【課題】イオン化ビームの試料への照射の時間的ばらつきによる質量分析結果への影響を低減し、信頼性の高い質量分布を測定することのできる質量分布分析方法を提供する。
【解決手段】本発明の質量分布分析方法は、一次イオンビームを試料に照射し、発生した二次イオンを検出する質量分析方法であって、この一次イオンビームは進行方向に対して垂直な方向への広がりを有し、かつ軌道を偏向することにより、一次イオンビームに含まれる各々の一次イオンの一次イオン源から試料表面までの行路長を調整したうえで、試料表面に対して斜めに入射される。 （もっと読む）

【課題】従来の質量分析装置では、測定対象物表面に垂直に一次ビームを入射させることができないため、その表面に凹凸がある場合は、一次ビームに対して影になる部分を生じた。その結果、試料から発生するイオンの分布と測定対象表面の物質分布に乖離が生じる問題があった。
【解決手段】一次イオン生成部、一次イオンを測定対象物に照射するための一次イオン光学系、二次イオンを検出するための検出器、および測定対象物から検出器までイオンを導く二次イオン光学系を有する質量分析装置において、
当該一次イオン生成部は当該二次イオン光学系のイオン光軸の外に設置し、偏向部を当該測定対象物と当該検出器との間に有することを特徴とする飛行時間型質量分析装置 （もっと読む）

【課題】多重周回飛行時間型質量分析装置において、極力少ない測定回数で周回軌道上でのイオンの追越しの問題を解消した広質量範囲で高精度のマススペクトルを作成する。
【解決手段】微小検出器が２次元的に配置された検出器８を用い、周回軌道から離脱したイオンが検出器８へ向かう射出軌道上に偏向電極７１〜７４を設ける。偏向電極７１〜７４にはゲート電極が開放される時点から時間的に変化する電圧を印加し、時間的に電場の強さを変化させる。周回軌道上での周回遅れのためにm/zが異なる２種のイオンが同時に検出器８に到達した場合、該２種のイオンが偏向電場を通過する時刻は異なるから受ける電場の強さは相違する。そのため、検出面上でのイオン到達位置には相違が生じ、到達位置の変位量から各イオンの偏向電場通過時刻が求まる。これより、各イオンの飛行速度が求まり、おおよその周回数が推定できるため、飛行時間からm/zを求めることができる。 （もっと読む）

【課題】電子の導入効率およびイオンの導入効率が低く、高速の電子捕獲解離スペクトルを取得することが可能な電子捕獲解離反応装置を備えた質量分析装置を提供する。
【解決手段】高周波電場が印加される線形多重極電極と、線形多重極電極の軸方向の両端に配置され線形多重極電極の中心軸上に穴を具備し直流電圧が印加されて壁電場を生成する壁電極を有する線形イオントラップと、線形多重極電極の中心軸と同軸を含む磁場を発生し、線形イオントラップを取り囲む筒型の磁場発生手段と、線形多重極電極とは壁電極を挟んで反対側に設けられた電子源とを有し、電子源の電子発生部位が、磁場発生手段の発生する磁場の内部に設置された電子捕獲解離反応装置を備えた質量分析装置。 （もっと読む）

【課題】第１MSに所望する質量分解能を与える飛行距離よりも短い飛行距離のTOFMSを用いて、所望する質量分解能を与えることが可能なタンデムTOFMSを提供する。
【解決手段】第１TOFMSでマススペクトルを測定する場合には反射場として働き、第１TOFMSでプリカーサイオンを選択する場合には、イオンを反射することなくイオンを通過させる反射場を、第１TOFMSの出口部に置いた。 （もっと読む）

【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源１０と、直進軌道とらせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器１５とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 （もっと読む）

【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源１０と、らせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器１５とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 （もっと読む）

過渡電圧プロファイルを印加してイオンパケットを加速させるマスフィルタを有する質量分析計である。電圧プロファイルは、質量対電荷比が高くなるにつれて高くなる運動エネルギー及び質量対電荷比が高くなるにつれて低くなる速度を各イオン種に付与する関数形を有するように選択される。イオンは、当該イオンの運動エネルギーに基づいて、かつ電圧プロファイルの関数形を考慮して異なるイオン種を区別するイオン検出器において検出される。適切な電圧プロファイルは、正弦関数、三角関数、及びのこぎり波関数などの周期関数を含み、これによってマスフィルタ内の駆動パルスの増幅が、構築が簡易で安価な狭帯域増幅段によって実行されることが可能になる。 （もっと読む）

