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Fターム[3C034CB01]の内容

研削盤の構成部分、駆動、検出、制御 (11,657) | 操作対象 (1,373) | 砥石台、ワークテーブルの送り運動 (595)

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Fターム[3C034CB01]に分類される特許

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【課題】製箔ローラ表面の凹凸を簡易に、かつ高い精度で検出し補修する製箔ローラ検査装置を提供する。
【解決手段】製箔ローラ検査装置は製箔ローラの表面に接触し研磨剤で研磨する研磨ローラと、研磨ローラに研磨材を供給する研磨材供給手段からなる研磨手段と、製箔ローラの表面を洗浄する洗浄手段と、製箔ローラの表面の凹凸を検査する検査手段と、検査結果に従い製箔ローラの表面研磨の要否を判断する制御手段と、研磨手段、洗浄手段、および検査手段を一体化した検査研磨機構を製箔ローラに対して接離方向に移動可能に支持し、製箔ローラに接近し表面の凹凸検査および表面の研磨を行う検査補修位置と、製箔ローラから離れて製箔工程への干渉を避ける退避位置との間を移動させる移動手段と、を有する。 (もっと読む)


【課題】加工部位の正確な実切込み量を加工中に測定し、これを用いて加工工程を制御する工作機械を提供する。
【解決手段】円筒の加工部を備えた工作物Wを回転支持して砥石車7を半径方向に切込む加工方法において、加工部表面の測定開始点を含む直径である開始直径Dを測定し、測定開始点が加工作用部を通過した後に、測定開始点を含む直径である終了直径Dを測定する。測定開始点が加工された時の実切込み量Uを式U=|D−D|を用いて演算し、加工部の回転方向の位置に対応する実切込み量Uの相互差から加工部の振れを演算し、振れを除去するような砥石車7の切込み制御を行う。 (もっと読む)


【課題】研磨対象膜の下層の金属材料の影響を排除し、渦電流センサを用いて、基板表面内の各領域での膜厚情報を取得することができ、得られた膜厚情報から基板の研磨終点を決定する方法を提供する。
【解決手段】本方法は、基板の研磨中に渦電流センサを基板の表面を横切るように移動させ、渦電流センサのインピーダンスの抵抗成分Xおよび誘導リアクタンス成分Yからなる座標X,YをX−Y座標系上にプロットし、X−Y座標系上に定義された複数のインピーダンスエリアにそれぞれ属する複数の座標X,Yを用いて、複数のインピーダンスエリアごとに複数の膜厚指標値を算出し、複数の膜厚指標値を用いて複数のインピーダンスエリアごとに基板の研磨終点を決定する。 (もっと読む)


【課題】SAWデバイス用ウェーハの樹脂層を一定厚さに研削するにあたり、作業者の手作業をなくし、圧電基板や保護テープの厚さばらつきに影響されることなく樹脂層の研削量を正確に算出でき、樹脂層の研削量の算出から研削実施までの自動化を可能とする。
【解決手段】SAWデバイス用ウェーハ1の樹脂層6の研削前に、近赤外光照射手段62のヘッド部61と樹脂層6との間に形成される空間に少なくとも水が存在しない状態でヘッド部61から樹脂層6に近赤外光Lを照射し、樹脂層6の表面6aと基板2の表面2aで反射した各反射光の干渉波から、樹脂層6の厚さを算出し、必要な樹脂層6の研削量をウェーハ1ごとに求める。水に近似した屈折率を有する樹脂で形成された樹脂層6の厚さを水に影響されることなく算出するため、研削前の樹脂層6の正確な厚さ測定値をウェーハ1ごとに得る。 (もっと読む)


【目的】、過研磨を防止することが可能な研磨装置を提供する。
【構成】実施形態の研磨装置(100)は、ステージ(101)と研磨部(102,104)と検出部(110)とロック機構(120)とを備えた。ステージ(101)は、半導体基板を載置する。研磨部(102,104)は前記半導体基板の上方から前記半導体基板の周縁部を研磨する。検出部(110)は前記半導体基板の基準高さ位置を検出する。ロック機構(120)は、前記研磨部(102,104)が前記基準高さ位置から所定の距離だけ前記半導体基板面側へ移動した場合に、研磨部(102,104)の半導体基板面側への更なる移動が停止されるように、前記研磨部(102,104)の移動を拘束する。 (もっと読む)


