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Fターム[2H052AF06]の内容

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分光測光 (131)

Fターム[2H052AF06]に分類される特許

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【課題】試料を照明する方法及びシステムの提供
【解決手段】SPIM顕微鏡法で試料を照明するシステムであって、光線を生成する光源と、光線から光ストリップを形成し、特に、少なくとも1つの方向からの照明平面において試料を実質的に平面照明する手段と、試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るよう設計され意図された光学系を有する少なくとも1つの対物レンズであって、対物レンズ光学系は光ストリップと相互作用する、少なくとも1つの対物レンズと、を含むとともに、対物レンズ光学系の下流に配置されて、試料を照明するために、光ストリップが、偏向後、対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角に伝播し、且つ/又は対物レンズの光軸に平行しない平面に配置されるように、光ストリップを偏向する光リダイレクト装置をさらに含む、システム。SPIM顕微鏡法で試料を照明する方法にも関する。 (もっと読む)


【課題】フレーム周期よりはるかに早い周波数の機械振動や電磁場変動などの外乱ノイズの障害を簡易な方法により抑制する。
【解決手段】2つの走査パターンについて、回転、シフト、或いは重み付け因子を用いて走査位置の調整により、各々がある角度をなすように交差し、複数の交差点群を構成するようにした上で、上記交差点群について、メモリを用いて画像データを重畳積算する。解像度を満たすために交差点以外の座標については内挿/外挿されたデータで埋めることも出来る。前記2つの走査パターンのうちの一の走査パターンに係る線は、前記2つの走査パターンのうちの他の走査パターンに係る線と垂直であることが好ましい。それにより一の走査パターンの1本の線上での複数の走査点の時間的コヒーレンスを利用して、他の走査パターンのラインの位置合わせ及びその逆が可能となる。 (もっと読む)


【課題】過大な入射光による光検出器の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行う。
【解決手段】光源からのレーザ光を標本に2次元走査する走査手段21と、標本からの光を検出し、検出した光の輝度に相当する光強度信号を出力する光検出手段32と、光検出手段を保護する保護手段33と、光強度信号を走査位置に対応する画素毎に積算して、標本の画像を生成する画像生成手段4とを備え、保護手段が、光強度信号が閾値を超えたか否かを判定する閾値判定部34と、閾値判定部により閾値を超えたと判定された光強度信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定する領域判定部35と、領域判定部により、閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定された場合に、光検出手段による出力を停止させるように制御する制御部36とを備えた走査型レーザ顕微鏡100を提供する。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ電磁波の検出精度を向上させることができるテラヘルツ放射顕微鏡、これに用いられる、光伝導素子、レンズ及びデバイスの製造方法を提供すること。
【解決手段】光伝導素子は、基材と、電極と、膜材とを具備する。前記基材は、光源から発生したパルスレーザーが、観察対象であるデバイスに照射されることにより発生するテラヘルツ電磁波が入射する入射面を有する。前記電極は、前記基材に形成され、前記基材の入射面に入射された前記テラヘルツ電磁波を検出する。前記膜材は、前記基材の前記入射面に形成され、前記テラヘルツ電磁波を透過させ、前記パルスレーザーを反射させる。 (もっと読む)


【課題】良好に収差が補正されている必要がある励起側の開口数によらず蛍光側の取り込み開口数を大きくすることにより、より明るい画像を取得することが可能な対物レンズユニット及びこの対物レンズユニットを有する走査型顕微鏡を提供する。
【解決手段】走査型顕微鏡10に用いられ、光源20から放射された励起光(第1の波長の照明光)を試料60に照射して走査し、この励起光により励起した試料60から放射される蛍光(第2の波長の観察光)を集光する対物レンズユニット39であって、対物レンズ37と、励起光を遮断し、蛍光を透過する輪帯状のフィルタであって、対物レンズ37の射出瞳を通過する励起光の光束径を、この射出瞳を通過する対物レンズ37の最大開口数の光束の径よりも小さくするフィルタ38と、を有する。 (もっと読む)


