【課題】測定機構を用いることなく、正確な感光体の寿命時期を使用者に通達することができる感光体、プロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供する。
【解決手段】表面にトナーにより現像される静電潜像が形成される感光体ドラム２において、感光体ドラム２の最表層であるＣＴＬ層２３が経時使用により削られて感光体としての機能が低下してしまう層であるとともに、該ＣＴＬ層２３内の少なくとも一部に紫外光領域の光を受けると有色の蛍光を発する蛍光色材の粒子２５が分散されたを含む蛍光層２４が設けられている。 （もっと読む）

【課題】電子写真用感光体の静電容量を精度良く算出する。
【解決手段】電子写真感光体１である試料を帯電させる静電気帯電工程と、帯電後の試料の感光面を露光により除電させる除電工程と、試料の表面電位を検出する表面電位検出工程と、試料の電荷量の検出を行う電荷量検出工程と、表面電位および電荷量の検出結果に基づいて、試料の静電容量を算出する静電容量算出工程と、を有し、静電気帯電工程は、試料の回転周期における表面電位において所定の電位差が生じる帯電条件で試料を帯電させ、静電容量算出工程は、試料の任意の位置における該試料の回転周期における複数の表面電位と通過電流との関係に基づいて、静電容量を算出する。 （もっと読む）

【課題】短時間で、感光体の劣化を正確に把握でき、かつ潜像の形状を予測できをる潜像計測装置の提供すること。
【解決手段】潜像書込装置により形成した像担持体の潜像に、露光とは別の光源からの検知光を照射し、像担持体の光減衰による表面電荷量の変化を誘導電流として検出する潜像測定方法を用いた潜像計測装置であって、前記検知光の照射が一箇所のみであることを特徴とする潜像計測装置。 （もっと読む）

【課題】感光体試料上の帯電電荷によって生じる電界の向きを制御でき、計測領域内で生じる２次電子の検出条件の違いを改善して計測精度を高めることができ、よって実機（画像形成装置）の高画質化に寄与できる静電潜像計測方法を提供する。
【解決手段】感光体試料上の静電潜像計測領域ａ１の外部に、電子軌道制御帯電領域ａ２を形成する。電子ビームの照射により感光体試料から発生した２次電子は、帯電電荷により生じる電界の影響を受けて上部に移動する。また、同様に電界の影響を受けてX方向（図中左右方向）では、帯電中心から遠ざかる方向へ移動する。計測領域外部に電子軌道制御帯電領域を形成したとき、帯電電荷により生じる電界分布は、従来の場合に比べて試料内位置を緩やかに変化し、試料内各位置で発生した二次電子は、上部に設置している２次電子捕獲部材にぶつかりやすくなる。 （もっと読む）

【課題】初期の比抵抗が１０^９［Ω・ｍ］以上となるような高抵抗試料についても、抵抗と静電容量との安定した測定を行い、劣化前後の測定結果から試料の劣化の程度を判定可能な試料特性評価装置及び特性評価方法を提供する。
【解決手段】周波数可変の振幅が０．２Ｖ以上となる交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加手段と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測手段と、評価電圧と評価電流の関係から試料の抵抗を求める演算手段と、該演算手段の結果により求められた初期試料の抵抗と劣化後試料の抵抗とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】出力画像の品質が低下する前に電子写真感光体の寿命（交換時期）を判定することができる劣化判定装置及びこれを備えた画像形成装置を提供すること。
【解決手段】所定波長を有する紫外光を受光し励起して蛍光を発光する電荷輸送物質を含有する層１４を外周部に有する電子写真感光体１の劣化判定装置２であって、判定対象の感光体１の電荷輸送物質を励起させて蛍光を生じさせる前記所定波長を有する紫外光Ｌｅを電荷輸送物質含有層１４に照射する光照射部２Ａと、電荷輸送物質が発する蛍光Ｌｆを受光して蛍光強度を測定する蛍光検出部２Ｂと、蛍光検出部２Ｂによって測定した前記蛍光強度と、感光体１の電荷輸送物質含有層１４が未使用状態のときに予め測定した初期蛍光強度とを比較することにより、電荷輸送物質含有層１４の劣化度を判定する評価部２Ｃとを備えたことを特徴とする電子写真感光体の劣化判定装置。 （もっと読む）

