【課題】固定時に負圧で生じる変形を発生させないでフリップチップＬＥＤの測定を行う。
【解決手段】フリップチップＬＥＤ用試験装置３は、透明な基板３０、スペーサ部材３２、柔軟で透明な支持台３４、及び真空発生機３６を含む。スペーサ部材は透明な基板の第一表面３００上に形成される。柔軟で透明な基板の支持台は、閉空間Ｓ１が柔軟で透明な支持台、スペーサ部材、及び透明な基板の第一表面により形成されるように、スペーサ部材へ取り外し可能に組み込まれる。真空発生機は閉空間から空気を吸い出すため、閉空間へ接続され、次に透明な基板の一部は第一表面に張り付き、フリップチップＬＥＤを配置するための試験領域３４０を形成する。 （もっと読む）

【課題】検査対象となる光源からの光の光学特性が正確に検査できることで、検査効率の向上を図ることができると共に、高い検査信頼性を得ることができる。
【解決手段】検査装置は、検査対象となるＬＥＤからの光を採光部２により取り込み、ＬＥＤの光学的な検査を分光器により行うためのものである。採光部２は、ＬＥＤに向けて光を取り入れるための開口部が設けられていると共に、取り入れた光を分光器へ出力する光ファイバ４が基端部に設けられたカップ状のケース部２１と、ＬＥＤから開口部を通じて光ファイバ４へ至るまでの光軸を含む範囲以外の範囲を遮蔽する環状に形成された遮蔽部材２２１がケース部２１内の奥行き方向に沿って１０枚配置され、光軸に対して斜行して開口部に入射する光を制限する光調整部とを備えている。 （もっと読む）

【課題】本発明は、積分球を用いて光源の光学性能を容易且つ正確に測光することのできる光源の検査装置の提供を目的とするものである。
【解決手段】本発明の光源の検査装置は、検査対象である光源を取付可能な取付部と、外部に向けて光線を出射するための出射ポートとが設けられた積分球、この出射ポートに対向する積分球内周面の一定範囲の被測光領域の反射光線を出射ポートから測光する測光手段、及び上記被測光領域と上記取付部との間に配設されるバッフルを備える。光源の出射光線が直接被測光領域に入射することをバッフルによって防止し、この被測光領域を測光手段が測光することができるので、取付部の光源の取付状態による測光結果の差異を少なくすることができ、光源の光学性能を容易且つ正確に測光することができる。 （もっと読む）

【課題】段差のあるスイッチ面や表示面の発光部の輝度を容易に測定する。
【解決手段】撮像部２８で、輝度を測定すべき点を含むワーク１０の画像を撮影し、合焦度合演算部５０で検出した画像の合焦状態に基づいて、ワーク１０の前面に焦点を合わせ、テンプレートマッチング演算部１２０で、ワーク１０のレイアウト画像の中の輝度測定点を含む領域をテンプレートとして、焦点が合った画像の中から、テンプレートに対応する領域を探し、輝度測定点に対応する点の輝度を測定する。 （もっと読む）

【課題】 赤外線撮像装置の適用しうる様々な画像補正方式、検知器の諸元に対応可能な共通の補正手段を赤外線撮像装置に備える。
【解決手段】 赤外線撮像装置の製品検査時に、赤外線撮像装置の適用する画像補正方式及び検知器の諸元に従い、画素毎の信号処理回路に入力する検知器からの撮像画像輝度値、及び信号処理回路から出力する撮像輝度値の組合せをルックアップテーブル値として求めてルックアップテーブルに格納する。赤外線撮像装置の運用時に、輝度変換部において、ルックアップテーブルに格納されたルックアップテーブル値を参照することで、赤外線撮像装置の適用する画像補正方式及び検知器の諸元に見合った輝度変換を行う。 （もっと読む）

【課題】空間の明るさ感を適切に評価する。
【解決手段】 実施形態に係る照明環境評価装置は、照明空間内の輝度分布画像を撮像する撮像部と；前記輝度分布画像中にマスク領域を設定するマスク領域設定部と；前記マスク領域の輝度レベルを黒レベルに設定して前記輝度分布画像を表示するための表示制御を行う表示制御部と；を具備し、直接光の影響を排除し、照明空間における間接光のみによる平均輝度を求めて明るさ感を適切に評価する。 （もっと読む）

