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Fターム[2H088FA11]の内容

液晶−応用、原理 (75,011) | 構造に特徴を有しない液晶セルの製造方法 (13,968) | 検査、試験、評価、欠陥の修正、除去 (2,194)

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【課題】光学表示部品に所定の処理を施してなる光学表示デバイスの生産システムの運転方法において、不良品の発生を抑えて前記生産システムの収率悪化を防止する。
【解決手段】光学表示部品を生産システムのメインラインに所定量流通させ、光学表示部品に所定の処理を施す初期生産工程(ステップS3)と、初期生産工程後に初期生産工程で得た製品の不良を検査する初期製品検査工程(ステップS4)と、初期製品検査工程で検出した不良品の数に応じて本生産工程へ移行するか否かを判定する本生産移行判定工程(ステップS5)とを含む。 (もっと読む)


【課題】TFTアレイ検査装置において、基板内で絶縁破壊(ESD)を生じさせることなく、基板に帯電した電荷を放電する。
【解決手段】プローバーを基板に配置し、プローバーを介して検査信号を基板に供給し、基板上に形成されたTFTアレイを検査するTFTアレイ検査装置において、TFTアレイ検査時にプローバーを基板に配置した際に、基板をプローバーを介して接地された高抵抗の放電用抵抗に接続することによって、基板に帯電する電荷をプローバーおよび放電用抵抗を介して放電させる。基板に帯電する電荷を、基板からプローバーを介して放電用抵抗に導くことによって、TFTアレイ検査装置内において格別な機構を設けることなく基板に帯電する電荷を放電することができる。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体層を備えたTFT素子などのアクティブ素子の良否の予測を精度高く行うことができる回路基板を提供する。
【解決手段】絶縁基板2には、第1の電極4と、第1の電極4とは電気的に分離されている第2の電極6と、第1の電極4および第2の電極6と接するように形成された酸化物半導体層5と、を備えたトラップ準位測定用パターン3が設けられている。 (もっと読む)


【課題】省フットプリントが図れるだけでなく、タクトタイムの短縮化も可能となるマクロ検査とミクロ検査とを1台で行いうる基板検査装置を提供する。
【解決手段】本発明の基板検査装置1は、検査する基板Gを載置し、吐出口61から気体を吐出させて基板Gを浮上させる浮上プレート6を有する基板載置部2と、基板Gをミクロ検査するミクロ検査部3と、基板載置部2上に浮上した基板Gを搬送する基板搬送部4と、基板載置部2に対して出没可能に設けられ、基板載置部2上に浮上した基板Gを基板載置部2の上面に対して傾斜して起こした状態で保持するマクロ検査用ホルダ5と、マクロ検査用ホルダ5で保持されたG基板の表面を照明するマクロ照明部15と、を備え、マクロ検査用ホルダ5は、基板搬送部4による基板Gの搬送方向と平行な回動軸を中心に回動することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】石英ガラスなどのガラスに較べて紫外線透過率の低い樹脂シートの表面に形成した透明電極の検査に必要な測定精度を得ることのできる透明電極の観察装置を提供すること。
【解決手段】樹脂シートFの表面に形成された透明電極Pの光透過率が50%以下となる200〜300nmの波長帯域の紫外線光を含む光を照射する光源1と、光源1から照射された紫外線光によって励起され、蛍光発光した樹脂シートFの光の強度が0.1以上となる400〜500nmの波長帯域の光を透過する光学フィルタ2と、光学フィルタ2を透過した可視域の波長に感度を有する画像を撮影するカメラ3とを備えたので、透明電極Pが形成された部位は暗くなり、それ以外の部位は明るく撮影される。これにより、可視光では視認が困難な透明電極Pの形状を特定でき、透明電極Pの検査に必要な測定精度を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】光学フィルムの製造時、発生する欠陥を検出し、それにより製品の予想歩留まりを算出するためのフィルムの歩留まり予測システム及び方法を提供する。
【解決手段】歩留まり予測システムは、光学フィルムの製造工程中、特定段階を遂行中の光学フィルム上の欠陥を検出し、検出された欠陥の位置を含む第1の欠陥データを生成する第1の検査部と、前記特定段階と区別される前記製造工程中の他の段階を遂行中の前記光学フィルム上の欠陥を検出し、検出された欠陥の位置を含む第2の欠陥データを生成する第2の検査部と、前記第1の欠陥データ及び前記第2の欠陥データを併合するデータ併合部と、前記データ併合部で併合された欠陥データにより、前記光学フィルムの予想切削の位置及び切削のサイズによる前記光学フィルムの予想歩留まりを算出する歩留まり予測部とを含む。 (もっと読む)


