Fターム[5B048FF00]の内容
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テスト信号の自動検出及び経路指定
回路テストアプローチは、テスト信号を自動的に検出し、複数のテスト回路経路(240、242、244)に沿って経路指定する設定可能なスイッチ制御を有する。本発明の実施例によれば、マイクロコントローラ(205)は、テスト信号(即ち、デジタル及び/又はJTAGのテスト信号)を自動的に検出する割り込みルーチンを用いて入力ノードを監視するようにプログラムされる。テスト信号を検出すると、マイクロコントローラは、テスト回路経路の一つに沿ってテストデータを経路指定するように制御可能スイッチ(220)を制御する。このアプローチと共に、テスト信号を経路指定する手動の切り替えは、必要とされず、切り替えのための回路経路へのアクセスが困難又は不可能である用途において有用であると考えられる。
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