本発明は、電子（２１）を放出するための陰極装置（６）と、中性粒子（２０）の供給用の入口（１４）と接続しており、中性粒子（２０）のイオン化のために陰極装置（６）と作動接続している反応帯（３）と、反応帯（３）の作動領域と連通するように配置されているイオン抽出構造（４）と、検出システム（１２）へイオン（２２）を案内するための手段と、質量分析装置を真空にするための手段とを含む質量分析装置に関する。ここでは陰極装置（６）はエミッタ面（７）を有する電解放出陰極を含み、このエミッタ面（７）とわずかに間隔をあけて電子の抽出のための抽出グリッド（９）が配置されており、これはエミッタ面（７）を実質的に覆っている。エミッタ面（７）は、管状の構造が構成されるように、少なくとも部分的に中空部（１３）を取り囲んでいる。
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使用時にイオンが移送されるアパーチャを有する複数の電極を含む質量分析器（２）が提供される。複数の擬ポテンシャル波形が質量分析器（２）の軸に沿って生成される。擬ポテンシャル波形の振幅または深さは、イオンの質量電荷比に反比例する。イオンを質量分析器（２）の長さに沿って推進するために１つ以上の過渡ＤＣ電圧が質量分析器（２）の電極に印加される。電極に印加される過渡ＤＣ電圧の振幅は、時間とともに増加され、イオンは、質量電荷比の逆順に質量分析器（２）から射出される。２つのＡＣまたはＲＦ電圧が電極に印加される。第１のＡＣまたはＲＦ電圧は、最適な擬ポテンシャル波形を形成するように構成され、他方、第２のＡＣまたはＲＦ電圧は、質量分析器２内へのイオンの軸方向の最適な閉じ込めを実現するように構成される。 （もっと読む）

【課題】イオン移動度分析計を含む装置
【解決手段】第１のチャンバ（１０）と第２のチャンバ（５）とを含むマススペクトロメータが開示される。第２のチャンバ（５）は、第１のチャンバ（１０）の下流に位置し、２つのチャンバ（５，１０）間には、チャンバ間アパーチャ（１２）が提供される。第１のチャンバ（１０）内には、イオンガイド（１３）が位置し、第２のチャンバ（５）内には、イオン移動度分析計（６）が位置する。第１のチャンバ（１０）に、ヘリウムガスが提供される。イオンは、比較的低圧の領域からイオン移動度分析計（６）に向かって加速されるに際し、先ず、第１のチャンバ（１０）内に入る。第１のチャンバ（１０）内に提供されるヘリウムガスは、イオンが比較的高圧の領域内へと加速される際のイオンフラグメンテーション効果およびイオン識別効果を最小限に抑える。イオンは、次いで、イオンガイド（１３）によって伝送され、引き続き、第２のチャンバ（５）内に位置するイオン移動度分析計（６）へと伝送される。 （もっと読む）

第一および第二端を伴う第一イオンガイドを有し、異極性の第一イオン群と第二イオン群を第一イオンガイドに導入し、第一および第二イオン群を第一イオンガイド内に半径方向に閉じ込めるために、ＲＦ電位を第一イオンガイドに印加する、イオンを分析する方法が提供される。第一イオン群を第一イオンガイド内にトラップするために、第一トラップ障壁が第一イオンガイドの第一端に提供され、第二イオン群を第一イオンガイド内にトラップするために、第二トラップ障壁が第一イオンガイドの第二端に提供され、第一イオン群を第一トラップ障壁に向かって押し、第二イオン群を第二トラップ障壁に向かって押すために、軸方向電場が提供される。
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衝突またはフラグメンテーションセル（８）の上流に配置されるイオン移動度分光計またはセパレータ（６）を含む質量分析計が開示される。イオン移動度分光計またはセパレータ（６）において、イオンがそのイオン移動度にしたがって分離される。イオンが衝突またはフラグメンテーションセル（８）に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ（６）を出射するイオンの運動エネルギーを実質的に時間とともに直線的に増加させる。イオン移動度分光計またはセパレータ（６）のポテンシャルを変化させる期間中、イオン源（１）、イオンガイド（２）、四重極質量フィルタ（３）、必要に応じて設けられる第２の衝突またはフラグメンテーションセル（４）およびイオントラップデバイス（５）などのイオン移動度分光計またはセパレータ（６）の上流のイオン光学部品のポテンシャルは一定に保たれる。 （もっと読む）

【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、被測定ガス中の特定注目分子をオンサイトで連続的にかつ高感度で定量分析できるガス分析用可搬型Ｊｅｔ−ＲＥＭＰＩ装置を提供する。
【解決手段】ガス導入系およびイオン光学系を一体型の構造とし、単一真空排気系を備えて差動排気するとともに、イオン化室に、被測定ガスを飛行時間型質量分析計の方向に噴射するためのオリフィスノズルを内包し、かつ先端が突起状である出鼻型の対向電極と、イオンを通過させるためのピンホールを有する仕切板を内包し、かつ先端が突起状である出鼻型の引き出し電極を有し、かつ前記引き出し電極の先端から前記仕切板までの範囲の電極部材の一部または全てをメッシュ構造とするガス分析用可搬型Ｊｅｔ−ＲＥＭＰＩ装置。 （もっと読む）

