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Fターム[4M104DD21]の内容

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【課題】 半導体ウエハーなどに均一にめっきを施すために行う、洗浄および濡れ性向上のためのアルカリ性洗浄に使用する洗浄剤であって、アルカリ金属を含まないアルカリ性洗浄剤を提供すること。
【解決手段】 リン酸またはその塩を含み、水酸化テトラアルキルアンモニウム塩によりpH11.5以上の強アルカリ性にしたアルカリ金属フリーめっき前洗浄剤。
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【課題】着弾した液滴を確実に溝内に塗れ拡がらせて細線化を可能にする
【解決手段】基板上にゲート配線を形成する第1の工程と、ゲート配線上にゲート絶縁膜を形成する第2の工程と、ゲート絶縁膜を介して半導体層を積層する第3の工程と、ゲート絶縁層の上にソース電極及びドレイン電極を形成する第4の工程と、ソース電極及び前記ドレイン電極上に絶縁材料を配置する第5の工程と、絶縁材料を配置した上に画素電極を形成する第6の工程と、を有し、第1の工程及び第4の工程及び第6の工程の少なくとも一つの工程では、機能液32が塗布される被塗布領域31と、被塗布領域31を囲んで形成されたバンクBとを有し、被塗布領域に対する機能液の接触角と、バンクに対する機能液の接触角との差が40°以上であり、バンク間の溝幅Wが、吐出された機能液の液滴の直径Dよりも小さい基板Pに対して機能液を吐出する。 (もっと読む)


【課題】理想的な特性に近いショットキー電極を製造する方法を提供する。
【解決手段】GaAs基板101にリセス107を形成するためのエッチングを行う際に、このリセス107の表面に、水酸基を多く含むGa酸化膜108が形成される。このGa酸化膜108はショットキー電極の特性を悪化させる原因になる。このため、エッチング後、このGaAs基板101をホットプレートで加熱することにより、このGa酸化膜108から水酸基を取り除き、絶縁性の高いGa酸化膜109に変質させる。その後、Ga酸化膜109上にショットキー電極111を形成し、レジストパターン106や金属層110を取り除いた後、保護膜113を形成する。この発明によれば、Ga酸化膜108内の水酸基が水に変化する反応を加熱処理によって促進させることができ、これにより水酸基を取り除くことができるので、理想的な特性に近いショットキー電極111を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】 例えば酸素や銅に対する拡散防止効果を有する必要最小限の膜厚の合金膜を、配線パターンへの依存性を軽減しつつ、基板の全域に亘ってより均一な膜厚で形成した合金膜で配線を保護する。
【解決手段】 基板上の絶縁体内に形成した配線用凹部内に配線材料を埋込んで形成した埋込み配線の周囲の少なくとも一部に、タングステンまたはモリブデンを1〜9atomic%、リンまたはボロンを3〜12atomic%含有する合金膜を無電解めっきで形成した。 (もっと読む)


【課題】膜厚の異なる絶縁膜に対してテーパー形状を有するコンタクトホールを一定の底部幅で形成可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第1のレジスト13a及び第2のレジスト13bをマスクにして、第1の層間絶縁膜12a及び第2の層間絶縁膜12bをそれぞれ垂直にエッチングし、第1のコンタクトホール上部領域15a及び第2のコンタクトホール上部領域15bを形成する。このとき、第1の層間絶縁膜12aの残膜厚D2aと第2の層間絶縁膜12bの残膜厚D2bとが同じ膜厚になるようにする。その後、残存している第1の層間絶縁膜12a及び第2の層間絶縁膜12bをそれぞれテーパーエッチングし、第1のコンタクトホール下部領域16a及び第2のコンタクトホール下部領域16bを形成する。 (もっと読む)


