【課題】有機ＥＬパネルの有機層に発生した部分短絡を容易に検出することが可能な有機ＥＬモジュールを提供する。
【解決手段】有機ＥＬモジュール２００は、透明電極層１２を含み、給電されることによって発光する有機ＥＬパネル１０と、透明電極層１２に設けられた複数の電圧検出部２１〜２４と、複数の電圧検出部２１〜２４の各々における透明電極層１２の電圧値を検出するとともに、検出した複数の電圧値同士の差が所定の閾値以上であるか否かを判定する判定部３０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】検査用の回路を追加することなく、画素容量検査の制御リソースを低減する。
【解決手段】マトリクス基板１０は、行列状に配置された複数の発光画素２０と、複数の発光画素２０の行に対応してそれぞれ配置された第１の制御線及び第２の制御線を備え、発光画素２０をＮ行ごとにまとめた単位のそれぞれを検査用ブロックとしたときに、検査用ブロックごとに１本ずつ設けられ、当該検査用ブロックに属するＮ本の前記第１の制御線同士を電気的に接続した第１の検査用制御線及びこれに接続された第１の検査用端子と、検査用ブロックの各々から１本ずつ選択される第２の制御線同士を電気的に接続したＮ本の第２の検査用制御線及びこれに接続された第２の検査用端子とを備える。 （もっと読む）

【課題】発光体を封止する封止材料のスペクトル変換効率の変動要因を特定する検査装置および検査方法を提供すること。
【解決手段】被測定物である封止材料１００４に含まれる蛍光体粒子の形状を測定する粒子状態評価ユニット１０１と、封止材料１００４のスペクトルを検出する光学特性評価ユニット１０２と、当該形状およびスペクトルの解析を行うデータ処理演算用ＰＣ１０５とを備える封止材料検査装置１００。 （もっと読む）

【課題】有機発光素子に混入した異物が高抵抗の異物である場合でも、異物によりリーク性の暗点となる有機発光素子を検出できる有機ＥＬ表示パネルの検査方法を提供する。
【解決手段】有機ＥＬ表示パネル５の全画素を、第１電流に基づいて発光させるステップＳ２１と、周辺画素の第１発光輝度とは異なる第２発光輝度である画素を注目画素として特定させるステップＳ２４と、注目画素及び周辺画素を、第２電流に基づいて発光させるステップＳ２５と、周辺画素の第３発光輝度及び注目画素の第４発光輝度を算出させるステップＳ２７と、第１輝度比と第２輝度比との差が所定値を超えているかを確認させ、その差が所定値を超えている場合には、注目画素に含まれる有機発光素子はショートしていると判定させるステップＳ２９と、を含む。 （もっと読む）

【課題】フォトルミネッセンスを用いることにより、発光素子を容易かつ迅速に識別するための発光素子の検査方法などを提供する。
【解決手段】検査工程は、発光素子１に通電を行わずに、通電により発光する波長（第１波長）より波長が短い光（第２波長の光）を励起光として照射する光照射工程（ステップ２０１）と、第２波長の光の照射により発光素子１が出射する光を検出する検出工程（ステップ２０２）と、発光素子１が出射する第１波長の光の強度に基づき、発光素子１の電流リークの状態を判別する判別工程（ステップ２０３）とを含んでいる。 （もっと読む）

【課題】 複数の照明装置が並べて設置される場合に照明装置各々の発光輝度又は発光色をほぼ一致させることができ、かつ寿命に差が生じないようにした照明装置の温度調整方法を提供する。
【解決手段】 入力操作に応じて複数の照明装置各々の発光部の発光輝度又は発光色を調整し、その後、複数の照明装置各々の発熱部の温度を検出し、複数の照明装置の発光部の温度のうちの最も高い温度が検出された照明装置を選択し、その選択照明装置の放熱効率が最大となるように選択照明装置の発光部と放熱部との熱的結合状態を調整し、その調整後、選択照明装置の発熱部の温度を検出し、複数の照明装置のうちの選択照明装置以外の照明装置の発光部の温度が選択照明装置の発光部の温度に等しくなるように選択照明装置以外の照明装置の発光部と放熱部との熱的結合状態を調整する。 （もっと読む）

【課題】有機ＥＬパネルの欠陥検査を行うに際して、有機層の成膜直後に成膜の不具合を検知することを可能にする。
【解決手段】有機層１２に検査光２Ａを照射する光源２を基板１０に対して斜めに向けて配置し、検査光２Ａが入射しない位置に有機層１２を撮像する撮像手段３を配置し、検査光２Ａの照射によって有機層１２から発せられる光を撮像手段３にて検出し、撮像手段３によって得られる有機層１２の撮像信号に基づいて欠陥を検査する。 （もっと読む）