運動エネルギー識別（ＫＥＤ）およびダイナミックリアクションセル（ＤＲＣ）の両方で操作するように構成可能な質量分析計システムを提供する。質量分析計に含まれる加圧セルまたは衝突セルは四重極を含み、不活性ガスおよび反応性ガスの両方の源に結合される。ＫＥＤモードで操作するために、衝突セルがある量の不活性ガスで充填され、エネルギー障壁が衝突セルと下流質量分析器との間に形成され得る。代わりにＤＲＣモードで操作するために、衝突セルは、干渉イオンのみと反応性であるある量のガスで充填され得る。次いで、生成物イオンの質量フィルタリングは、比例的に多くの分析物イオンを下流質量分析器に送ることができる。モード制御器は、２つの操作モードを協調させる。 （もっと読む）

等風速線原理に従って動作する質量分析計であり、この質量分析計において、マスフィルタが、イオンを、それらの質量対電荷比に係わらず名目上の等しい速度まで加速させる。質量分析計は、凹面レンズと、ビーム経路においてこれに続く凸面レンズとによって形成された静電レンズ配置に基づいた改良検出器を備える。これらのレンズは、イオンを、それらの質量電荷比に反比例するビーム軸からの距離の分、ビーム軸から離れるように偏向させる。そして、イオンの質量対電荷比は、ビーム経路に配置されたマルチチャンネルプレートなどの適切な検出器アレイによって決定されることができる。これにより、小型で感度の高い機器が提供される。 （もっと読む）

【課題】実用的なプロテオーム解析用質量分析装置を提供する。
【解決手段】直交加速型イオントラップ結合飛行時間型質量分析計において、イオントラップから射出されたイオンの速度分布を縮小する手段を設けることにより、一度に分析できる質量対電荷比範囲を拡大する。
【効果】プロテオーム解析におけるタンパク同定の効率が向上される。 （もっと読む）

イオンの移動度に基づいて大気圧で作動する前置フィルターと、イオン流をイオン検出器の中へと配向させるイオン集束アセンブリ、例えば、質量分析計（ＭＳ）とを備える、イオンを分析するための方法および装置。移動度に基づくフィルターは、円筒状電場非対称波形イオン移動度分析計（ＦＡＩＭＳ）、平面または吸引示差移動度分析計（ＤＭＳ）、またはイオン移動度分析計（ＩＭＳ）であり得る。イオン集束アセンブリは、イオンが通って流れる開口部を有する２つのグリッドと、２つのＤＣ電源と、グリッド間に電場を生成するための時変電源とを備える。
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【課題】イオン化したガスクラスターを適切に偏向することが可能な荷電粒子選別装置を提供する。
【解決手段】イオン化したガスクラスターを選別するための荷電粒子選別装置において、前記ガスクラスターの進行方向に配列された電界を印加するための電界印加部と、前記ガスクラスターを選別するためのスリットと、を有し、前記電界印加部は２枚の電極から構成されており、前記電極に交流電圧を印加することにより、イオン化したガスクラスターを偏向させるものであって、前記電極は、開口部又は間隙を有することを特徴とする荷電粒子選別装置を提供することにより上記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】周回軌道でのイオンの追い越しに起因する複雑な周回数の判定等を必要とせず、特定のピークに対する高質量分解能のマススペクトルを取得する。
【解決手段】イオンの追い越しが生じない条件で目的試料の質量分析を行いマススペクトルを得る（Ｓ１、Ｓ２）。そのマススペクトルに現れる各ピークの質量から、周回毎に周回軌道離脱用の偏向電極にイオンが到達する時間を計算する（Ｓ４）。マススペクトルから特定ピークが抽出されると、所望の質量分解能を達成するのに必要な周回数が計算され、その周回数から求まるイオン到達時間に他の夾雑ピークのイオン到達時間が重ならないかを判断し、重なる場合に周回数を変更する（Ｓ５〜Ｓ７）。２回目の測定では、目的試料由来のイオンを周回させ、決定された周回数に応じたイオン到達時間に基づいて偏向電極によりイオンを周回軌道から離脱させて検出する（Ｓ９）。これにより、追い越しが発生しても他のイオンが混じることなく高質量分解能のマススペクトルを取得できる。 （もっと読む）

