【課題】半導体装置の寄生容量成分を好適に調整する。
【解決手段】半導体装置１０は、複数個のエミッタ領域２０を備える。半導体層の表面から所定の深さまでの領域に形成されているボディ領域１２を備える。ボディ領域１２の下部に形成されているドリフト領域４を備える。ドリフト領域４の下部に形成されているコレクタ領域３を備える。各エミッタ領域２０の表面からボディ領域１２を貫通して伸びている第１トレンチ３１を備える。第１トレンチ３１の内面を覆っているゲート絶縁膜１８を備える。第１トレンチ３１内に収容されているゲート電極８を備える。隣接している第１トレンチ３１間に形成され、ボディ領域１２を貫通して伸びている第２トレンチ３２を備える。第２トレンチ３２の内面を覆っているトレンチ絶縁膜３３を備える。第２トレンチ３２内に収容されている導電層３５を備える。導電層３５がゲート電極８に電気的に接続されている。 （もっと読む）

【課題】ＧａＮ系半導体は、面方位が（１１１）のシリコン基板上にエピタキシャル成長される。ＧａＮの格子定数と、とシリコン（１１１）面の格子定数の差が、約１７％と大きいのでめ、成長されたＧａＮには１０^１０ｃｍ^−２を超える転位が導入される。転位により、ＧａＮを用いたトランジスタのリーク電流が増大する。また、トランジスタの移動度が低下する。
【解決手段】シリコン基板と、シリコン基板の（１５０）面上に、エピタキシャル成長された窒化物半導体層と、を備える半導体基板を提供する。 （もっと読む）

【課題】有機金属気相成長炉において変動する成長条件の下で成長されるエピタキシャル膜の高純度化のための適切な指標を用いて、III族窒化物系化合物半導体を用いる電子デバイスを作製する方法を提供する。
【解決手段】工程Ｓ１０３において、ｎ型ＧａＮ基板１１上に窒化ガリウム系半導体層１３を成長する。工程Ｓ１０４では、イエローバンド波長帯を含む波長領域および窒化ガリウム系半導体層のバンド端に対応するバンド端波長を含む波長領域のＰＬスペクトルを室温で測定する。工程Ｓ１０６では、イエローバンド波長帯およびバンド端波長のフォトルミネッセンススペクトル強度を基準値と比較することによってエピタキシャル基板を選別して、選別済みエピタキシャル基板Ｅ１を作製する。工程Ｓ１０７では、選別済みエピタキシャル基板１３上に電子デバイスのための電極１５を形成する。 （もっと読む）

【課題】シリコン膜のエッチング時に膜厚方向中央部での括れの発生を防止する。
【解決手段】多結晶シリコン膜３の上部と下部はノンドープ層３ａ、３ｃにてそれぞれ構成され、多結晶シリコン膜３の中央部は不純物ドープ層３ｂにて構成され、多結晶シリコン膜３に凹部Ｍ１を形成した後、多結晶シリコン膜３の酸化処理にて凹部Ｍ１の表面にシリコン酸化膜６を形成し、凹部Ｍ１下の多結晶シリコン膜３を除去する。 （もっと読む）

【課題】ＩＩＩ族窒化物半導体では、ｐ型不純物を高濃度にイオン注入すると、結晶品質が低下してしまう。結晶品質が低下するとオフ電流が増加して、電子デバイス特性が低下する可能性がある。このため、ＩＩＩ族窒化物半導体では、ｐ＋層を形成することが困難であった。
【解決手段】ＩＩＩ族窒化物半導体にドープされるとｐ型半導体になるｐ型不純物、および金属を有する合金からなる合金層と、合金層の下に接して形成され、ＩＩＩ族窒化物半導体からなり、ｐ型不純物が一部に拡散している半導体層と、合金層上に形成され、ｐ型不純物の拡散係数が、半導体層より小さい拡散防止層と、を備える半導体デバイスを提供する。 （もっと読む）

【課題】窒化物化合物半導体を用いたパワーダイオード、パワーＭＯＳＦＥＴ等のパワー
半導体素子について、クラックフリーで形成されて従来よりも厚い窒化物化合物半導体層
を使用して耐圧を向上することである。
【解決手段】シリコン基板１上に厚さ１０μｍ以上の凸状に選択成長された窒化物化合物
半導体からなるキャリア移動層３と、キャリア移動層３上に形成された電極４とを有し、
１つのパワー半導体素子は１つのキャリア移動層３から構成されている。 （もっと読む）

【課題】工程を簡素化して歩留まりを向上すると共に、安定した形状の電極を再現性よく得ることができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第１のレジスト膜１１と、第１のレジスト膜１１の開口よりも小さな開口を有する第２のレジスト膜１２とを用いて、ＳｉＯ_２絶縁膜１０を異方性ドライエッチングによってエッチングして、ＳｉＯ_２絶縁膜１０にテーパ状の開口部１０１を形成する。このため、ＧａＮ層１を斜めに設置し直してＳｉＯ_２絶縁膜１０をエッチングする必要がなく、ＧａＮ層１を水平に設置したままＳｉＯ_２絶縁膜１０をエッチングすることができ、工程を簡素化できる。 （もっと読む）

