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Fターム[5C038FF07]の内容

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Fターム[5C038FF07]に分類される特許

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【課題】イオンをできるだけ小径上に集束することができ、2つの圧力領域を良好に分離できるイオンを集束および蓄積する装置を提供する。
【解決手段】イオンを集束および蓄積する装置1301、および第1圧力領域を第2圧力領域から分離する装置に関し、特に、イオンの分析装置1400に関する。上記の装置のうち少なくとも1つを有する粒子ビーム装置で、イオンを収容する容器1201と少なくとも1つの多重極ユニット1301を設ける。多重極ユニット1301は、長手方向軸線1307を有する貫通口1302を有し、また複数の電極を有する。これら電極の第1組は、長手方向軸線1307から第1径方向距離にあり、これら電極の第2組は、それぞれ、長手方向軸線1307から第2径方向距離にある。第1径方向距離は、第2径方向距離よりも小さい。 (もっと読む)


等風速線原理に従って動作する質量分析計であり、この質量分析計において、マスフィルタが、イオンを、それらの質量対電荷比に係わらず名目上の等しい速度まで加速させる。質量分析計は、凹面レンズと、ビーム経路においてこれに続く凸面レンズとによって形成された静電レンズ配置に基づいた改良検出器を備える。これらのレンズは、イオンを、それらの質量電荷比に反比例するビーム軸からの距離の分、ビーム軸から離れるように偏向させる。そして、イオンの質量対電荷比は、ビーム経路に配置されたマルチチャンネルプレートなどの適切な検出器アレイによって決定されることができる。これにより、小型で感度の高い機器が提供される。 (もっと読む)


【課題】イオンのエネルギーを少なくとも1つのガス粒子に伝達する装置および/またはイオン輸送する装置であって、設計が簡素で各素子の接続が容易である装置を提供する。
【解決手段】少なくとも1つのイオンのエネルギーをガス中の少なくとも1つのガス粒子に伝達するエネルギー伝達および/またはイオン輸送装置1200,1300であって、内部にガスを含有する容器1200を設け、この容器1200は輸送軸線を有する。さらに、少なくとも1つの第1多重極ユニットおよび少なくとも1つの第2多重極ユニットを設け、これら第1多重極ユニットおよび第2多重極ユニットを輸送軸線に沿って配置する。第1多重極ユニットおよび第2多重極ユニットはプリント回路基板により形成する。さらに、電子回路を設け、各多重極ユニットに電位を印加して電位勾配を発生させるようにし、特に、輸送軸線に沿って電位勾配を発生させる。 (もっと読む)


【課題】高いイオン輸送効率を示すファンネル構造の電極部にイオンを導入する効率を高めることで、総合的な輸送効率一層高める。
【解決手段】大気圧下で試料のイオン化を行うイオン化室1から、直管状のキャピラリ管3を通してイオンを、第1中間真空室4内に配置されたファンネル構造の電極部10の内部空間に導入する。複数のリング電極の一部を、周方向に一部を切り欠いた略C形状の電極に置き換えることでキャピラリ管3を配設する空間を確保し、イオンの導入方向をイオン輸送方向と略直交させる。導入されたイオンは衝突冷却によりエネルギーを減じ、高周波電場の閉じ込め作用によりイオン光軸C近傍に収束し、直流電場の電位勾配に従って出口開口に向かって効率良く移動する。ガス流はリング電極間の空隙を抜けるのでリング電極内空間の出口付近のガス圧が高くならず、後段の真空を損なうことも防止できる。 (もっと読む)


質量分析システムには、低圧分離領域および微分移動度分光計が含まれる。微分移動度分光計には、イオンフロー経路を画定する少なくとも一対のフィルタ電極が含まれ、このイオンフロー経路において、フィルタ電極は、サンプルイオンのイオン移動度特性に基づいてサンプルイオンの選択された部分を通過させるための電界を生成する。微分移動度分光計にはまた、DCおよびRF電圧をフィルタ電極の少なくとも1つに供給して、電界を生成する電圧源と、低圧分離領域を通過したサンプルイオンを受け取るイオン入口と、サンプルイオンの選択された部分を出力するイオン出口と、が含まれる。質量分光計は、サンプルイオンの選択された部分のいくらかまたは全てを受け取る。
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【解決手段】開示されるイオンガイドにおいて、イオンガイドの出口側に軸方向直流電圧障壁103が形成される。一次RF電圧が電極に印加されると、イオンガイド内で径方向にイオンが閉じ込められる。電極には、さらに、補助RF電圧も印加される。補助RF電圧は、一次RF電圧よりも大きな軸方向反復長を有する。補助RF電圧の振幅は、時間とともに増大するため、イオンが不安定になり、軸方向直流電圧障壁をイオンが乗り越えるのに十分な軸方向運動エネルギーが得られる。イオンは、質量対電荷比の順に、イオンガイドから軸方向に放出される。 (もっと読む)


