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Fターム[5C038GG07]の内容

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Fターム[5C038GG07]に分類される特許

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【課題】従来のTOF/TOF装置および方法の利点を生かし、欠点を克服した、新しいTOF/TOF装置および方法を提供する。
【解決手段】らせん軌道型飛行時間型質量分析装置は、らせん軌道の周回ごとに飛行方向およびその垂直な面に対する空間的な収束を満たすと共に、プリカーサイオンを選択するイオンゲートは、前記らせん軌道型飛行時間型質量分析装置のらせん軌道内に置かれ、イオンゲートの後段に扇形電場が配置されている。 (もっと読む)


【課題】レーザ脱離装置、マススペクトロメトリー組立、及び大気圧下で液体試料を直接、質量分析することができる質量分析法を提供する。
【解決手段】ノズルを有するエレクトロスプレーユニット、前記ノズルとレシービングユニットとの間に、前記ノズルで形成されるエレクトロスプレー用溶媒の液滴が帯電し、移動経路に沿ってノズルから前記レシービングユニットに強制的に向かうような電位差を生じさせる電圧供給部、試料にレーザーを照射するために設けられたエレクトロスプレー支援レーザー脱離ユニットであって、レーザー照射時に前記試料に含まれる分析物が脱離し、前記移動経路と交差する飛行経路に沿って飛行することにより前記多価帯電液滴に閉じ込められ、前記移動経路に沿って移動し液滴のサイズがだんだん小さくなり、前記液滴の電荷が前記液滴に閉じ込められた分析物の少なくとも一つに移動してイオン化分析物を形成するレーザー脱離ユニット。 (もっと読む)


【課題】広範囲な分子量の物質を高精度で簡単に質量分析することができる質量分析用基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析に用いる質量分析用の基板であって、基板上に配列したワイヤ状の金属からなるワイヤ状金属層を有する質量分析用基板。基板上に、チューブ状のメソ細孔が実質的に一方向に配向して設けられているメソポーラスシリカ薄膜を形成する工程と、該チューブ状の細孔内に金属を導入する工程と、金属を導入しら後にシリカを除去する工程とを有する質量分析用基板の製造方法。 (もっと読む)


二極性質量分析計は、イオン源と、陰イオン質量分析計と、陽イオン質量分析計とを備え、試料の陰及び陽イオンスペクトル双方を同時に測定する。イオン源は試料が配置される供試面を備え、試料は、レーザ光又はエネルギ粒子流によって励起されると、陽イオン及び陰イオンを提供する。第1抽出電極は、供試面より高い電圧に接続され、試料電極から陰イオンを引きつける。第2抽出電極は、供試面より低い電圧に接続され、試料電極から陽イオンを引きつける。陰及び陽イオンは、それぞれ陰イオン質量分析計及び陽イオン質量分析計によって同時に分析される。
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【課題】軟X線を用いて試料分子をイオン化する際のイオン密度を高めることができるイオン化装置を提供する。
【解決手段】イオン化装置1は、本体部21、軟X線管3、及び電極4,5を備える。本体部21は、所定の軸方向に延びており試料分子をイオン化するイオン化室2と、イオン化室2に試料分子を導入する導入口22と、試料分子イオンを排出する排出口23とを有する。軟X線管3は、電子源31と、電子源31からの電子を受けて軟X線を発生するターゲット部32とを有する。電極4,5はイオン化室2の一端側、他端側にそれぞれ設けられている。軟X線管3の軟X線出射軸方向は、上記所定の軸方向と交差している。ターゲット部32に設けられた電極32bと電極5とは、互いに短絡されている。導入口22の中心軸方向は、軟X線出射軸方向と交差している。 (もっと読む)