【課題】電気的特性が良好で加工性が良好な電極を有する半導体発光素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、第１導電形の第１半導体層と、第２導電形の第２半導体層と、発光部と、第１導電層と、第２導電層と、を備えた半導体発光素子が提供される。前記発光部は、前記第１半導体層と前記第２半導体層との間に設けられる。前記第１導電層は、第１平均粒径を有する多結晶を含み、前記発光部から放出される光に対して透過性である。前記第２導電層は、前記第２半導体層と前記第１導電層との間において前記第２半導体層と前記第１導電層とに接し、前記第１平均粒径よりも小さく１５０ナノメートル以下の第２平均粒径を有する多結晶を含み、前記光に対して透過性である。 （もっと読む）

【課題】半導体の表面の酸化物を含む不純物を、エッチングあるいは、他の層を積層する前に除去する。
【解決手段】第１の半導体層１１０の少なくとも一部に接し、第１の半導体層１１０に含まれる不純物の固溶度が、第１の半導体層１１０より高い第１の犠牲層を形成する第１犠牲層形成工程と、第１の犠牲層および第１の半導体層をアニールするアニール工程と、第１の犠牲層をウェットプロセスで除去する除去工程と、第１の半導体層の少なくとも一部を覆う絶縁層１２０を形成する工程および第１の半導体層の一部をエッチングする工程の少なくとも一の工程と、第１の半導体層に電気的に接続された電極層１２６を形成する電極形成工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】 オン抵抗の増大を抑制しつつ、耐圧の低下を抑制する技術を提供する。
【解決手段】 ノーマリオフ型の半導体装置１００は、ヘテロ接合を構成する半導体層１６と、第１リセス部８と、第１リセス部８よりも浅い第２リセス部４と、ゲート部５を備えている。半導体層１６は、第１半導体層１２と、第１半導体層１２上に設けられているとともに第１半導体層１２よりもバンドギャップが広い第２半導体層１４を有している。第２リセス部４は、第２半導体層１４を貫通していない。第２リセス部４の下方に位置する第２チャネル部Ｃ２は、第１リセス部８の下方に位置する第１チャネル部Ｃ１よりも電流経路２０の上流側に配置されている上流側第２チャネル部Ｃ２ｕを有する。 （もっと読む）

【課題】ドナー濃度により該電子濃度を制御可能な高比抵抗の窒化ガリウム系半導体膜を含む窒化ガリウム系ショットキバリアダイオードを提供する。
【解決手段】ショットキーバリアダイオード４１では、窒化ガリウム系エピタキシャル層４５は、導電性を有するIII族窒化物基板４５上に設けられている。窒化ガリウム系エピタキシャル層４５には、ドナードーパント元素が添加されている。窒化ガリウム系エピタキシャル層４５は２×１０^１６ｃｍ^−３未満の炭素濃度を有している。窒化ガリウム系エピタキシャル層４５は１×１０^８ｃｍ^−２未満の転位密度を有する。窒化ガリウム系エピタキシャル層４５は、５×１０^１６ｃｍ^−３未満の電子キャリア濃度を有する。電子キャリア濃度は、窒化ガリウム系エピタキシャル層４５に添加されるドナードーパントによって変更可能である。 （もっと読む）

【課題】低オン抵抗および高信頼性を有する半導体素子を提供する。
【解決手段】半導体素子１Ａは、第１導電形層１１が表面に選択的に設けられた半絶縁性基板１０と、前記半絶縁性基板および前記第１導電形層の上に設けられたノンドープＡｌ_ＸＧａ_１−ＸＮ（０≦Ｘ＜１）を含む第１半導体層１５と、前記第１半導体層上に設けられたノンドープもしくは第２導電形のＡｌ_ＹＧａ_１−ＹＮ（０＜Ｙ≦１、Ｘ＜Ｙ）を含む第２半導体層１６とを備える。半導体素子は、前記第２導電形層１１に接続された第１主電極２０と、前記第２半導体層１６に接続された第２主電極と２１、前記第１主電極と、前記第２主電極と、のあいだの前記第２半導体層の上に設けられた制御電極３０とを備える。前記第１導電形層１１は、前記制御電極３０の下に設けられている。 （もっと読む）

