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Fターム[4C092AB20]の内容

X線技術 (5,537) | 目的 (965) | 性能・特性試験 (5)

Fターム[4C092AB20]に分類される特許

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【課題】ノズルの内面に堆積される燃料の汚染の結果である予期しないまたは意図的でない障害または制限の影響を未然に防ぐかまたは軽減することができるシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】本発明の第1態様によると、燃料の体積を保持するように構成されたリザーバと、リザーバと流体接続されており、かつ燃料の流れを軌道に沿ってプラズマ形成配置に向かって誘導するように構成されたノズルと、レーザ放射をプラズマ形成配置における流れに誘導して使用中に放射生成プラズマを生成するように構成されたレーザと、ノズル出口の上流で放射源の燃料流路に配置された汚染フィルタアセンブリとを含む放射源が提供される。汚染フィルタアセンブリのフィルタ媒体は、フィルタ媒体を少なくとも部分的に囲う1つ以上の物体によって提供されるクランプ力によって汚染フィルタアセンブリ内の適切な位置で保持される。 (もっと読む)


【課題】 大気に曝されるX線透過窓の腐食を、X線透過性を損なわず、かつ低コストで低減することができるX線発生装置及びX線発生装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 X線発生装置は、真空外囲器180と、真空外囲器180内に設けられたX線発生手段と、真空外囲器180に接続され、真空外囲器180を密閉し、ベリリウムで形成され、X線発生手段が発生したX線を透過して大気側に放射させるX線透過窓182と、保護膜Fと、を備えている。保護膜Fは、X線透過窓182の大気に露出する側の表面の少なくとも一部を覆い、X線透過窓182と、ベンゾトリアゾール又はその誘導体と、の反応被膜である。 (もっと読む)


【課題】EUV光発生チャンバ内に設置されたレーザ光集光光学系の光学素子の劣化を確実に検出して、的確な劣化判定を行えるEUV光源装置を提供する。
【解決手段】このEUV光源装置は、EUV光発生チャンバ2と、ターゲット物質供給部と、EUV光集光ミラー8と、ドライバーレーザ12,13と、ウインドウ6(1)(2)と、コリメートされたレーザ光を反射して集光するEUV光発生チャンバ内に配置された放物面鏡43(1)(2)と、EUV光の発生が行われないときに、レーザ光集光光学系によって集光された後にターゲット物質に照射されることなく発散したレーザ光のエネルギーを検出するエネルギー検出器35(1)(2)と、エネルギー検出器によって検出されたレーザ光のエネルギーに基づいてウインドウ及び放物面鏡の劣化を判定する処理部80とを具備する。 (もっと読む)


【課題】EUV光発生チャンバ内に設置されたレーザ光集光光学系の光学素子の劣化を確実に検出して、的確な劣化判定を行えるEUV光源装置を提供する。
【解決手段】このEUV光源装置は、EUV光発生チャンバ2と、ターゲット物質供給部と、EUV光集光ミラー8と、ドライバーレーザ12,13と、ウインドウ6(1)(2)と、コリメートされたレーザ光を反射して集光するEUV光発生チャンバ内に配置された放物面鏡43(1)(2)と、ウインドウと放物面鏡の温度を測定する温度センサ82(1),(2),(3),(4)と、極端紫外光の発生が行われるときに温度センサによって検出されたウインドウ及び光学素子の温度に基づいてウインドウ及び放物面鏡の劣化を判定する処理部80とを具備する。 (もっと読む)


【課題】X線管のメンテナンスを行うべきか否かの判断をすることができなかった。
【解決手段】カソードとアノードとによって加速した電子線を電子光学系によってターゲットに導いてターゲットからX線を出力させるX線出力部と、前記X線出力部によって出力されたX線の照射範囲にサンプルを配置するサンプル配置部と、前記照射範囲内のX線を取得してX線画像を取得するX線画像取得部とを含むX線検出器において、前記X線出力部における性能の劣化を示す複数のパラメータを取得して性能の劣化に関する出力を行う。 (もっと読む)


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