【課題】損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。
【解決手段】
表示手段の表示分解能に応じた表示データを作成する表示データ作成手段とを備えた光パルス試験器において、表示データ作成手段で作成した表示データに基づいて仮の損失分布変極点を検出し、仮の損失分布変極点近傍の測定データに基づいて真の損失分布変極点を特定するとともに真の損失分布変極点を含むイベントを解析する解析手段を備えた。 （もっと読む）

【課題】光ファイバ中の複屈折の増加位置を、簡素な構成で短時間に検出するための解析装置および解析方法を提供する。
【解決手段】光源２および偏波コントローラ３によって、ピーク波長が同じであり、偏波状態が互いに異なる複数の偏光パルスが発生される。偏波解析器５は、複数の偏光パルスの各々が光ファイバ１を伝播することによって生じる後方散乱光を受けて、偏光度を算出する。信号処理部６は、偏波解析器５によって算出された偏光度を用いて、偏波状態ごとに、偏光度の、光ファイバ１の長手方向の分布を算出する。信号処理部６は、その分布から、偏光度の最大値および最小値の差分のピークを検出する、あるいは、偏光度のピークを検出することによって、光ファイバ１における複屈折の増加位置を検出する。 （もっと読む）

【課題】ファイバの故障診断の測定を長距離且つ高分解能に対応して行うことを目的とする。
【解決手段】本発明のファイバ測定装置１は、ファイバ２に出力したレーザ光の戻り光を検出するフォトディテクタ６と、フォトディテクタ６が検出した戻り光の信号のうちレーザ光の周波数成分を抽出する帯域制限回路１２と、帯域制限回路１２により帯域制限がされた信号の波形を微分して、微分した信号を微分する前の信号に加算する第１微分回路３１および加算回路３２を有する波形等化回路１５と、を備えている。これにより、長距離且つ高分解能にファイバの故障診断の測定を行うことができるようになる。且つ、アナログ回路で構成しているため、単純な回路構成および簡単な処理でリアルタイムに故障診断の測定を行うことができるようになる。 （もっと読む）

【課題】低コストで、光コムによるフェーディング雑音低減効果を得る。
【解決手段】光源１１及び光コム発生部１２で発生される光コムを外部変調器１３に入射して、各輝線スペクトルの変調側波帯を時間に対して線形に周波数掃引し、周波数掃引された出力光を第１の光方向性結合器１４にて２分岐し、一方を参照光１７とし参照光経路に入射し、もう一方を信号光１６として被測定物１５に入射する。被測定物１５内の各地点で反射または後方散乱された信号光１６を取り出して、第２の光方向性結合器１８で参照光１７と合波して干渉ビート信号を生じさせ、干渉ビート信号を受信器１９で受光し、周波数解析装置２０で解析することにより、被測定物１５内の各地点における反射率及び損失を測定する。ここで、参照光１７と信号光１６との間に与える遅延時間差を変えて複数回の測定を行い、反射率及び損失を加算平均して、フェーディング雑音を低減する。 （もっと読む）

【課題】
ＰＯＮシステムの個々の加入者側光回線終端装置（ＯＮＵ）に接続する分岐光ファイバ上の多重反射をもたらす反射点を特定する。
【解決手段】
ＯＴＤＲ計測装置（４４）を局側光回線終端装置（ＯＬＴ）の変わりに幹線光ファイバ（５０）に接続し、光伝送路上の反射点の位置をＯＴＤＲにより計測する。多重反射計測装置（１０）を幹線光ファイバ（５０）に接続し、多重反射計測装置（１０）は、各ＯＮＵ（５６−１〜５６−ｎ）を順に指定して上り光信号を送出させ、受信光中に上り光信号に続く多重反射光信号がある場合の、上り光信号に対する多重反射光信号の遅延時間を計測する。ＣＰＵ（２０）の反射点特定機能（４２）が、ＯＴＤＲ計測装置（４４）の計測結果と多重反射計測装置（１０）の計測結果とから多重反射をもたらす反射点の位置を特定する。 （もっと読む）

