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Fターム[4K030JA05]の内容

CVD (106,390) | 処理条件 (6,571) | 流量 (459)

Fターム[4K030JA05]に分類される特許

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【課題】キャリアガス中の液体原料の蒸気の飽和度を向上可能な気化原料供給装置を提供する。
【解決手段】液体原料を貯留する貯留タンクと、前記貯留タンクを第1の温度に制御する第1の温度制御部と、前記貯留タンク内にキャリアガスを導入するキャリアガス導入管と、前記貯留タンクに接続され、前記キャリアガス導入管から前記貯留タンク内に導入された前記キャリアガスに前記液体原料の蒸気が含まれることにより生成される処理ガスを前記貯留タンクから流出させる処理ガス導出管と、前記処理ガス導出管が接続される流入口、前記流入口から流入する前記処理ガスを流出させる流出口を備える容器と、前記容器内の前記流入口と前記流出口の間に設けられ、前記処理ガスの流れを妨げる障害部材と、前記容器を前記第1の温度よりも低い第2の温度に制御する第2の温度制御部とを備える気化原料供給装置により上述の課題が達成される。 (もっと読む)


【課題】窒化珪素層を形成した場合でも、窒化物半導体層の転移密度を低減することができるとともに、窒化物半導体層の表面モフォロジーを優れたものとすることができる窒化物半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】斜めファセットを有する第2の窒化物半導体層を有機金属気相成長法により形成する工程において、有機金属気相成長装置の成長室に供給されるIII族元素ガスに対するV族元素ガスのモル流量比が240以下である窒化物半導体素子の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】流量制御機器の流量精度を常時監視しつつ、必要な場合には、再検定又は流量監視ユニット自体の自己診断を含む、より信頼性の高い流量検定を行う。
【解決手段】ガスを流量制御機器を経由してから所定のプロセスチャンバに供給する複数のプロセスガスラインに配設し、流量制御機器の前後におけるガス圧の下降又は上昇を測定することで流量制御機器の流量監視を行うガス流量監視システムにおいて、プロセスガスラインの内、選択した任意のプロセスガスラインの流量制御機器の上流側流路に備える第1流量監視ユニットと、プロセスチャンバの上流側流路から分岐する排出流路に備える第2流量監視ユニットと、第1流量監視ユニットによって流量制御機器の流量を常時監視するとともに、第1流量監視ユニットが複数回流量異常と検知した時に第2流量監視ユニットによって流量制御機器の流量異常の有無を再検定するよう指令する制御部とを有する。 (もっと読む)


【課題】極小径の貫通孔を有するプレートに1回のプラズマ成膜処理で薄膜を成膜するための成膜処理用治具を提供する。
【解決手段】本発明に係る成膜処理用治具は、貫通孔を有するアパーチャープレート107を挟むことにより前記貫通孔、前記アパーチャープレートの表面及び裏面を露出させた状態で前記アパーチャープレートを保持する保持部材39と、前記保持部材が取り付けられた電極部材と、を具備する成膜処理用治具8であって、前記電極部材は、プラズマCVD装置のプラズマ電力が印加される電極に電気的に接続されるものであることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、太陽電池のバックシート、食品や医薬品等の包装分野に用いられるガスバリアフィルムと製造方法に関するものであって、そのガスバリア層が、基材であるプラスチックフィルムとの密着力に優れるガスバリアフィルムと、その製造においては、インラインでの形成が可能で、高い生産能率を有する生産方法を提供することを課題とするものである。
【解決手段】基材となるプラスチックフィルムの片面、もしくは両面にプラズマ化学的気相成長法(PECVD法)により形成された、SiOxCy膜からなる密着層の膜の組成が、基材表面から膜表面に向けて傾斜的に変化していき、その上にガスバリア層をこの順に、減圧環境化のインライン成膜にて形成するガスバリアフィルムの製造方法。 (もっと読む)


