説明

Fターム[4C092AB02]の内容

X線技術 (5,537) | 目的 (965) | 曝射線量、発生線量の適正化、調整 (17)

Fターム[4C092AB02]に分類される特許

1 - 17 / 17


【課題】線源制御装置側で設定される撮影条件および照射停止閾値が放射線画像検出装置側のそれらよりもバリエーションが少ない場合に、労せずして放射線画像検出装置側のバリエーション豊富な撮影条件および照射停止閾値でAECを行う。
【解決手段】電子カセッテのAEC部67の比較回路78は、電子カセッテの検出画素からの検出信号の積算値と、電子カセッテ側の照射停止閾値とを比較する。検出信号の積算値が電子カセッテ側の照射停止閾値に達したときに、電子カセッテ側の撮影条件と対をなす線源制御装置側の撮影条件の照射停止閾値と等しい電圧値の検出信号を電子カセッテの検出信号I/F80から線源制御装置の検出信号I/F26に向けて出力する。 (もっと読む)


【課題】AECセンサを変更した場合に既存の装置を改造することなく変更前と同じAECを行う。
【解決手段】電子カセッテ13のAEC部67の補正回路76は、電子カセッテ13の検出画素65の検出信号を旧AECセンサ25の検出信号に相当する検出信号とする。補正回路76は、旧AECセンサ25に代えて検出画素65をAECセンサとして用いた場合のX線源10と電子カセッテ13のFPD35の撮像面36との間に配置される中間部材の構成の違いによる検出信号への影響を排除するように補正を行う。検出信号は、そのまま(瞬時値)、または積分回路77で積算値とされて、検出信号I/F80から線源制御装置11の検出信号I/F26に向けて送信される。 (もっと読む)


【課題】画質、イメージング・システムの性能、及びX線源の耐久性を保存するように電子ビームの焦点及び位置を同じ時間尺度で制御する。また、走査要件に基づいて電子ビーム強度を制御して電子ビームを正確に配置するX線管の設計を開発する。
【解決手段】X線管(50)用の入射器(52)が提示される。入射器(52)は、電子ビーム(64)を放出する放出器(58)と、放出器(58)の周りに配設されて電子ビーム(64)を集束させる少なくとも一つの集束電極(70)と、放出器(58)に関して正のバイアス電圧に保たれて電子ビーム(64)の強度を制御する少なくとも一つの引出し電極(74)とを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】コレクタアセンブリの効率を改善し効果的な放射源を提供する。また、放射生成のために使用される励起パワーを減少させることができ、励起源の寿命を延ばすこと。さらに、EUV放射に対する集光の効率を改善すること。
【解決手段】リソグラフィにおける使用のためのレーザ生成プラズマ極端紫外線源における使用のためのコレクタアセンブリは、コレクタ本体内に集光ミラーおよび窓を有するコレクタ本体を有する。窓は、励起ビーム、一般的には、赤外線レーザビームを透過し、それによってビームはプラズマを励起するために窓を通り抜けることができる。また、窓はその表面上にEUVミラーを有しており、当該EUVミラーも励起ビームを透過するが、プラズマによって生成されたEUVを集光ミラーの集光箇所へと反射することができる。窓は、集光効率を改善し、集光箇所におけるイメージの非均一性を減少させる。放射源、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法は、コレクタを使用することができる。 (もっと読む)


【課題】遮蔽体を少なくし、あるいは無くすことができるとともにS/N比を改善することができるX線計測装置及びX線計測方法を提供する。
【解決手段】X線検出データのうち、衝突点9においてX線4が発生している時に対応する検出データを有効化し、その他のデータを無効化して、X線波形を生成する。例えば、レーザ光3がパルスレーザ光であり、電子ビーム1が連続状又はパルスレーザ光のパルス幅と同じかそれより長いパルス幅をもつパルス状の電子ビームである場合は、レーザ光3を検出し、X線検出データとレーザ光検出データとを、衝突点9に関して時間軸を一致させて乗算して、X線波形を生成する。 (もっと読む)


【課題】装置に対し着脱可能な画像検出器を用いてX線撮影を行うとき、同一の画像検出器種であっても、個々の画像検出器のばらつきにより被写体における被爆線量が過剰にならないようにしたX線画像撮影システムを提供する。
【解決手段】このX線画像撮影システムは、被写体にX線を照射するX線発生手段と、被写体を透過したX線画像情報を検出する着脱可能な画像検出器と、画像検出器に対しX線発生手段の反対側に配置されて放射線量を検出する自動露出制御用検出器と、自動露出制御用検出器による検出に基づいてX線発生手段を制御する自動露出制御手段と、画像検出器の個体情報を取得する手段と、取得した個体情報を自動露出制御手段に入力する入力手段と、を有し、自動露出制御手段は、入力された画像検出器の個体情報に基いて制御内容を変更可能である。 (もっと読む)


