御装置38を含む。水分分析器は、吸収セル内の天然ガスを通って光を透過することができる発光装置12、ならびに天然ガスを通って透過され、吸収セルを出る光の強度を検出することができる光検出器26を備える。 (もっと読む)


【課題】測定時間の短縮化及び測定精度の向上を図ると共に装置の小型化が可能な光学遅延装置を提供する。
【解決手段】回転型の光学遅延装置10は、入射された光を反射して出射する反射体110〜140と、反射体から出射された光を反射して、この反射体とは異なる他の反射体に入射させるミラー群210〜230と、を備える。反射体110〜140に入射される入力光の光路長を、反射体110〜140の回転によって変動させることにより、入力光に対して遅延された遅延光を出力する。 (もっと読む)


【課題】
複合混合物に含まれる検体を迅速かつ正確に特定し、そして定量化する装置及び方法が開示される。
【解決手段】
本装置は、データ収集/分析装置に接続される超高感度キャビティ増幅分光計を備える。本方法では、種々の検体の吸収率断面積を含むデータベースを使用して、サンプルの組成を数値的に特定する。 (もっと読む)


【課題】高い検出感度を得ることが可能なガス分析装置を提供する。
【解決手段】ガス分析装置は、その内部に分析対象のガスが導入された中空ファイバ4と、中空ファイバ4の一方端側に配置されて、中空ファイバ4の内部に光を照射する投光部12と、中空ファイバ4の他方端側に配置されて、中空ファイバ4の内部を通過した光を検出する検出部13と、検出部13で検出された光に基づいて、分析対象のガスを分析するための点灯制御/信号検出部21およびシステム制御部22とを備える。投光部12は、発光波長が異なる複数の赤外線LED2a〜2cを含む。 (もっと読む)


【課題】本発明は、ガス圧力の変化およびに気圧変化に対して不変の、あるいは、少なくとも影響が少ない微量ガス濃度測定を可能にする方法に関するものである。
【解決手段】この方法は、圧力センサおよび圧力のキャリブレーションを必要としない。さらに、この方法は、背景ガス中に存在する他のガス種、あるいは、対象ガスに相互干渉する背景ガス自体にも適用可能である。これにより、他のガス種および/または背景ガスの相互干渉パラメータの圧力依存性を除去することができる。ガス濃度を正確に測定する新規の方法は、レーザーの波長変調振幅を圧力依存性が最小になるように最適化することに基づいている。 (もっと読む)


【課題】測定精度の低下をなく短時間で測定可能なテラヘルツ波を用いた検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】ビームスプリッター2と、第1レーザ光よりテラヘルツ波を発するテラヘルツ波発振アンテナ5、第2レーザ光に時間遅延を与える時間遅延機構11、第2レーザ光に基づく検出タイミングでテラヘルツ波発振アンテナ5によりテラヘルツ波を検出し、検出したテラヘルツ波の強度に応じた検出信号を生成するテラヘルツ波受信アンテナ8、テラヘルツ波路中に測定対象物100を設置し、時間遅延機構11によりの時間遅延を変化させた時のテラヘルツ波受信アンテナ8での検出信号に基づく時系列信号強度データがピーク値を示す位置を予測し、予測した位置に基づき時間遅延機構11が与える時間遅延の範囲を所定の範囲に制御する制御部57と、信号強度データのピーク値に基づき測定対象物100の特徴を検査する検査部(データ処理部56)とを備える。 (もっと読む)


【課題】撮影する被写体の断層画像をさらに鮮明に写るように調整することができるプローブを提供すること。
【解決手段】プローブ30は、光源11から照射されたレーザ光を、被写体Sに照射する計測光と参照ミラー21に照射する参照光とに分配し、被写体Sから反射して戻ってきた散乱光と参照ミラー21で反射した反射光とを合成させた干渉光を解析して光干渉断層画像を生成する光干渉断層画像生成装置1に使用される。プローブ30は、計測光を受光してレーザを平行光に収束させるコリメータレンズ32と、レーザ光の照射方向を変化させる走査手段33と、走査光を集光する集光レンズ34と、コリメータレンズ32、走査手段33及び集光レンズ34を保持するハウジング3と、を備えている。ハウジング3内には、計測光の光路を遮断するシャッタ機構31が設けられている。 (もっと読む)


【課題】所定の試料を比色分析するのに適した、小型の
分析試料保持装置及び試料分析装置を提供する。
【解決手段】回折格子G101に侵入した分析光r5は、回折格子G101によって分光され、分光された分析光r6として、第1基材部101の表面P101に形成される分析光導出部A101に向かって垂直に進行する。このように、生体試料分析チップの内部に回折格子G101を配置することによって、生体試料分析チップに投光する前に、白色光から所定波長の分析光を分光する必要がない。また、分析の項目に対応する所定波長の分析光を発光する光源を複数用意しておく必要もない。よって、分析装置を小型にすることができる。 (もっと読む)


【課題】可動鏡などの光路長変化機構の機械的振動による信号対雑音比の低下を低減させることができるテラヘルツ波装置及びその動作方法を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波装置は、光源101、テラヘルツ波発生器110、テラヘルツ波検出器111、光源から発せられテラヘルツ波発生器に入射する発生側ポンプ光103の光路長を変化させる光路長変化機構106を有する。テラヘルツ波装置は、更に、発生側ポンプ光の強度を増減させる強度増減機構105と、光路長変化機構を停止させた状態で発生側ポンプ光の照射位置をテラヘルツ波発生器110に対して変動させる光軸変調機構109を備える。また、テラヘルツ波検出器で検出されるテラヘルツ波のピーク電場、及び光軸変調に対するテラヘルツ波のピーク電場変動値を取得する取得機構115と、テラヘルツ波発生器を流れる電流を測定する電流測定機構114を備える。 (もっと読む)


【課題】装置の大型化を回避しつつ計測精度を確保できる全反射分光計測装置を提供する。
【解決手段】全反射分光計測装置1では、テラヘルツ波発生素子32が設けられた内部全反射プリズム31の入射面31aに対し、被測定物34が配置される反射面31cが鈍角となっている。これにより、テラヘルツ波発生素子32で発生したテラヘルツ波Tを第1光学面31dに対して垂直に近い状態で入射させることが可能となり、テラヘルツ波Tの広がり角度に対して第1光学面31dのサイズを最小化できる。したがって、装置の大型化を回避できる。また、このことは、同一のサイズの第1光学面31dで対応できるテラヘルツ波Tの広がり角度を大きくできることを意味し、テラヘルツ波Tの損失を抑えることで反射分光計測の精度を確保できる。 (もっと読む)


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