【課題】 広帯域な試験光を用いた際の波長分散による反射点のずれを補償し、低フェーディング雑音と高分解能性を両立した測定を行う。
【解決手段】 測定干渉計側で被測定対象１４に対するＣ−ＯＦＤＲ測定を行うと共に、被測定対象１４と同等のＣＤ係数を有する遅延ファイバ２１を備える参照干渉計において測定信号をリサンプリングすることで、ＦＳＡＶを適用するために異なる波長での測定を実施した場合においても、ＣＤによる反射点位置のずれ（加算平均後の反射波形広がり）を補償し、分解能を維持したままフェーディング雑音を低減する。 （もっと読む）

【課題】 作業者に波形読取スキルや設備ＤＢ操作スキルを要求することなく、設備属性情報を取得できるようにする。
【解決手段】 光ファイバ網を構成する光アクセス設備それぞれの光ファイバ内に光学識別データを刻印すると共に光アクセス設備それぞれに対応する設備情報を設備データベース１８に登録しておき、光アクセス設備それぞれの光ファイバに試験光を出射してその反射光を受光することで光アクセス設備それぞれの光ファイバ内に刻印された光学識別データを読み取り、読み取られた光学識別データを設備データベース１８内の設備情報と照合することで光アクセス設備それぞれの設備情報を提供する。 （もっと読む）

【課題】基準ファイバならびに測定対象である光ファイバが無くともＡＰＤの増倍率の補正が容易に出来る光パルス試験器およびその調整方法を提供することを目的とする。
【解決手段】光パルスではなくタイミング制御不要な連続光を試験対象の光ファイバを接続するための外部接続部に向けて射出し、当該連続光の後方散乱光よりレベル大きい反射光をアバランシェフォトダイオード（ＡＰＤ）で受光し、ＡＰＤの増倍率を決定するＡＰＤバイアス電圧を変化させ、ＡＰＤの増倍率とＡＰＤバイアス電圧の組み合わせを複数検出することによってＡＰＤの増倍率の補正を行う。 （もっと読む）

【課題】フィルタ次数が低いローパスフィルタを用いた場合であっても所望の周波数および波形を有する信号を高精度に生成することができるダイレクトデジタルシンセサイザ（ＤＤＳ）を提供する。
【解決手段】ＤＤＳ１００は、累積加算部１１０，位相加算部１２０および位相振幅変換部１３０等を備える。累積加算部１１０は、基準クロックclockが一定周期で指示する各タイミングで周波数指令値ｐを累積加算して、当該累積加算値を出力する。位相加算部１２０は、この累積加算値に位相オフセット値ｑを加算して、当該加算値Ｒを出力する。位相振幅変換部１３０は、この加算値Ｒを位相値とし、波形標本数Ｍ個のデジタル振幅値のうち、位相値Ｒを値Ｍで除算したときの剰余の値ｒに対応するデジタル振幅値を出力する。周波数指令値ｐと波形標本数Ｍとの最大公約数は周波数指令値ｐより小さい。 （もっと読む）

【課題】双方向ＯＴＤＲ測定法によって、光ファイバ長手方向の曲げ損失の分布を測定できるようにすることにある。
【解決手段】光ファイバの双方向ＯＴＤＲ測定により得られた２つの後方散乱光の位置ｘでの２つの後方散乱光強度から相加平均値Ｉ（ｘ）を算出し、この相加平均値から算出される位置ｘにおけるモードフィールド径２Ｗ（ｘ）と比屈折率差Δ（ｘ）から、位置ｘにおける曲げ損失値を得る光ファイバの曲げ損失の長手方向分布の測定方法である。曲げ損失値を得るときに、対象となる光ファイバを、その光ファイバの屈折率分布がこれと等価なステップ型屈折率分布を有する光ファイバとみなし、このステップ型屈折率分を有する光ファイバの規格化周波数Ｖとコア半径ａとモードフィールド径２Ｗの関係式から位置ｘにおける曲げ損失値を算出することが好ましい。 （もっと読む）