【課題】感光体の帯電電位に変動が生じた場合に、感光体側に異常があるのか計測装置側に異常があるのかについての判断を、周方向の位置まで精度良く検出する。
【解決手段】特性評価対象としての感光体１の周囲に、少なくとも帯電器６と、露光装置と、第１，第２の表面電位計プローブと、変位センサ１１と、感光体１の回転量を制御するモータ１３を備え、感光体１の特性評価を行う特性評価装置２０において、振れ量に応じた帯電電位予測変動量を算出する第１算出手段２２と、感光体１の回転制御をしつつ、変位センサ１１により感光体１の振れ量を周方向の複数の異なる位置で測定し、測定した各位置において、測定した振れ量について帯電電位予測変動量と感光体１の特性測定時における帯電電位とに基づいて予測帯電電位を算出する第２算出手２３と、予測帯電電位に基づいて感光体の異常を検出する異常検出手段２４と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ダメージを与えず、帯電による観察領域の変化に対して、試料の座標を計測することで、静電潜像の寸法を高精度に測定することができる静電潜像の測定装置、静電潜像の測定方法およびこれらの装置および方法を用いて測定された像担持体を有する画像形成装置を得る。
【解決手段】真空チャンバ内の試料に対して電子ビームを照射することで試料３０上に帯電電荷を生成させる手段と、帯電された試料面に静電潜像を形成させるための露光光学系２０と、試料面を電子ビームで走査し、この走査で得られる検出信号により試料面の静電潜像分布を測定する静電潜像の測定装置において、波長４００〜８００ｎｍの光を照射することで試料面上の寸法が既知の潜像パターンを形成する手段と、静電潜像として得られる潜像画像を取り込む手段と、試料の座標を計測する手段と、を有してなる。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で、感光ドラムの表面状態を判断することができる画像形成装置を提供すること。
【解決手段】
表面に静電潜像が形成される感光ドラム１４と、感光ドラム１４の表面にレーザービームＬを走査するスキャナとを備えるプリンタ１において、感光ドラム１４の表面で反射されたレーザービームＬの反射光Ｒの強度（Ｉ_０）を検知するセンサユニット４１と、センサユニット４１の検知に基づいて感光ドラム１４の表面状態を判断するＣＰＵ４２とを備える。 （もっと読む）

【課題】残像の発生によって到来する感光体の寿命について、その寿命が到来したかどうかを判定したり寿命到来時期を予測したりすることを課題とする。
【解決手段】第１条件を満たすように転写装置によりバイアスが印加された転写領域を通過させた感光体表面部分に対して帯電装置により帯電処理を行った後の当該感光体表面部分の表面電位（第１帯電後電位Ｖａ）を測定するとともに、第１条件とは異なる第２条件を満たすように転写装置によりバイアスが印加された転写領域を通過させた感光体表面部分に対して帯電装置により帯電処理を行った後の当該感光体表面部分の表面電位（第２帯電後電位Ｖｂ）を測定し、これらの差分値ΔＶ（＝｜（Ｖｂ−Ｖａ）｜）から感光体の寿命判定、寿命予測を行う。 （もっと読む）

【課題】 測定像面の最適化を行うことでビーム径変化を抑制し、高精度な静電潜像計測を行うことのできる静電潜像計測方法および静電潜像計測装置を得る。
【解決手段】 感光体表面の静電潜像を計測する静電潜像計測装置。感光体を帯電させる電子銃１１と、光束を感光体に照射する露光光学系２２と、光束を一方向に回折する音響光学偏向素子１０３と、像面湾曲を補正する補正手段と、回折された光束を回折方向と直交する方向に偏向するポリゴンミラー１０５と、光束により感光体表面を走査し露光する露光光学系２２と、露光された感光体に荷電粒子ビームを照射し、感光体から発生する２次電子を検出する検出器２４と、を備える。 （もっと読む）

【課題】イオン水を接触させることで効率よく合理的に、しかも簡便な機構により感光ドラムたる有機感光体の電気的特性を測定する方法を提供する。
【解決手段】イオン水２を有機感光体１に接触させた電極４と、ネットワーク回路５を組み合わせる。ポット３内のイオン水２の上面２ａを有機感光体１の表面１ａに接触させて電極４をつくり、直接に電圧を印加して表面電位を確保すると共に、前記ポット３内のイオン水２を通して有機感光体１の表面１ａに光９を照射する機構により、前記有機感光体１の電気的特性を測定する。 （もっと読む）

【課題】 誘電体の周辺の電界を適切に制御しつつ、誘電体表面の電荷分布をミクロンオーダーで測定する表面電荷分布測定方法および表面電荷分布測定装置を得る。
【解決手段】 荷電粒子ビームを照射する電子銃１１と、荷電粒子ビームを試料に走査する走査レンズ１９と、帯電された試料に露光パターンを形成する露光光源２と、試料の一面に接触する第１電極６４と、第１電極と抵抗部材を介して接続される第２電極６５と、を備えた試料の表面電荷分布測定装置１。第１電極６４と第２電極６５の電位が連動するように電圧が印加され、試料から放出される２次電子が検出器２４により検出される。 （もっと読む）

