【課題】試料を安定して保持することができる分析装置を提供する。
【解決手段】本体と、試料を載置する載置面を有し、当該載置面を前記本体外部に露出させる第１の位置と、当該載置面を前記本体内に収容する第２の位置とを通る軌道において往復移動可能に前記本体に設けられたスライダと、前記スライダに設けられ、前記本体と係合して前記スライダを係止させる係合部材と、を備え、前記係合部材は、前記スライダに沿って突出する突出部を有し、前記係合の解除に伴い前記突出部が前記載置面を覆うことを許容するとともに、前記係合に伴い前記突出部による前記載置面の覆いを解除することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】質量分析計へのサンプル導入のための方法、特に、サンプルを質量分析計へと大気圧で急速に導入できる“開放型プローブ”方法を提供すること。
【解決手段】質量分析計へのサンプル導入のための開放型プローブ方法であって、分析されるべきサンプル化合物をサンプルホルダに取り込むステップ（工程）と、プローブ炉を加熱するステップと、前記サンプルホルダ内の前記サンプル化合物を前記加熱されたプローブ炉内へ導入するステップと、前記加熱されたプローブ炉内へ不活性ガスを流すステップと、炉温度および不活性ガス流の複合効果により前記加熱されたプローブ炉内で前記サンプルを気化させるステップと、前記気化されたサンプルを前記不活性ガス中に混入させるステップと、不活性ガス中の前記気化されたサンプルを質量分析計のイオン源へと移送するステップとを含み、サンプル導入中および分析中に前記加熱されたプローブ炉が環境大気へと開放されたままであり、また、前記不活性ガスが、質量分析計イオン源へ及び炉開口へと移送ラインの２つの方向で前記加熱されたプローブ炉内を流れ、不活性ガス中の前記気化されたサンプルが、加熱移送ラインを介して、質量分析計のイオン源のイオン化チャンバ内へと直接に移送される、方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】金属微粒子を数１０ｎｍ以下に密に配置する工程を行わずに、金属微粒子の近傍においてホットスポットを形成可能な微細構造体を容易に作製できる微細構造体の作製方法を提供する。
【解決手段】局在プラズモンを誘起しうる大きさの複数の金属微粒子を基材表面に分散固定した状態とする工程と、前記複数の前記金属微粒子の間隙に金属膜を成膜する工程とを有し、前記金属微粒子は、前記基材の表面と平行な切断面の断面積が最大となる部分をもち、前記断面積が最大となる部分から前記基材表面に向かうにつれて前記断面積が減少する形状であり、前記金属膜と離間することを特徴とする微細構造体の作製方法。 （もっと読む）

【課題】大がかりな装置を必要とせず、マトリックスとともに測定対象物をも十分に単離し且つ励起し得る質量分析用試料基板を提供する。
【解決手段】導電性基体と、該導電性基体の上方に積層された、発光材料を含有する発光層と、を有する質量分析用試料基板であって、前記発光材料は、量子ドットであることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】
汎用性の高いLDIプレート等を提供する。
【解決手段】
本発明の第１の側面は、レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、容易に製造でき、汎用性の高いLDIプレートが得られる。本発明の第2の側面は、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子を有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、広範囲の波長のレーザー光を吸収できる白金粒子が基板上に担持されているため、様々な種類の試料をレーザー脱離イオン化質量分析法の対象とすることができる。 （もっと読む）

【課題】脱離過程がスムーズに起こり、且つエネルギー効率の高い質量分析用基板、及びこの質量分析用基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基体と、該基体上に形成された多孔質膜と、該多孔質膜上に形成された無機材料膜と、から構成されてなる質量分析用基板であって、該無機材料膜は、該基体に対して略垂直に形成された複数の凹部を有し、該凹部の径は、１ｎｍ以上１μｍ未満であることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】質量分析計による検体からの検体イオン及び中性分子の採取を誘導し、それによって所定の面積又は容積から採取し、かつ化学的予備段階の必要なく固体又は液体を採取する装置を提供する。
【解決手段】本発明は、質量分析計による表面から検体イオン及び中性分子の採取を制限する装置であり、それによって所定の面積又は容積から採取する。本発明の様々な実施形態では、大気圧で又はその近くで脱離イオン化から所定の空間解像度で形成されたイオンを採取するのに、管が用いられる。本発明の一実施形態では、静電界は、分析されている試料の表面の近傍に位置決めされた個々の管又は複数の管のいずれかにイオンを誘導するのに用いられる。本発明の一実施形態では、分析のためにイオン及び中性分子を分光計に引き込むために、広直径試料採取管を真空注入口と共に用いることができる。本発明の一実施形態では、静電界と共に広直径試料採取管は、イオン収集の効率を改善する。 （もっと読む）