【課題】製造プロセス中のウエハの反りを防止する。
【解決手段】基板処理装置は、ウエハにおける、サポートプレートが貼り付けられている面とは反対側の被支持面の内周部を支持する支持ピンにより支持された積層体を減圧環境下において搬送する搬送ユニット20とを備え、製造プロセス中のウエハの反りを防止することを可能とした。 (もっと読む)


【課題】キャリアの厚さの経時変化に影響されず、ウェーハの平坦度を安定的に改善できる両面研磨方法を提供することを目的とする。
【解決手段】キャリアに保持されるウェーハを研磨布が貼付された上下の定盤で挟み込み、キャリアを自転及び公転させ、研磨剤を供給しながらウェーハの両面を同時に研磨するウェーハの両面研磨において、高研磨レートで研磨する第1の研磨工程と、次に低研磨レートで研磨する第2の研磨工程とを有する両面研磨方法であって、研磨後にウェーハの平坦度を測定する工程と、平坦度の測定結果に基づいて次回研磨時の第2の研磨工程の研磨条件を設定する工程とを含むことを特徴とする両面研磨方法。 (もっと読む)


【課題】簡便にワークの膨張量を求めることができて、その膨張量に基づいて研削目標値を補正することにより、加工寸法のばらつきを低減できるようにした研削盤の制御装置を提供する。
【解決手段】循環使用する研削液を研削箇所に供給しながら研削目標値となるように順次ワークを研削する研削盤の制御装置であって、各ワークの研削工程ごとに循環使用する研削液の温度を定点測定する温度センサ1と、温度センサの測定した研削液温に変化があった場合にその変化量に基づいて研削目標値の補正値を演算し、その補正値に基づいて研削盤の研削目標値を補正する演算装置3と、を備える。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成によって板状物を所望の厚みに調整することができ、さらに生産性を向上させると共にコストを低減すること。
【解決手段】本発明の板状物の研削方法は、外部刺激によって硬化する液状部材によって、貼着テープ(92)上に複数の板状物(W)の仕上げ厚みよりも厚くリング部材(93)を形成するステップと、チャックテーブル(31)の回転中心にリング部材(93)の中心を位置付けるように、チャックテーブル(31)上に複数の板状物(W)を保持するステップと、ハイトゲージ(51)によってリング部材(93)の厚みを測定しながら、研削ユニット(4)によってリング部材(93)及び複数の板状物(W)を仕上げ厚みまで研削するステップとを有する構成とした。 (もっと読む)


【課題】チャックテーブルやウェーハの表面の高さを高精度で認識することを可能とする加工装置を提供する。
【解決手段】チャックテーブルと、チャックテーブルに保持された被加工物を加工する加工手段と、被加工物の表面を撮像する撮像手段と、Z軸方向に加工手段又は撮像手段を移動させチャックテーブルに向かって接近・離反させるZ軸移動手段と、Z軸移動手段の駆動を制御する制御手段と、を備えた加工装置において、Z軸移動手段は、加工手段又は撮像手段が固定された基台部と、基台部をZ軸方向に移動させる駆動部を備え、基台部には、下端部に配設される当接部と、Z軸の下降によってチャックテーブルの保持面又は保持面に保持された被加工物の表面に当接部が当接したことを電気信号で制御手段に出力する出力部と、を備えるタッチセンサーが搭載されていることを特徴とする加工装置とする。 (もっと読む)


【課題】環状フレームや装置が損傷しにくい研削装置を提供する。
【解決手段】制御部27は、固定部21に固定された環状フレーム12の上面12aの高さ位置を検出部26に検出させ、検出された環状フレーム12の上面12aの高さ位置が吸着部23の上面23aの高さ位置よりも低い場合に駆動部25を駆動させる。 (もっと読む)


【課題】研削工具(砥石)を持つ加工装置の制御に係わり、工具の磨耗に対処して好適な経路を算出し、費用等を抑える。
【解決手段】本工具経路算出装置10は、加工装置20での研削中に工具に生じる磨耗を考慮した経路を算出する機能を有する。処理部201は、被削材と工具との組合せについて、(1)第1の研削加工(試加工)の結果データに基づき、研削諸元値と工具磨耗量との関係情報を含むデータをDB50に格納する処理と、(2)第2の研削加工(実加工)を行うためのNCデータ52を生成する際に、当該研削諸元値と、DB50とをもとに、第2の研削加工の工具磨耗量を算出する処理と、(3)工具の磨耗を考慮しない経路に対し、上記第2の研削加工の工具磨耗量を反映して補正した工具の経路を算出する処理とを行う。 (もっと読む)