イオンビームを軸（Ｚ）に沿って誘導するシステムであり、上部平板電極帯（1u、2u、3u、4u、5u）と下部平板電極帯（1d、2d、3d、4d、5d）を有する少なくとも一つのセクションを有し、この電極は、ビーム軸及び少なくとも一つのセクションの端部にある周縁場境界を含む面に対して平行方向には略対称で、垂直方向には略非対称である電場を少なくとも一つ生成する。
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切換え式分岐形イオンガイドが開示される。切換え式分岐形イオンガイドは、トランクセクション、第１及び第２の分岐セクション、トランクセクションを分岐セクションに連結する接合部及び接合部のところに設けられた可動弁部材を有する。弁部材を、イオンの移動がトランクセクションと第１の分岐セクションとの間で許可されるがトランクセクションと第２の分岐セクションとの間では禁止される第１の位置と、イオンの移動がトランクセクションと第２の分岐セクションとの間で許可されるがトランクセクションと第１の分岐セクションとの間では禁止される第２の位置との間で動かすことができる。分岐形イオンガイドは、例えば、イオン流を２つの行き先、例えば２つの質量分析計相互間で制御可能に切り換えるのに利用できる。 （もっと読む）

衝突、フラグメンテーションまたは反応セル４を含む質量分析計を開示する。衝突、フラグメンテーションまたは反応セル４は、高フラグメンテーション動作モードと低フラグメンテーション動作モードとの間で繰り返し切り替えられる。質量スペクトルデータセットがこの２つの動作モードで得られる。小数質量フィルタを１つまたは両方のデータセットに適用する。特に、対象の親または前駆イオンに関係するフラグメントイオンまたは代謝産物を、該対象の親または前駆イオンと同様の小数質量を有することに基づいて同定する。 （もっと読む）

イオンが使用時に移送される開口を有する複数の電極（２ａ）を含むイオンガイドまたは質量分析器（２）が開示される。擬ポテンシャル障壁がイオンガイドまたは質量分析器（２）の出口に作成される。擬ポテンシャル障壁の振幅または深さは、イオンの質量電荷比に反比例する。イオンをイオンガイドまたは質量分析器（２）の長さに沿って推進させるために、１つ以上の過渡ＤＣ電圧（４）がイオンガイドまたは質量分析器（２）の電極（２ａ）に印加される。電極（２ａ）に印加される過渡ＤＣ電圧（４）の振幅は、イオンがそれらの質量電荷比の逆順でイオンガイドまたは質量分析器（２）から出射されるように、時間と共に増加される。 （もっと読む）

第１サイクルで実行するステップとして、イオン出射開口とイオン移送開口が別の部位にある第１イオン捕獲装置内に試料イオンを貯めるステップと、貯まっているイオンをイオン出射開口を介し出射させるステップと、出射されたイオンを第１イオン捕獲装置とは別の場所にあるイオン選別装置に送るステップと、そのイオン選別装置内でイオンを選別するステップと、第１イオン捕獲装置から出射されたイオンのうちその選別を経たもの又はそれからの派生物をイオン選別装置から第１イオン捕獲装置に送り返すステップと、返ってくるイオンをそのイオン移送開口を介し第１イオン捕獲装置内に受け入れるステップと、受け入れたイオンを第１イオン捕獲装置内に貯めるステップと、を有するマススペクトロメトリ方法を提供する。
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第１サイクルで実行するステップとして、第１イオン捕獲装置内に試料イオンを貯めるステップと、第１イオン捕獲装置内に貯まっているイオンをそれとは別のイオン選別装置に入射するステップと、そのイオン選別装置内でイオンを選別するステップと、イオン選別装置内で選別されたイオンをフラグメント化装置へと出射させるステップと、イオン選別装置を迂回しつつフラグメント化装置から第１イオン捕獲装置へとイオンを送り返すステップと、第１イオン捕獲装置から出射されたイオン若しくはその一部又はそれからの派生物を第１イオン捕獲装置内に受け入れるステップと、受け入れたイオンを第１イオン捕獲装置内に貯めるステップと、を有するマススペクトロメトリ方法を提供する。
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第１の扇形電場（５）および第２の扇形電場（８）を含むマルチターン飛行時間質量分析器を開示する。第２の扇形電場（８）は、第１の扇形電場（５）と直交するように配置される。イオンは、検出および質量分析される前に質量分析器を複数回周回し得る。これにより、高分解能質量分析器が提供できる。別の実施形態によると、質量分析器は、第１の扇形電場が細長く、かつさらなる扇形電場が第１の扇形電場の長さに沿って千鳥状に配置される開ループ形状を有する。第１および第２の扇形電場（５、８）は、複数の扇形電場区分に細分され得る。
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低減された寸法にもかかわらず、１ｋＶ_ｐ−ｐ程度のＲＦトラッピング電圧で動作する、環状高周波（ＲＦ）イオントラップ質量分析器のスケールダウンバージョンは、従来の三次元四重極イオントラップとほぼ同じイオントラッピング容積を保持し、湾曲した幾何形状は、コンパクトな質量分析器の構築および従来の電子増倍管との容易なインタフェースを可能にする。
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【課題】
対向する２個のレンズ電極を電気的に接続するための２組の可撓性のリード線の接触事故を防止するとともに当該部分の組立方法を簡略化し、当該機器の製造工数を低減し信頼性、保守性を向上する。
【解決手段】
４個で１組のレンズ電極４の規定位置に挿入され中間位置までナット２４が螺入された締結ネジ２３に、接続板２１Ａ、段差部２１Ｂおよび接触板２１Ｃで構成する接続ハーフリング２１を締結ネジ２３の横方向から挿入し、締結ネジ２３を本締めし、接続ハーフリング２１を対向する２個のレンズ電極４のそれぞれに固定する。同様に接続ハーフリング２１を裏返した構造の接続ハーフリング２２を紙面の裏面横方向から挿入し残りの２個のレンズ電極４に固定する。 （もっと読む）

