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Fターム[5C038GG07]の内容

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【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源10と、直進軌道とらせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器15とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 (もっと読む)


【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源10と、らせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器15とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 (もっと読む)


【課題】短い測定時間で広い質量電荷比範囲のマススペクトルを取得可能な分析と、複雑な分子構造の解析に有用なMSスペクトルを取得可能な分析とを、1台の質量分析装置で切り替えて実施できるようにする。
【解決手段】MALDIイオン源、イオンを加速する引出し電極13、イオンを収束させるイオン光学系14などを含むイオン導入部10と、イオンを直線的に飛行させる飛行空間を内部に形成するフライトチューブ34との間に、イオントラップを含むイオン捕捉部20と第2検出部31とを配置する。通常分析の際には、イオン導入穴24及びイオン導出穴25を通過するようにイオン光学系14でイオン流を絞り、フライトチューブ34内空間のほかイオントラップ内空間や第2検出部31内の空間も自由飛行領域として飛行時間を計測する。MS分析の際にはイオントラップに一旦イオンを捕捉し、イオントラップで質量分離して吐き出したイオンを第2検出部31で検出する。 (もっと読む)


【課題】特別に加工された試料プレートを用いることなく、マトリクス付着後の試料プレートをステージに載置した際の位置ずれを精度良く検出し、その位置ずれを補正して分析者により指定された領域に対する正確な質量分析を実施する。
【解決手段】試料プレート3が試料ステージ2上に載置されると、照射痕形成制御部22が試料ステージ2を適宜移動させ高パワーのレーザ光を短時間させることにより、試料プレート3上の所定位置に照射痕を形成する。照射痕は固有の形状を有するから、照射痕の顕微観察画像を取得しこれを画像保存部32に保存しておく。一旦ステージ2上から取り出された試料プレート3が再びステージ2上に置かれたあと、その時点で得られる画像上の照射痕の位置と保存部32に保存されている画像上の照射痕の位置との相違から位置ずれ量を算出し、分析位置補正部24は求まったずれ量に応じて分析者により指定された領域の位置情報を修正する。 (もっと読む)


【課題】イオンをできるだけ小径上に集束することができ、2つの圧力領域を良好に分離できるイオンを集束および蓄積する装置を提供する。
【解決手段】イオンを集束および蓄積する装置1301、および第1圧力領域を第2圧力領域から分離する装置に関し、特に、イオンの分析装置1400に関する。上記の装置のうち少なくとも1つを有する粒子ビーム装置で、イオンを収容する容器1201と少なくとも1つの多重極ユニット1301を設ける。多重極ユニット1301は、長手方向軸線1307を有する貫通口1302を有し、また複数の電極を有する。これら電極の第1組は、長手方向軸線1307から第1径方向距離にあり、これら電極の第2組は、それぞれ、長手方向軸線1307から第2径方向距離にある。第1径方向距離は、第2径方向距離よりも小さい。 (もっと読む)


携帯用質量分析のための方法および装置を開示する。装置は、少なくとも1つのイオン化被分析物源と、少なくとも1つの周波数走査サブシステムと、少なくとも1つの検出器と、随意で、少なくとも1つの真空ポンプとを備え、携帯用である。いくつかの実施形態では、装置は、複数のイオン化被分析物源を備え、および/または少なくとも10のm/z比を伴う被分析物、あるいは少なくとも10Daの分子量を伴う被分析物等の大型被分析物の質量スペクトル、ならびに小分子被分析物の質量スペクトルを取得するように構成されている。いくつかの実施形態では、方法は、上記で説明される携帯用装置を用いて質量スペクトルを取得するステップを含む。
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【課題】真空度の悪い雰囲気および/または活性ガスの雰囲気においても、荷電粒子の平均自由行程を正確かつ簡便に測定可能な平均自由行程を測定する装置、真空計、および平均自由行程を測定する方法を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る装置1007は、雰囲気ガスから真空的に隔離されたフィラメント111と、真空紫外光330を透過させるUV透明型真空隔壁700と、雰囲気ガス内に設置され真空紫外光330を受けて光電子340を放出する光/電子変換電極610とを有した真空紫外光源600を備える。また、装置1007は、真空紫外光源600からの飛行距離が0以上の距離である荷電粒子の第1の荷電粒子数を検出する第1のコレクタと、上記距離よりも長い距離の荷電粒子の第2の荷電粒子数を検出する第2のコレクタとを備える。上記装置1007の制御部1000は、第1、第2の荷電粒子数の比率から平均自由行程を算出する。 (もっと読む)


【課題】複数イオン源を組み合わせた利点をもたらすことが可能で、個々の制限を受けず、切換えを必要とせず、かつ手動操作を必要としない多モードイオン化源を提供する。
【解決手段】多モードイオン化源には、1つ以上の大気圧イオン化源3、4が設けられる。これらのイオン化源は、エレクトロスプレーイオン化源、大気圧化学イオン化源、及び/または大気圧光イオン化源とすることが可能であり、サンプル21からの分子をイオン化するために用いられる。多モードイオン化源を利用して、イオンを発生させる方法も開示される。この装置及び方法によれば、個別イオン源に固有の欠点を伴わない、組み合わせイオン源の利点が得られる。 (もっと読む)