【課題】先端部の外径を小さく形成することを可能にすると共に、前歯部や臼歯部等の口腔内組織を撮影する際に容易に撮影することができるプローブを提供すること。
【解決手段】プローブ30は、レーザ光を、被写体照射用の計測光と参照ミラー照射用の参照光とに分配し、被写体Sからの散乱光と参照ミラー21で反射した反射光とを合成させた干渉光を解析して光干渉断層画像を生成する光干渉断層画像生成装置1に使用され、被写体Sに照射して戻ってきた散乱光を回収する。光ファイバ60Aと、光ファイバ60Aからのレーザ光の照射方向を変化させる走査手段33と、走査手段33からの計測光を被写体に照射して散乱光を回収するノズル37と、光ファイバ60A、走査手段33及びノズル37を保持するハウジング3と、を備えている。ハウジング3には、先端部にノズル37が着脱可能に配置されている。 (もっと読む)


【課題】被測定領域から放射される略平行な光束を受光面において受光面の周辺部も含めて均一化し、測定精度を向上した波長分布測定装置を提供する。
【解決手段】波長分布測定装置24は、拡散板52により被測定領域11から放射される光束を拡散させ、光束均一化光学素子53により、拡散板52により拡散された光束の少なくとも一部を、受光部56の受光面の垂線の方向に近づくように側面53bで反射させるとともに受光面へ導き、互いに異なる分光感度特性を有する受光部56の複数の受光素子によって検出する。 (もっと読む)


【課題】蛍光撮像顕微鏡法の顕微鏡及び方法を提供する。
【解決手段】パルス光源(1)と、撮像検出器(11)とを含む、蛍光撮像顕微鏡法、特に広視野蛍光顕微鏡法の顕微鏡は、ゲーティング手段が設けられること、並びにゲーティングにより、光源(1)及び検出器(11)が同期して、適した蛍光成分が評価に使用され、不適成分が拒絶されるように反射/散乱光を抑制することを特徴とする。さらに、本発明による顕微鏡を使用して蛍光撮像顕微鏡法を実行する方法が使用される。 (もっと読む)


【課題】外部環境温度やスキャナ周波数が変化しても、光学的走査位置を検出する手段を別途設けることなく光学的走査範囲と電気的走査範囲とを一致させて画像の劣化を防ぐ。
【解決手段】光源からの光を振動しながら反射または屈折して試料に照射する共振スキャナの振動に同期した同期信号S1に対応する位置信号S2を生成するPLL正弦波発生部2と、速度信号S5を絶対値化して絶対値速度信号S7を生成する絶対値処理部7と、絶対値速度信号S7の値に応じた周波数のSCを生成するVCO10と、生成されたSCに基づいて、所定数のSCを含む画像化区間の区間情報を生成するDE生成部16と、画像化区間範囲と共振スキャナの走査範囲とにずれが生じた場合に、走査範囲と画像化区間範囲とが一致するように、位置信号S2の位相を補正する第2PD17とを備えるサンプリングクロック発生装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】試料が生細胞である場合においても試料にダメージを与えることなく、面的なスペクトルイメージを高速に取得することができ、複数のバンドのイメージを同時に取得することができる多焦点共焦点ラマン分光顕微鏡を提供する。
【解決手段】レーザ光源1と、レーザ光源1からの励起光をマトリクス状に分割して集光させるマイクロレンズアレイ2と、各光束を集光点において通過させるピンホールアレイ6と、ピンホールアレイ6を経た光束を試料に集光させる対物レンズ9と、試料からのラマン散乱光を集光させる共焦点光学系10と、共焦点光学系10により集光された光束のそれぞれが入射端より入射され出射端が一列に配列された複数の光ファイバからなるファイババンドル11と、ファイババンドル11の出射端からの光束が入射される分光手段及び受光手段12とを備える。 (もっと読む)


