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Fターム[2G088GG30]の内容

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Fターム[2G088GG30]に分類される特許

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【課題】コイル位置や磁場の調整を行うことない偏極ビームのスピン反転方法及びスピン反転装置を提供する。
【解決手段】空間部31eに連通された開口部31c、31dを備え、開口部31cから入射させたスピンを有する粒子からなるビームを、開口部31dから出射可能なスピン反転装置であって、開口部31c、31dで、通過する粒子に次式(1)、(2)で表されるスピン非断熱遷移が起きる磁場を印加可能であるスピン反転装置31を用いる。断熱ポテンシャルがLandau−Zener型交差の場合、[数1]


断熱ポテンシャルがRosen−Zener型非交差の場合、[数2]
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【課題】イメージングプレートを利用した放射線量測定において、自然界からの放射線量(バックグラウンド放射線量)の影響を考慮し、測定目的の放射性物質の存在領域の判定とその領域の放射線量の算出を定量的に行う方法及び放射線量測定装置を提供する。
【解決手段】バックグラウンド放射線量画像データの所定画素数に閾値を設定し、この閾値以上の放射線量画像データの画素が所定数以上に亘って連続する領域を前記放射性物質の存在位置として判定する。閾値は、バックグラウンド放射線量画像データの画素の99%(〜99.9%)を含むような値とし、前記放射性物質の存在位置として判定する前記領域は、40画素以上が連続する領域とする。前記放射性物質の放射線量は、代表的な1スポット試料を用いて得られた関係式から算出する。これによって、前記放射性物質の領域及び放射線量を定量的に算出することができる。 (もっと読む)


【課題】より小規模かつ低コストで、素粒子や宇宙線が引き起こす物理現象を観測できる装置を提供する。
【解決手段】観測装置の観測部には、シリコン基板を加工形成した凹凸部が設けられ、凹部33と凸部34の間の傾斜角を50度〜60度、凸部34の厚みを3〜50μmに設定する。この観測装置によって、凹部33および凸部34の間の傾斜面36に、観測部に入射したニュートリノといった素粒子によるチェレンコフ光を観測することができ、大掛かりな装置を利用することなく、低コストで、素粒子や宇宙線が引き起こす物理現象を観測することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】低速陽電子パルスビーム寿命測定法による薄膜材料の空孔サイズ計測の精度を向上させるために、従来よりも時間分解能に優れた低速陽電子パルスビーム測定方法及び測定装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】陽電子消滅ガンマ線を真空中で電場を印加した多孔材料体に照射し、ガンマ線照射により空孔壁から真空中に放出される電子を直接検出することによって陽電子消滅のタイミング計測を行うことを特徴とする低速陽電子パルスビーム寿命測定方法及び陽電子発生源と、パルス化装置と、試料と、陽電子消滅ガンマ線を電子に変換する多孔材料体と、該多孔材料体とアノード間に電場を印加する高電圧源を備えた低速陽電子パルスビーム寿命測定装置。 (もっと読む)


【課題】
ナイフエッジを用いて回折X線と透過X線を利用して高精度なX線ビームプロファイルの計測を行うことができる暗視野計測法において、一つのナイフエッジを用いて異なる波長のX線の計測に対応でき、またX線ビームの焦点深度やその他の計測装置の条件に応じて最適な計測を行うことが可能なX線ナノビーム強度分布の精密測定方法及びその装置を提供する。
【解決手段】
ナイフエッジ4は、それを透過するX線の位相を進める作用を有する重金属で長手方向に厚さを連続的又は段階的に変化させて作製するとともに、透過X線と該ナイフエッジの先端で回折した回折X線とが強め合う範囲の位相シフトが得られる厚さ位置でX線ビームを横切るように設定し、回折X線と透過X線とが重ね合わさったX線をX線検出器で測定する。 (もっと読む)


【課題】輝尽性蛍光体を用いて少線量及び/又は大線量の放射線を計測する方法及び装置を提供する。
【解決手段】放射線計測装置1は、放射線画像を記録した輝尽性蛍光体11に長波長の励起光を照射する光源2と、輝尽性蛍光体11から発生する蛍光を測定する蛍光強度測定器3と、輝尽性蛍光体に白色可視光又は短波長の励起光を照射する光源2と、輝尽性蛍光体から発生する光子数を測定する光子計数検出器4と、輝尽性蛍光体11に励起光を照射しているときに蛍光強度を測定し、白色可視光、短波長の励起光及び励起光の照射制御及び輝尽性蛍光体に励起光を照射しているときに光子数を測定する制御を行なう制御手段5とからなる。 (もっと読む)