【課題】真空槽を大気解放することなく、且つ電気的な安全性を維持して、試料を大気側より真空槽の内部に装着することができる質量分析装置を提供する。
【解決手段】質量分析をするための分析管14aと、分析管14aの一端に接続された試料室フランジ71と、試料室フランジ71に接続された準備室フランジ73と、加速器のバックプレートとして機能する試料ステージ17と、試料ステージ17を搭載し、試料室フランジ71の内部と準備室フランジ73の内部との間を直線移動する絶縁スリーブ32と、試料ステージ17が準備室38に位置するとき、分析管14aと準備室38との真空状態を分離する第1シールリング36と、試料ステージ17が試料室27に位置するとき、分析管14aと大気との真空状態を分離する第2シールリング37と、試料ステージ17に着脱可能な試料ホルダ16とを備える。 (もっと読む)


【課題】 液体クロマトグラフからの溶離液を直接MALDIレーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計で連続的に行う。
【解決手段】 液体クロマトグラフ溶離液とイオン化支援薬剤を中空円錐キャピラー管内臓中空2重管によりサンプルプレート上のメッシュ枠内に同時に滴下する機構により、溶離液を連続的にMALDIレーザー脱離イオン化飛行時間質量分析することを可能とした。また飛行時間質量分析計のレーザー照射部にイオン引き出し・アインシェルパイプレンズ内臓対物レンズを用い、サンプルプレート上にレーザー光を数10μmに絞って照射することが可能で、これにより、溶離液スポット相互間の干渉を防止した。また本発明によれば液体クロマトグラフからの溶離液をほぼ全量分析に使うことができ、従来の液体クロマトグラフ質量分析装置に比べ著しく高感度を向上させる効果がある。 (もっと読む)


【課題】脱離過程がスムーズに起こり、且つエネルギー効率の高い質量分析用基板、及びこの質量分析用基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基体と、該基体上に形成された多孔質膜と、該多孔質膜上に形成された無機材料膜と、から構成されてなる質量分析用基板であって、該無機材料膜は、該基体に対して略垂直に形成された複数の凹部を有し、該凹部の径は、1nm以上1μm未満であることを特徴とする。 (もっと読む)


本発明の教示は、アイソバリック標識および親・娘イオン遷移モニタリング(PDITM)を用いて1つ以上のサンプルにおいて1つ以上のチロキシン化合物を分析するための方法を提供する。種々の実施形態では、この方法は以下の工程を包含する:(a)1つ以上のチロ キシン化合物を、1セットのアイソバリックタグ由来の異なるアイソバリックタグで標識する工程と;(b)このアイソバリックに標識されたチロキシン化合物の各々の少なくとも一部を合わせて、合わされたサンプルを生成する工程と;(c)この合わせたサンプルの少なくとも一部をPDITMに供する工程と; (d)伝送レポーターイオンの1つ以上のイオンシグナルを測定する工程と;(e)標準化合物の1つ以上の測定されたイオンシグナルとレポーターイオンの測定されたイオンシグナルとの比較に少なくとも基づくアイソバリックに標識されたチロキシン化合物の1つ以上の濃度を決定する工程。 (もっと読む)


