【課題】主記憶アクセス経路の負荷をリアルタイムに検出して、メモリパトロールリクエストの発行周期を柔軟に調整すること。
【解決手段】本発明にかかるメモリコントローラ１２は、プロセッサ１１からのアクセスリクエストＲに応答するメモリ１３へ、メモリ１３の状態を診断するための診断リクエストＤを発行し、診断リクエストＤの応答時間を計測し、当該計測された応答時間が所定時間より長い場合、診断リクエストＤの発行周期を長くするメモリ診断回路１２０、を備える。 （もっと読む）

【課題】仮想アドレスを物理アドレスに変換するメモリ管理装置が正常に動作しているか否かを確認可能とする。
【解決手段】情報処理装置１は、メモリ１１と、メモリ１１の物理アドレス又はそれに対応する仮想アドレスを指定することで、メモリ１１の物理アドレスに対してデータの読み出し又は書き込みを行うためのシステムプログラムと、システムプログラムを実行するプロセッサ１０と、プロセッサ１０からのメモリ１１に対する仮想アドレスを指定した読み出し及び書き込みにおいて、仮想アドレスを物理アドレスに変換するメモリ管理装置１４を備える。プロセッサ１０は、システムプログラムによって、物理アドレスを指定してデータの書き込みを実施した後、その物理アドレスに対応する仮想アドレスを指定してデータの読み出しを実施して、書き込んだデータと、読み出したデータが一致するか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】ＣＰＵに依存することなく、一方のＲＡＭ領域の診断を他方のＲＡＭ領域で診断することができるＲＡＭ診断システムを提供する。
【解決手段】ＣＰＵ２とＲＯＭ３と内蔵ＲＡＭ４とが実装されたＣＰＵカード１と、ＣＰＵカード１の外部に形成された外部ＲＡＭ５とを有し、内蔵ＲＡＭ４および外部ＲＡＭ５は、診断領域４Ａ、５Ａと、診断用領域４Ｂ、５Ｂとをそれぞれ備え、ＲＯＭ３は、内蔵ＲＡＭ４の診断領域４Ａの内の診断対象領域の診断データを外部ＲＡＭ５の診断用領域５Ｂの第１待避エリア５１にコピーし、第２待避エリア５２にコピーし、第１待避エリア５１の診断データを反転し、診断対象領域に反転データをコピーし、当該データを第１待避エリア５１にコピーし、第１待避エリア５１のデータを反転し、第１待避エリア５１のデータと第２待避エリア５２のデータとを比較して診断対象領域が異常か否かの判断を行う。 （もっと読む）

【課題】自装置に十分な記録容量がない場合、又は記録装置が故障している場合であっても、自他装置の記録しておくべきデータを損失することなく記録することができる電子制御システム及び電子制御装置（ＥＣＵ）を提供する。
【解決手段】データを記録する記録手段及び通信手段を有し、制御対象物の動作を制御する複数の電子制御装置を、通信線を介してデータ通信することが可能に接続してある。一の電子制御装置は、記録手段に所定のデータを記録することが可能であるか否かを判断し、可能であると判断した場合、記録手段にデータを記録する。可能ではないと判断した場合、他の電子制御装置へデータを送信する。他の電子制御装置は、受信したデータを記録手段に記録する。 （もっと読む）

【課題】データを正常にバックアップできないためにＮＡＮＤ型フラッシュメモリをリセットした場合であってもソフトの起動が遅れてしまうことがない車両用装置を提供する。
【解決手段】リセットシーケンサ３は、データのバックアップが正常に終了しなかったときは、起動要因を待機することなくＣＰＵ５を起動してＳＤカード７を「ｉｄｌｅ」状態から「ｔｒａｎ」状態に移行させることにより、データのバックアップが正常に終了した次のアクセサリオン時にはすでにＳＤカード７を「ｔｒａｎ」状態となっているようにする。これにより、アクセサリオン時にＣＰＵ５によるＳＤカード７に対するアクセスが直ちに可能となり、ソフトの起動が遅くなってしまうことを防止できる。 （もっと読む）

【課題】
実施形態は、解析が簡便な半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】
本実施形態の半導体記憶装置は、メモリ部（１００）と、前記メモリ部（１００）に接
続されるコントローラ部（２００）と、前記コントローラ部（２００）に接続される第１
入出力部（３００）と、前記メモリ部（１００）と前記コントローラ部（２００）の間の
ノードに電気的に接続され、前記第１入出力部（３００）とは異なる第２入出力部（４０
０）とを備える。 （もっと読む）