複数の等時性イオン振動の周波数測定を伴う静電捕捉型質量分析計向けの装置41および作動方法が提供される。処理能力および空間電荷能力を改善するため、捕捉器は実質的に一Z方向に拡張され、再生された二次元場を形成する。捕捉器のZ拡張を目的とする複数の形状が提供される。静電捕捉器を多重化することによって、分析の処理能力が改善される。イオンパケットの短縮、および像電流信号のウェーブレットフィット分析または飛行時間型検出器を用いた振動ごとのイオンの小部分の抽出のどちらかによって、周波数分析が加速される。静電捕捉器へイオンを最適に注入するため、複数のパルス変換器が提案される。 (もっと読む)


高エネルギー、中エネルギー、低エネルギーの生成物イオンの混合物を含む生成物イオンスペクトルをもつフラグメントイオンを得る方法。この方法は、(a)イオン封込場の上流にあるイオン光学素子に、選択したRF場を提供することと;(b)選択したRF場が、イオン封込場内にあるイオンの選択した運動エネルギープロファイルを少なくとも部分的に決定するように、このイオン光学素子を通ってイオン封込場へとイオンを移動させ、この選択した運動エネルギープロファイルが、イオンをフラグメント化するとともに複数の生成物イオン群を与えるように選択されることと;(c)この複数の生成物イオン群のそれぞれの生成物イオン群を検出することとを含む。
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【課題】衝突冷却と高周波電場を利用してイオンを収束させつつ後段へ輸送するイオンガイドにおいてイオン輸送効率を高める。
【解決手段】イオンが通過する輸送領域を領域長L1である前半の領域#1と領域長L2である後半の領域#2とに分割し、領域毎に直流電場強度を設定できるようにする。領域#1を通過する間にイオンの衝突冷却が十分に行われ、領域#1の終点付近でイオンがイオン光軸C近傍に十分に収束するように、領域#1には適度にイオンを加速する直流電場を形成する。一方、領域#2には、収束したイオンを発散させずに出射面まで移動させるように、領域#1に比べて小さな直流電場を形成する。これにより、イオンは滞留することなく十分に収束した状態で輸送されるため、高い輸送効率が達成される。 (もっと読む)


イオンの移動度に基づいて大気圧で作動する前置フィルターと、イオン流をイオン検出器の中へと配向させるイオン集束アセンブリ、例えば、質量分析計(MS)とを備える、イオンを分析するための方法および装置。移動度に基づくフィルターは、円筒状電場非対称波形イオン移動度分析計(FAIMS)、平面または吸引示差移動度分析計(DMS)、またはイオン移動度分析計(IMS)であり得る。イオン集束アセンブリは、イオンが通って流れる開口部を有する2つのグリッドと、2つのDC電源と、グリッド間に電場を生成するための時変電源とを備える。
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【課題】未知成分の試料でも各成分を最適なMS/MS条件で開裂させ、一回の分析操作で低分子量成分から高分子量成分まで種々の構造的特徴を持つ分析対象成分のMS/MS測定を可能とし、対象成分の詳細な構造情報を簡便に取得できる質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料中の分析目的成分をイオン化する手段と、生成された該イオンの精密質量数を検知するイオン検出器と、生成された該イオンと衝突ガスとの衝突誘起開裂反応を行う衝突セルと、該イオンと衝突ガスとの衝突誘起開裂反応における衝突誘起開裂エネルギーを調節するための制御手段と、生成されたイオンの精密質量を検出するイオン検出部と、検出された該イオンの質量より分子組成を演算する演算部を備え、演算部は、検出された該イオンをその構造上の特徴により分類可能である。 (もっと読む)


【課題】正イオンと負イオンの両方を高いイオン利用効率で測定する。
【解決手段】イオン源と、イオンガイドと、イオントラップとを有する質量分析装置において、イオントラップから質量選択的にイオンを排出している間に、イオンガイド部に、イオントラップにトラップされているイオンと逆極性のイオンを導入する。 (もっと読む)


【課題】m/z比が広範囲であるイオンに最適化されたイオン移送条件を提供するために構成されたイオン輸送機器が必要とされている。
【解決手段】イオン輸送装置は、イオン入口端部と、イオン出口端部と、イオン入口端部からイオン出口端部まで長手方向軸に沿って配置された電極とを備えている。各電極は、長手方向軸に沿って変化するRF電界を印加するように構成され、RF電界は、イオン入口端部では2n重極の主要な第1多重極成分を備えた第1RF電界を有し、ここで、n≧3/2であり、また、イオン出口端部では主として2n重極の第2多重極成分を備えた第2RF電界を有し、ここで、n≧3/2およびn<nである。 (もっと読む)


