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Fターム[4G077TC11]の内容

結晶、結晶のための後処理 (61,211) | 製造工程 (1,363) | 複数の工程からなるもの (584)

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【課題】基材上にエピタキシャル成長させた窒化物半導体層を剥離する窒化物半導体自立基板の製造において、成長させた窒化物半導体層を簡易な方法で容易に剥離させることができ、欠陥の少ない高品質の窒化物半導体自立基板を製造することができる方法を提供する。
【解決手段】好ましくは400μm以上の厚さを有し、少なくとも、表面に凹凸11を形成した、サファイア、Si、SiCのいずれかを材質とする基材10を準備し、前記基材10の凹凸11が形成された表面上に窒化物半導体層12を前記基材厚以上の厚さでエピタキシャル成長させた後、前記基材10から剥離させることにより窒化物半導体自立基板13を製造する。 (もっと読む)


【課題】転位密度が低く、かつ、不純物の濃度が低いIII族窒化物結晶の製造方法、III族窒化物結晶基板およびIII族窒化物半導体デバイスを提供する。
【解決手段】本III族窒化物結晶の製造方法は、液相法により少なくとも1種類の金属元素を含有する溶媒とIII族元素とを含む結晶成長用液体2を用いて第1のIII族窒化物結晶10を成長させる工程と、金属元素の少なくとも1種類を含む結晶処理用液体4中で第1のIII族窒化物結晶10を熱処理する工程と、熱処理がされた第1のIII族窒化物結晶10上に気相法により第2のIII族窒化物結晶20を成長させる工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】犠牲型板上に成長させた(Al、Ga、In)N材料を犠牲型板から分離し、デバイス品質の独立(Al、Ga、In)N物品を製造する方法を提供する。
【解決手段】エピタキシャルに適合できる犠牲型板12を設けるステップと、単結晶(Al、Ga、In)N材料16を型板12上に堆積して、犠牲型板12と(Al、Ga、In)N材料16との間の界面14を含む複合犠牲型板/(Al、Ga、In)N物品10を形成するステップと、複合犠牲型板/(Al、Ga、In)N物品10を界面修正して、犠牲型板12を(Al、Ga、In)N材料16から分割し、独立(Al、Ga、In)N物品10を生じるステップと、を含むステップによって独立(Al、Ga、In)N物品10を形成する。 (もっと読む)


【課題】複雑な処理を必要とせずに高濃度のGeを含有するSiCGe結晶を成長する方法を提供する。
【解決手段】基板上のSiGe結晶薄膜を炭化することによりSiCGe結晶薄膜を製造する。 (もっと読む)


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