ロッドセットを有する質量分析計を動作する方法が提供される。該ロッドセットは、第1端部と、該第1端部の反対側の第2端部と、該第1端部および該第2端部との間に延在する長手方向軸とを有する。該方法は、a)ロッドセットにイオンを導入するステップと、b)該ロッドセット内のイオンのうちの少なくとも一部を、i)第1バリア場を生成すること、ii)第2バリア場を生成すること、およびiii)集合場を提供することにより捕捉するステップと、c)上記イオンにおける第1群のイオンの第1の選択された質量対電荷比を選択するステップと、d)該第1群のイオンに対する集合場の選択された特性の第1励起レベルを決定するステップと、e)該第1群のイオンを共鳴励起して、上記集合場の選択された特性を上記第1励起レベルまで調整するステップと、f)励起時間間隔の間、上記集合場の選択された特性を上記第1励起レベルに維持するステップとを含む。
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レーザー脱離によって高真空状態においてトラップの外部で形成されるイオンの過剰な内部エネルギーを抑制するために、四重極イオントラップ内でガスをパルス化する方法が開示される。パルス化ガスを導入する場合、トラップが通常的に動作される圧力よりも大きい圧力が数msにわたって実現され得る。これらの高圧過渡現象下で、並進運動の冷却の過程が加速され、イオンは解離が起こる前に熱化衝突を行なう。制御されないフラグメンテーション(熱化)と増強感度の最小化が約1mTorrの閾値を超える圧力で観察される。
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【課題】本発明は飛行時間型質量分析計に関し、加速電圧を高くしてイオンをより効率的に引き出すことを目的としている。
【解決手段】イオン源から出射されたイオンがイオン加速部で加速され、反射電場を経て検出器3で検出されるように構成された飛行時間型質量分析計において、加速部開始位置と加速部終了位置の電位が接地電位をはさみ、正負両極の電源により供給されると共に、前記反射電場の電位が入射側と出射側で異なるように構成される。このように構成することにより加速電圧を高くすることができ、イオンをより効率的に引き出すことができる。 (もっと読む)


【課題】質量分析計による検体からの検体イオン及び中性分子の採取を誘導し、それによって所定の面積又は容積から採取し、かつ化学的予備段階の必要なく固体又は液体を採取する装置を提供する。
【解決手段】本発明は、質量分析計による表面から検体イオン及び中性分子の採取を制限する装置であり、それによって所定の面積又は容積から採取する。本発明の様々な実施形態では、大気圧で又はその近くで脱離イオン化から所定の空間解像度で形成されたイオンを採取するのに、管が用いられる。本発明の一実施形態では、静電界は、分析されている試料の表面の近傍に位置決めされた個々の管又は複数の管のいずれかにイオンを誘導するのに用いられる。本発明の一実施形態では、分析のためにイオン及び中性分子を分光計に引き込むために、広直径試料採取管を真空注入口と共に用いることができる。本発明の一実施形態では、静電界と共に広直径試料採取管は、イオン収集の効率を改善する。 (もっと読む)


【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、被測定ガス中の特定注目分子をオンサイトで連続的にかつ高感度で定量分析できるガス分析用可搬型Jet−REMPI装置を提供する。
【解決手段】ガス導入系およびイオン光学系を一体型の構造とし、単一真空排気系を備えて差動排気するとともに、イオン化室に、被測定ガスを飛行時間型質量分析計の方向に噴射するためのオリフィスノズルを内包し、かつ先端が突起状である出鼻型の対向電極と、イオンを通過させるためのピンホールを有する仕切板を内包し、かつ先端が突起状である出鼻型の引き出し電極を有し、かつ前記引き出し電極の先端から前記仕切板までの範囲の電極部材の一部または全てをメッシュ構造とするガス分析用可搬型Jet−REMPI装置。 (もっと読む)


【課題】質量分析計による検体からの検体イオン及び中性分子の採取を誘導し、それによって所定の面積又は容積から採取し、かつ化学的予備段階の必要なく固体又は液体を採取する装置を提供する。
【解決手段】本発明は、質量分析計による表面から検体イオン及び中性分子の採取を制限する装置であり、それによって所定の面積又は容積から採取する。本発明の様々な実施形態では、大気圧で又はその近くで脱離イオン化から所定の空間解像度で形成されたイオンを採取するのに、管が用いられる。本発明の一実施形態では、静電界は、分析されている試料の表面の近傍に位置決めされた個々の管又は複数の管のいずれかにイオンを誘導するのに用いられる。本発明の一実施形態では、分析のためにイオン及び中性分子を分光計に引き込むために、広直径試料採取管を真空注入口と共に用いることができる。本発明の一実施形態では、静電界と共に広直径試料採取管は、イオン収集の効率を改善する。 (もっと読む)