【課題】処理チャンバのカバーの表面の温度を慎重に制御したとしても起こり得る欠陥の発生に対する改善策を提供する。
【解決手段】上方カバー2および下方カバー3を有する処理チャンバ1において気相成長法によって半導体ウエハ5の上に層を堆積する方法および装置が提供される。方法は、半導体ウエハの前面側の温度を測定するステップと、半導体ウエハを堆積温度に加熱するステップと、処理チャンバの上方カバーの温度を目標温度に制御するステップとを備え、上方カバーの温度は、上方カバーの外表面の中心において測定され、上方カバーの温度を制御する制御ループの制御変数の実際の値として使用され、方法はさらに、層を堆積するための処理ガスが処理チャンバを介して導入されるガス流量を設定するステップと、処理チャンバの上方カバーの温度を目標温度に制御する際に堆積温度に加熱された半導体ウエハの前面側に層を堆積するステップとを備える。 (もっと読む)


【課題】液化ガスの再液化を防ぎながら液化ガスの流量を精密に制御可能なマスフローコントローラーを提供する。
【解決手段】実施形態のマスフローコントローラー100は、流入口11から流入した液化ガスを分流するセンサー用配管13とバイパス配管14と、前記センサー用配管を覆うように配置された熱式センサー7と、前記センサー用配管を覆って前記センサー用配管と共に二重配管を形成し、前記センサー用配管および前記バイパス配管に連通する断熱領域15と、前記連通を遮断して前記断熱領域を閉鎖領域とする閉鎖バルブ1と、を備える。実施形態のマスフローコントローラーは、前記センサー用配管と前記バイパス配管とから合流した前記液化ガスの流出口12と、前記熱式センサーの検出結果に基づいて前記流出口から流出する前記液化ガスの流量を制御する制御手段と、前記各部位の全体を下方から加熱するヒーター2と、をさらに備える。 (もっと読む)


【課題】混合ガス内の原料濃度を正確に調整し、高精度な流量制御の下でプロセスチャンバへ安定供給できる原料濃度検出機構を備えた原料気化供給装置を提供する。
【解決手段】マスフローコントローラ3を通してキャリアガスGをソースタンク5内へ供給し、恒温部により一定温度に保持して発生させた原料4の飽和蒸気Gをプロセスチャンバへ供給する原料気化供給装置において、前記ソースタンクからの混合ガスGの流出通路に自動圧力調整装置8を設け、その下流側にマスフローメータ9を設け、前記自動圧力調整装置のコントロールバルブ8aを開閉制御することによりソースタンク5の内部圧力Poを所定値に制御する。マスフローコントローラ3によるキャリアガスGの流量Qと前記ソースタンク内圧Poとマスフローメータ9の混合ガスGsの流量QSの各検出値を原料濃度演算部へ入力して原料4の流量Qを演算し、更に原料濃度Kを演算し、表示する。 (もっと読む)


【課題】制御パラメータの測定値が、その基準値に対して偏差の上限値を超えた場合と偏差の下限値を超えた場合とで、状況に応じたエラー処理を選択できる。
【解決手段】基板を処理する基板処理室と、記憶部と、基板処理を制御する制御部とを備えた基板処理装置において、記憶部は、プロセスレシピを記憶するプロセスレシピ記憶部と、制御パラメータの基準値を記憶する制御パラメータ記憶部と、制御パラメータの基準値に対する上限偏差値と下限偏差値を記憶するアラーム値記憶部とを備え、制御部は、プロセスレシピ記憶部に記憶したプロセスレシピを実行するプロセスレシピ実行部と、制御パラメータの測定値がアラーム値記憶部に記憶された上限偏差値と下限偏差値を超えたか否か判断し、上限偏差値を超えた場合と下限偏差値を超えた場合とで、異なる処理を実施するエラー処理部とを備える。 (もっと読む)


【課題】得られるコーティングが0.5マイクロ秒〜1000マイクロ秒のキャリアライフタイムを有するように、シリコンカーバイドコーティングを基板上に堆積させる方法を提供する。
【解決手段】a.ジクロロシランガス、メチルハイドロジェンジクロロシランガス、ジメチルジクロロシランガス、及びそれらの混合物から選択されるクロロシランガスと、炭素含有ガスと、水素ガスとを含む混合ガスを、単結晶シリコンカーバイド基板を含有する反応チャンバ内に導入すること、及びb.1200℃より高いが1800℃より低い温度に基板を加熱すること、を含むが、但し、反応チャンバ内の圧力は10torr〜250torrの範囲に維持されるものとする。 (もっと読む)