【課題】薄明視における明るさの計測精度を向上する。
【解決手段】本実施形態の測光装置では、第１光学フィルタ４及び第１光電変換器５からなる第１輝度計測部で明所視輝度Lpを計測し、第２光学フィルタ６及び第２光電変換器７からなる第２輝度計測部で暗所視輝度Lsを計測している。そして、演算部８が、第１輝度計測部の計測値(明所視輝度Lp)と、第１輝度計測部の計測値(明所視輝度Lp)に対する第２輝度計測部の計測値(暗所視輝度Ls)の比率とから薄明視輝度Lmesを演算している。その結果、本実施形態の測光装置は、薄明視における明るさ(薄明視輝度)の計測精度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、例えば蓄光標識等の残留輝度をより高精度に測定し得る残留輝度測定システムおよび該方法を提供する。
【解決手段】本発明の残留輝度測定システムＳは、りん光を放射可能な蓄光部材（蓄光標識ＭＫ）を遮光するための遮光ユニット１Ａと、遮光ユニット１Ａによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を測定する測定ユニット２と、遮光ユニット１Ａによる前記蓄光部材の遮光後に計時を行う計時部と、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に提示する提示部と、測定ユニット２によって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を求める残留輝度演算部とを備える収集処理ユニット３とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、迷光による誤差を補正することによって、より精度よく残留輝度を測定し得る残留輝度測定装置および該システムを提供する。
【解決手段】本発明の残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、遮光された蓄光標識ＭＫの残留輝度を測定するものであって、蓄光標識ＭＫを遮光する遮光部１Ａと、遮光部１Ａによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域からの放射光を受光する測定部１Ｂと、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に測定部１Ｂでそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の複数の強度に基づいて、前記放射光に含まれる迷光の強度を迷光補正値として求め、測定部１Ｂで受光された前記測定域からの放射光の強度を前記迷光補正値で補正して、遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の前記残留輝度を求める収集処理ユニット３とを備える。 （もっと読む）

【課題】操作者の負担の小さい残留輝度測定装置および残留輝度測定システムを提供する。
【解決手段】遮光された蓄光標識１００の測定域の残留輝度を測定する残留輝度測定装置Ｓは、蓄光標識１００の測定域からの放射光を受光するＳＰＤ２１と、ＳＰＤ２１を制御し、測定開始から所定時間経過後までの測定域からの放射光をＳＰＤ２１で測定するとともに、ＳＰＤ２１で測定された測定値を記憶する処理回路２２と、ＳＰＤ２１と処理回路２２とを納める測定ユニット２０および遮光ユニット１０を備えるハウジングとを備え、前記ハウジングは、ＳＰＤ２１が蓄光標識１００の測定域に対向し、前記測定域が周囲光から遮光されるように、蓄光標識１００に脱着可能に固定するための固定手段を装着する固定部としての領域１Ａを有する。 （もっと読む）

【課題】干渉フィルタを用いて高い精度で所望の分光応答度特性を得ることのできる測光機器の受光装置を提供する。
【解決手段】測定目的に応じた所定の分光応答度特性を有するように設計される測光機器の受光装置１０である。入射光を拡散する拡散板１２と、その拡散板１２により拡散された入射光の波長成分を制限する干渉フィルタ１５と、その干渉フィルタ１５と拡散板１２との間に配置され、干渉フィルタ１５の入射面１５ｂにおける入射光の入射角度を制限する入射角度制限部材（１４）と、を備える。 （もっと読む）

【課題】遠距離での３次元輝度分布、正面輝度分布および見かけの正面輝度分布の測定を同時におこなう。
【解決手段】輝度分布測定装置２はＬＥＤを含む複数種類の光源を測定対象物とし、前記測定対象物の輝度分布の測定をおこなう装置であって、前記測定対象物が設置されるワーク４０と、ワーク４０をＸ軸方向に移動させるＸ軸ステージ１０と、ワーク４０をＹ軸方向に移動させるＹ軸ステージ１２と、ワーク４０をθ軸方向に回転させる回転ステージ２０と、ワーク４０をψ軸方向に回転させる回転ステージ２２と、前記測定対象物の輝度を測定するための受光器７０と、受光器７０をＺ軸方向に昇降移動させるＺ軸移動機構６０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】 較正に必要とされる時間を短縮することが出来ると共に、表示部分の照明光の透過度や表示部分の印刷濃度等、表示装置の開発に用いることが出来る基準光源装置を提供する。
【解決手段】 フィルタ部１３には、第一拡散板１４と第二拡散板１５との間に介挿される正面視凹状の中間拡散板１６が設けられていて、３枚が重合させられた状態で、寸法ｄ２の一定間隔の間隙を有するフィルタ収容部１７が形成されている。
そして、フィルタ群１８の中から、異なる色彩からなる何れかのフィルタ部材１８ａ，１８ｂ，…１８ｄ等、が２枚重ねられた状態で、収容される。
２枚の厚さ方向寸法ｄ４，ｄ５が、寸法ｄ２の各々約半分（例えば、約ｄ２＝ｄ４＋ｄ５，ｄ４＝ｄ５）となるように構成されている。 （もっと読む）