【課題】駆動回路等を制御するための駆動制御信号の信号線を基板の所定部位に配設することで、基板面の有効利用と、駆動制御信号への外的影響を防止ないし抑制することが可能な表示装置、及びそれを備えた電子機器を提供する。
【解決手段】基板２０上に、バンク層２２１と該バンク層２２１により区画形成された凹状区画領域２２３とを所定のマトリクスパターンで配列するとともに、表示部たる画素部１１０に、表示に寄与する実画素部１１１と、表示に寄与しないダミー画素部１１２とを構成する。さらに基板２０上には、走査線を導通する走査信号の出力制御を行う走査線駆動回路８０と、該走査線駆動回路８０を駆動させるための駆動制御信号が導通する駆動制御信号導通部３２０とが設けられ、基板２０を平面視した場合に、駆動制御信号導通部３２０が、少なくともダミー画素部１１２のバンク層２２１と重畳配置する部分を含むように配置されている。 （もっと読む）

【課題】簡易な方法で欠陥のある画素を修復し、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造時の歩留まりを上げる。
【解決手段】ＩＴＯ陽極１０１上にＨＩＬ１０２とＥＭＬ１０３を成膜する工程と、欠陥のある画素Ａを検出する工程と、欠陥のある画素Ａのゴミ２００とその周囲を親液性化処理する工程と、ゴミ２００とその周囲に絶縁性材料を含むインク３０２を塗布する工程と、塗布した絶縁性材料を含むインク３０２を硬化させる工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】高い作業効率および高い検査精度で欠けもしくはクラックを検査可能な表示装置を提供することである。
【解決手段】本発明に係る表示装置１は、第１主面22aに表示領域Ｅ_Ｄを有する第２基
板22と、第２基板22の第１主面22ａ上に集中的に設けられた外部接続用の複数の電極端子WCPと、第２基板22上に第２基板22の外周に沿って１ヶ所で切れた環状に設けられた検査
用配線Ｔと、検査用配線Ｔの一方端側に接続された第１検査用電極TP1と、検査用配線Ｔ
の他方端側に接続された第２検査用電極TP2とを備えており、第１検査用電極TP1および第２検査用電極TP2は、複数の電極端子WCPとともに集中的に配置されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ブラックマトリクスが設けられているにも拘わらずパネル内部の状態を非破壊検査可能な表示パネルを提供する。
【解決手段】一方の主面に、複数の画素が配列された表示領域が形成されている第１基板１０と、前記一方の主面に対向配置され、前記表示領域における前記複数の画素を規定する部分に対応した領域、および、前記表示領域を囲繞する周辺領域に対応した領域にブラックマトリクス層２３が形成されている第２基板２０と、を具備し、前記第１基板１０の前記周辺領域には、前記第１基板１０および前記第２基板２０の少なくとも一方に関する情報を標示する情報標示手段４０が設けられ、前記ブラックマトリクス層２３における前記情報標示手段４０に対応した領域には、前記情報標示手段４０が標示する情報を前記第２基板２０越しに認識するための窓部２４が設けられている表示パネル１とする。 （もっと読む）

【課題】迅速に成膜速度を算出し、被処理基板へ供給する有機材料ガスの濃度を略一定にして良質な膜を効率良く形成することができ、保守管理も容易である成膜装置、成膜速度算出方法、成膜方法、有機発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】成膜装置１のプロセスコントローラ１１は、イオンゲージ１０に搬送ガスのみを通流させた場合の（Ｉｉ／Ｉｅ）₀ と、有機材料及び搬送ガスを通流させた場合の（Ｉｉ／Ｉｅ）との差と、成膜速度Ｄ／Ｒとの関係を示す成膜速度検量線を作成する。プロセスコントローラ１１は成膜時に（Ｉｉ／Ｉｅ）を算出し、前記成膜速度検量線を用いてＤ／Ｒを求め、求めたＤ／Ｒに基づいてマスフローコントローラ５を制御し、搬送ガスの流量を制御して、成膜処理を行う。 （もっと読む）