【課題】基板上にZnOからなる透明導電膜を高効率で製造するZnO透明導電膜製造装置を提供する。
【解決手段】ZnO透明導電膜製造装置(100)は、真空状態に維持されたチャンバー(110)と、チャンバー(110)内を通過するように基板(50)を一方向(A)に搬送するとともに、任意の箇所において停止可能な基板搬送手段(120)と、チャンバー(100)内に配置されたシャワーヘッド(130)と、を備える。シャワーヘッド(130) は、第一の流路と、第一の流路の周囲に形成された第二の流路と、第一の流路及び前記第二の流路を加熱する加熱手段と、を備え、第一の流路及び第二の流路の一方からはDEZnの気体が、他方からは水蒸気が基板に対して噴霧される。 (もっと読む)


【課題】基板におけるプラズマ誘発損傷を減少させる方法を提供する。
【解決手段】基板216をチャンバ210内に配置し、一つ以上のプロセスガスをチャンバ210内に流入させ、プラズマ源電力を第1電力レベルで加えることにより、一つ以上の該プロセスガスからプラズマを生成させ、基板216上に膜を堆積させ、該プラズマ源電力を堆積後に該第1電力レベル以下に逓減させる。 (もっと読む)


【課題】 簡便な手法・構成で、固体材料ガスを安定した濃度で供給することができるとともに、かさ密度の高い固体材料によって内容積あたりの充填量を多くし、不純物が少ない高純度の固体材料からなる固体材料ガスを供給すること。
【解決手段】 キャリアガスCにより所定量の蒸発または昇華・供給が可能な固体材料を、大気圧下または減圧下の融点以上沸点以下の温度条件において加熱し、溶融した状態で冷却・固化させて固体試料Sを作製する固体試料作製手段を有し、キャリアガスCが供給される供給部1と、供給されたキャリアガスCを分散させる分散部2と、固体試料Sが設置される試料設置部3と、該試料設置部3において作製された固体材料ガスGが供出される供出部4と、を有すること。 (もっと読む)


【課題】半導体製造チャンバーにおける複数のガス供給口に対し、等しい濃度比の成分ガスからなる材料ガスを、それぞれ異なる流量に制御して供給する。
【解決手段】各ガス供給口Cにそれぞれ接続される複数のガス供給装置10を具備し、前記各ガス供給装置10が、各種のガスが個別に流れる複数の成分ガス供給管1と、各成分ガス供給管1を流れるガスの流量をそれぞれ制御する流量制御機構4と、各成分ガス供給管1を束ねる材料ガス供給管2とを具備しており、前記流量制御機構4が、各成分ガス供給管1にそれぞれ上流側から順に設けられた流量制御弁V、個別圧力センサP及び流体抵抗素子Rと、前記材料ガス供給管2に設けられた共通圧力センサPCと、各成分ガス供給管1を流れるガス流量を、個別圧力センサPで測定した圧力及び前記共通圧力センサPCで測定した圧力から算出し、この算出ガス流量に基づいて流量制御弁Vを制御する制御部41とを具備する。 (もっと読む)


【課題】実用性の高い大気圧プラズマ処理システムを提供することを課題とする。
【解決手段】大気圧下でプラズマ処理を行うシステムにおいて、(a)一列に並んで配置された複数のチャンバー34と、(b)隣り合う2つのチャンバーを連通する1以上の連通路42,44と、(c)連通路を介しつつ、チャンバー内を通って基板54を搬送する搬送装置50と、(d)各チャンバー内で大気圧下においてプラズマを発生可能な複数のプラズマヘッド38と、(e)各連通路を遮るようにガスを吹出し、その吹出されたガスの流れによって隣り合うチャンバー間を仕切る1以上の仕切装置62,64とを備え、搬送装置によって搬送される被処理物に複数のチャンバー内で順次プラズマ処理を施すように構成する。このような構成により、複数のプラズマ処理に要する時間を短縮するとともに、吹出されるガスの流れによって、各チャンバーで使用される反応ガスの混合を抑制することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】基板を加熱するヒータの劣化を抑えてヒータ寿命を低下させることのない気相成長装置および気相成長方法を提供する。
【解決手段】シリコンウェハ101を載置するサセプタ102を、回転部104の円筒部104aの上部で支持する。円筒部104aの内部のP領域内には、シリコンウェハ101を下方側から加熱するヒータとして、インヒータ120とアウトヒータ121を配置する。そして、P領域にはガス導入管111からパージガスを供給するとともに、シリコンウェハ101をサセプタ102上の所定位置から持ち上げ、回転部104の上方に配置するときには、パージガスの流量を増大させるようにする。 (もっと読む)