【課題】従来のナイフエッジスキャン法よりも作製が容易な遮蔽板を用い、かつ、遮蔽板の位置調整をより簡便にした、簡便で信頼性の高いX線ビームの断面強度分布測定方法を提供すること。
【解決手段】反射体2は、面粗さRaがナノメータオーダである反射面3を有している必要があり、反射面3を入射X線ビーム1に対して全反射臨界角以下の角度ωだけ傾斜させて配置する。そうすると全反射であるため、反射X線ビーム6が反射体に侵入する侵入領域8の深さ、侵入深さδは数ナノメータとなり、したがって、通過X線ビーム7の遮蔽端のボケcも数ナノメータとなる。反射X線ビーム6の端のボケもほぼδであり同様である。よって反射体2を、矢印Aで示す入射X線ビーム1に直交する方向に移動させて通過X線ビーム7の強度を測定し、その変化を微分処理することにより、理想的なナイフエッジスキャンを行うことができる。 (もっと読む)


【課題】 X線分析装置において、既知なX線をモニターする必要が無く、高エネルギー分解能を得ること。
【解決手段】 X線を受けてそのエネルギーを温度変化として検出し電流信号として出力するTES1を有するセンサ回路部2と、該センサ回路部2に定電圧を印加してバイアス電流を流すバイアス電流源3と、TES1に流れる電流を検出する電流検出機構4と、該電流検出機構4に接続され検出された電流に基づいて波高値を測定する波高分析器5と、電流検出機構4に接続されバイアス電流によってTES1に流れるベースライン電流を検出するベースラインモニター機構6と、該ベースラインモニター機構6で検出したベースライン電流が既定値からずれて変動している場合にその変動幅に応じてベースライン電流を修正するためにバイアス電流を調整するバイアス電流調整機構7と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】 X線分析装置において、既知なX線をモニターする必要が無く、高エネルギー分解能を得ること。
【解決手段】 X線を受けてそのエネルギーを温度変化として検出し電流信号として出力するTES1を有するセンサ回路部2と、これに定電圧を印加してバイアス電流を流すバイアス電流源3と、TES1に流れる電流を検出する電流検出機構4と、電流検出機構4に接続され検出された電流に基づいて波高値を測定する波高分析器5と、電流検出機構4に接続されバイアス電流によってTES1に流れるベースライン電流を検出するベースラインモニター機構6と、ベースラインモニター機構6で検出したベースライン電流が既定値からずれて変動している場合にその変動幅に応じて電流検出機構4で検出した電流又は波高分析器5で測定した波高値を補正する感度補正演算部7と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】数Gyの放射線照射により発色する高感度であり、リアルタイムに発色し、エックス線透視においても観察を妨げないカラー線量計を提供する。
【解決手段】少なくとも、有機ハロゲン化物を含有するか或いは有機ハロゲン化物を骨格に有するポリマー1と、pH指示薬を含有するが、有機ハロゲン化物を含有せず、且つ有機ハロゲン化物を骨格に有しないポリマー2とが接触しているカラー線量計。前記ポリマー1とポリマー2とが少なくとも二層以上に積み重なって接触していることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】最表面2〜3原子層における元素と原子層とを選別した磁気構造解析を行う方法とその装置を提供する。
【解決手段】試料から散乱した散乱イオン強度を入射イオン種のスピン別に計測し、その計測データにより試料表面の磁気構造を解析する。 スピン偏極イオンを発生させるスピン偏極イオン発生部と、前記スピン偏極イオン発生部からのスピン偏極イオンを所望のエネルギーで試料表面に入射させるスピン偏極イオンビームラインと、試料を保持する真空槽と、前記真空槽内に位置して、前記試料に照射されて散乱したスピン偏極イオンを計測する計測器よりなる。 (もっと読む)


【課題】非画像術中用ガンマプローブの角度分解能試験を鉛直方向から少なくとも±90°に亘って行うこと。
【解決手段】本明細書に例示される実施形態では、プローブ保持具を支えるアームの形状を、鉛直上方から見たときに、S字形(又は己字形)になるように形成される。このアームはプローブ保持装置の基台に回動可能に取り付けられる支柱から延伸する。放射線源を沈めるための液槽が別に用意され、前記支柱に対向する液槽の枠壁が、該支柱に向かって左右どちらかの側で支柱側に迫り出すような形状とされる。 (もっと読む)


【課題】 位置分解能に優れた放射線位置検出装置を提供する。
【解決手段】 放射線位置検出装置は、電極3を有し、放射線rの入射位置に応じて電極の一端Aに第1信号を出力するとともに電極の他端Bに第2信号を出力する放射線位置検出器1と、第1プリアンプ5aと、第1コンデンサ4aと、第2プリアンプ5bと、第2コンデンサ4bと、第1信号及び第2信号の強度比から放射線の入射位置を測定する測定部と、を備えている。第1プリアンプ5aの時定数は電極3の抵抗成分及び第1コンデンサ4aによる時定数未満であり、第2プリアンプ5aの時定数は電極の抵抗成分及び第2コンデンサ4bによる時定数未満である。 (もっと読む)


【課題】高エネルギーから低エネルギーに至るまでの放射光ビームや、軟X線ビーム等をより効率的に可視光励起し、その位置及び強度分布を高精度で長期間安定して検出することが可能で、従来の検出装置よりも低コストで製造し得るビーム検出部材及びそれを用いたビーム検出器を提供する。
【解決手段】ビーム7の位置や強度を検出するためのビーム検出部材2であって、ビーム7が照射されるビーム照射部6が、ホウ素(B)を平均10〜150ppm含む多結晶ダイヤモンド膜4からなり、この多結晶ダイヤモンド4中のホウ素(B)濃度は、前記多結晶ダイヤモンド4の膜厚方向に不均一な濃度分布を持つ。この様なビーム検出部材2と励起された励起光8,8aを観測する励起光観測手段3,3aとによりビーム検出器1を構成する。 (もっと読む)