【課題】量子効率の測定時における再励起（二次励起）に起因する誤差を低減できる量子効率測定方法、量子効率測定装置、およびそれに向けられた積分器を提供する。
【解決手段】本実施の形態に従う光学測定装置は、分光測定器５０と、測定対象の光を伝搬するための入射側ファイバ２０と、内壁に光拡散反射層１ａを有する半球部１と、半球部１の開口部を塞ぐように配置された、半球部１の内壁側に鏡面反射層２ａを有する平面部２とを含む。平面部２は、入射側ファイバ２０を通じて射出される光を半球部１と平面部２とにより形成される積分空間内へ導くための入射窓５と、出射窓６を通じて積分空間内の光を分光測定器５０へ伝搬するための出射側ファイバ３０を含む。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で容易に画像に重畳するフリッカーを測定できるフリッカー測定方法を提供する。
【解決手段】表示装置１０で表示される画像のフリッカーを測定するフリッカー測定方法であって、測定対象のフリッカーの周期より所定の追加時間分（露光時間）長い時間間隔で、撮像部１００にて画像を撮像させて撮像信号を取得する画像撮像制御工程と、取得した撮像信号における光の強さを、追加時間（露光時間）毎のデータとしてフリッカーの波形を演算するフリッカー波形演算工程と、を実施する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の表面形状に起因した反射成分による温度測定誤差を局部的に補正をすることができる赤外線温度測定装置を提供する。
【解決手段】赤外線エネルギと可視光線とから測定対象物Ｄの温度分布を演算する温度分布演算部３０を備えた赤外線温度測定装置１０であって、可視光線から可視光画像を生成する画像生成部と、可視光画像の各画素の輝度値の度数分布を演算し度数分布の度数のピークとなる輝度値を基準輝度値として演算する基準輝度値演算部と、基準輝度値よりも輝度値が大きい可視光画像の画素を抽出する画素抽出部と、抽出画素の輝度値に対する基準輝度値の比を輝度比として演算する輝度比演算部と、抽出された画素に輝度比を割り当てその他の画素に輝度比として１を割り当てマスクを作成するマスク生成部と、マスクを用いて赤外線画像の各画素の温度に輝度比を乗じて赤外線画像の各画素の温度を補正する温度補正部とを備える。 （もっと読む）

【課題】蛍光灯、電球、ＬＥＤ素子などの測定対象光源からの光の特性を、例えば、光源の色度、照度、演色性、波長、パワーなどをより簡易で、迅速に測定することのできる測光装置を提供する。
【解決手段】各光センサＳ１〜Ｓｎの分光感度特性を元に、各光センサＳ１〜Ｓｎの信号に重み付け係数を掛けて加算する演算部１０２は、測光装置の分光感度特性を、第一の組の重み付け係数を掛けて等色関数に近似した出力特性として、測定対象光源の色度を測定し、また、測光装置の分光感度特性を、第二の組の重み付け係数を掛けて演色性測定の試験色の分光放射輝度率と等色関数の積に合致させて、測定対象光源及び基準光源の色度を測定し、測定対象光源の演色性を測定する。 （もっと読む）

【課題】発光素子の不良の有無を検査し、検査後に不良の発光素子を廃棄することのできる発光素子検査装置及びこれを用いた検査方法を提供する。従って、発光素子の不良検査及び不良廃棄を自動化するとともに一連の過程で迅速に処理することにより、生産性の向上を図ることができる。
【解決手段】本発明の一実施形態による発光素子検査装置は、発光素子のビジョン検査により不良の有無を検査する検査部と、前記検査部から供給された前記発光素子のうち、前記検査部の検査結果に基づいて不良と判定された発光素子を廃棄する不良リジェクト部とを含む。 （もっと読む）

【課題】空港の滑走路や誘導路などに設置された標識灯や誘導灯などの照明装置の測光をカメラを用いて行うことにより、測定機器の軽量化、測定精度やメンテナンス作業の向上がはかれる移動式測光装置を提供する。
【解決手段】所定間隔で配設されて光を発する発光部を備えた複数の照明装置（滑走路中心線灯）Ｌ１からなる照明施設に対し移動自在な車両１と；この車両１に搭載されるとともに走行方向に対面して設けられ測定対象となる照明装置Ｌ１の発光部からの照射光を受光するスクリーン２Ａおよびこのスクリーン２Ａの画像を撮影する測光用カメラ３と；上記車両１に搭載されて上記測定対象となる照明装置Ｌ１に対する上記カメラ３の相対位置を検知する位置検知手段４と；上記カメラ３が撮影した画像データを処理する画像処理装置とを備えた移動式測光装置である。 （もっと読む）

【課題】 画面に特異な部分が存在する場合であっても適正な測光を行うこと。
【解決手段】 画面を複数の領域に分割して測光し、各領域に対する測光値を出力する測光部と、測光部により求めた測光値のばらつきの範囲を求める演算部と、測光部により求めた測光値のうち、ばらつきの範囲に基づく所定の範囲に属する測光値に基づいて、画面の明るさを代表する第１代表輝度値を算出する算出部とを備える。 （もっと読む）