【目的】 小焦点のX線管を使用した場合でも実質的に高い管電流で撮影可能なことを課題とする。
【構成】 X線管を所定デューティー比からなる第1,第2の管電流でパルス駆動する場合に、該X線管をこれらの平均の管電流で連続運転した場合における陽極温度が所定閾値Qmを超えない範囲内で、前記第1の管電流を平均の管電流よりも大きく、かつ前記第2の管電流を平均の管電流よりも小さく設定することにより、画像再構成に必要なスキャン部分につき、高い管電流で撮影できる。 (もっと読む)


【課題】軟X線を発生させる装置において、発熱量を抑え、寿命を延ばす。
【解決手段】電子放出部であるエミッタ13とターゲット15を備えた除電装置において、粒径が2nm〜100nmのダイヤモンド粒子からなる薄膜がエミッタ13の表面に形成されている。この薄膜は、XRD測定においてダイヤモンドのXRDパターンを有し、かつラマン分光測定を行った際に、膜中のsp3結合成分とsp2結合成分の比が、2.5〜2.7:1であることを特徴としている。直流電源14から電圧がエミッタ13に印加されると、しきい値電界強度が1V/μm以下で、エミッタか13から従来よりも多数の電子が放出され、しかもエミッタ13の温度も殆ど上昇せず、長寿命化が図れる。 (もっと読む)


【課題】撮影時間が長いX線撮影においてもX線撮影が途中で終了することなく、必要な全てのX線撮影を行うことができ、かつ、撮影時間が短い場合においては良好な画像を得ることができるX線診断装置を提供することを目的とする。
【解決手段】第1撮影条件と、この第1撮影条件よりX線管1から照射されるX線の出力が小さいX線の条件を示す第2撮影条件とが記憶される記憶部12と、第1撮影条件または第2撮影条件を用いてX線管1からX線を照射させる制御を行う照射制御部6とを備え、照射制御部6はX線撮影が開始されてからX線撮影が終了すると予想される終了予想時点までの時間には第1撮影条件を用いてX線管1からX線を照射させる制御を行い、終了予想時点からX線撮影が行われる上限時間でも撮影が行われる場合には、第1撮影条件から第2撮影条件に変更して、X線管1からX線を照射させる制御を行い、X線撮影が行われる。 (もっと読む)


【課題】被検体の体厚の大きさに基づくX線撮影条件の変更の手間と時間を減らし、X線診断を円滑に行い、かつ、良好な画像を得ることができるX線診断装置を提供することを目的とする。
【解決手段】自動露出検出器2で検出されたX線透過量に基づいて、X線照射を終了させる演算終了タイミングを演算するタイミング演算部22を備え、判定部23により演算終了タイミングが基準終了タイミング以前の時間ではないと判定された場合に、照射制御部4は、記憶部12に記憶されている撮影項目に対応した体厚補正条件を使ってX線撮影条件を補正し、X線管1からX線を照射させる制御を行うので、補正前のX線撮影条件での撮影時間より短い時間でX線撮影が行われ、X線画像にぶれが生じることを低減させ、かつ、X線画像にコントラストがつきにくくなることを低減させたX線画像を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】撮像のための照射開始以前に、駆動系の応答特性を知って、その応答特性を基に、設定された所望の照射時間と実照射時間とを合わせる技術を提供する。
【解決手段】X線管と、制御信号に応答して前記X線管の管電圧を駆動してX線を照射させる駆動手段とを備えたX線照射装置において、時間測定手段が、駆動手段によって駆動されたときの前記X線管の管電圧又は管電流に対応した信号を受けて、その受けた信号の大きさと参照値とを比較して実照射時間を測定して、駆動手段による管電圧の立ち上がり及び立ち下がりの応答時間を取得する。時間補正手段は、入力された前記所望の照射時間を測定した応答時間により補正し、補正された照射時間、照射するよう制御信号を駆動手段に送る構成とした。 (もっと読む)