【課題】測定されるビームの状態をほとんど破壊することなく当該ビームの位置、分布および強度のうちの少なくとも一つを測定することのできるビームモニタセンサを提供する。
【解決手段】本発明に係るビームモニタセンサ1は、加速器から輸送されてくるビームを測定するために、前記ビームが輸送されるビームダクトD内に配置されるビームモニタセンサであって、前記ビームダクトD内の前記ビームの軌道O上に配置される薄膜体2と、前記薄膜体2上に形成された蛍光層3と、前記蛍光層3が形成されている面を撮影する、前記ビームの軌道O外に設けられた撮影カメラ4と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】極短時間で3次元情報及びその時間変化を観察・計測できる高速度コンピュータ断層撮影方法及びその装置を提供する。
【解決手段】対象物質3を回転用モータ17を用いて高速度で回転させながら、中性子ビーム2を照射する。対象物質3に照射された中性子ビーム2はその対象物質3を透過後、中性子−光コンバータ4により光に変換され、変換された光がこの中性子−光コンバータ4の後方に光を反射・伝送するために配置された鏡5、レンズ14、画像強度増幅器15を通過して、高速度ビデオカメラ内のCMOS型素子16で連続した画像として高速度で記録される。この記録画像を計算機8に転送し、CT計算用計算機12を用いて3次元CT計算が行なわれ、短時間平均の3次元情報を得る。又、これを時系列に連続して計算することで3次元情報の時間変化情報を取得することができる。 (もっと読む)


本発明は第1に、測定すべきチャージを入れて収容する第1の容器(4)を画成する手段(4)と、前記第1の容器を囲む第2の容器(11)を画成する手段(12)と、前記第1の容器(4)を囲んで液体の層又は湿潤層を被着する手段(6、10)と、前記第1の容器(4)の外部及び前記第2の容器(11)の内部の温度及び圧力の双方又は何れか一方を一定に維持する手段(8、18、20、22)とを具え、チャージ(2)の残留パワーを測定する装置を提供するものである。 (もっと読む)


【課題】
ワイヤースキャン法のバックグラウンドノイズと微分によってノイズが強調される問題点を克服し、より高精度なX線ビームプロファイル計測を行うことが可能なX線ナノビーム強度分布の精密測定方法及びその装置を提供する。
【解決手段】
X線ビームを横切るようにナイフエッジを走査するとともに、ナイフエッジの背後でX線源に対して幾何学的暗部となる位置に配置したX線検出器でX線強度を測定する暗視野計測法を用い、X線ビームの断面におけるX線強度分布を測定するX線ナノビーム強度分布の精密測定方法であって、ナイフエッジは、それを透過するX線の位相を進める作用を有する重金属で作製するとともに、透過X線と該ナイフエッジの先端で回折した回折X線とが強め合う範囲の位相シフトが得られる厚さに設定し、回折X線と透過X線とが重ね合わさったX線をX線検出器で測定する。 (もっと読む)


【課題】ワイヤーロッドをイオンビームの検出に用いることで、簡単な構成によって、容易かつ正確にイオンビームを評価することができるイオンビームの評価測定方法及びイオンビームの評価測定装置を実現する。
【解決手段】導電性のワイヤーロッド4は、全体形状は互いに直交する第1ロッド8及び第2ロッド9からL型に形成されており、該第1ロッド8を、該第1ロッド8に直交する第1の方向に移動して前記イオンビーム12を横切るように移動しながら、該ワイヤーロッド4を流れるビーム電流を測定することにより、イオンビーム12のビーム密度分布を検出し、同様に、第2ロッド9に直交する第2の方向に移動して前記イオンビーム12を横切ることでイオンビーム12の該第2の方向のビーム密度分布を測定する (もっと読む)


【課題】
量子ビームの3次元的な測定を簡便に行うことができるビーム測定装置、及びビーム測定方法、及びそれを用いたポンプ・プローブ測定方法を提供する。
【解決手段】
本発明の一態様にかかるビーム測定装置100は、レーザ発振器11によって発振したパルスレーザ光の波長が時間に応じて変化するよう、パルスレーザ光のパルス波形を整形して出射する光源部10と、光源部10から出射したパルスレーザ光に対して入射位置に応じた時間遅延を与える遅延素子23と、パルスレーザ光を入射位置に応じて異なる偏光状態に変換する偏光変換素子24と、を有する入射光学系20と、入射位置に応じて異なる結晶軸を有する電気光学素子30と、パルスレーザ光から所定の偏光成分を取り出す偏光子46と、偏光子46で取り出されたパルスレーザ光のスペクトルを測定する分光測定器50と、を備えるものである。 (もっと読む)


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