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Fターム[4G077BB00]の内容

結晶、結晶のための後処理 (61,211) | 材料−酸化物 (470)

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Fターム[4G077BB00]に分類される特許

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【課題】半導体材料として用いられるIII族窒化物結晶と接合膜として用いられる酸化物膜との間の接合強度が高い複合体の製造方法を提供する。
【解決手段】本複合体の製造方法は、III族窒化物結晶11と酸化物膜12とを含む複合体10の製造方法であって、III族窒化物結晶11を準備する工程と、III族窒化物結晶11上に酸化物膜12を形成することにより複合体10を作製する工程と、複合体10を500℃以上1100℃以下で熱処理する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】坩堝に対して濡れ性に劣る原材料融液より中空状単結晶を得る方法を提供する。
【解決手段】底部が閉塞された閉塞部となる円筒形状を有し、閉塞部を円筒形状の内部から外部に貫通する貫通孔11bを有する坩堝11の内部に保持された原材料7の融液8を貫通孔11bから漏出させ、貫通孔11b内形状よりも小さな外形状を有する形状制御棒12を挿通した状態で引下げ操作を行い、シードタッチのために、形状制御棒12を動作させて融液8をシードタッチ面に向けて送り込ませる。 (もっと読む)


【課題】複数の単結晶を同時育成可能な引下げ装置を提供する。
【解決手段】所定の中心軸周りに等配された複数の引下げ用の坩堝11と、坩堝11各々を巻回す複数の加熱コイル部17a、17b、17cと、を有する構成とし、加熱コイル部17a、17b、17cを各コイル部17a、17b、17cの軸心に対して同一方向に電流が流れるように各々直列に接続し、単一の電力導入端21より複数の加熱コイル部17a、17b、17cを有する回路に電力を投入する。 (もっと読む)


【課題】酸化物薄膜の形成の直前に配向金属基板を還元雰囲気下で熱処理を行うに際して、必要以上に熱処理時間を長くしてコストアップを招くことがなく、また、必要以上に熱処理温度を高くして品質の低下を招くことがない酸化物薄膜の成膜装置およびこのような装置を用いた酸化物薄膜の成膜方法を提供する。
【解決手段】長尺の配向金属基板の表面の酸化層を除去する還元熱処理室の直後に、還元熱処理室より搬送された配向金属基板の表面に酸化物薄膜を成膜する成膜室を備えた酸化物薄膜の成膜装置であって、還元熱処理室と成膜室との間に、還元熱処理室および成膜室の互いの雰囲気を実質的に独立した雰囲気とする雰囲気遮断部が設けられ、さらに、還元熱処理室および成膜室のそれぞれにガス供給機構および排気機構が設けられている酸化物薄膜の成膜装置とそれを用いた成膜方法。 (もっと読む)


【課題】電気化学デバイス用電極用ウィスカー形成体及びその製造方法を提供。
【解決手段】ウィスカー形成体は、基材と、該基材の表面に配設されたウィスカー母材層と、該ウィスカー母材層の表面に配設されたウィスカーで形成されたウィスカー形成層と、を有し、該ウィスカー形成層のウィスカーが、単体の融点が300[K]以上1000[K]以下である金属Aの化合物から成り、該ウィスカー母材層が、該金属Aを含み、該基材が、金属Aの融点よりも高い融点を有する。 (もっと読む)


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