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Fターム[5C038GG07]の内容

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Fターム[5C038GG07]に分類される特許

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【課題】 分子量が大きな成分の構造解析など目的とした質量分析を行う際に、煩雑な手間を省きながら分析精度を高める。
【解決手段】 ESIのイオン化プローブ2により試料液滴を噴霧してイオン化を行うイオン化室1内に露出してMALDI用のサンプルプレート3を設置し、該サンプルプレート3上の試料S2にレーザ光を照射するためのレーザ光源5及びミラー6を設ける。ESI、MALDIのいずれで生成されたイオンもイオン化室1と第1中間真空室9との差圧によって脱溶媒管8に吸引され後段に送られる。制御部20は例えば短い周期でESIイオン源とMALDIイオン源とを交互に動作させることにより、同一の検体に由来する試料液S1と試料S2から、前者では主として多価イオンを、後者では主として1価イオンを生成して質量分析することができる。それによって、ほぼ同一の分析環境条件の下で幅広い質量数範囲のマススペクトルを作成することができる。 (もっと読む)


【課題】 サンプルプレート1上に塗布される試料aにレーザー光を照射してイオン化し、これを電極2により形成した電場勾配で引き出して自由飛行させた後、イオン検出器(マイクロチャンネルプレート)dで検出するタイプの飛行時間型質量分析装置に関する。電極2と検出器dとの距離が装置を大型化させていたが、電極2と検出器dとを近づけると検出器dの微小領域にイオンが集中入射してしまい、放電破壊などを引き起こすので小型化ができなかった。
【解決手段】 本願発明に係る飛行時間型質量分析装置では、サンプルプレート1または電極2の少なくとも一方が、分析室に向けて凸形状を有する構成とした。イオンが分析室内を飛行する際、イオンの飛行方向に垂直な方向に拡散しつつ飛行させることができ、したがって電極2と検出器dとの距離を短くした場合でもイオンが検出器の一部に集中入射することを防止し、分析装置全体の小型化を実現することができる。 (もっと読む)


マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源又はイオンイメージングデバイスであって、レーザ(1)及びズームレンズ(3、4、5)を備えるものを開示する。ズームレンズ(3、4、5)は、イオン源又はイオンイメージングデバイスの標的領域、試料表面又は標的プレート(13)に方向付けられたレーザビームの倍率を変動できるように配置される。 (もっと読む)


【課題】イオン供給源10、一次飛行時間型手段20、80、フラグメントイオンを生成するための衝突セル40及び二次飛行時間型分析計50を包含する。タンデム質量分析装置の提供。
【解決手段】二次飛行時間型分析計は、装置の光軸に沿って又はそれに対してある角度で二次場を生じるよう配列されるイオン鏡51、52を包含する。一次飛行時間型分析計は、トロイド状又は円筒状静電分析計70の逐次S形立体配置を包含し、2つの静電レンズ80及び96をイオン鏡のどちらかの側に包含し、又は静電レンズ80を包含し得る。時間的収束と共在する空間的収束は、高分解能を生じるために二次場鏡にとっては不可欠な要件である。 (もっと読む)


本発明は、質量分析(MS)において、希少な安定同位元素または放射性同位元素を、それらの原子または分子の同重体から分離する方法および機器に関する。本発明において、原子同重体を取り除くためにとられる手法は、RFイオンガイド内で、イオン分子反応または近共鳴電子移動など低エネルギー反応と組み合わせて、イオンを減速させるための高伝達率装置を利用する。同重体は、低エネルギーの与圧されたRFイオンガイド内でのアニオンとガス状ターゲットの間の電子移動または他の反応により、選択的に激減させられる。エネルギーは、対象となるイオンの反応を防止するような方法で制御されるが、不要な同重体干渉物との反応を誘起する。この技法は、必要な端子電圧を大幅に低減させることができる加速器質量分析(AMS)に特に関係する。その効果は、AMS設置のサイズおよび費用を低減できることである。
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【課題】 3次元微細領域元素分析方法及び3次元微細領域元素分析装置に関し、試料に電界蒸発を起こすのに必要な高電圧パルスを印加することなく、一層ずつ制御された状態で、且つ、構成元素の蒸発電界の違いに影響されずに分析を行う。
【解決手段】 被分析試料1に飽和吸着し、且つ、エネルギービーム5の照射によってエッチングが進行するガス種3を被分析試料1に供給したのち、エネルギービーム5を照射して前記被分析試料1のガス種3の吸着した部分のみを脱離させ、脱離した被分析試料1由来の粒子6の質量分析を行なうことによって被分析試料1表面の元素分析を行なう。 (もっと読む)


