【課題】遮蔽計算の計算時聞・計算書作成時間を低減させた上で、計算精度の高い放射線遮蔽計算システムおよびプログラムを提供する。
【解決手段】放射線遮蔽計算システムは、３次元データ作成装置と計算ソフト装置とを備えるとともにＸ線線源から所望の計算点における実効線量を計算する放射線遮蔽計算システムにおいて、上記３次元データ作成装置は、計算対象の建屋の３次元データが入力されるとともにＸ線照射条件の設定を行う入力部と、上記３次元データに基づいて遮蔽計算用パラメータを算出するＣＡＤ制御部と、上記遮蔽計算用パラメータを変数ファイルとして出力する変数ファイル出力部と、を有し、上記計算ソフト装置は、上記３次元データ作成装置から受信した変数ファイルをデータ変換する自動変換部と、上記計算点での実効線量を計算する計算ソフト制御部と、を有する。 （もっと読む）

【課題】
ナイフエッジを用いて回折Ｘ線と透過Ｘ線を利用して高精度なＸ線ビームプロファイルの計測を行うことができる暗視野計測法において、一つのナイフエッジを用いて異なる波長のＸ線の計測に対応でき、またＸ線ビームの焦点深度やその他の計測装置の条件に応じて最適な計測を行うことが可能なＸ線ナノビーム強度分布の精密測定方法及びその装置を提供する。
【解決手段】
ナイフエッジ４は、それを透過するＸ線の位相を進める作用を有する重金属で長手方向に厚さを連続的又は段階的に変化させて作製するとともに、透過Ｘ線と該ナイフエッジの先端で回折した回折Ｘ線とが強め合う範囲の位相シフトが得られる厚さ位置でＸ線ビームを横切るように設定し、回折Ｘ線と透過Ｘ線とが重ね合わさったＸ線をＸ線検出器で測定する。 （もっと読む）

【課題】 ２段の放射線検出器で取得される画像間でのずれを低減することが可能なデュアルエナジータイプの放射線検出装置を提供する。
【解決手段】 放射線入射方向に対して上流側に位置して低エネルギ範囲の放射線を検出する第１放射線検出器と、下流側に位置して高エネルギ範囲の放射線を検出する第２放射線検出器とによって、放射線検出装置を構成する。また、このような構成において、第１放射線検出器での撮像素子１２における画素１３の画素幅ｐ１と、第２放射線検出器での撮像素子２２における画素２３の画素幅ｐ２とを、撮像素子間の距離Δｄを考慮して異なる幅に設定するとともに、第１、第２撮像素子１２、２２での複数の画素をそれぞれ複数の画素単位に区分し、第２撮像素子２２における画素単位幅ｗ２を、第１撮像素子１２における画素単位幅ｗ１よりも大きく設定する。 （もっと読む）

【課題】高密度で並べることができ、接続信頼性の高い放射線検出器を提供する。
【解決手段】放射線検出器１は、放射線を検出可能な半導体素子と、半導体素子が固定される基板２０と、半導体素子の基板２０の反対側に設けられる素子用電極に接続する接続パターンを有し、可撓性を有するフレキシブル基板４０とを備え、半導体素子は、基板２０の一方の面に設けられ、フレキシブル基板４０は、半導体素子の基板２０の反対側に設けられる。 （もっと読む）

【課題】放射線検出装置の効率較正の精度が低下してしまうことを防止しつつ、効率較正に要する演算負荷を低減し、迅速に効率較正をおこなう。
【解決手段】放射線計測系での放射線の輸送をモンテカルロ法のシミュレーションにより演算し、輸送の演算結果に基づき放射線検出器のγ線に対する効率較正用の全吸収ピーク効率を算出する際に、放射線計測系をモデル化して少なくとも１つ以上の演算対象領域を設定し、シミュレーションの実行を許可する放射線の下限エネルギー閾値であるカットオフエネルギーを、放射線の種類毎および演算対象領域毎に設定する。 （もっと読む）