【課題】様々な観察条件に対して手間を掛けずに短時間で最適な観察方法を実現する。
【解決手段】レーザ光を走査させる走査部23と、走査部23により走査されるレーザ光を反射する励起DM26が取り付けられる複数の取付位置を有する切替機構27と、レーザ光が走査された標本Sの走査位置から戻る蛍光を検出する光検出器63Aと、いずれかの取付位置に対応する走査部23による走査位置を基準走査位置として、他の取付位置に対応する走査部23による走査位置の基準走査位置からのずれを補正する補正量を取付位置ごとに対応づけて記憶する記憶部65と、新たな励起DM26を取付位置に取り付けて光路上に配置した場合に、その取付位置に対応づけられた補正量に基づいて、走査部23による走査位置が基準走査位置に一致するように走査部23を制御する制御部67とを備える走査型顕微鏡装置100を提供する。 (もっと読む)


【課題】気泡、ゴミ等の混入物、およびしわ等の段差があるサンプルの全体画像を取得する場合においても、サンプルにピントが合った画像を取得することができる。
【解決手段】スペクトル信号検出器114は第2の平面に受光された光学像のスペクトルに対応する第2の信号を出力する。コントラスト検出器113は第3の平面に受光された光学像のコントラストから第3の平面とサンプル101との光学的な距離に対応する第3の信号を出力する。スペクトル信号検出器114は、第2の信号に基づいて、第1の領域の中に第1の平面との間の光学的な距離が所定の距離以上異なる異常領域が存在するか否かを判定し、異常領域が存在すると判定した場合には異常信号を出力する。駆動部118は、第3の信号および異常信号に基づいて、少なくとも光学系111の光軸方向へのステージ102の移動を制御する。 (もっと読む)


【課題】高い分解能の測定を行うことができる光学顕微鏡、及び分光測定方法を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様にかかる分光測定装置は、レーザ光源10と、光ビームを集光して、試料22に入射させる対物レンズ21と、試料22上における光ビームのスポット位置を走査するY走査装置13と、試料22に入射された光ビームのうち、異なる波長となって試料22から対物レンズ21側に出射する出射光と光源10から前記試料に入射する光ビームとを分離するビームスプリッタ17と、ビームスプリッタ17により分離された出射光を波長に応じて空間的に分散させる分光器31と、分光器31で分散された出射光を検出する検出器32と、分光器31の入射側に配置され、出射光を分光器31側に通過させる複数のピンホール42が配列されたピンホールアレイ30を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】マイクロレンズとピンホールとの間にビームスプリッタを設けずともマイクロレンズを介すことなく反射光を光検出器に導くことができる三次元画像取得装置を提供する。
【解決手段】共焦点光学系を用いた三次元画像取得装置10であって、マイクロレンズ板13は、照明光を集光する複数のマイクロレンズが二次元に配設される。照明側開口板14は、マイクロレンズの集光位置に設けられた照明側開口部を有し、照明側開口部によりマイクロレンズが集光した照明光を被計測体17に向けて通過させる。偏光ビームスプリッタ15は、照明側開口板14を通過した照明光を透過するとともに、被計測体17からの反射光を照明光の光路とは異なる光路に反射する。検出側開口板21は、照明側開口部と光学的に共役な位置に設けられた検出側開口部を有し、検出側開口部により偏光ビームスプリッタ15で反射された反射光を光検出器に向けて通過させる。 (もっと読む)


【課題】スキャナを用いて照明光による走査を行ないながら標本を観察する場合に、スキャナの位置と対物レンズの瞳位置とのずれにより生じる影響を低減させる。
【解決手段】光源22からの照明光は、コリメートレンズ23乃至第1対物レンズ30を通って標本12に照射される。このとき、走査ユニット27により照明光が偏向されることで、照明光で標本12の観察面が走査される。照明光を互いに直交する2方向に偏向させようとすると、走査ユニット27を構成する2つの走査ミラーのうち、少なくとも一方は第1対物レンズ30と共役な関係とはならなくなるので、照明光により第1対物レンズ30の瞳が満たされなくなる場合がある。そこで、ビームエクスパンダ24により照明光のビーム幅を広げることにより、照明光の偏向角度によらず常に瞳が満たされるようになる。本発明は、走査型顕微鏡に適用することができる。 (もっと読む)