【課題】 液滴吐出装置から液滴を吐出してTFT用ソース電極またはドレイン電極を設けること。
【解決手段】 配線パターン形成方法は、バンクパターンに縁取られたパターン形成領域における所定のセクションへ液状の導電性材料の液滴を吐出して、パターン形成領域を覆う導電性材料層を形成するステップ(A)を含んでいる。セクションのX軸方向に沿った長さをLとし、Y軸方向に沿った長さをMとすると、吐出される液滴の直径φは、L以下であるとともに、M以下である。そして、ステップ(A)は、バンクパターンから少なくとも直径φの1/2倍離れた位置に液滴の中心が当たるように、液滴を吐出するステップ(a1)を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】 蒸留又は昇華により精製される有機低分子材料を材料利用効率の高いインクジェット法を用い、スループットが高く、大型有機ELパネルや有機薄膜トランジスタ等の電子装置の製造が可能なる方法を提供する。
【解決手段】 2種類の溶剤を混合し、最適インク粘度の確保と、乾燥過程におけるインクの表面張力並びに上記有機材料の溶解限を増加させることによって、隔壁層で区画された凹領域のみに選択的に、インクジェット法で有機材料の非晶質膜形成する。2種類の溶剤の第一の溶剤は溶解度が0.5wt%以上の第1溶媒で、第二の溶剤は溶解度が0.1wt%以下の第2溶媒である。第1溶媒の沸点は第2溶媒の沸点よりも高い方が望ましく、このインク溶剤系を用いることによって、インク中の第1溶媒の比率が乾燥と共に増加することから、結晶核や凝集の発生を抑制でき、均一な非晶質薄膜形成が可能となる。 (もっと読む)


【課題】 本発明では、基板の表面に選択的にめっき触媒を付着させることができ、所望パターンで付着しためっき触媒によって所望パターンの配線を形成することができる技術を実現する。
【解決手段】 本発明の方法は、基板の上に選択的に導体をめっきすることによって配線を形成する方法であって、自己組織化単分子膜を基板の表面に形成する成膜工程と、前記自己組織化単分子膜に選択的に光を照射する露光工程と、前記自己組織化単分子膜の露光部を除去する洗浄工程と、前記基板の上にめっき触媒を付与する触媒付与工程と、前記基板の上に導体を無電解めっきする無電解めっき工程とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 動作時のオン抵抗が小さく耐圧が大きいGaN系電界効果トランジスタを提供することを目的とする。
【解決手段】ソース電極、ゲート電極、ドレイン電極、チャネル層を有するGaN系電界効果トランジスタにおいて、前記チャネル層の導電型と同一のコンタクト層が、前記チャネル層に至る深さのエッチング溝に埋め込まれ、かつ、前記コンタクト層はソース電極のみに接続していることを特徴とするGaN系電界効果トランジスタ。 (もっと読む)


【課題】 SiC基板に対して良好なオーミック接触を得ることができる半導体装置および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 n型SiC層1の露出面の状態を荒らす工程と、荒らされたn型SiC層1の露出面に電極を形成する工程とを有し、前記荒らす工程は、前記露出面についての研磨処理又はレーザー照射Lを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 塗布対象物との密着性が、従来よりも改善された導電性インキ組成物を提供する。また、金属の粒成長を抑制し、表面平滑性に優れた膜を形成することができる導電性インキ組成物を提供する。
【解決手段】 少なくとも貴金属を含む合金からなる金属微粒子の表面を、少なくとも二種の有機化合物からなる保護コロイドで被覆されてなる固形物を有機溶媒に分散させて導電性インキ組成物とする。上記保護コロイドには、例えば、(A)アミン類と、(B)カルボン酸とを含む原料から得られる保護コロイドを使用する。上記導電性インキ組成物を塗布、焼成することで、粒成長が抑制され、表面平滑性に優れ、塗布対象物との密着性が従来よりも改善された金属膜を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】 1度の不純物注入工程によってLDD構造を形成することができる薄膜トランジスタの製造方法等を提供する。
【解決手段】 本発明は、ゲート絶縁膜上に、チャネル長方向において端部から中央部に向けて徐々に膜厚が厚くなる傾斜部を有するゲート電極20を形成する工程を含む薄膜トランジスタうの製造方法を提供する。該ゲート電極20をマスクとしてリンなどの不純物元素のイオン打ち込みを行うことで、最終的には図3(B)に示すようなソース/ドレイン領域としての高濃度のN+型不純物拡散領域22a、低濃度のN-型不純物拡散領域22b、及びチャネル領域24が形成される。 (もっと読む)