【課題】高密度で並べることができる放射線検出器を提供する。
【解決手段】本発明に係る放射線検出器１は、放射線を検出可能な半導体素子と、半導体素子が固定される基板２０と、半導体素子の隣接部分にて基板２０を支持する支持部材とを備える。 （もっと読む）

【課題】ファラデーカップと二次電子増倍管を備えるイオン検出器において、小型化・低価格化を可能とする。
【解決手段】イオンビームが通過する開口部１２を有する筐体１１と、開口部１２を通るイオンビームの飛行方向延長線上に位置するファラデーカップ２０と、飛行方向延長線からそれた方向にイオンビームの入射部３２を有する二次電子増倍管３０とを備えるイオン検出器１０であって、ファラデーカップ２０は、飛行方向延長線上に位置する底板部２１と、底板部２１の周囲に設けられた側板部２２ａ，２２ｂと、側板部２２ａ，２２ｂに囲まれた内部を複数の空間に区画する仕切り板部２３とを有し、側板部２２ａ，２２ｂは、入射部３２に近い側から遠い側に向かって高さが連続的または段階的に増大し、仕切り板部２３は、入射部３２から遠い側板部２２ｂの高さよりも低く、かつ入射部３２に近い側板部２２ａの高さよりも高く形成されている。 （もっと読む）

【課題】重イオンや超高分子をエネルギー分解能良くかつ検出効率も高く、高速で時間精度良く測定でき、粒子源からの輻射熱の影響も受け難い放射線検出器およびその放射線検出器を用いた分析装置を提供すること。
【解決手段】中央も含めて超伝導直列接合４で検出器用の基板１の表側を出来るだけ広く均一に覆うこと、薄い基板１を用いること、基板の少なくとも１つの表面に輻射反射膜２５を設けること、あるいは基板の超伝導直列接合を設けた面とは反対側の面の上に直接に超伝導体帯状薄膜検出器２８を設けることによって解決できる。 （もっと読む）

【課題】 電子線照射により試料から発生するＸ線を検出する分析方法において、試料が電子線照射により損傷を受ける前に測定を自動的に停止させる。
【解決手段】 電子線照射により試料から発生したＸ線、二次電子等をそれぞれＸ線検出器２４、電子検出器２３で検出し経過時間情報、座標位置とともに時系列的に組み合わせた時系列データとして記憶部３４に格納する。測定しながら、測定開始から一定の時間間隔で記憶部３４からＸ線信号を抽出しＸ線スペクトルを再生する。スペクトル全体又は任意に指定したエネルギー範囲のＸ線強度の時間経過に伴う変動をモニタし、異常を検知したら手動又は自動的に測定を中止する。 （もっと読む）

【課題】本願発明の目的は、電子が持つスピンを高効率で分解でき、100kVレベルに電子線を加速する必要がない小型で安価に製作できる電子スピン検出器を提供することである。
【解決手段】電子スピン検出器は、複数の磁気抵抗素子504と、電子線の減速レンズ505を備え、各磁気抵抗素子504は減速レンズ505によって広がった電子線が垂直入射できるよう傾斜させて配置させることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】従来のナイフエッジスキャン法よりも作製が容易な遮蔽板を用い、かつ、遮蔽板の位置調整をより簡便にした、簡便で信頼性の高いＸ線ビームの断面強度分布測定方法を提供すること。
【解決手段】反射体２は、面粗さＲａがナノメータオーダである反射面３を有している必要があり、反射面３を入射Ｘ線ビーム１に対して全反射臨界角以下の角度ωだけ傾斜させて配置する。そうすると全反射であるため、反射Ｘ線ビーム６が反射体に侵入する侵入領域８の深さ、侵入深さδは数ナノメータとなり、したがって、通過Ｘ線ビーム７の遮蔽端のボケｃも数ナノメータとなる。反射Ｘ線ビーム６の端のボケもほぼδであり同様である。よって反射体２を、矢印Ａで示す入射Ｘ線ビーム１に直交する方向に移動させて通過Ｘ線ビーム７の強度を測定し、その変化を微分処理することにより、理想的なナイフエッジスキャンを行うことができる。 （もっと読む）