【課題】ＣＰＵの運用中においても、記憶部の検査のためにＣＰＵによるソフトウェアのデータ処理を一時停止させることがなく、記憶部の異常の有無をチェックすることができる情報処理装置及び記憶部検査方法を提供する。
【解決手段】ＣＰＵ１とは独立に設置された記憶制御部２は、ＣＰＵ１から書き込みようの処理データと書き込み先の記憶部３の指定アドレスを受け、検査用データを指定アドレスに書き込み、それを読み出す。記憶制御部２が備えるデータチェック部２０は、検査用データと読み出されたデータとを比較し、一致するかどうかを判定する。一致しなければ指定アドレスに異常があると判定し、その旨をＣＰＵ１に通知し、一致すれば、記憶制御部は処理データを指定アドレスに書き込む。 （もっと読む）

【課題】情報処理装置に装着された状態のメモリモジュールを検査できるメモリモジュール検査システム、情報処理装置、及びメモリモジュールの検査に必要なデータを記憶する記憶装置を提供する。
【解決手段】記憶装置２は、情報処理装置１で使用されるメモリモジュール４の正しい仕様を示す仕様データを仕様データ記憶部５で記憶している。情報処理装置１は、仕様データ記憶部５から仕様データを読み出し、メモリモジュール４のＳＰＤメモリ（不揮発性メモリ）４１に記憶している仕様データが正しいか否かを判定し、正しくない場合はＳＰＤメモリ４１の記憶内容を書き換える。また、記憶装置２のプログラム記憶部２５は、メモリモジュール４の検査に必要なプログラムを記憶しており、情報処理装置１は、プログラム記憶部２５からダウンロードしたプログラムに従ってメモリモジュール４の検査の処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】データの誤書換を防止することが可能な低消費電力の半導体装置を提供する。
【解決手段】マイクロコンピュータ１は、電源電圧ＶＣＣが正常範囲から外れた場合にリセット信号ＲＥを出力する電圧検出器２と、各々がデータを不揮発的に記憶する複数のメモリセルを含むメモリアレイ５と、イレーズコマンドまたはプログラムコマンドに応答して、電圧検出器２の応答時間ＴＲ以上の保留時間ＴＳだけ経過した後にデータのイレーズまたはプログラムを実行し、リセット信号ＲＥに応答してリセットされる制御部７とを備える。したがって、電圧検出器２の応答時間ＴＲが長い場合でも、データの誤書換を防止できる。 （もっと読む）

【課題】経年変化に起因して生じず誤りの誤り訂正を行う。
【解決手段】本発明の情報処理装置は、データを格納する複数のブロックからなり、前記複数のブロックの各々に対するデータの再書込みが可能な記憶部と、前記複数のブロックの各々について、該ブロックに格納されているデータの誤り検出を定期的に行い、誤りを検出すると、該検出した誤りの誤り訂正を行い、誤り訂正後のデータの前記ブロックに対する再書込みを行う処理部と、を有する。 （もっと読む）

【課題】ダブルレート型メモリの使用領域を有効活用しつつ使用環境に適したメモリアクセスを適切に行う。
【解決手段】複合装置は、メモリコントロール機能部３０によって複数のパラメータに基づいてアクセスされるダブルレート型のメモリ１３の所定の記憶領域を調整対象メモリ領域として、該調整対象メモリ領域のデータをメモリデータ記憶機能部２２へコピーし、所定タイミングに、メモリデータ記憶機能部２２のデータを、メモリ１３の該調整対象メモリ領域へ書き戻して該調整対象メモリ領域のデータと比較してパラメータを決定して、メモリコントロール機能部３０へ該メモリコントロール機能部３０がメモリ１３へのアクセスに用いるパラメータとして設定する。 （もっと読む）

【課題】簡易な装置にて異常個所をフィールドで特定することが可能な車両用ドア駆動制御検査装置を提供する。
【解決手段】書き込み指令手段２０２は、デュアルポートＲＡＭ１０１に接続されたＣＰＵ１、４に対してデュアルポートＲＡＭ１０１に対する書き込み指令を行い、読み出しデータ受信手段２０３は、ＣＰＵ１、４にてデュアルポートＲＡＭ１０１から読み出された読み出しデータを受信し、故障診断手段２０４は、書き込み指令手段２０２にて指令された書き込みデータと、読み出しデータ受信手段２０３にて受信された読み出しデータとの比較結果に基づいて、デュアルポートＲＡＭ１０１の故障を診断する。 （もっと読む）

【課題】 装置の起動時における処理開始に遅延が発生する可能性を低減する。
【解決手段】 画像読取装置において、ＣＰＵ６は、プログラムに従って動作し、汎用の標準メモリー１のメモリーチェックの完了後に、システム起動に並行して、オプションメモリー２のメモリーチェックをメモリーチェック装置７に実行させ、オプションメモリー２のメモリーチェックの完了後に、スキャンメモリー３のメモリーチェックをメモリーチェック装置７に実行させる。 （もっと読む）