【課題】質量分析計による検体からの検体イオン及び中性分子の採取を誘導し、それによって所定の面積又は容積から採取し、かつ化学的予備段階の必要なく固体又は液体を採取する装置を提供する。
【解決手段】本発明は、質量分析計による表面から検体イオン及び中性分子の採取を制限する装置であり、それによって所定の面積又は容積から採取する。本発明の様々な実施形態では、大気圧で又はその近くで脱離イオン化から所定の空間解像度で形成されたイオンを採取するのに、管が用いられる。本発明の一実施形態では、静電界は、分析されている試料の表面の近傍に位置決めされた個々の管又は複数の管のいずれかにイオンを誘導するのに用いられる。本発明の一実施形態では、分析のためにイオン及び中性分子を分光計に引き込むために、広直径試料採取管を真空注入口と共に用いることができる。本発明の一実施形態では、静電界と共に広直径試料採取管は、イオン収集の効率を改善する。 （もっと読む）

【課題】 測定試料中の所定の元素の濃度を誤って算出するのを防止することができる質量分析方法を提供する。
【解決手段】 この質量分析方法では、ステップＳ１１０において、ｍ／ｚ値ごとに（すなわち、質量数の異なる元素ごとに）単位時間当たりのカウント数（すなわち、検出強度）を測定すると共に、ステップＳ１１２において、ｍ／ｚ値ごとにカウント数が飽和しているか否かを判断する。従って、ステップＳ１１４において、或るｍ／ｚ値について（すなわち、或る元素について）カウント数が飽和している状態で測定試料中の所定の元素の濃度を算出するのを回避することができ、その結果、測定試料中の所定の元素の濃度を誤って算出するのを防止することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】マトリックスを用いることなく高い効率で分析対象試料のレーザー脱離イオン化を実現することのできる試料ターゲットを提供する。
【解決手段】レーザー光照射による試料のイオン化に用いられ、少なくともレーザー被照射面が多孔質構造を有する基体と、該レーザー被照射面を被覆する金属若しくは半導体から成る薄膜とを有する試料ターゲットにおいて、前記基体のレーザー光によるイオン化反応に関与する表層部と該表層部以外のバルク部の熱伝導率が同等、又は表層部よりもバルク部の熱伝導率が低いものとする。例えば、試料ターゲット１０を二重細孔構造を有するシリカモノリスプレートから成る基体２０と該基体のレーザー被照射面を被覆するPt薄膜３０とで構成する。これにより、ターゲット基体２０の表層部からバルク部への熱伝導によるエネルギーのロスを抑え、イオン化効率を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】非定形試料のための前処理の不要な大気圧イオン化方法および試料保持装置を提供する。
【解決手段】励起ガスが透過する薄膜、または試料を含浸させ得る繊維体や多孔質体に試料を包むか染み込ませるかして試料に励起ガスを当て、試料を励起ガスと反応させてイオン化させるようにした。また、上下左右方向に移動可能かつ前面側と後面側を連通する連通部を備えた保持具を用い、試料を励起ガスが透過する薄膜、または試料を含浸させ得る繊維体や多孔質体に包むか染み込ませるかして該連通部に保持し、試料の前方から試料に励起ガスを当て、これにより試料をイオン化して試料の後方に置かれた質量分析計のイオン導入口に導入させるようにした。 （もっと読む）

【課題】 ３次元微細領域元素分析方法に関し、電界蒸発のし易さが異なる元素が混在した試料を短時間で精度良く分析する。
【解決手段】 被分析試料１から電界蒸発強度が４０×１０¹⁰Ｖ／ｍ以上の元素２が検出された時点で、被分析試料１に飽和吸着し、且つ、エネルギービーム５の照射によってエッチングが進行するガス種４を被分析試料１に供給したのち、エネルギービーム５を照射して被分析試料１のガス種４の吸着した部分のみを脱離させ、脱離した被分析試料１由来の粒子６の質量分析を行なうとともに、電界蒸発強度が４０×１０¹⁰Ｖ／ｍ以上の元素２が検出されなくなった時点でガス種４の供給を停止して電界蒸発によって脱離した被分析試料１由来の粒子６の質量分析を行なう。 （もっと読む）

【課題】 表面に固着されるサンプルにエネルギーを与えることによりこれをイオン化させる機能性サンプルプレートであって、製作工程が簡略化され、構成を柔軟に変更可能なサンプルプレートを提供する。
【解決手段】 本発明に係るサンプルプレート１は、アノーダイジング処理により片側全面に多孔質層４を形成した機能性プレート２と、金属薄板に複数の開口部３１を形成したマスクプレート３とを接合してなる。従来はサンプルを固着させるスポット状のウェルを形成するために、レジスト塗布→露光→開口部エッチング→アノーダイジング処理→レジスト除去などの工程が必要であったが、本発明では全面へのアノーダイジング処理１工程だけで済むため、作製工程や作業時間、製造コストの面で有利である。 （もっと読む）

