Fターム[4M106CB00]の内容
半導体等の試験・測定 (39,904) | 検査内容 (641)
Fターム[4M106CB00]の下位に属するFターム
不純物濃度 (187)
極性 (7)
不純物準位 (28)
ライフタイム (49)
移動度 (22)
表面再結合速度 (6)
拡散距離 (10)
捕獲断面積
吸収係数 (1)
結晶軸 (1)
格子欠陥又は結晶欠陥 (204)
エッチピット (20)
組成 (11)
その他 (95)
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