【課題】情報処理装置の記憶部に対する試験にかかる時間の短縮又は試験精度の向上を実現する。
【解決手段】同一の基礎パターンを隣り合わせて配設した基礎パターン対を含むテストパターン４２を、記憶部４の試験領域４０のうちの第１領域４０Ａに書き込み、書き込まれた前記テストパターン４２を前記試験領域４０のうちの第２領域４０Ｂに転送し、転送されたテストパターン４２を、前記第１領域４０Ａにおける前記書き込みが行なわれたアドレスから所定のシフト量だけシフトされたアドレスに転送するとともに、前記第１領域４０Ａあるいは前記第２領域４０Ｂの一方から他方に転送されたテストパターンにおける基礎パターン対の隣り合わせて配設された基礎パターン同士が等しいか否かを比較、判定することにより前記試験領域４０に対する書き込み及び読み出しを正しく行なえるか否かを検証する。 （もっと読む）

【課題】メモリ装置を備えた情報処理装置の、処理上のスループットを低下させることなく、かつ高い信頼性を維持して該メモリ装置の故障診断を行うこと。
【解決手段】
アドレス予測部１１は、情報処理装置３を構成するＣＰＵ付属のメモリ装置に対し、メモリアクセスの状況（より具体的には、キャッシュラインが保持するキャッシュライン管理情報など）から判断して、近々に書き込みアクセスが発生することになると予測されるメモリのアドレス情報の特定を行う。次に、通達部１２は、アドレス予測部１１が特定した前記アドレス情報を、メモリ診断部に送出する。これにより、メモリ診断部は、ＣＰＵ付属のメモリ装置（図示は省略）の、該特定されたアドレス情報が示す記憶領域のみを目下の診断対象とすることができる。 （もっと読む）

【課題】アクセス数の少ないメモリモジュールへのアクセス頻度に拘らず、エラーが発生したメモリモジュールに対してメモリチェックを行い、メモリモジュールの故障を早期に発見する。
【解決手段】コンピュータ１００は、エラー検出部１１０、ログ収集部１２０、診断部１３０、メモリチェック部１４０、障害処理部１５０、及び障害ログ情報格納部１６０を備え、メモリチェック部１４０は、診断機能によって特定されたメモリエラーが発生した位置に対してメモリチェックを行い、メモリアクセスを行い、メモリエラーが発生するかどうかの確認を行う。 （もっと読む）

【課題】プログラムコードの自己診断が特定のコマンド処理時間に影響を与えることを避けるための分散処理、および、本装置がほとんど非活性化〜（再）活性化されない利用シーンにおける、プログラムコード自己診断の定期実施を可能とする携帯可能電子装置およびＩＣカードを提供する。
【解決手段】ＲＯＭに格納されたプログラムコードを自己診断する自己診断機能を持つＩＣカードにおいて、プログラムコードの自己診断を１つのコマンド処理内で全て実行するのではなく、複数のコマンド処理に分けて分散実行する。 （もっと読む）

【課題】フラッシュメモリ・ダイをテストするための方法、システムおよびデバイスを得る。
【解決手段】デバイス製造のポスト・ウェファ・ソート・ステージ中に、共通ハウジングに関連づけられたフラッシュコントローラ・ダイおよび少なくとも一つのフラッシュメモリ・ダイを各々が含む複数のフラッシュメモリ・デバイスを、例えば、バッチ・テスト・プロセスまたはマス・テスト・プロセス等のテスト・プロセスへ通す。テスト中、各フラッシュコントローラ・ダイ上に属するフラッシュコントローラが、各フラッシュ・デバイスの一つ以上のフラッシュメモリ・ダイの各々をテストするための、少なくとも一つのテスト・プログラムを実行する。少なくとも１００個のフラッシュメモリ・デバイスおよびマス・テスト・ボードを含むテスト・システムを開示する。さらに、フラッシュコントローラが一つ以上のフラッシュメモリ・ダイをテストするよう作動可能なフラッシュメモリ・デバイスを開示する。模範的なテストは、不良ブロック・テストを含む。 （もっと読む）

【課題】ＤＭＡ装置を停止させることなく、データ整合性を維持しつつ記憶装置のデータ整合性診断を簡易な構成で実施することのできる組込制御装置を提供する。
【解決手段】データ転送装置１０２が記憶装置１０３にデータを書き込み、またはデータを読み取っている記憶領域５０１のアドレスは、データ転送装置１０２が備えるレジスタに格納されている。演算装置１０１は、そのレジスタから記憶領域５０１のアドレスを知ることができるので、これを避けてデータ整合性診断を実施する。 （もっと読む）