【課題】試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語に詳しくないユーザでも、試験プログラムを容易に作成させる装置を提供する。
【解決手段】被試験デバイスの試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、生成すべき試験モジュールに応じた試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択部と、選択された試験メソッドが要求するパラメータに対応する条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、選択された試験メソッドに応じた試験を選択された条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、を備える試験モジュール生成装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語に詳しくないユーザでも、試験パターンを容易に作成させる装置を提供する。
【解決手段】複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、基本サイクル中に複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成部と、ユーザの指示に基づき複数のサイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成部と、ユーザの指示に基づき複数のデバイスサイクルを配列して、被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成部と、を備える試験パターン生成装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】試験対象に対してシーケンス測定を実行する際に、取得データ量の面で、誤った測定の無駄な測定をしないで済むようにする。
【解決手段】シーケンス測定制御手段３５が実行指定された測定シーケンスにしたがう制御を開始する前に、実行指定された測定シーケンスで送受信部２１が解析対象として取得する予定のデータ量の合計値を算出するデータ量算出手段４０と、算出したデータ量の合計値が受信データメモリ２３の所定容量に応じて予め設定した許容値を超えるか否かを判定するデータ量判定手段４１とを備え、シーケンス測定制御手段３５は、データ量判定手段４１により算出したデータ量の合計値が許容値を超えると判定されたとき、その判定結果を表示部６１に表示して、ユーザーに通知する。 （もっと読む）

【課題】電源電圧の瞬断、瞬オンに対する自動車用電子機器の動作限界を定量的に調査する手段を提供する。
【解決手段】被試験機に印加する通常の電源電圧である＋Ｂおよび被試験機のメモリーホールドなどのための常時印加の電圧であるＡｃｃの瞬断について、様々なパターンを再現するために当該時間、電圧についてもプログラムを用いて少しつづ徐々に変化させて被試験機に印加し、これに基づく被試験機の応答を監視して別に定めた短い時間ごとに出力論理の正否を確認することにより、自動車用に最近多く用いられるデジタル機器独特のプログラムによる思いも寄らない誤動作の発生を確認でき、さらに誤動作発生時の誤動作モードをきちんと捕らえて適切な設計対応を取ることができる。 （もっと読む）

【課題】評価環境を簡易化し、評価の効率化を図ることができる評価基板を得る。
【解決手段】評価基板１はパワーモジュール２を評価するために用いられる。パワーモジュール２は、パワー半導体装置３と、パワー半導体装置３の特性を検出する温度検出部４及び電圧検出部５とを有する。評価基板１の１枚の基板７に、電源回路８、フォトカプラ駆動回路９、及び表示部１０が設けられている。電源回路８はパワーモジュール２に電力を供給する。フォトカプラ駆動回路９はパワー半導体装置３を駆動する。表示部１０は温度検出部４及び電圧検出部５から入力した検出信号を表示する。 （もっと読む）

【課題】従来のスキャンテスト方法では、電源電圧変動を抑制しながら動作クロックの周波数の高い半導体装置をテストできない問題があった。
【解決手段】本発明のスキャンテスト方法は、クロック信号ＳＣＬＫをスキャンフリップフロップ２１〜２ｎに入力して第１のテストパターンをスキャンフリップフロップ２１〜２ｎに設定し、クロック信号ＳＣＬＫよりも周波数の高いクロック信号ＲＣＬＫをスキャンフリップフロップ２１〜２ｎに入力すると共に、スキャンフリップフロップ２１〜２ｎをクロック信号ＲＣＬＫによらず保持する値を維持するホールドモードに制御し、ホールドモードを解除すると共にスキャンフリップフロップ２１〜２ｎをテスト対象回路の出力に応じて保持する値を更新するテスト結果取得モードに制御し、テスト結果取得モードにおいてクロック信号ＲＣＬＫを２パルス用いてスキャンフリップフロップ２１〜２ｎに保持されている値を更新する。 （もっと読む）