【課題】 照明光を照射して光導波路を検出するときに検出を補助する機能を備えた被加工物保持治具を提供することである。
【解決手段】 被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物に加工を施す加工手段とを有する加工装置の該チャックテーブルに着脱自在に装着され、上面に被加工物を載置して吸引保持する被加工物保持治具であって、鏡面加工された上面と、該上面に形成された吸引溝と、一端が該吸引溝に連通し他端が底面側に貫通する貫通吸引路を有し、加工装置の該チャックテーブル上に載置されて、該鏡面加工された上面に載置された透明体からなる被加工物に該チャックテーブルからの負圧を該貫通吸引路及び該吸引溝を介して作用させて該被加工物を吸引保持し、該上面で吸引保持した該被加工物の上方から照明光を照射することで、該被加工物を透過し該鏡面で反射した反射光で該被加工物を下面側から一様に照らすことができることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】研磨面において研磨ムラを生じさせることなく、一様で意匠性の高い研磨面を形成することのできるベルト研磨装置を提供する。
【解決手段】このベルト研磨装置PSは、研磨ベルト9に加えられる加圧力の大きさを測定する加圧力測定手段17と、加圧力の大きさを調整する加圧シリンダ4とを有しており、加圧力測定手段17により測定された加圧力が一定となるように制御しながら研磨を行う。 (もっと読む)


【課題】作業者の負担軽減を図る。
【解決手段】研磨装置Aは、ワークWに対して上から当接することでそのワークWを研磨するバフ11(回転工具)と、バフ11に対しワークWへの当接状態を保つための押圧力を付与する電動アクチュエータ20(押圧手段27)と、バフ11の上下方向の位置を検出して位置検出信号28Sを出力する電動アクチュエータ20(位置検出手段28)と、バフ11をその重量に応じた力で支持するための流体圧シリンダ30と、電動アクチュエータ20からの位置検出信号28Sに基づき、流体圧シリンダ30に付与される流体圧を調節する電空レギュレータ34とを備えている。 (もっと読む)


【課題】温度ドリフト等のノイズによる影響を受けにくく、高精度な距離測定又は変位量測定を行うことができる距離測定装置を実現する。
【解決手段】光源10から透明体12を介してワーク表面に向けて測定ビームを投射すると、透明体12の第1の面12aを透過して第2の面12bで反射し、第1の面12aから出射する第1の反射ビーム13aと、透明体12の第1の面12a及び第2の面12bを透過し、ワーク表面で反射し、再び透明体12の第2の面12bを透過して第1の面12aから出射する第2の反射ビーム13bとが光検出手段15に入射する。信号処理装置16は、第1の反射ビーム13aを受光した受光素子と第2の反射ビーム13bを受光した受光素子との間の距離情報に基づいて透明体12の第2の面12bからワーク表面までの距離又は変位量を出力する。 (もっと読む)


【課題】高硬歯車の面粗さの改善などを目的として加工圧を調節することができる歯面加工装置及び歯車製造方法を提供する。
【解決手段】歯面処置装置10は、はす歯状砥石2と、はす歯状砥石2の回転軸Cと被加工歯車Wの回転軸Xとの相対位置を移動できる位置調節手段3と、はす歯状砥石2の回転軸Cと被加工歯車Wの回転軸Xとの相対位置を調節して、被加工歯車Wの1つの歯を形成する歯面のうち一方の被加工歯面11のみ、はす歯状砥石2の砥石歯面21に当接させてはす歯状砥石2及び被加工歯車Wを噛み合わせるように位置調節手段3を作動させる相対位置制御部71と、砥石回転手段4を作動させる砥石回転手段制御部72と、回転トルクを所定範囲に調節するように回転トルク制御手段5を作動させるトルク制御手段制御部73と、をもつ制御手段7とを有する。 (もっと読む)


【課題】二つの物体を近づける場合に、両者間の隙間を維持したままできるだけ両者を近づけるとともに、両者が近づいたことを検出することを可能とするための、移動体の接触検知方法を提供する。
【解決手段】少なくとも一方が移動体として移動する二つの物体同士が、所定の距離まで近づいたかを検知するための移動体の接触検知方法であって、少なくとも二つの物体の間に設けたい所定の距離よりも厚い可撓性を有するベース部と、ベース部の少なくとも一部の表層部に形成される可撓性を有する光反射部と、を有する接触センサーを用いる。 (もっと読む)


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