【課題】走査顕微鏡により試料を画像化する方法および装置を提供する。
【解決手段】走査顕微鏡により試料(28)を画像化する方法と装置を開示する。複数の試料点を走査ビーム(14)により連続する走査時間区間で走査し、それぞれに走査された試料点からの発光の強度を、関連する走査時間区間内に繰り返し感知し、それぞれに走査された試料点から感知された強度から強度平均値を平均値画像点信号として求め、平均値画像点信号を合成して平均値ラスタ画像を生成するようになされている。さらに、それに加えて、それぞれに走査された試料点において感知された強度から強度分散値を分散画像点信号として求め、分散画像点信号を合成して分散ラスタ画像信号を生成するようになされている。 (もっと読む)


【課題】光軸に沿ったその広がりが使用される顕微鏡対物レンズの焦点深度より大きい三次元物体をも検査及び操作すること。(その際三次元物体のあらゆる位置における物体操作が可能とする。)
【解決手段】(a)顕微鏡(2);(b)照明光線路(5)を規定し、物体(1)を照明するための少なくとも1つの第一光源(3、4);(c)検出光線路(7)を規定し、物体(1)からの戻り光を検出するための検出器(6);(d)操作光線路(9)を規定し、物体(1)を操作するための第二光源(8)を有する顕微鏡用物体の検査及び操作用の装置及びその操作方法において、
前記顕微鏡(2)は、共焦点走査型顕微鏡であり、第一光線偏向装置(12)が、前記照明光線路(5)に、第二光線偏向装置(16)が、前記操作光線路(9)に夫々配されているとともに、該照明光線路(5)における光の偏向は、該操作光線路(9)における光の偏向と独立に行われることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】顕微鏡光学系の光学誤差の調整を容易に行う。
【解決手段】光源10と、走査装置S及び対物レンズ4を通る、空間的に限定された、好ましくは点状の照明光点によってプローブ5を照明する照明ビーム光路と、前記対物レンズ及び前記走査装置を通って検出ビーム光路に達するプローブ光を検知する検出ビーム光路とを備えるレーザ走査顕微鏡において、検出ビーム光路には、空間的に限定された検出光点へのプローブ光を1つの面に焦点調節する焦点調節手段が設けられており、この面には、調整可能なピンホールをシミュレーションするために、個々に読み取り可能な受光素子エレメントのマトリクス形式の配列が設けられている。 (もっと読む)


【課題】画像取得のタイミングが異なる複数の画像情報取得方法によって特定の時刻に取得された複数の画像情報を容易に比較して観察する。
【解決手段】観察時間を計数するタイマ8と、標本Aの画像情報を取得する取得タイミングが異なるPMT16およびCCD4と、PMT16およびCCD4により画像情報が取得されたときに、取得された画像情報とタイマ8により計数された観察情報とを対応づけて記憶する記憶部9と、記憶部9に記憶されている画像情報どうしを、これらの画像情報に対応づけられている観察時間によって関連づける表示基準を設定し、設定した表示基準に基づいて画像情報どうしを時間情報によって関連づける制御部5と、制御部5により関連づけられた画像情報を表示するモニタ7とを備える観察装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】標本面の測定領域に照射される単位面積当たり光強度を正確に算出する技術を提供する。
【解決手段】顕微鏡から射出される光の強度を測定する光強度測定ユニット1は、開口絞り3と、視野絞り5と、開口絞り3と視野絞り5の間に配置される少なくとも1枚の測定レンズ4と、顕微鏡に装着するためのインターフェース部2aとを含んで構成される。開口絞り3は、少なくとも1枚の測定レンズ4の後側焦点面近傍に位置することで、対物レンズの瞳と同様に作用する。視野絞り5は、少なくとも1枚の測定レンズ4の前側焦点面近傍に位置することで、単位面積当たり光強度の算出に用いられる面積を確定する。 (もっと読む)


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