【課題】粘着テープの貼着状態が不良のTCPを基板に仮圧着するのを防止した電子部品の供給装置を提供することにある。
【解決手段】TCP4を受けて保持する複数の保持ヘッド19を有して周方向に間欠的に回転駆動されるインデックス手段18A,18Bと、保持ヘッドにTCPを供給する打ち抜き装置と、TCPが供給された保持ヘッドが所定角度回転駆動された位置で、保持ヘッドのTCPの下面に粘着テープ32を貼着する貼着装置と、TCPに貼着された粘着テープを撮像する撮像カメラ47と、撮像カメラによる撮像に基いてTCPに対する粘着テープの貼着状態を判定する制御装置49と、粘着テープが撮像されたTCPを保持した保持ヘッドがインデックス手段によって所定角度回転駆動された位置で、制御装置によって粘着テープの貼着状態が良好であると判定されたTCPを基板に実装するために保持ヘッドから受ける仮圧着ヘッドを具備する。 (もっと読む)


【課題】高い作業効率および高い検査精度で欠けもしくはクラックを検査可能な表示装置を提供することである。
【解決手段】本発明に係る表示装置1は、第1主面22aに表示領域Eを有する第2基
板22と、第2基板22の第1主面22a上に集中的に設けられた外部接続用の複数の電極端子WCPと、第2基板22上に第2基板22の外周に沿って1ヶ所で切れた環状に設けられた検査
用配線Tと、検査用配線Tの一方端側に接続された第1検査用電極TP1と、検査用配線T
の他方端側に接続された第2検査用電極TP2とを備えており、第1検査用電極TP1および第2検査用電極TP2は、複数の電極端子WCPとともに集中的に配置されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 液晶表示パネルの連続製造における、キャリアフィルムから剥離された不良シートを再度キャリアフィルムに貼り付けて排出するようにした、方法および装置を提供する。
【解決手段】 液晶表示素子の連続製造工程において、帯状フィルム積層体に含まれるキャリアフィルムから剥離された正常シートのみを矩形パネルとの貼合位置に送る一方、同じくキャリアフィルムから剥離された不良シートを回収されるキャリアフィルムに再度貼り付け、キャリアフィルムと一体に排出する。 (もっと読む)


【課題】TFTアレイのソース・ドレイン間のWeak-SD欠陥と呼ばれる抵抗を介して導通状態にある欠陥を、保持時間を長くすることなく短時間で検出する。
【解決手段】TFT基板のTFTアレイに対して電圧を印加し、電子線照射により得られる二次電子を検出してTFTアレイの欠陥を検出するTFTアレイの欠陥検出において、TFTのソースおよび/又はゲートへの電圧を印加する電圧パターンにおいて、電圧値および/又は印加時期によってTFTの内部リークによるリーク電流を増加させる特性パラメータに設定する。特性パラメータの設定において電圧値および/又は印加時期を設定することによってTFTの内部リークによるリーク電流を増加させ、増加させたリーク電流によってTFTの内部欠陥を検出する。 (もっと読む)


【課題】 基板の保持部が撮像部の撮像領域に写り込まず、基板にキズや汚れを生じさせず、基板の位置ずれを起こすことなく、基板の検査を行うことができる装置及び方法を提供する。
【解決手段】 検査対象となる基板を保持して、一方向に移動させながら検査を行う基板検査装置及び方法であって、
基板移動部は、基板が光源と撮像部の撮像領域を通過するように、基板を保持して移動させる第1の基板移動部と、基板の光源と撮像部との間を通過した部分を保持して移動させる第2の基板移動部とを含んで構成され、
基板又は基板移動部の移動中の位置を検出する基板位置検出部を備え、
検出位置情報に基づいて、基板を第1の基板移動部と第2の基板移動部とで共に保持して移動させながら検査を行うこと特徴とする基板検査装置及び方法 (もっと読む)


【課題】湾曲する性質のシート製品をハーフカットし、切断されていない部材を剥離しながら、粘着剤を介してシート製品を基板に貼り合わせる際に、そのハーフカット後の搬送中に、切断されたシート製品が捲れる問題を解消し、好適にシート製品を基板に貼り合せることができるロール原反を提供する。
【解決手段】偏光子を有する光学部材を粘着剤を介して基板に貼り合わせて光学表示ユニットを形成するのに用いられる長尺のシート製品を巻回してなるロール原反であって、シート製品は、光学部材と、光学部材の一方表面に前記粘着剤を介して設けられる離型フィルムと、離型フィルム面と反対面に設けられる表面保護部材と、を有し、外力が作用していない状態において、前記長尺方向に前記離型フィルムを内側にして湾曲する構成であるシート製品を巻回してなる。 (もっと読む)


【課題】基板間に液晶を封入した後の反射型液晶パネルのセルギャップ、さらには、セルギャップばらつきを検査することのできる反射型液晶パネルの検査装置および検査方法を提供すること。
【解決手段】液晶装置の検査装置1は、直線偏光光からなる検査用照明光を出射する偏光照明装置40と、光検出器42と、偏光照明装置40から出射された検査用照明光を反射型の液晶パネル3へ導き、液晶パネル3から反射してきた光を光検出器42へ導く偏光ビームスプリッター44とを有し、偏光ビームスプリッター44と光検出器42との間には第2偏光板45、第1位相差板46、第2位相差板47が配置されている。制御部50は、光検出器42で受光された光の色相を色相値に数値化する色相値算出部501と、色相値を液晶パネル3のセルギャップに変換するセルギャップ導出部502とを有している。 (もっと読む)