分析器を使用して荷電粒子を分離する方法であって、荷電粒子のビームを分析器を通して飛行させ、荷電粒子のビームが、分析器内部で分析器の分析器軸(z)の方向で少なくとも1回の全振動を受けるとともに主飛行経路に沿って軸(z)の周りを周回するステップと、ビームが分析器を通って飛行するときにビームの円弧発散を制約するステップと、荷電粒子の飛行時間に従って荷電粒子を分離するステップとを含む方法が提供される。上記方法を行うための分析器も提供される。好ましくは、発散を制約するために少なくとも1つの円弧集束レンズが使用され、この円弧集束レンズは、ビームの各側に位置された1対の対向した電極を備えることがある。実質的に同じz座標に位置された円弧集束レンズのアレイを使用することができ、アレイ内の円弧集束レンズが円弧方向で離隔配置され、アレイがz軸の周りに少なくとも部分的に延在し、それにより、ビームが分析器を通って飛行するときにビームの円弧発散を複数回制約する。 (もっと読む)


【解決手段】開示されるイオンガイドは、複数の軸方向電極群を備え、各軸方向電極群は、複数の電極セグメントに径方向にセグメント化されたリング電極又は環状電極を備える。 (もっと読む)


飛行時間質量分光分析に有用な方法および分析器が提供される。荷電粒子を分離する方法が、2つの対向するミラーを備える分析器を提供するステップを含み、各ミラーが、軸zに沿って細長い内側および外側電場定義電極システムを備え、外側システムが内側システムを取り囲み、それらの間に分析器体積を画定し、ミラーが、z軸に沿って対向する電場を備える電場を分析器体積内部に生成し、電場のz軸に沿った強度が平面z=0で最小であり、方法がさらに、分析器を通して荷電粒子のビームを飛行させ、荷電粒子のビームが、分析器体積内部でz軸の周りを周回し、一方のミラーから他方のミラーに少なくとも1回反射し、それによりミラー内部に最大変向点を定義するステップを含み、最大変向点での電場のz軸に沿った強度がXであり、電場のz軸に沿った絶対強度が、平面z=0と各ミラーでの最大変向点の間でz軸に沿った方向の2/3以下にわたって|X|/2未満であり、方法がさらに、荷電粒子の飛行時間に従って荷電粒子を分離するステップと、複数のm/zを有する荷電粒子の少なくともいくつかを分析器から出射する、または複数のm/zを有する荷電粒子の少なくともいくつかを検出するステップとを含み、出射または検出するステップが、粒子がz軸の周りで同じ回数の周回を経た後に行われる。 (もっと読む)


【課題】イオン分布画像の画質を保持しつつ、飛行時間を収束させる。
【解決手段】試料18をパルス的にイオン化するレーザー光源15と、試料18の上流に位置するサンプルプレート11と、試料18の下流に位置し、レーザー光源15が試料18をイオン化した時点において、サンプルプレート11と自身との電位差により、生成されたイオンを試料18の表面から引き出す引き出し電極12と、引き出し電極12よりも下流に位置し、当該引き出し電極12と自身との電位差により、引き出し電極12によって引き出されたイオンを加速する引き込み電極13とを備えている。引き出し電極12は、自身と引き込み電極13との電位差によってイオンが加速されている間に、当該イオンが正イオンの場合には自身の電位を所定量上げ、当該イオンが負イオンの場合には自身の電位を所定量下げる。 (もっと読む)


質量分析計において使用するレンズアセンブリ内のイオン光学構成要素上に蓄積される汚染物質を減少させるために、質量分析法および方法において使用するレンズアセンブリが本明細書に開示される。レンズアセンブリは、イオンレンズおよびヒータを形成するように組み立てられる複数のイオン光学構成要素を備える。複数のイオン光学構成要素は、概して類似の膨張係数を有する。ヒータは、イオン光学構成要素に動作可能に連結される。ヒータは、イオン光学構成要素を加熱し、イオン光学構成要素上の残屑の集積を減少させる。種々の実施形態では、方法は、レンズアセンブリ内でイオン源からイオンを受容することを含む。レンズアセンブリは、イオンレンズを形成するように組み立てられる複数のイオン光学構成要素を含み、複数のイオン光学構成要素は、概して類似の膨張係数を有する。また方法は、イオン光学構成要素を第1の温度に加熱することを備える。
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試料分析システムは、試料分析システムから残留イオンを除去するためのイオン除去機構を組み込む。イオン除去機構は、イオン移動度フィルタを質量分析器計に接続する、イオン光学アセンブリの中に含むことができる。試料分析システムによって分析される試料は、イオン移動度フィルタの中へ進入させられ得る。イオン移動度フィルタは、試料のイオンを濾過して、濾過したイオン群をイオン光学アセンブリに通す。イオン光学アセンブリは、イオン群の中のイオンのうちのいくつかまたは全てが検出される質量分析器に、濾過したイオン群を輸送する。イオン除去機構は、次いで、第2の濾過した群を通過させる前に、第1の濾過した群から残った全てまたは実質的に全ての残留イオンをイオン光学系から除去する。
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たとえば2重集束を用いたSIMSタイプの色消し磁気質量分析計(200)であって、2次の4つの収差を相殺する手段(202、212、215、221)および軸外色消し性を相殺し、質量の分散を調節する手段(201、222)を備えることを特徴とする色消し磁気質量分析計(200)。
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