Fターム[2G132AA07]の内容
Fターム[2G132AA07]に分類される特許
1 - 1 / 1
試験装置
【課題】高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。
【解決手段】試験装置2は、DUT1から出力される被試験信号S1であって、その値に応じて電圧レベルが変化する被試験信号S1を試験する。パターン発生器PGは、I/O端子PIOに入力される被試験信号S1の期待値を示す期待値データEXPを発生する。しきい値電圧発生器10は、期待値データEXPを受け、当該期待値データEXPに応じた電圧レベルを有するしきい値電圧Vthを、被試験信号S1と同期して生成する。比較部12は、被試験信号S1の電圧レベルVDUTをそれと対応するしきい値電圧Vthと比較する。電圧変調器11は、しきい値電圧Vthを、所定の電圧範囲で変化させる。
(もっと読む)
1 - 1 / 1
[ Back to top ]