イオン移動度スペクトロメータ又は他のイオン装置は、イオンの流れ経路の横方向に延在した２つ又は３つのグリッド電極５１及び５２；１５１から１５３；１０６及び１０７；１０６’及び１０７’を有する。ｄｃ補償電圧と共に非対称な波形を電極間に印加して、場依存移動度に従ってイオンに異なる影響を及ぼすイオンの流れ経路に平行な場を形成する。これは、イオン検出器１１，１１１，１１１’へのイオンの移動において、異なるイオンを選択的にふるいにかけたり、遅らせたりして、さもなければ類似の出力を発するイオン間の識別を容易にする。
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【課題】改良された質量分析計および質量分析の方法を提供すること。
【解決手段】期間ΔＴ₁におけるゼロ透過率動作モードと期間ΔＴ₂における非ゼロ透過率動作モードとを繰り返し切り換えてイオンビームを減衰させるイオンビーム減衰器を含む質量分析計が開示されている。イオンビームの減衰の程度は、マークスペース比ΔＴ₂／ΔＴ₁を変化させることによって変化させることができる。イオンビーム減衰器は、イオンをパケットまたはパルスで放出し得るが、イオンのパケットまたはパルスは、イオンビーム減衰器の下流に配置された比較的高圧のイオンガイドまたはガス衝突セルによって、連続したイオンビームに変換され得る。 （もっと読む）

質量分析計は、パルス状イオン源と、パルス状イオン源によって生成されたイオンを閉じ込める第１のイオントラップであって、第１のイオントラップから続いて放出される閉じ込められたイオンの位置を特定するための第１のイオントラップ（１０）とを有する。冷却ガスのパルスは、第１のイオントラップ（１０）がイオンを閉じ込めることを可能にするのに適しているピーク圧において、第１のイオントラップ（１０）に導かれる。ターボ分子ポンプ（１７）は、閉じ込められたイオンが、第１のイオントラップ（１０）から分析のための第２のイオントラップ（２０）の方へ放出される前に、冷却ガスの圧力を減らす。パルス状イオン源は、第１のイオントラップ（１０）の端壁を形成する試料プレート（１４）を有する。
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【課題】本発明は、試料を構成する原子および分子の空間的な位置情報と質量情報との両方を同時に高分解能で，しかも高速に測定できるイメージング飛行時間型質量分析装置を提供する
【解決手段】本発明にかかるイメージング質量分析装置１は、レンズ系６０を備えるイオン源１０と、分析部２０と、検出部３０とを備えている。イオン源１０では、試料の広い範囲を同時にイオン化し、上記レンズ系６０を用いて、上記試料のイオン像をそのまま引き出す。その後、分析部２０では、上記試料の上記試料のイオン像をそのまま維持し、上記試料のイオンの質量分離を行う。次に、検出部３０では、試料イオンの到達位置と飛行時間とを同時に検出する。 （もっと読む）

【課題】イオンを収束させつつ後段に輸送するイオン光学系のコストを引き下げる。
【解決手段】従来のロッド状電極に代えて肉薄の金属板部材である電極を用いて多重極電場を形成する。即ち、金属板部材である電極４１ａ〜４１ｄはそれぞれの縁端面をイオン光軸Ｃに向け且つ該イオン光軸Ｃの方向に延展して、イオン光軸Ｃの周りに互いに９０°ずつの角度を保って放射状に配置される。 （もっと読む）