【課題】レーザ共鳴イオン化質量分析装置において、分析目的のガス以外のガスのイオンが検出信号に影響するのを軽減する。
【解決手段】イオン化室に導入したカバーガスとタグガスの混合ガスにイオン引出し電極8112a,8112bの間においてレーザビーム83を照射してタグガスを共鳴励起・イオン化するときに、レーザ光の散乱により放出される光電子等によってカバーガスが非共鳴反応によりイオン化されることにより制御電極の間の広い範囲で生成され、分析目的のタグガスイオンは、照射されるレーザビームに沿って生成されることに着目し、イオン引出し電極8112bにおけるイオン引き出し窓8112b1をレーザビームの通路に沿ったスリット形状とすることにより、カバーガスイオンが引き出されるのを抑制する。 (もっと読む)


【課題】サンプルに対し略垂直上方からレーザ光を照射することにより、発生・収集されるイオン量を増加させるとともに収集されたイオンを無駄なく質量分析器に輸送することでイオンの利用効率を高め、最終的に分析感度を改善する。
【解決手段】サンプルプレート3表面に直交する中心軸Cに沿って、イオンレンズ5、6などのイオン輸送光学系、イオントラップ7、検出部9などの質量分離・検出部を配置し、イオン光軸と中心軸Cとを一致させる。レーザ光源10、レンズ12、13、14を含むレーザ照射部10は中心軸C上で、サンプルSから最も離れた部位である検出部9よりもさらに離れた位置に配置され、レーザ光の光軸と中心軸Cとも一致させる。長焦点のレンズ14から出て徐々に光束径が絞られるレーザ光は出射口75、入射口74などを通過し、遮られることなくサンプルSに当たる。また、サンプルSから放出されたイオンは屈曲されることなくイオントラップ7に導入され質量分析に供される。 (もっと読む)


高いサンプル利用度で質量スペクトルを測定する方法は、第1の所定の範囲の質量電荷比を持つ質量スペクトルから第1の群の前駆イオンを質量フィルタするステップを含む。第1の群の前駆イオン中の少なくとも1種類の前駆イオンが、次に選択的にフラグメント化される。第1の群の前駆イオン中のフラグメント化された前駆イオンの第1のフラグメント質量スペクトルが測定され、一方では第1の所定の範囲内の質量電荷比の他の前駆イオンが保持される。第2の所定の範囲の質量電荷比を持つ第2の群の前駆イオンが質量スペクトルから質量フィルタされる。第2の群の前駆イオン中で、少なくとも1種類の前駆イオンが選択的にフラグメント化される。第2の群の前駆イオン中でフラグメント化された前駆イオンの第2のフラグメント質量スペクトルが次に測定される。
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【課題】小型、低コストで高強度の極端紫外光源を提供すること。
【解決手段】絶縁体(3)を挟んで対向する第1の電極(4)および第2の電極(2)と、前記第1の電極(4)および前記絶縁体(3)とを貫通する細孔光路(3a+4a)の他端側に連通して第2電極(2)に形成されたターゲット材収容部(2a)と、前記ターゲット材収容部(2a)に収容された極端紫外光(13)の発光種となる固体のターゲット材(T)と、前記第1の電極(4)と前記第2の電極(2)との間に、真空状態の前記細孔光路(3a+4a)に沿面放電を発生させる電圧パルスを印加するパルス電源(6)と、を備え、沿面放電により、前記ターゲット収容部(2a)の固体のターゲット材(T)をプラズマ化し、極端紫外光(13)を発生させて、前記細孔光路(3a+4a)を通じて外部に導く極端紫外光発生装置(1)。 (もっと読む)


レーザースプレーイオン化(LSI)を用いる質量分析のための系および方法を本明細書中に開示する。LSIは、分析のために大気圧で多荷電イオン(多価イオン)を生成することが可能であり、4000ダルトンを超える分子を含む高分子量分子の分析を可能にする。該分析は、溶媒に基づく分析、または無溶媒分析でありうる。LSIによる無溶媒分析は、表面および/または組織イメージングにおいて有益な改善された空間分解能を可能にする。
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【課題】表面支援レーザ脱離イオン化質量分析法において、測定光を低パワー化し、難揮発性の物質や高分子量の物質の高感度な質量分析を可能にする。
【解決手段】質量分析装置1は、表面支援レーザ脱離イオン化質量分析法に用いられる質量分析用基板11と、質量分析用基板11の表面に接触された試料Sに測定光L1を照射して被分析物質Rを表面から脱離させる光照射手段21と、測定光L1の照射により先端部に近接場光を生じる金属プローブ22と、脱離した被分析物質Riを検出する検出器31と、検出器31の検出結果に基づいて被分析物質Rの質量分析をする分析手段40とを備えている。金属プローブ22の先端部は、測定光L1の照射により生じる近接場光が試料Sの測定光照射部分Pに接するように配置されており、金属プローブ22は、測定光照射部分Pを基点として検出器31と異なる方向に配置されている。 (もっと読む)