【課題】基板の表面に固定した物質をレーザ光照射により該表面から脱離させ、その物質を捕捉して質量分析する方法において、より低パワーのレーザ光を使用可能とする。
【解決手段】基板の表面に固定した物質をレーザ光照射により該表面から脱離させ、そのイオンを捕捉して質量分析する方法に用いられる質量分析用基板として、その表面の少なくとも一部が、レーザ光照射を受けて局在プラズモンを励起し得る金属粗面（例えばアルミナ層５の表面に形成された多数の微細孔６内に、該微細孔６の径よりも大きな頭部がアルミナ層５表面よりも上に突出した状態で金微粒子８が充填されてなる）とされている基板３を用いる。 （もっと読む）

【課題】質量分析を用いた標的分子の高感度なin situ検出法の提供。
【解決手段】以下の工程：
（１）組織もしくは細胞を支持体表面に接触させて、該組織もしくは細胞に含まれる分子を該支持体表面上に転写する；
（２）該支持体を質量分析に供する；および
（３）質量分析の結果に基づいて、標的分子を検出する
を含む、組織もしくは細胞に存在する標的分子をin situに検出する方法。上記工程（３）において、画像処理により標的分子を染色することをさらに含む方法。 （もっと読む）

標本の質量分光分析のためのサンプルに、電気伝導性の表面と、電気伝導性の表面に塗布されるマスクを有する基板が提供される。そのマスクは、粗い表面を用いて基板に塗布され、少なくとも１つのサンプルサイトを形成する。上記サンプルサイトは、電気伝導性の表面からなる中央部分と、前記中央部分よりも疎水性のマスクからなるマージン部分とを有する。
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質量分光分析を使用して電気伝導性領域に隣接するサンプルプレート表面マスクをスキャンする方法が開示される。この方法は、電気伝導性の表面に粗い表面を用いて塗布されたマスクを含むサンプルプレートを提供し、電気伝導性の表面からなる中央部分とマスクのマージン部分とを有するサンプルサイトを提供するステップと、生物分子に有機溶媒、水溶液、およびα−シアノ−４−ヒドロキシ桂皮酸および３，５−ジメトキシ−４−ヒドロキシ桂皮酸のグループから選択されたマトリクスを混合する段階を備えた検体を準備するステップと、前記検体の少なくとも１つの結晶を電気伝導性領域に隣接するマスクの一領域に形成するステップと、レーザビームを用いて前記電気伝導性領域に隣接するマスク上の領域をスキャンするステップと、を有する。
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【課題】 試料が破壊されることなくスムーズな元素の離脱を可能とし、試料中の３次元的原子分布を容易且つ正確に再構成することができる。
【解決手段】 ３ＤＡＰにおいて、試料１１の元素の電界蒸発をアシストするための吸着ガスをチャンバー１内に導入する吸着ガス導入機構６が設けられる。吸着ガスとしては、試料１１の元素に吸着し易い（吸着率の高い）ガス種、例えば窒素ガスが選ばれる。 （もっと読む）

【課題】 サンプルプレート１上に塗布される試料ａにレーザー光を照射してイオン化し、これを電極２により形成した電場勾配で引き出して自由飛行させた後、イオン検出器（マイクロチャンネルプレート）ｄで検出するタイプの飛行時間型質量分析装置に関する。電極２と検出器ｄとの距離が装置を大型化させていたが、電極２と検出器ｄとを近づけると検出器ｄの微小領域にイオンが集中入射してしまい、放電破壊などを引き起こすので小型化ができなかった。
【解決手段】 本願発明に係る飛行時間型質量分析装置では、サンプルプレート１または電極２の少なくとも一方が、分析室に向けて凸形状を有する構成とした。イオンが分析室内を飛行する際、イオンの飛行方向に垂直な方向に拡散しつつ飛行させることができ、したがって電極２と検出器ｄとの距離を短くした場合でもイオンが検出器の一部に集中入射することを防止し、分析装置全体の小型化を実現することができる。 （もっと読む）

【課題】 試料の表面状態の変化にかかわらず、試料の分析精度を向上させることを可能にするレーザーアブレーション装置及び方法、試料分析装置及び方法を提供する。
【解決手段】 試料分析装置１は、試料室５内の試料台６に支持される試料２にレーザー光を照射して、試料２の一部を微粒子化させるレーザーアブレーション・ユニット３と、試料室５内で微粒子化された試料２を導入し、試料２に含まれる構成元素を検出する元素検出ユニット４と、コントローラ３７とを備えている。試料室５の上方には、試料２の表面形状を検出するためのレーザー変位計１８が設けられている。コントローラ３７は、レーザー変位計１８の測定値に基づいて、試料２の表面に対してレーザー光のフォーカスを合わせるように試料台駆動部７を制御するレーザー制御部と、元素検出ユニット４の検出値を入力し、所定の分析処理を行う分析部とを有している。 （もっと読む）