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Fターム[4G077GA00]の内容

結晶、結晶のための後処理 (61,211) | 結晶の物理的、化学的性質等の評価、決定 (430)

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Fターム[4G077GA00]に分類される特許

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【課題】結晶化過程、特に結晶成長過程を経時的にモニターする方法、当該モニター方法を利用することを特徴とする結晶の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の化合物の結晶化過程のモニター方法は、近赤外(NIR)スペクトルを用いて行うものであり、具体的には、化合物を融点以上に加熱して溶融状態とした後から一定の温度で保存して結晶化に至るまでの間、化合物の分子構造を構成する官能基の吸光度がどのように変化するかを、近赤外分光計を用いて追跡することにより行われ、該モニター方法により得られる知見を用いて、粒度または結晶形が制御された結晶を製造することにより行われる。 (もっと読む)


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