説明

Fターム[4J100CA06]の内容

付加系(共)重合体、後処理、化学変成 (209,625) | 全体構造 (22,270) | 共重合体 (14,324) | 4元共重合体 (1,721)

Fターム[4J100CA06]に分類される特許

81 - 100 / 1,721


【課題】ラインウィズスラフネス等のラフネス性能、局所的なパターン寸法の均一性、及び、露光ラチチュードに優れ、現像時間依存性が小さく、かつ現像により形成されるパターン部の膜べりを抑制する。
【解決手段】(ア)酸の作用により極性が増大して有機溶剤を含む現像液に対する溶解性が減少する樹脂(P)、及び、活性光線又は放射線の照射により下記一般式(I)によって表される酸を発生する化合物(B)を含有する感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物によって膜を形成する工程、(イ)該膜を露光する工程、及び(ウ)有機溶剤を含む現像液を用いて現像してネガ型のパターンを形成する工程、を含む、パターン形成方法、それに用いられる感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、及びレジスト膜、電子デバイスの製造方法、及び、電子デバイス。
(もっと読む)


【課題】高感度であり、保存安定性及び硬化膜の透明性に優れ、現像寛容度が広い感光性樹脂組成物、並びに、それを用いた硬化膜の形成方法を提供すること。
【解決手段】式(1)で表されるオキシムスルホネート化合物、酸により分解しカルボキシル基又はフェノール性水酸基を生成する酸分解性基を有する構成単位を有する樹脂、及び、溶剤を含有することを特徴とする感光性樹脂組成物。R1はアルキル基、アリール基又はヘテロアリール基を表し、R2はそれぞれ独立に、水素原子、アルキル基、アリール基又はハロゲン原子を表し、Ar1はo−アリーレン基又はo−ヘテロアリーレン基を表し、XはO又はSを表し、nは1又は2を表す。2以上存在するR2のうち、少なくとも1つはアルキル基、アリール基又はハロゲン原子である。
(もっと読む)


【課題】遠心脱水機を用いて汚泥を固液分離する際に、脱離液の発泡を効果的に抑制する方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の発泡抑制方法は、下水混合生汚泥、下水余剰汚泥、および消化汚泥からなる群から選択される少なくとも一種の汚泥に、凝集剤を添加する工程Aと;工程Aで得た凝集剤を含む汚泥を、遠心脱水機を用いて固液分離し、脱離液と脱水ケーキとに分離する工程Bと;を含む。凝集剤は、ノニオン性界面活性剤により、連続相である炭化水素中に、所定の構造単位を有する水溶性高分子を含む水溶液が分散相として分散されてなる油中水型エマルションを含む。当該油中水型エマルションは、単量体を、架橋剤の非存在下、または単量体の総質量に対して0を超えて50質量ppm以下の架橋剤存在下で乳化重合することにより得られる。 (もっと読む)


【課題】優れたCD均一性でレジストパターンを製造することができ、得られたレジストパターンの欠陥発生数が少ないレジスト組成物を提供する。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂(但し、式(I)で表される構造単位を含まない)、式(II)で表される酸発生剤を含有するレジスト組成物。
(もっと読む)


【課題】優れたCD均一性のレジストパターンを製造でき、得られたレジストパターンの欠陥の発生数も少ないレジスト組成物を提供する。
【解決手段】式(aa)で表される構造単位と、式(ab)で表される構造単位とを有する樹脂及び酸発生剤を含有するレジスト組成物。


[式中、Aaa1及びAab1は、置換基を有していてもよいアルカンジイル基等;Raa2は、置換基を有していてもよい脂肪族炭化水素基;Wは、脂肪族環を含む2価の基;Aab2は脂肪族炭化水素基;Rab2は、フッ化アルキル基を表す。] (もっと読む)


【課題】高解像性と共に、良好なパターン形状を与えることができるポジ型レジスト組成物、該ポジ型レジスト組成物を使用した、保護膜を形成して行う液浸リソグラフィーにおけるパターン形成方法の提供。
【解決手段】(A)酸不安定基として、3級炭素にアダマンチルを含むメタアクリル系繰り返し単位及び3級炭素が環状構造を形成してるメタアクリル系繰り返し単位を有し、酸によってアルカリ溶解性が向上する樹脂、(B)光酸発生剤、(C)下記一般式(3)で表される化合物、及び(D)溶剤を含有するポジ型レジスト組成物。
(もっと読む)