【課題】光線路長のデータを精度良く取得し、識別子に対応付けて光設備を判定する。
【解決手段】心線判定装置６０は、ＯＬＴ制御端末によって取得されるＯＬＴ１１とＯＮＵ２０−１〜２０−８それぞれとの間の応答遅延時間に基づいて、ＯＬＴ１１とＯＮＵ２０−１〜２０−８それぞれとの間の光線路長を算出する。また、心線判定装置６０は、光パルス試験制御端末５０を制御して光パルス試験装置３０による光パルス試験を実行させ、ＯＬＴ１１と光フィルタ２２−１〜２２−８それぞれとの間の光線路長を算出する。算出された光線路長はそれぞれ照合され、ＯＬＴ１１とＯＮＵ２０−１〜２０−８それぞれとの間の光線路長、及びＯＬＴ１１と光フィルタ２２−１〜２２−８それぞれとの間の光線路長は、対応するＯＮＵのＭＡＣアドレスと対応付けられる。 （もっと読む）

【課題】 ダイナミックレンジを向上するために必要となる測定時間を短縮する。
【解決手段】 被試験光ファイバ１８からの後方散乱光と試験光（局発光）とを結合した光をバランス型光受信器２０によって受信して電流を出力し、この電流を周波数分離部２１〜２３によって周波数毎に分離して数値化処理器２４で数値化し、演算処理装置２５で試験光の複数の周波数成分による被試験光ファイバ１８からの後方散乱光の反射率分布を求める。例えば、試験光の周波数をＹ個、所定時間間隔毎に所定周波数間隔だけ変化させた場合には、従来法のＯＴＤＲ測定に比べ、一回の測定当たりの加算平均処理数をＹ倍多く実行することが可能、すなわち、従来法と同じダイナミックレンジを得るための測定時間を１／Ｙに短縮することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】非常に小さな半径で曲げても曲げ損失が出ないＨＡＦ等の新種類の光ファイバに対しても曲げ部を遠隔から検出することが可能な光線路測定装置及び光線路測定方法を提供する。
【解決手段】レーザ光源からの出力光の偏波状態を偏波制御機能装置１３により変化させ、変化後の出力信号を被測定光線路２０へ出力する。光線路測定装置１０は、被測定光線路２０からの後方散乱光を受け取り、光周波数リフレクトメトリ測定方法（ＯＦＤＲ）を使用してＳＯＰ分布情報を測定する。そして、このＳＯＰ分布情報に基づいて被測定光線路２０における複屈折率分布を算出する。 （もっと読む）

【課題】測定にかかる時間を予めユーザに通知することができる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】測定時間演算手段は、フォトカウント部でのカウント数に基づく測定のダイナミックレンジと、光ファイバの測定距離範囲と、フォトカウント部を有効とするゲート信号のゲート幅とに基づいて測定に要する時間を算出する。表示手段は、測定時間演算手段により算出された前記時間を表示する。 （もっと読む）

【課題】波長固定の分岐器を介して接続したＷＤＭ−ＰＯＮシステムの障害検知を、インサービスの状態で実現できるようにする。
【解決手段】線路カプラ２１を介してＷＤＭ−ＰＯＮシステムの共通光ファイバ線路１７を伝送する信号光Ｐｃを受け、信号光スペクトラム検出部３０によってそのスペクトラムを検出する。制御部５０は、そのスペクトラム検出結果に基づいて、共通光ファイバ線路１７を伝送していない信号光波長があれば、それを試験波長と決定して、その試験波長による測定を光反射測定部４０に指示する。光反射測定部４０は、試験波長の光パルスＰｏを共通光ファイバ線路１７へ入射し、その光パルスＰｏに対するＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光Ｐｒを受光して、共通光ファイバ線路１７から試験波長に対応した個別光ファイバ線路１８に至る光路の伝送損失特性を求める。 （もっと読む）