【課題】イオンビームの空間的分布による影響が最小限になるように、質量分析装置のダイナミックレンジを著しく高める。
【解決手段】質量分析装置の検出器のダイナミックレンジを拡大する手法において、高い強度のビームの場合、イオンビームを検出するための手段が、コレクタスリット１の後に、小さい穴のグリッドまたはアレイであってよい減衰器４に設けられ、数分の１のイオンビームのみがこの中を通ってイオン検出器６に到達する。穴のアレイを使用することにより、記録される信号が、ビーム内のイオンの分布に影響を受けないことを確実にする。ビームは、信号が低い強度である場合、検出器にまっすぐに進む。 （もっと読む）

試料（１０１）を収容する手段と、試料（１０１）の表面からイオンを抽出する手段と、第１の方向における第１の曲率および第１の曲率中心（１０５）と第１の方向と垂直な第２の方向における第２の曲率および第２の曲率中心とによって等電位線が規定されるトロイダル静電界を生成するリフレクトロン（１０３）とを含む、特に質量分析計または原子プローブ顕微鏡型の、広い角度受け入れを有する質量分析装置（１００）であって、第１の曲率中心（１０５）の近くに試料（１０１）が位置決めされていることを特徴とする。 （もっと読む）

たとえば２重集束を用いたＳＩＭＳタイプの色消し磁気質量分析計（２００）であって、２次の４つの収差を相殺する手段（２０２、２１２、２１５、２２１）および軸外色消し性を相殺し、質量の分散を調節する手段（２０１、２２２）を備えることを特徴とする色消し磁気質量分析計（２００）。
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【解決手段】開示される質量分析計において、イオントラップ型質量分析器（２０）の上流側にイオンビーム減衰器（２３）が配置される。上流側のイオン減衰部（２１）と下流側のイオン蓄積部（２２）とを備えるイオントンネル型イオントラップは、イオンビーム減衰器（２３）の上流側に配置される。イオントンネル型イオントラップからイオンが放出され、イオントラップ型質量分析器（２０）に送られたイオンビームの強度をイオンビーム減衰器（２３）により制御する。イオントラップ型質量分析器（２０）にイオンを入射可能な充填時間は、ほぼ一定に保たれ、イオンビームの強度とは実質的に独立である。 （もっと読む）

【課題】本発明はタンデム飛行時間型質量分析計に関し、イオン検出面の広がりを抑制することができるタンデム型飛行時間型質量分析計を提供することを目的としている。
【解決手段】サンプルをイオン化するイオン源１０と、イオンをパルス的に加速する手段を含む第１の飛行時間型質量分析計２０と、特定の質量を持つイオンを選択するイオンゲート１１と、該イオンゲート１１で選択したイオンを開裂させる手段２１と、開裂したプロダクトイオンを再加速させるための手段３０と、イオンミラ１５ーを含む第２の飛行時間型質量分析計２５と、該第２の飛行時間型質量分析計２５を通過したイオンを検出する検出器１２、とで構成され、再加速させるための手段が所定の機能を持つように構成する。 （もっと読む）

【課題】イオンを高い運動エネルギーで移送すると同時に複数の質量のイオンを移送することでき、さらには最適なイオンの移送条件を維持することが可能なイオンガイドを含む改良型曲線状イオンガイドを提供する。
【解決手段】イオンガイドは複数の曲線状電極と、イオン偏向装置とを備えている。上記電極は互いにおよび曲線状中心軸と平行に配列されており、上記曲線状中心軸は曲率半径を有する円形部の円弧に沿って延びている。上記複数の電極はそれぞれ上記曲線状中心軸から半径方向に離隔していて、上記曲線状中心軸の周りにおいて上記電極のうち対向する電極対間に配置された曲線状イオン誘導領域を画成している。上記イオン偏向装置は上記複数の電極のうちの少なくとも２個以上に対して半径方向にＤＣ電界を印加する装置を備えていてもよい。上記イオン偏向装置はまた、曲線状で平行なイオン偏向電極対を有していてもよい。上記イオン偏向電極対は曲線状電極に加えてＲＦイオン誘導電界を印加するために用いられる。 （もっと読む）