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Fターム[4M109EC00]の内容

Fターム[4M109EC00]の下位に属するFターム

Fターム[4M109EC00]に分類される特許

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【課題】高温動作時のボンディングワイヤと電極パッドとの接合領域の信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体装置100は、リードフレーム121上に半導体チップ102が設けられ、これらが封止樹脂115により封止されている。リードフレーム121の側方にリードフレーム119が設けられている。リードフレーム119の一部はインナーリード117として封止樹脂115に封止されている。封止樹脂115は、ハロゲンを実質的に含まない樹脂組成物により構成される。また、半導体チップ102に設けられたAlパッド107の露出部とインナーリード117とが、AuPdワイヤ111により電気的に接続されている。 (もっと読む)


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