【課題】実用的な構成で広い測定可能距離範囲に亘って高い空間分解能でＰＯＮシステムの光線路を監視することが可能な光線路監視システムおよび装置を提供する。
【解決手段】光線路監視システム１Ａは、光線路監視装置１３Ａおよび反射フィルタ２２_１，…，２２_ｎを備え、光線路監視装置１３Ａは、光源４１、強度変調器４２、光結合器４３、監視光ゲート部４４、光サーキュレータ４５、偏波変調器４６、遅延光ファイバ４７、光結合器５１、バランス検波器５２、第１フィルタ５３、電気信号ゲート部５４、第２フィルタ５５、ＲＦ検波器５６、ＡＤ変換器５７、制御部６１Ａおよび信号発生器６２〜６５を備える。監視光ゲート部４４は、光分岐器４３から出力された監視光を入力して、監視光ゲート信号Ｃのゲート幅ｗ１のパルスの期間のみ該監視光を光サーキュレータ４５へ出力する。電気信号ゲート部５４は、バランス検波器５２から出力された電気信号を入力して、電気信号ゲート信号Ｄのゲート幅ｗ２のパルスの期間のみ該電気信号を第２フィルタ５５へ出力する。 （もっと読む）

【課題】光スプリッタ下流側における個別の分岐ファイバの線路特性を、低コストで精密に測定可能にすること。
【解決手段】λ１，λ２，…，λｎの波長の試験光によりＯＴＤＲ波形を各波長ごとに得て、さらに、これらのいずれとも異なる基準光λ０のＯＴＤＲ波形を得る。そして各波長のＯＴＤＲ波形から基準光λ０のＯＴＤＲ波形を減算することにより、各分岐ファイバ１０の単独での折り返し波形を得る。さらに、この折り返し波形を反射点Ｔに対して点対称に射影したのち、ＦＢＧ型光フィルタによる反射減衰量を補正することにより、各分岐ファイバ単独での後方散乱光情報を復元する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物において発生するレイリー散乱光および離散的な反射光を高精度に検出することができる光反射測定装置を提供する。
【解決手段】光反射測定装置１３Ａは、光源部４０Ａ，測定部６０Ａおよび処理部７０を備える。光源部４０Ａは、光周波数が変調されて櫛歯状の光波コヒーレンス関数を有する第１監視光およびパルス状の第２監視光の何れかを選択して光結合器１２へ出し、第１監視光の一部を分岐して参照光として光変調器５１へ出力する。測定部６０Ａは、第１監視光が測定対象物を伝搬する際に生じる反射光および光源部４０Ａから出力される参照光に基づいてＯＣＤＲ測定結果を取得し、第２監視光が測定対象物を伝搬する際に生じる反射光に基づいてＯＴＤＲ測定結果を取得する。処理部７０は、測定部６０Ａにより取得されたＯＣＤＲ測定結果とＯＴＤＲ測定結果とを組み合わせて出力する。 （もっと読む）

【課題】光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができる光パルス試験装置を提供する。
【解決手段】光パルス試験装置１は、ゴーレイ符号を用いた符号変調が行われた光パルス列を生成するレーザ光源１２と、レーザ光源１２からの光パルス列を増幅するＥＤＦＡ１３と、ＥＤＦＡ１３により増幅された光パルス列を光ファイバ４０に入射させて得られる後方散乱光を受光する受光回路１７と、ＥＤＦＡ１３から出力される光パルス列のパワー変動に応じて受光回路１７から得られる受光信号のレベルを補正するレベル補正部３２と、レベルが補正された受光信号に対して相関処理を施すことにより復調を行う相関処理部３３とを備える。 （もっと読む）

【課題】 測定される任意の位置からの反射光強度を調節することができ、強反射点近傍においても高分解能な測定を行えるようにする。
【解決手段】コヒーレント光源１１から出力されるコヒーレント光の変調側波帯周波数をＤＳＢ−ＳＣ変調器１２を用いて掃引し、かつ信号光中の参照光の光路中の少なくとも一方に遅延時間を付加し（１７，１８）、その遅延時間を調節することで測定される強反射点の反射光強度を減衰させて、位相雑音レベルを低下させ、この状態で再度測定を実施する（２０，２１）。 （もっと読む）