【課題】 曝射開始時の曝射量の不安定さを軽減することにより、被曝量をさらに軽減した技術を提供する。
【解決手段】 X線管に高電圧を印加するための高電圧電源とX線管のフィラメント電流を制御信号にしたがって制御するフィラメント電源部とを含むX線発生部とを有し、予め、X線管のフィラメント及びフィラメント電源部を含むフィラメント系の応答時間τを記憶しておき、X線発生部が被検体の周囲を回転周期Tk(位相:2π/Tk×t)で回転するのに対して、X線制御部は、フィラメント電源部に、高電圧を印加する前に周期Tx(=Tk/2)で前記応答時間τだけ早く変化する(位相:2π/Tx×(t+τ))フィラメント電流を印加させ、高電圧を印加後に周期Txで変化する管電流(位相:2π/Tx×t)を流すよう制御することによって、X線の強度を変えて曝射する。 (もっと読む)


X線システムの線量率(照射kV管電圧)を制御する制御器であり、ここで実際の線量率が測定されると共に、最適線量率と比較され、結果となる差分値がモジュール20(例えばPIDモジュール)に供給され、該モジュールは、前記差分値を最小化するように、前記線量率を(前記照射kV電圧を調整することにより)調整するように構成される。照射の前に入力されるべきプリセットパラメータは、必要とされない。
(もっと読む)


【課題】 X線照射における患者への被爆量を必要最小限に抑え、かつ良好なX線撮影画像を得ることのできるX線撮影装置を提供すること。
【解決手段】
X線検出素子42から出力される出力信号を取得し、X線検出素子42に照射されるX線の累積照射量を積算する積算器15と、累積照射量と所定の設定照射量とを比較する照射量判定器16とを備え、X線検出素子42から出力される出力信号が、積算器15および照射量判定器16を含む第一の経路と、撮像制御器12を含む第二の経路とに分岐され、第一の経路へ出力された当該出力信号に基づいて、照射量判定器16がX線照射の開始および停止を決定する。 (もっと読む)


【課題】被検体の透過X線像の線量不足に起因するX線透視画像の画質低下を被検体の被曝線量の増加を伴わずに回避する。
【解決手段】この発明の装置は、X線透視実行中、被検体Mの透過X線像の線量が被検体Mに最大許容線量のX線を照射しても不足することが線量不足検知部16で検知された時は、透過X線像検出用の2次元X線検出器2の読み出しフレームレートが直ちにフレームレート引き下げ部17で引き下げられ、2次元X線検出器2では透過X線像を検出して蓄積処理する時間が延長されるので、透過X線像の線量が不足していても、X線透視用のX線検出信号は、雑音の増加も伴わない蓄積処理の時間延長により、透過X線像の線量が同一のままで十分な信号強度になる。その結果、透過X線像の線量不足時でも、被曝線量の増加を伴わずにノイズの少ないX線透視画像が取得できる。 (もっと読む)


【課題】 X線を正確に制御することができるX線発生装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 X線発生装置は、テーブルを備えている。このテーブルは、点灯条件に関連した物理量である点灯時間、および電子ビーム量(エミッション電流)の相関関係を予め記憶している。このエミッション電流のうち最適エミッション電流は、電子ビーム特性を最適にする値であって、例えば仮想光源径が最小となる条件である。点灯時間が長くなるのにしたがって最適エミッション電流Iは低くなる。上述した相関関係をテーブルから読み出すことで現時点での点灯時間に応じた電子ビーム量を設定する。その結果、点灯条件の状況に関わらず電子ビーム量を常に正確に最適に設定することができ、X線を正確に制御することができる。 (もっと読む)


得られた像のグレイレベルの分布に合わせてX線源の照射量を制御するための方法が用意されたX線検査装置。X線検査装置(1)は、制御及び処理方法(10)とのデータ通信をするためのX線ユニット(2)を有する。X線ユニット(2)はX線源(1c)から伝播するX線(1f)のビームを発生するようにできている。X線源(1c)はX線検出器(1b、おそらくdの間違い)と一緒になって回転軸(1e)の周りを回転し、回転によって体積Vが得られる。制御及び処理方法(10)は第1の像を次の像に圧縮するための像処理方法(3)を有する。グレイレベル圧縮関数による第1の像の圧縮で、圧縮された次の像は第2の像の平均ピクセル値を計算し、それまでに保存されている参照値と比較するための制御方法(6)に送られる。計算された平均値が実質的にそれまでに保存されている参照値と大きくずれるようであれば、設定を修正するために照射量を制御する信号CがX線源(1c)に送られる。X線検査装置はさらに圧縮された像が転送される観察ステーションも有する。観察ステーションはプロセッサ(5)、入力装置(5b)及びコンソール(5a)を有する。これらの装置上で、像は適切なインターフェース(5c)によって表示される。像が解析された後、像は適切なデータベースに保存される。
(もっと読む)


1 - 17 / 17