【課題】 集積回路の検査精度を向上させることができる集積回路検査装置を提供する。
【解決手段】 集積回路検査装置１は、半導体基板２１、及び半導体基板２１の表面２１ａ側に形成された回路部２２を有する集積回路２０を検査するための装置である。集積回路検査装置１は、集積回路２０に照射される光Ｌを発生する光発生部３と、集積回路２０に照射される光Ｌの波長幅を調整する波長幅調整部５，１４と、集積回路２０に照射される光Ｌの照射位置を調整する照射位置調整部８と、光発生部３からの光Ｌが半導体基板２１の裏面２１ｂを介して回路部２２に照射されたときに、集積回路２０からの光Ｌを検出する光検出部１２と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】半導体試料のグラウンドと電気特性測定手段のグラウンドとの間の電位差に揺らぎが生じる場合でも、当該電位差の揺らぎに起因するノイズの発生を確実に抑制することが可能な半導体試料の検査装置を提供すること。
【解決手段】半導体試料の検査装置ＩＥ１は、半導体試料Ｓに定電圧を印加する定電圧源９と、半導体試料Ｓの電気特性を測定する電気特性測定部１１と、電気特性測定部１１に入力される信号に、外部電源装置４１に接続される半導体試料Ｓのグラウンド（サンプルグラウンドＧ１）と定電圧源９のグラウンド（検出回路グラウンドＧ２）との電位差を逆相にして加算する逆相加算部３３と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】検査効率を向上させる。
【解決手段】一方の面に形成されているフィデューシャルマーク１０２ａの撮像結果および他方の面に形成されているフィデューシャルマーク１０３ａの撮像結果に基づいてプロービング位置を補正しつつ検査用プローブをそれぞれプロービングさせる第１プロービング機構および第２プロービング機構と、各検査用プローブを介して入出力する電気信号に基づいて電気的検査を実行する検査部と、一方の面におけるパターン形成領域２０１ａと他方の面におけるパターン形成領域２０２ａとの相対的な位置ずれ量Ｇｒ１ｘ，Ｇｒ１ｙを特定する処理を実行する処理部と、位置ずれ量Ｇｒ１ｘ，Ｇｒ１ｙと基準値とを比較して回路基板１００の良否を判定する判定部とを備え、処理部は、撮像結果に基づいて測定した第１基準パターンおよび第２基準パターンの各測定位置に基づいて位置ずれ量Ｇｒ１ｘ，Ｇｒ１ｙを特定する。 （もっと読む）

【課題】回路基板上の測定位置を直観的に確認し、同時に波形等を観測でき、かつ、プローブの数を増やした際に波形をいくつも表示することができる装置を提供することを課題とする。また、設備がない場所での工学教育、e-Learningへの応用という教育教材として提供すること。
【解決手段】電子回路の基板やプローブの位置、方向を測定し、プローブより取り込んだ信号波形のデータの処理、処理した波形等を投影する装置であって、オシロスコープ等の設備がない環境でも、パソコンとＵＳＢカメラさえあればオシロスコープを用いたバーチャル教育を行うことができ、またコンピュータ上での回路製作の補助教材、さらには目には見えない物理量の測定などを実践することが可能なことを特徴とする波形等観測システム。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の動的解析を短時間で行う技術を提供する。
【解決手段】ＳＤＬ／ＬＡＤＡ解析に用いるスポット光１２の径を変更可能なようにする。大径のスポット光による検査対象の半導体装置の照射中、テスタは該当する照射範囲の電気的動作の検証を行う。この照射中、不良箇所を見つけた場合には、小径のスポット光に切り替えて、検査対象の半導体装置に照射し、テスタによるより小範囲の電気的動作の検証を行う。これを反復することで、不良箇所の特定を行う。 （もっと読む）

【課題】複数本の探針を用いて検出された吸収電流から、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像を取得し、測定効率を向上させることができる試料検査装置及び吸収電流像の作成方法を提供する。
【解決手段】複数の探針４を試料２に接触させ、試料２に電子線１を照射しつつ、探針４に流れる電流を測定し、少なくとも２本の探針４からの信号を差動増幅器６に入力する。そして、差動増幅器６からの出力を増幅し、これと電子線１の走査情報に基づいて吸収電流像７を作成する。これにより、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像７を取得でき、半導体試料２の不良解析の測定効率を向上できる。 （もっと読む）

【課題】内蔵された回路の状態を確認する機能を備えた半導体集積回路を更に小型化することができる技術を提供
【解決手段】半導体集積回路１では、コアＬＳＩ１１と周辺ＬＳＩ１２との間の内部配線ＷＩが異常であると判定回路１５が判定すると、判定回路１５は、リングオシレータ１６Ａを発振させることを指示する情報（第１発振指示情報）をリングオシレータ制御部１７へ出力する。そしてリングオシレータ制御部１７が第１発振指示情報を取得すると、リングオシレータ制御部１７が、発振周波数ｆ１で発振するように構成されたリングオシレータ１６Ａを発振させる。そして、半導体集積回路１内で発生している磁界を近磁界プローブで測定し、発振周波数ｆ１で大きさが変動する磁界を検出した場合に、リングオシレータ１６Ａが動作していると判断することができる。 （もっと読む）