【課題】本発明はらせん軌道型飛行時間型質量分析計に関し、らせん軌道型TOFMSにリフレクトロンを組み合わせることにより、中間収束点の位置を自由な位置に設定することができるらせん軌道型飛行時間型質量分析計を提供することを目的としている。
【解決手段】サンプルをイオン化するイオン源30と、イオンをパルス的に加速するための加速手段と、複数の扇形電場31〜34で構成され、イオンをらせん軌道で飛行させる分析部と、反射電場35と、イオンを検出する検出器36とで構成されるらせん軌道型飛行時間型質量分析計において、らせん軌道周回部で、空間収束条件及び時間収束条件を完全に満たすことのできるイオン光学系を設けると共に、イオン加速法による中間収束点がらせん軌道の周回上にないように構成される。 (もっと読む)


【課題】装置の小型化を実現し、たとえ試料中に微少量しか存在していない測定対象ガスであっても、感度良く分析することができるようにすることである。
【解決手段】試料をイオン化するためのイオン化室3と、前記試料を前記イオン化室3内に導入する試料導入部4と、前記イオン化室3内に設けられ、前記試料導入部4により導入された試料中から測定対象ガスSを選択的に濃縮する選択濃縮手段5と、前記選択濃縮手段5により濃縮された測定対象ガスSに紫外光Lを照射して、その測定対象ガスSをイオン化する光照射部2と、前記光照射部2によってイオン化された測定対象ガスSの質量を分析する質量分析部7と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】固体または液体中に含有または付着した高沸点物質を迅速に、かつ選択性、感度および時間応答性に優れた検出が可能となる高沸点物質の定量分析方法を提供する。
【解決手段】試料に含有または付着した高沸点物質を真空チャンバ内に導入し、該高沸点物質をレーザ光により選択的にイオン化した後、質量分析するJet−REMPI法を用いた高沸点物質の定量分析方法において、二酸化炭素の超臨界流体を用いて前記試料に含有または付着した高沸点の目的物質を抽出した後、該目的物質を含む超臨界流体をマイクロピンホールノズルを用いて前記真空チャンバ内に連続的に導入することを特徴とするJet−REMPI法を用いた高沸点物質の定量分析方法。 (もっと読む)


【課題】簡単な構造でありながら、イオン化するためのレーザを粒子に確実に照射できるようにすること及びそのレーザの誤射を防止する。
【解決手段】測定対象である粒子を所定方向に移動させる粒子移動手段2と、粒子Sに対し、検出光Lを照射する光源31と、その検出光Lの照射によって生じる散乱光LSを検出する光検出器32と、その光検出器32から出力された光強度信号を受信し、その光強度信号の値に基づいて粒子Sの粒径を算出する粒径算出部61と、検出光Lが照射された粒子Sに対し、その移動方向と対向する方向からエネルギ線ELを照射して、その粒子Sをイオン化するイオン化部4と、イオン化された粒子の質量分析を行う質量分析部5と、を備え、前記質量分析部5が、前記光検出器32からの光強度信号を受け付け、その信号の時間波形をパラメータとして、エネルギ線ELの照射タイミングを決定する照射タイミング決定部63を備えている。 (もっと読む)


【課題】高い空間分解能での二次元質量分析イメージングが可能なサンプルの調製方法を提供する。
【解決手段】サンプルプレート1においては、親水性膜層6の上に疎水性膜層7が形成され、疎水性膜層7に微小径の凹部3が形成されてその底面に親水性膜層6が露出している。このサンプルプレート1の表面にマトリックスが塗布されると、マトリックス8は疎水性膜層7上でははじかれて親水性膜層6上の凹部3に凝集する。これにより、ごく微量のマトリックスをアレイ状に高い密度で配列させることができる。このサンプルプレート1表面に試料を押し付けて剥がすと、試料が密着した範囲で試料表面の分析対象物質がその位置情報を保持したまま凹部3内のマトリックス8に取り込まれるから、これを乾燥させることで分析対象物質を含む微細な結晶粒が形成される。 (もっと読む)


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