【課題】本発明の目的は、ELに優れると共に、得られるパターンのLWRを低減し、リソグラフィー特性を向上させることができるフォトレジスト組成物を与え得る感放射線性酸発生剤を提供することである。
【解決手段】本発明の化合物は、下記式(1)で表される。また、下記式(1)におけるRは、炭素数1〜20の鎖状炭化水素基であることが好ましい。さらに、本発明は、[A]本発明の化合物、及び[B]酸解離性基を含む構造単位(I)を有する重合体を含有するフォトレジスト組成物も含む。
(もっと読む)


【課題】パターン倒れ及び欠陥が少ないレジストパターンを得ることができるレジスト組成物の提供。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、式(II)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び酸発生剤を含有するレジスト組成物。


アルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。] (もっと読む)


【課題】優れたCD均一性(CDU)で、欠陥数の少ないレジストパターンの製造。
【解決手段】式(aa)、(ab)の構造単位を有する樹脂(X)、酸発生剤(B)を含有する組成物。


[式中、Aaa1は、置換基を有していてもよいアルカンジイル基等で表される基;Raa2は、脂肪族炭化水素基;Rab2は芳香族炭化水素基を表す。] (もっと読む)


【課題】高感度、良好なパターン形状、良好なラフネス特性、及び良好な疎密特性を達成可能とする感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、並びに、これを用いた感活性光線性又は感放射線性樹脂膜及びパターン形成方法を提供する。
【解決手段】活性光線又は放射線の照射により分解して酸を生成する基を含有する繰り返し単位(A)と、酸の作用により分解してアルカリ現像液中での溶解度が増大する基を含有する繰り返し単位(B)とを含んだ樹脂(P)と、下記一般式(1)により表される化合物(Q)とを含有した感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物。(一般式(1)中の各符号は、特許請求の範囲及び明細書に記載の意味を表す。)
【化1】
(もっと読む)


【課題】リソグラフィー特性及びパターン形状に優れたレジスト組成物、該レジスト組成物用として有用な新規重合体、及び該レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生する、下記式で表されるアニオン部位を有し、かつ、露光により酸を発生する構成単位を有する重合体;該重合体を含有するレジスト組成物;及び該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法。
(もっと読む)


【課題】リソグラフィー特性に優れたレジスト組成物、該レジスト組成物用として有用な新規な重合体、該レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生するアニオン部位を有し、酸の作用により極性が増大する酸分解性基を含む構成単位(a1)を有し、該構成単位(a1)として、前記酸分解性基の活性化エネルギーが3.0kJ/mol以上異なる2種を含む重合体。該重合体を含有するレジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】有機溶剤による現像におけるポジネガ反転の画像形成において、未露光部分の溶解性が高く、露光部分の溶解性が低く、溶解コントラストが高いパターン形成方法を提供する。
【解決手段】単糖類のヒドロキシ基の1つがメタクリルエステルとして結合し、残りのヒドロキシ基が酸不安定基で置換された(メタ)アクリレートの繰り返し単位を含む高分子化合物と酸発生剤を含むレジスト組成物を基板上に塗布し、加熱処理後に高エネルギー線で上記レジスト膜を露光し、加熱処理後に有機溶剤による現像液を用いて未露光部を溶解させ、露光部が溶解しないネガ型パターンを得るパターン形成方法。 (もっと読む)


【課題】電子線やEUVを露光源とする光リソグラフィー技術により、優れたラインエッジラフネスを有するレジストパターンの製造できるレジスト組成物、及び該レジスト組成物に含有される新規な化合物を提供すること。
【解決手段】以下の〔1〕及び〔2〕の提供。
〔1〕式(I)で表される化合物。


[式中、
Xは、脂肪族炭化水素基又は芳香族炭化水素基を表す。
、R及びRは、水素原子、炭素数1〜8のアルキル基などを表すが、R及びRが互いに結合して脂肪族炭化水素基を形成していると好ましい。]
〔2〕前記化合物と、酸発生剤とを含有するレジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】リソグラフィー特性及びパターン形状に優れたレジスト組成物、該レジスト組成物用として有用な新規重合体、及び該レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生するアニオン部位を有し、かつ、−SO−含有環式基を含む構成単位(a0)を有する重合体;該重合体を含有するレジスト組成物、及び該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法。 (もっと読む)