【課題】感光体の異常を精度良く検知すると共にその位置情報まで把握する事が可能な感光体の特性評価方法及び装置を提供する事。
【解決手段】感光体の表面を帯電させる帯電工程と、前記感光体の表面電位を計測する工程と、前記感光体と前記帯電手段の離間距離を計測する工程と、前記感光体の周方向における複数位置について前記表面電位と前記離間距離の相関関係を表す関数を算出する工程と、前記複数位置夫々について前記関数から予め定められた所定の前記感光体と前記帯電手段の離間距離における所定離間距離帯電電位を算出する工程と、前記複数位置夫々について算出された前記所定離間距離帯電電位から、当該複数位置についての平均帯電電位を算出する工程と、前記複数位置夫々について前記所定離間距離帯電電位と前記平均帯電電位の電位差を求め、当該電位差が所定値を超えた前記感光体の周方向位置を欠陥位置として検出する工程を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】光減衰による表面電荷の消失によって電極に誘導される電荷量（誘導電流）により表面電位を測定する方法において、潜像がボケることなく、計測できる潜像測定装置を提供すること。
【解決手段】潜像書込装置により形成した感光体の潜像に、露光とは別の光源からの検知光を照射し、誘導電流を検知して感光体表面の電荷量変化を測定する潜像測定装置であって、検知光を感光体の回転軸方向及び／または回転方向に移動させて先に照射した検知光位置から離れた位置に次の検知光照射を行い、計測を行うことを特徴とする潜像計測装置。 （もっと読む）

【課題】検知手段を像担持体の軸線方向に往復運動させて像担持体表面の状態を検知する際に、駆動系の回転方向を変更することなく連続した往復運動を行えて、単位時間当たりのセンサの移動距離を向上する像担持体表面状態検知装置を提供する。
【解決手段】無端であって回転することでその表面を移動させる像担持体１（Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋ）と、像担持体の表面状態を検知する検知手段５８（Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋ）と、検知手段を支持し、同検知手段を像担持体の表面移動方向に対して直交する像担持体軸線方向ａに往復運動させる移動手段５６（Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋ）とを有し、
移動手段は、像担持体軸線方向に延在する往動用と復動用の螺旋状のガイド部８０，８１（Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋ）を有し、往動用と復動用の螺旋状のガイド部の端部が互いに連続している送り部材６０（Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋ）と、この送り部材を一方向に回転駆動する駆動手段４１（Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋ）とを有し、検知手段はガイド部に係合する係合部９０（Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｋ）を有する。 （もっと読む）

【課題】潤滑剤を必要なときに必要量だけを供給でき、クリーニング性の高安定化を図りつつ、高画質の画像が得られる画像形成装置、及びプロセスカートリッジの提供。
【解決手段】 導電性支持体上に感光層と表面層とを有する電子写真感光体と、該電子写真感光体へ潤滑剤を供給する潤滑剤供給手段とを有する画像形成装置であって、
前記潤滑剤供給手段が、前記潤滑剤を液滴化する液滴化部材を有し、
前記液滴化部材が、貫通孔が形成された薄膜と、該薄膜を振動させる振動発生部とを有することを特徴とする画像形成装置である。 （もっと読む）

【課題】試料の表面に生じている電荷分布をミクロンオーダーの高分解能で測定することを可能とする。
【解決手段】試料２３の表面電荷分布の測定方法。試料２３をスポット状に帯電する帯電工程と、電位鞍点の電位の実測値を求める工程と、構造体モデルとそれに対応する仮の空間電荷分布とを選択する工程と、構造体モデルと仮の空間電荷分布から電位鞍点の空間電位ポテンシャルを算出する工程と、空間電位ポテンシャルと実測値とを比較し、誤差が所定の範囲内であるとき仮の空間電荷分布を試料２３の空間電荷分布であると判定する工程と、判定された空間電位分布に基づき電磁場解析により試料２３の表面電荷分布を算出する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】光書込み手段によるドット露光により静電潜像を形成される光導電性の感光体の感光特性を評価する新規な方法を提供する。
【解決手段】ドット露光を行なうビームの露光面上におけるビームプロファイルをビームプロファイル関数：ｆとして特定し、ビームプロファイル関数：ｆを与えるビームによるドット露光により、感光体に形成された静電潜像のプロファイルを静電潜像プロファイル関数：ｇとして特定し、特定されたビームプロファイル関数：ｆと、静電潜像プロファイル関数：ｇとを用いるデコンボリューション演算により、劣化関数：ｈを求め、この劣化関数：ｈにより感光体の感光特性を評価する。 （もっと読む）

【課題】感光体表面に生じている静電潜像をミクロンオーダーで高精度に計測する静電潜像計測装置および静電潜像計測方法を提供する。
【解決手段】電子銃１１と、光源１００と、音響光学偏向素子１０３と、ポリゴンミラー１０５と、２次電子検出器２４と、音響光学偏向素子１０３の駆動周波数の変化が回折に与える影響を補正する補正手段と、を備えた静電潜像計測装置。１次元方向への走査は音響光学偏向素子１０３による回折、他の１次元方向への走査はポリゴンミラー１０５による偏向により行うことで２次元方向への走査を行う。 （もっと読む）