【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、オンサイト・リアルタイムでターゲット分子を異性体識別を含め、完全に特定してpptレベルの高感度で測定し、ほぼ同じタイミングで試料中に存在する他のターゲット分子群の質量数分布を把握することが可能な分析装置及び分析方法を提供する。
【解決手段】ターゲット分子群を一括して1光子でイオン化して分析するイオン化分析装置1は、イオン化部20、レーザー照射系30、分析検出部(質量分析部40、イオン検出部50)を具備し、イオン化部20は、レーザー照射系30の紫外レーザー光33及び真空紫外レーザー光34をほぼ同時に照射することにより、ターゲット分子の異性体識別を行いながら、所定のターゲット分子群をイオン化する。そして、イオン化部20によりイオン化されたイオンを、分析検出部で質量分析して検出する。 (もっと読む)


【課題】イオン分布画像の画質を保持しつつ、飛行時間を収束させる。
【解決手段】試料18をパルス的にイオン化するレーザー光源15と、試料18の上流に位置するサンプルプレート11と、試料18の下流に位置し、レーザー光源15が試料18をイオン化した時点において、サンプルプレート11と自身との電位差により、生成されたイオンを試料18の表面から引き出す引き出し電極12と、引き出し電極12よりも下流に位置し、当該引き出し電極12と自身との電位差により、引き出し電極12によって引き出されたイオンを加速する引き込み電極13とを備えている。引き出し電極12は、自身と引き込み電極13との電位差によってイオンが加速されている間に、当該イオンが正イオンの場合には自身の電位を所定量上げ、当該イオンが負イオンの場合には自身の電位を所定量下げる。 (もっと読む)


【課題】衝突室中での減衰を伴うタンデム飛行時間型質量分析計およびその使用のための方法を提供すること。
【解決手段】第一の飛行時間型質量分析計の、衝突減衰を伴う衝突室の使用によって、直交加速を伴う時間飛行型質量分析計を含む、種々のタイプのいずれか1つの第2の質量分析計への有効な結合を提供する。本発明のタンデム質量分析計の一般的な好ましい実施態様は以下を備える:飛行時間型質量分析計に連結されたイオンのパルス発生器;時限式イオンセレクタ;投入されたイオンビームを衝突によって減衰させるため、そして飛行時間型質量分析計および時限式イオンセレクタと連絡してフラグメンテーションを誘起するために、十分に高圧の気体で充填された衝突室;ならびにフラグメントイオンを分析するための第二の質量分析計。 (もっと読む)


【課題】ポリペプチドやタンパク質、糖などの高分子物質を、マトリックス物質と混合することなく質量分析により解析する手段を提供する。
【解決手段】 タンパク質やポリペプチドあるいはこれら含む細胞や生体組織などの被分析物を、例えば環状ポリオレフィンや芳香族ナイロン、ポリカーボネートなどからなる樹脂シートに載置し、前記樹脂シートに載置した被分析物へ赤外光レーザを照射し、被分析物をイオン化させて質量分析により検出する。 (もっと読む)


質量分析計において使用するレンズアセンブリ内のイオン光学構成要素上に蓄積される汚染物質を減少させるために、質量分析法および方法において使用するレンズアセンブリが本明細書に開示される。レンズアセンブリは、イオンレンズおよびヒータを形成するように組み立てられる複数のイオン光学構成要素を備える。複数のイオン光学構成要素は、概して類似の膨張係数を有する。ヒータは、イオン光学構成要素に動作可能に連結される。ヒータは、イオン光学構成要素を加熱し、イオン光学構成要素上の残屑の集積を減少させる。種々の実施形態では、方法は、レンズアセンブリ内でイオン源からイオンを受容することを含む。レンズアセンブリは、イオンレンズを形成するように組み立てられる複数のイオン光学構成要素を含み、複数のイオン光学構成要素は、概して類似の膨張係数を有する。また方法は、イオン光学構成要素を第1の温度に加熱することを備える。
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【課題】試料上の狭い測定領域内の異なる複数の測定点についての質量分析を行って収集されたデータを用い該測定領域におけるマススペクトルを求める場合に、試料表面の凹凸により測定点毎の飛行距離に差異があっても、その影響をなくして高い質量分解能のマススペクトルを求める。
【解決手段】1つの測定点について得られるマススペクトル毎に、内部標準法による質量較正を実行して正確な質量軸に修整する(S3〜S7)。測定点毎に得られる較正済みのマススペクトルの中で、積算により質量分解能を低下させるおそれのある形状不良のマススペクトルがある場合にはそれを排除し(S8、S10)、質量軸が正確で形状が正常であるマススペクトルを積算することにより、測定領域に対するマススペクトルを求め、これを表示画面上に表示する(S9、S13)。 (もっと読む)


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