【課題】 汚泥または廃水処理において、強固な粗大フロックを形成させて汚泥の脱水処理効率を大幅に向上できる高分子凝集剤を提供する。
【解決手段】 水溶性有機ポリマーを主鎖、ポリ塩化アルミニウムおよびポリ硫酸第二鉄からなる群から選ばれる少なくとも1種の無機ポリマーを側鎖とするポリマーを含有してなる有機/無機ハイブリッド高分子凝集剤;および、(メタ)アクリロイル基含有モノマーと、特定のアルコキシシリル基含有モノマーを必須構成単位とする水溶性有機ポリマーと、ポリ塩化アルミニウムおよびポリ硫酸第二鉄からなる群から選ばれる少なくとも1種の無機ポリマーを縮合反応させることを特徴とする有機/無機ハイブリッド高分子凝集剤の製造方法。 (もっと読む)


【課題】ラインエッジラフネス(LER)がより良好なレジストパターンを製造することができるレジスト組成物を提供すること。
【解決手段】 酸分解性基を有する樹脂(A)と、
式(B3)


[式(B3)中、
は、酸分解性基を有し、窒素原子を有さない有機カチオンを表す。
は、酸分解性基及び窒素原子を有さない有機スルホン酸アニオンを表す。]
で表される塩(B3)と、
式(E1)


[式(E1)中、
は、窒素原子を有する有機カチオンを表す。
は、窒素原子を有さない有機スルホン酸アニオンを表す。]
で表される塩(E1)と
を含有するレジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】レジストパターン製造時のマスクエラーファクター(MEF)が良好なレジスト組成物に好適な塩およびレジスト組成物を提供すること。
【解決手段】式(I)で表される塩。


[式(I)中、Q及びQは、互いに独立に、フッ素原子等を表す。Lは、*−CO−、*−CO−O−L−CO−(Lは、2価の炭素数1〜12の飽和炭化水素基を表す。)又は*−CO−O−L−O−CO−(Lは、2価の炭素数1〜12の飽和炭化水素基を表す。)を表す。Xは、−SO−又は−SO−を表す。Rは、ヒドロキシ基又は炭素数1〜6のアルキル基を表す。lは、0〜3の整数を表す。mは、1〜3の整数を表す。nは、1又は2を表す。Zは、有機カチオンを表す。]、および、当該塩とアルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液に溶解し得る樹脂とを含むレジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】耐熱性、耐湿性、耐傷性、機械的な強度、偏光膜との密着性、及び、光学等方性に優れる偏光膜保護フィルム、並びに、それを備える偏光板を提供する。
【解決手段】メタクリル酸単量体及びメタクリル酸エステル単量体から形成される第一の構造単位50〜95質量%と、N−置換基がアリール基もしくはアリールアルキル基からなるN−置換マレイミド化合物から形成される第二の構造単位0.1〜20質量%と、N−置換基がアルキル基もしくはシクロアルキル基からなるN−置換マレイミド化合物から形成される第三の構造単位0.1〜49.9質量%とを有するアクリル系熱可塑性樹脂から形成される光学等方性偏光膜保護フィルム。 (もっと読む)


【課題】インキの保存安定性ならびに吐出性安定性に優れ、低温乾燥で良好な塗膜耐性(耐擦性、耐水性、耐溶剤性)を発現する水性インクジェットインキ用バインダー樹脂組成物の提供。
【解決手段】イオン性官能基を有さない芳香族エチレン性不飽和単量体(A)0〜20重量%;
スルホン酸基含有エチレン性不飽和単量体(B)またはリン酸基含有エチレン性不飽和単量体(C)0.5〜3.0重量%;
非イオン性の水溶性エチレン性不飽和単量体(D)0.1〜3.0重量%;
架橋性エチレン性不飽和単量体(E)0.1〜10重量%;
を含むエチレン性不飽和単量体を乳化重合してなる樹脂微粒子(F)を含む水性インクジェット用バインダー樹脂組成物。 (もっと読む)


81 - 100 / 1,721