【課題】コンデンサの実装・非実装の判別と共に、非実装のときには非実装のコンデンサが実装されるべき位置を判別する。
【解決手段】導体パターン１１，１２上の測定点Ｐ１，Ｐ２間のインピーダンスの周波数特性を測定する測定部２と、コンデンサ２１〜２３が正常に実装された状態での周波数特性に現れる各共振周波数ｆ１〜ｆ３毎に、共振周波数ｆ１〜ｆ３を含む判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３と共振周波数ｆ１〜ｆ３に対応するコンデンサ２１，２２，２３とを対応付ける基準データＤ２が記憶された記憶部３と、コンデンサ２１〜２３の実装状態が未知の導体パターン１１，１２についての周波数特性を測定部２に測定させ、この周波数特性に現れている共振周波数と基準データＤ２の各判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３とを比較して、共振周波数を含まない判定範囲ｆｒ１〜ｆｒ３に対応付けられたコンデンサが非実装状態であると判別する処理部４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】テストプログラムの作成変更修正が効率よく行える半導体試験装置を提供すること。
【解決手段】所望の画面を選択するためのタブが設けられた画面を表示する表示部を有し、テストプログラムを作成変更修正するエディタと、このエディタで作成変更修正されたテストプログラムを解析する構文解析部と、この構文解析部の解析結果に基づき各種のマトリクス表示のＧＵＩ画面を編集作成するＧＵＩ画面編集部と、前記構文解析部の解析結果および前記ＧＵＩ画面編集部で編集作成されたＧＵＩ画面に基づきデータ検索用一覧表を作成格納するインデクサとを具備し、前記インデクサのデータ検索用一覧表を介して、前記ＧＵＩ画面におけるマトリクス表示の各交点を前記テストプログラムの構成要素にリンクさせることを特徴とする半導体試験装置である。 （もっと読む）

【課題】マイクロコンピュータの自己診断の実行時間を削減する。
【解決手段】リセット後の動作がホットスタートかコールドスタートかを判定する手段と、各機能ブロックで発生するエラーが他のどの機能ブロックへ影響があるのかの関連付け情報を保持し、通常動作時に発生したエラーがどのブロックで発生したエラーであるかを判定し、複数の機能ブロックからＢＩＳＴを実行する機能ブロックを選択する手段と、選択された機能ブロックのＢＩＳＴを実行する順序を関連付け情報に基づいて制御して、ＢＩＳＴの実行を指示する手段と、を備え、ホットスタートと判定された場合には、ＢＩＳＴを実行する機能ブロックを選択するとともに、選択した機能ブロックのＢＩＳＴを実行する順序を関連付け情報に基づいて制御してＢＩＳＴを実行し、コールドスタートと判定された場合には複数の機能ブロックのすべてのＢＩＳＴを実行する。 （もっと読む）

【課題】特定パスの動作確認を容易化し、不具合箇所の特定を容易化すること。
【解決手段】選択回路１０１は、入力信号が入力端子１２０から受け渡される半導体装置１１０内の特定パス上の観測箇所Ａと観測箇所Ｂとが選択信号に応じて順に選択される。カウンタ１０２は、選択された観測箇所ごとに観測箇所でのエッジ数をカウントする。第１のレジスタ１０３は、カウンタ１０２によりカウントされた観測箇所Ａでの第１のエッジ数を保持する。第２のレジスタ１０４は、カウンタ１０２によりカウントされた観測箇所Ｂでの第２のエッジ数を保持する。比較回路１０５は、第１のレジスタ１０３に保持された第１のエッジ数と第２のレジスタ１０４に保持された第２のエッジ数とを比較し、出力端子１０６は、比較回路１０５による比較結果を出力する。 （もっと読む）

【課題】部品実装基板に対して行う電気的検査において用いる検査用データを作成する際の入力作業を効率よくかつ正確に行う。
【解決手段】回路基板に電気部品（抵抗器Ｒ１，Ｒ２，Ｒ６，Ｒ７）が実装された部品実装基板に対して行う電気的検査において電気信号の入出力を行うための部品実装基板における検査ポイントを示すポイント情報を含む検査用データを作成する処理部と、ポイント情報を入力する操作が可能な操作部と、ポイント情報の入力時に参照させる図であって回路基板の配線（Ｗ１〜Ｗ３，Ｗ６，Ｗ７）および電気部品の配置を示す配置図Ｆを表示部１２に表示させる表示制御部とを備え、操作部は、配置図Ｆ内に図示されている配線を選択する選択操作が可能に構成され、処理部は、選択操作によって選択された配線を示す情報をポイント情報として検査用データを作成する。 （もっと読む）

【課題】ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所望の試験情報を取得し、その取得した情報をユーザが見やすい形式で表示する装置を提供する。
【解決手段】ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所定の試験情報を取得し、その取得した情報を表示する試験情報表示装置（１０００）は、前記試験プログラムを参照するプログラム参照手段（１０）と、前記所定の試験情報に関連したコマンドを基に、前記参照した試験プログラムから該試験情報を含むデータブロックを取得するデータブロック取得手段（２０）と、前記取得したデータブロックから前記所定の試験情報を取得する試験情報取得手段（２０）と、前記取得した試験情報を配列する試験情報配列手段（４０）と、前記配列された試験情報を表示する試験情報表示手段（５０）と、を備える。 （もっと読む）