【課題】視差生成部材の設置状態を定量化すること。
【解決手段】本発明の検査装置は、スリット状の開口部を備える視差生成部材と、前記視差生成部材のスリット状の開口部に対応する明暗模様を保持する保持手段と、前記視差生成部材を通して前記明暗模様の明暗の状態を検出し、検出した明暗の状態に基づき、前記明暗模様と前記視差生成部材との角度を算出する算出手段と、を有する。 (もっと読む)


【課題】目盛の視認性を高めることを目的とする。
【解決手段】第1光透過性基板12には開口部22内に第1目盛部24が形成され、第2光透過性基板32には第2目盛部44が形成されている。第2光透過性基板32には、第1金属層34、半導体層36及び第2金属層38が積層され、薄膜トランジスタ50は、第1金属層34の一部、半導体層36の一部及び第2金属層38の一部を含むように構成され、第2目盛部44は、第2金属層38の他の一部から構成され、第2目盛部44の下に、第2目盛部44からはみ出すように、半導体層36の他の一部が形成され、第2目盛部44及び半導体層36の下に、第1金属層34の他の一部が、開口部22を遮蔽する大きさで形成されている。 (もっと読む)


【課題】 複数の接続部の接続不良の有無を容易に発見できる電気光学装置及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】 複数の画素電極が形成された第1基板10と共通電極24が形成された第2基板20とを有する電気光学装置は、第1基板に配置されて第2基板の共通電極を駆動する複数の駆動回路160と、第1基板と第2基板とを電気的に接続して第1基板に配置された複数の駆動回路の各々の出力線を第2基板の共通電極にそれぞれ接続する複数の接続部50−1〜50−4と、複数の接続部の導通を検査する検査回路200−1〜200−4とを有し、検査回路は、検査時に、第1基板側から複数の接続部の一つを介して第2基板の共通電極に供給され、かつ、共通電極から複数の接続部の他の一つを介して第1基板側に供給される検査信号が入力される信号入力部210を有する。 (もっと読む)


【課題】 光学特徴の欠陥を識別でき、かつ検査工程においてパネル表面の異物を除去でき、また検査中のパネルに電力が供給できる光学検査装置を提供すること。
【解決手段】 第1方向に延伸する検査台と、前記第1方向に被検査物のいずれかを載置する少なくとも1つの載置板を投入口から払出口へ搬送するために用いられる搬送ユニットと、前記検査台に設置され、前記第1方向と垂直な第2方向に延伸する第1スキャナとを有する光学検査装置。前記第1スキャナは、少なくとも1つの載置板に載置される少なくとも1つの物品を検査するために用いられ、前記投入口と前記払出口の間に第2方向に延伸する第1検出器を含む。前記第1スキャナと前記投入口の間に前記第1方向と垂直な第2方向に延伸する第1ローラセットを有し、当該第1ローラセットは少なくとも1つの前記物品の表面に力をかけるために用いられる。 (もっと読む)


【課題】 TFTやCFは透明膜と不透明膜で積層された多層膜構造からなる。このような多層構造で異物等の不具合が生じた場合、異物がどの層にあるのかを早期に特定することが重要だが、集積イオンビーム(FIB)で加工した断面を電子顕微鏡(SEM)を用いて観察する方法では異物のある箇所は電子顕微鏡観察においては不透明であるうえ、作業効率が低い。
【解決手段】本発明にかかる液晶パネルの検査方法は、液晶パネル内に異物等の不具合が生じた場合、光学式顕微鏡により当該異物にピントを合せた後に、顕微鏡の視野範囲内、具体的には当該異物と同じ画素または隣接画素に形成された複数の不透明なダミーパターンに逐次ピントを合せることにより、当該異物がある層を特定するものである。 (もっと読む)


【課題】液晶パラメータ測定の方法及び装置の提供。
【解決手段】第1電気コントローラにより線偏光ジェネレータを調整し、第2電気コントローラにより偏光分析器を調整する。該線偏光ジェネレータは光源からの入射光を受け取り並びに複数の偏光の特徴を抽出し、第1電気コントローラにより制御されて、この複数の偏光を測定サンプルに照射する。該測定サンプルを透過した光は偏光分析器に受け取られる。第2電気コントローラは該偏光分析器を制御して特定の偏光を抽出して後端のデータ処理装置に送る。該データ処理装置は該偏光分析器からの偏光データを受け取り液晶分割層モデルを使用して少なくとも一つの液晶パラメータを得る。 (もっと読む)


【課題】粘着層が外部に露出することがない光学フィルム積層体の製造方法及び製造システム、並びに、光学フィルム積層体を提供する。
【解決手段】第1フィルム31上に積層する第2フィルム32及び第3フィルム33の幅を、いずれも第1フィルム31の幅よりも小さくするとともに、第2フィルム32及び第3フィルム33を、いずれも第1フィルム31に対して幅方向にはみ出さないように、第1フィルム31上に順次に積層する。これにより、光学フィルム積層体30の粘着層32A,33Aが外部に露出することがない。 (もっと読む)


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