【課題】対象物に含まれる異物の検出精度を向上させることができるＸ線画像取得システムを提供する。
【解決手段】Ｘ線画像取得システム１は、所定の厚みＷを有する対象物ＳにＸ線源からＸ線を照射し、対象物Ｓを透過したＸ線を複数のエネルギ範囲で検出する。Ｘ線画像取得システム１は、対象物Ｓ内において厚み方向に延在する領域Ｒ１を透過したＸ線を低エネルギ範囲で検出する低エネルギ検出器３２と、対象物Ｓ内において厚み方向に延在する領域Ｒ２を透過したＸ線を高エネルギ範囲で検出する高エネルギ検出器４２と、対象物Ｓ内の所定箇所に位置する被検査領域Ｅが領域Ｒ１及び領域Ｒ２に含まれるように低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２でのＸ線の検出タイミングを制御するタイミング制御部５０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】複数回の相互作用が発生した場合であっても相互作用位置を検出可能な半導体放射線検出装置を提供する。
【解決手段】半導体結晶の両面に設けられた分割電極１１，１２から得られる信号から各相互作用のエネルギーデポジット値を求めるエネルギー算出部３２と、結晶内の各位置について単一の相互作用が発生した場合に分割電極から得られる波形をあらかじめ記憶するリファレンス波形記憶部３３と、結晶内の任意の２点を相互作用の候補点として、それぞれの候補点に対応するリファレンス波形をエネルギーデポジット値の比に応じて合成する波形合成部３４と、計測された波形と合成波形を比較する比較部３５を有し、最も類似する合成波形を与える候補点を相互作用の位置とする。ここで、電極から得られる波形を解析することで相互作用の位置を大まかに限定し、リファレンス波形の合成・比較する量を減らすことが好適である。 （もっと読む）

【課題】火山等の巨大物体の内部構造を遠隔地からリアルタイムで可視化し解析することができる観測装置を提供する。
【解決手段】巨大物体を通過した宇宙線を検出するためのミュオンセンサがそれぞれ複数実装されてなる１対のミュオンセンサーモジュールと、各ミュオンセンサの出力信号を受け取って処理するミュオンリードアウトモジュールと、前記ミュオンセンサーモジュールとミュオンリードアウトモジュールとを収容し、筐体とを有し、前記ミュオンリードアウトモジュールは、基板と、この基板に実装され、前記各ミュオンセンサーモジュールに接続され、各ミュオンセンサからの検出信号を処理し角度分布ヒストグラムを生成しメモリに蓄積するミュオンリードアウト処理回路と、上記基板に実装され、メモリから呼び出し手外部システムに出力するイーサネット（登録商標）インタフェースと、を有するものであることを特徴とする巨大物体計測装置。 （もっと読む）

【課題】微量の元素の分析を効率よく行う。
【解決手段】Ｘ線検出器１１〜１Ｎの出力パルスは、それぞれパルス時刻検出回路（時刻検出部）２１〜２Ｎに入力される。パルス時刻検出回路２１〜２Ｎは共通のクロックで動作し、それぞれＸ線検出器１１〜１Ｎの出力パルスが入力された到着時刻をそれぞれ認識する（出力Ａ_１〜Ａ_Ｎ）。Ｎ個のＸ線検出器１１〜１Ｎからの独立した出力パルスにおいて、ほぼ同時、すなわち、到着（出力）時刻の時間差が予め設定されたある一定の短い間隔（例えば１００ｎｓ）内である２つの出力パルスが出力パルス組として取り出される。この出力パルス組の抽出は、ＯＲ回路、時間差判定回路、抽出回路からなるパルス組抽出部でなされる。 （もっと読む）