【課題】内部圧縮圧力を増強した炭窒化シリコン及び炭窒化シリコン薄膜のプラズマCVD法を提供すること。
【解決手段】本発明は、プラズマ化学気相成長(PECVD)窒化シリコン(SiN)及び炭窒化シリコン(SiCN)薄膜における内部圧縮応力の増強方法であって、アミノ・ビニルシラン・ベースの前駆体からの膜を堆積するステップを含んでなる前記方法である。より詳しく述べると、本発明は、以下の式:
[RR1N]xSiR3y(R2z
{式中、x+y+z=4、x=1〜3、y=0〜2、及びz=1〜3であり;R、R1、及びR3が、水素、C1〜C10アルカン、アルケン、C4〜C12芳香族であり得;各R2が、ビニル、アリル、又はビニル含有官能基である。}から選択されるアミノ・ビニルシラン・ベースの前駆体を使用する。 (もっと読む)


【課題】1以上の窒化物材料を形成するためのMOCVDシステム及び製造方法を提供する。
【解決手段】該システムは、中心軸128の周りを回転するように構成されているサセプタ120、及び該サセプタ上部に、サセプタとは直接接触していない状態で配置されるシャワーヘッド110を含む。加えて、該システムは、該サセプタ上に配置され、中心軸の周りを回転し、かつ対応するホルダ軸126の周りもそれぞれ回転するように構成されている1以上の基板ホルダ130を含む。更に該システムは、該中心部品内部に形成された1以上の第1の入口101、1以上の第2の入口102、及びシャワーヘッド内部に形成され、かつ中心部品からの距離が該1以上の第2の入口102より更に離れて配置される1以上の第3の入口103を含む。 (もっと読む)


【課題】プラズマCVD装置に損傷を与えることなく効率よくクリーニングする。
【解決手段】真空容器内で対向して設置された電極対の間に高周波電力を印加することで発生させたプラズマ放電によって基板上に薄膜を成膜するプラズマCVD装置において、前記真空容器内に堆積した堆積物を除去するプラズマCVD装置のクリーニング方法であって、クリーニングガス流量Qを所定値Qnへ増加させ、高周波電力Pを所定値Pnへ増加させ、キャリアガス流量Rを所定値Rnへ減少させ、その際に、Q,R,Pの内一つが変化するとき他の二つを一定にしておく期間を含んでプラズマ放電を行う放電工程と、Q、R、Pがそれぞれ所定値Qn,Rn,Pnの状態でクリーニングを行うクリーニング工程とを含むプラズマCVD装置のクリーニング方法。 (もっと読む)


【課題】厚みと組成の均一な膜を形成しやすい成膜装置を提供する。
【解決手段】大気圧下においてプラズマPを生成する。このプラズマPを被処理物Wの表面に膜原料を付着させて成膜する成膜装置Aに関する。前記膜原料を含有する成膜ガスCGを流通させる第1流路5。プラズマ生成ガスPGを流通させる第2流路9。前記プラズマ生成ガスCGに電界Eを印加してプラズマPを生成させるための電極3。前記第1流路5と前記第2流路9とを合流させるための合流部14。前記合流部14から前記膜原料を放出させるための放出口11とを備える。前記第1流路5から前記合流部14への前記成膜ガスCGの流入方向と、前記合流部14での前記プラズマPの流通方向とが略平行となるように前記第1流路5が前記第2流路9内に形成され、前記第1流路5から前記合流部14への前記成膜ガスCGの流入速度が、前記合流部14での前記プラズマPの流速よりも高速である。 (もっと読む)


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