【課題】 発光ムラを抑制し、より均一に発光することが可能な発光素子を提供することを課題とする。
【解決手段】 一実施形態に係る発光装置は、第１主面及び第２主面を有する半導体部と、第１主面側に設けられた第１電極と、第２主面側に設けられた第２電極と、を備える。第１電極は、第１主面の中心部を取り囲むように配置された３以上の外部接続部と、外部接続部から第１主面の中心部に向かって延伸する第１延伸部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】透明導電膜の被覆率を向上させた半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体発光素子１０の製造方法では、発光部１３を含む多層構造の半導体層１１上に、発光部１３から放射される光に対して透明な透明導電膜１５を形成する。透明導電膜１５の一部にマスク材２０を形成する。マスク材２０を用いて、透明導電膜１５をウェットエッチングし、半導体層１１を露出させる。マスク材２０を用いて、露出した半導体層１１を異方性エッチングし、発光部１３を除去する。マスク材２０を除去し、半導体層１１であって活性層１３が除去されて露出した部分上に第１電極１６を形成し、透明導電膜１５上に第２電極１７を形成する。 （もっと読む）

【課題】ｐ形ＧａＮ層に応用した場合に望ましい光学及び電気特性を呈する透光性接触部を形成する方法の提供。
【解決手段】オプトエレクトロニクス素子（１０）のｐ形ＧａＮ層（２０、３０）の表面上に、金属酸化物からなる透光性接触部を成膜技術によって形成する。透光性接触部は、所望の金属を成膜前又は成膜中に酸化して形成する。金属酸化物は、ＮｉＯ、ＩＩ属金属酸化物、遷移金属酸化物等から選択されて成る。透光性接触部には、更に貴金属が添加され得る。 （もっと読む）

【課題】バックゲート電極、しきい値電圧を制御するための回路、および不純物添加法を用いずにしきい値電圧が制御されたトランジスタを作製する。該トランジスタを用いて、電気特性が良好で、信頼性が高く、消費電力の小さい半導体装置を作製する。
【解決手段】組成の制御された酸化タングステン膜を有するゲート電極を用いる。酸化タングステン膜の成膜方法によって組成などを調整され、仕事関数を制御することができる。仕事関数の制御された酸化タングステン膜をゲート電極の一部に用いることでトランジスタのしきい値を制御できる。しきい値電圧が制御されたトランジスタを用いることで、電気特性が良好で、信頼性が高く、消費電力の小さい半導体装置を作製することができる。 （もっと読む）

【課題】埋込み部を形成する際のエッチングにより埋込みゲートが損傷をきたし、ゲート領域劣化が生じ得る。
【解決手段】ショットキーコンタクトなどのゲートコンタクトを形成する前にゲート埋込み部のアニーリングを行うことにより、ゲートリークが低減され、かつ／またはトランジスタなどの半導体デバイス内に高品質のゲートコンタクトを提供することができる。アニーリング中に封入層を使用することで、トランジスタのゲート埋込み部内の半導体への損傷がさらに低減される。アニーリングを、例えばデバイスのオーミックコンタクトのアニーリングによって提供することができる。 （もっと読む）

【課題】チャネル形成時のひずみ緩和の抑制を可能にすると共に、更にひずみを印加することを可能にする。
【解決手段】基板１と、基板上に形成されひずみを有する第１半導体層３と、第１半導体層３上に離間して設けられ、第１半導体層３と格子定数が異なる第２および第３半導体層８と、第２半導体層と第３半導体層８との間の第１半導体層３上に設けられたゲート絶縁膜４と、ゲート絶縁膜４上に設けられたゲート電極５と、を備え、第２半導体層および第３半導体層８直下の第１半導体層３の外表面領域をシリサイド３ａ、８ａとする。 （もっと読む）

【課題】発光効率の向上を図ることができる発光素子、これを含む発光素子ユニットおよび発光素子ユニットを樹脂パッケージで覆った発光素子パッケージを提供すること。
【解決手段】発光素子１では、第１導電型半導体層３上に、発光層４、第２導電型半導体層５、透明電極層６、反射電極層７および絶縁層８が、この順で積層されていて、絶縁層８上には、第１電極層１０と第２電極層１２とが分離絶縁された状態で積層されている。発光素子１は、平面視において離散して配置されて絶縁層８から連続して反射電極層７、透明電極層６、第２導電型半導体層５および発光層４を貫通し、第１導電型半導体層３に到達する複数の絶縁管層９と、第１電極層１０から連続し、絶縁層８および絶縁管層９を通って第１導電型半導体層３に接続された第１コンタクト１１と、第２電極層１２から連続し、絶縁層８を貫通して反射電極層７に接続された第２コンタクト１３とを含む。 （もっと読む）

【課題】電流コラプスの発生を抑制できるIII族窒化物半導体トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】ＦＥＴ１では、第１窒化物半導体層１０３の上に第２窒化物半導体層１０４が設けられ、少なくとも一部が第２窒化物半導体層１０４に接するようにソース電極１０６およびドレイン電極１０７が設けられている。第２窒化物半導体層１０４の上面においてソース電極１０６とドレイン電極１０７との間に位置するように凹部１１０ａが形成されており、ゲート電極１０８が凹部１１０ａの開口を覆うように凹部１１０ａの上方に設けられている。 （もっと読む）