【課題】強度高エネルギーの中性子ビームの積分フラックスのその場測定を可能とする、放射性物質を使用しない可搬型の測定演算装置を提供する。
【解決手段】ラジエータから中性子ビームに対して所定の角度（オフアングル角度）をおいて配置され、ノイズを防止する放射線遮蔽体に覆われた半導体検出器によって、ラジエータから発生する反跳陽子で所定のエネルギー以上のものの強度を測定し、それに所定の校正定数を乗ずることによって中性子ビームの積分フラックスを求める。 （もっと読む）

【課題】エネルギー分解能が良好な１次元の位置感応型Ｘ線検出器を用いることで、受光側にモノクロメータを配置することなく、蛍光Ｘ線に起因するバックグラウンドを低減する。
【解決手段】入射Ｘ線２８と回折Ｘ線３０とのなす角度を変更しながら試料２０からの回折Ｘ線３０の強度をＸ線検出器１０で検出する。Ｘ線検出器１０はシリコン・ストリップ検出器であり、細長く延びる単位検出領域を複数個備えている１次元の位置感応型検出器である。この検出器は、受光したＸ線のうち、そのＸ線エネルギーが上限値と下限値の間にあるものだけを弁別する機能を備えている。ＣｕＫαにおけるエネルギー分解能は２０％以下である。上述の上限値と下限値を適切に設定することで、蛍光Ｘ線の大半をカウントしないようにすることができて、本来の回折Ｘ線の強度をあまり下げずに、バックグラウンドを大幅に下げることができる。 （もっと読む）

【課題】放射線源から放射線が放射される方向に長さを確保できない場所で放射線計測を行うことができるようにする。
【解決手段】放射線が照射されると光を発するシンチレータ１１と、一端部１２ａと他端部１２ｂとを有し、一端部１２ａにはシンチレータ１１が取り付けられると共に光が入射される入射面１２ｃが設けられ、他端部１２ｂには光が射出される射出面１２ｄが設けられ、入射面１２ｃから射出面１２ｄに光を導く光導波路１２とにより放射線プローブ１０を構成する。また、入射面１２ｃを射出面１２ｄに対して垂直に配置する。これにより、入射面１２ｃに対して垂直な方向の長さを小さくして光導波路１２に光を入射することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】起動から検出器が安定状態になるまでの無駄な待機時間を短縮するとともに、検出器が不安定である状態での無駄なデータ収集を防止する。
【解決手段】起動時には検出器３でノイズが多く発生するためプリアンプ４で生成される階段状の電圧パルス信号の傾斜は急でリセットパルスＲＳＴの時間間隔ｔは狭いが、検出器３が安定状態になってノイズが減ると時間間隔ｔは広がる。そこで、リセットパルスＲＳＴの発生の間隔をパルス間隔測定部１１により計測し、判定部１２はその計測された時間間隔ｔが所定の閾値ｔ１を超えたならば表示部１３に指示を与え、分析可能状態になったことを知らせる表示を行う。これにより、無駄な待機時間がなくなり、確実に検出器が安定状態となった後に分析を実行することができる。 （もっと読む）

【課題】液体シンチレーションカウンタにおいて、光電子増倍管の電源電圧の校正の必要性を適切に判断できるようにする。
【解決手段】β線標準サンプル及び外部標準線源(γ線線源)を用いて生成された評価用スペクトル（γ線コンプトンスペクトル）１００に対して、第１位置Ｒ１及び第２位置Ｒ２が定められる。第１位置Ｒ１はウインド１０２を所定比率で内分する位置であり、その位置は例えば外部標準線源チャンネル比法において定められるＥＳＣＲ値である。第２位置Ｒ２は評価用スペクトル１００の上端に定められ、それもウインド１０４を所定の内分比率で内分する位置である。２つの位置においてスペクトルの変動を観測できるので校正の必要性をより的確に判断できる。 （もっと読む）