【課題】上部電極が１３５ｎｍ以上という厚膜の構造の有機ＥＬ素子とした場合において、本来良品としても良い製品が不良品と判定されることを抑制し、良不良率を向上させられるようにする。
【解決手段】第１、第２欠陥部顕在化工程を行うと共に、それらの工程で第１、第２の直流電圧を印加している全期間中のリーク電流を測定し、それに基づいて良不良判定を行う。また、第１の直流電圧の印加が終了してから第２の直流電圧の印加が開始するまでの間において、両電極間の電位差が０Ｖから４Ｖ、かつ、これらの間の時間が１０ｍｓｅｃ以上となるようにする。これにより、オープン欠陥の破壊痕サイズが視認できない大きさとなるようにオープン欠陥の顕在化が行える。このため、再オープン化できれば、従来不良と判定されていたものについても良品とすることが可能となり、本来良品としても良い製品が不良品と判定されることを抑制でき、良不良率が向上させられる。 （もっと読む）

【課題】有機ＥＬディスプレイの製造において、画素電極に異物が混入し、この異物による欠陥が生じた場合、簡易的に欠陥部のみを局所的に修復し、修復後に修復部周囲へのダメージが発生しない有機ＥＬディスプレイのリペア方法を提供すること。
【解決手段】有機ＥＬディスプレイの製造において、画素電極形成に画素電極に混入した異物を検出し、画素電極に混入した異物に対して先端が半球状の微細な針を下方に押し下げて、異物と画素電極の一部とを一緒に塑性変形させて、異物を画素電極内に埋め込むことで異物による欠陥を修復する。画素電極に異物を押し込むことで異物によるショート欠陥を起こさない。 （もっと読む）

【課題】有機ＥＬディスプレイの製造において、有機層中に異物が混入し、この異物により欠陥が発生したとき、ダメージなく修復できることのできる有機ＥＬディスプレイの製造方法を提供すること。
【解決手段】有機層中に混入した異物に対してレーザを照射して異物周囲を絶縁化することで異物による欠陥部を修復するとき、欠陥のある画素の周囲の画素に対して、レーザの焦点をずらしながらレーザを照射したあと、レーザによる加工痕と発光状態から、レーザの焦点を規定し、この規定した焦点で異物に対してレーザを照射することで、異物周囲以外にダメージを与えず、異物部を絶縁化し異物による欠陥を修復することができる。 （もっと読む）

【課題】検査精度の向上、および検査回路自体の検査およびリペアが可能なアクティブマトリクス基板を提供する。
【解決手段】基板と、前記基板上に配置された複数のゲート線１０２と、前記基板上に複数のゲート線１０２と交差する方向に配置された複数のソース線１０３と、ｍ（ｍは２以上の整数）本のソース線１０３ごとにブロック化されたデータ線ブロックＢごとに設けられた端子１４１と、データ線ブロックＢごとに設けられ、ｍ本のソース線１０３のうちから選択される少なくとも１本のソース線１０３と端子１４１とを導通させる第１選択回路１２１と、ｎ（ｎは２以上の整数）個のデータ線ブロックＢごとに設けられた端子１４２と、ｎ個のデータ線ブロックＢごとに設けられ、ｍ×ｎ本のソース線１０３のうちから選択される少なくとも１本のソース線１０３と端子１４２とを導通させる第２選択回路１２２と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】有機ＥＬ素子が形成された基板に当該有機ＥＬ素子を封止する封止缶を接着してなる有機ＥＬ装置において、破壊検査をすることなく、光学的に接着剤厚さを測定し、接着剤厚さを保証する。
【解決手段】基板１０の一面１１のうち接着剤４０が配置されている部位には、光を透過する膜よりなる光透過膜６０が、接着剤４０と基板１０との間に介在して設けられており、光透過膜６０と接着剤４０との屈折率差および光透過膜６０と基板１０との屈折率差を、接着剤４０と基板１０との屈折率差よりも大きいものとすることにより、光透過膜６０の位置では、基板１０の他面１２側から光の照射による接着剤４０の厚さ測定がなされるようにした。 （もっと読む）

【課題】発光部の大面積化に適した発光装置を提供する。また、上部電極の抵抗に起因する電位降下が抑制された発光装置を提供する。また、信頼性の高い発光装置を提供する。
【解決手段】対向基板側に配線を形成し、これと基板上に形成したＥＬ素子の上部電極とを物理的に接触させるように封止することにより、当該上部電極の導電性を補助する補助配線とすることが出来る。このような補助配線を用いることにより、大面積の発光領域を有する発光装置であっても、上部電極の抵抗に起因する電位降下が抑制される。 （もっと読む）