【課題】 Si等の非金属基板表面に直接的にメッキ処理を行うことを可能とする。
【解決手段】 非金属からなるSi基板11と、Si基板11表面に形成された無機酸化物微粒子の焼結体からなる下地薄膜161と、下地薄膜161上に無電解メッキ処理により形成されたメッキ膜 (Ni-P膜162)とを有する。
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セミコンダクタ・オン・インシュレータ半導体装置は金属又はシリサイド・ソース・コンタクト領域及びドレイン・コンタクト領域(38、40)、活性化ソース領域及びドレイン領域(30、32)並びに本体領域(34)を有する。構造体は二重ゲートSOI構造体又は完全空乏型(FD)SOI構造体でよい。スペーサ(28)を使用し、半導体層の全厚みをコンタクト領域で完全に置き換えるプロセスを用いてシャープな海面と低抵抗とが達成される。
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【課題】 間欠的なプリカーサガスフロープロセスを使用して金属層を形成する方法を提供することである。
【解決手段】 間欠的なプリカーサガスフロープロセスを使用して基板上に金属層を形成する方法は、提供される。方法は、金属−カルボニルプリカーサガスのパルスに基板を曝すと共に、還元ガスに基板を曝すことを含む。所望の厚さを有する金属層が基板上に形成されるまで、プロセスは実行される。金属層は、基板上に形成されることができ、または、交互に、金属層は、金属核生成層上に形成されることができる。 (もっと読む)


高アスペクト比ビア内に連続シード層を形成する方法とそれに関連付けられる構造体を記載する。この方法は、基板内に凹部(104)を形成する段階と、凹部内に非連続金属層を形成する段階と、凹部内の非連続金属層(112)と、少なくとも1つの非堆積領域(109)を活性化させる段階と、凹部内の非連続金属層及び少なくとも1つの非堆積領域上にシード層(116)を無電解メッキする段階と、実質的にボイドがなく、金属が充填された凹部を形成するようシード層上に金属充填層を形成する段階を含む。
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【課題】本発明は、高解像度構造を有する有機電子部品、特に低ソースドレーン間の距離を有する有機電界効果トランジスタ(OFET)及びその生産方法に関する。
【解決手段】有機電子部品は、生産中レーザーを用いて作られた凹部及び/又は修正された区域を有し、その中には、例えば、金属の導体トラック/電極が配置される。 (もっと読む)


窒化タンタル/タンタルバリア層を堆積させるための方法および装置が、集積処理ツールでの使用のために提供される。遠隔発生プラズマによる洗浄ステップの後、窒化タンタルは原子層堆積法で堆積され、タンタルはPVDで堆積される。窒化タンタル/タンタルは、堆積された窒化タンタルの下の導電性材料を露呈するために、誘電体層の部材の底部から除去される。場合によって、さらなるタンタル層が、除去ステップの後に物理気相堆積法で堆積されてもよい。場合によって、窒化タンタル堆積およびタンタル堆積は同一の処理チャンバで生じてもよい。シード層が最後に堆積される。 (もっと読む)


【課題】複数の線パターンの形成領域から一時的に溢れ出した機能液同士が接触しないように機能液を吐出することによって短絡を防止すると共に、線パターンと線パターンとをより近接させる。
【解決手段】線パターンの形成方法であって、隣合うバンク間34から一時的に溢れ出した上記機能液X同士が接触しないように各上記バンク間34の幅方向の中央Aに対し当該幅方向に変位した位置を各々のバンク間34の吐出位置として上記機能液Xを吐出することによって複数の上記バンク間34に同時に機能液を配置する。 (もっと読む)


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