質量分析計のイオントラップ(104)は、RFトラップ電圧をイオントラップ(104)の複数の電極(102、106、110)の少なくとも1つに印加して、イオントラップ(104)内のイオンの少なくとも一部をトラップするためのRFトラップ電圧源(112)と、共鳴励起電圧パルスを電極(102、106、110)に印加して、選択されたイオンの組の少なくとも一部を衝突させ、イオンフラグメントに破壊されるようにするための共鳴励起電圧源(114)と、共鳴励起電圧パルスの終了に続く所定の遅延期間の後で、RFトラップ電圧を第2の振幅に減少させて、後の分析のために、低質量イオンフラグメントをイオントラップ(104)内に保持するようにRFトラップ電圧源(112)を制御するためのコンピュータ(116)とを含む。
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衝突またはフラグメンテーションセル(5)の上流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータ(3)を含む質量分析計が開示される。イオンは、イオン移動度分光計またはセパレータ(3)内でそのイオン移動度にしたがって分離される。衝突またはフラグメンテーションセル(5)に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ(3)に存在するイオンの運動エネルギーは時間とともに実質的に直線的に増加される。
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【課題】 粒子状物質の内部に含まれる成分の分析を良好に行うことができる微量成分分析装置及び微量成分分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 微量成分分析装置1を、チャンバー2内に、粒子状物質のイオン化が行われるイオン化部3が設けられた構成とする。チャンバー2の一端に、図示せぬ粒子状物質供給源に接続される供給路11を接続し、この供給路11上に、前室12を設ける。前室12の内部を、粒子状物質へのレーザー光の照射が行われる成分抽出部13とする。イオン化部3にパルス状のレーザー光を供給するイオン化用レーザー発振装置16と、成分抽出部13にパルス状のレーザー光を供給する成分引き出し用レーザー発振装置17とを設ける。 (もっと読む)


【課題】 キャリヤガスに含まれる極微量の物質を効率よく同定・定量できる超音速ジェット多光子共鳴イオン化による分析装置を提供する。
【解決手段】 レーザーイオン化質量分析装置は、サンプル分子を含んだキャリヤガスを真空室17内へパルス的に噴射する12と、噴射されたキャリヤガス中のサンプル分子を選択的に光反応させるためのレーザー光照射システムと、光反応によって生成されたサンプル分子イオンを引き出す電場を形成するリペラー電極18及び引き出し電極19と、引き出されたサンプル分子イオンを質量分析する質量分析装置26とを有する。レーザー光照射システムは、パルスガス噴射装置12から噴射されて真空室17を並進するパルスガスが、フラット部を有するフラットトップ台形型圧力分布からフラット部を有しない三角型圧力分布に遷移する位置付近において、レーザー光をサンプル分子へ照射するように設定される。
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【課題】特殊電極の表面から放出される固体状、液体状、ガス状の分析物を分析するデバイスを提供する。
【解決手段】圧力、レーザ放射、および電界強度を適当に調整することにより、質量分析法および/または電子常磁性共鳴分光法により形成されたイオンまたはラジカル・イオンを検出し、イオン源を交換しないで、同じイオン容量で、ESI、FI、FD、LIFDIまたはMALDI、またはこれらのハイブリッドにより分析用物質をソフト・イオン化するための技術を提供する。 (もっと読む)


イオン検出器11を含み、イオンビームを質量分散による2の分離したイオンビームの方向に分割するために反射電極13を用いる、磁場型質量分析器を開示する。前記2のイオンビームは2つの検出器上に向かい、それらは、好ましくは、2つのまたはそれよりも多いコンバージョンダイノード15a、15b、および、前記コンバージョンダイノード15a、15bにより発生させられた電子を検出するための、2つのまたはそれよりも多い対応するマイクロチャンネルプレート検出器14a、14bを含む。前記2つの検出器からのシグナルが実質的に異なる場合、前記イオンビームは妨害イオンを含むと決定することができる。反対に、前記2つの検出器からのシグナルが実質的に等しい場合、前記イオンビームは妨害イオンを実質的に含まないと決定することができる。
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例えば質量分析計における、イオン光学エレメントを動的にバイアスするためのデバイスが提供される。該デバイスは電圧ソース、電圧ソースと結合される第1のイオン光学エレメント、第1のイオン光学エレメントと抵抗結合される第2のイオン光学エレメント、および第2のイオン光学エレメントと容量結合されるパルス発生器を含む。パルス発生器は第2のイオン光学エレメントに一連のパルスを加えるように構成される。定常状態オペレーションにおいて、第1のイオン光学エレメントと第2のイオン光学エレメントとの間に動的バイアス電圧が生成される。動的バイアス電圧は、加えられるパルスのパルス幅、パルス振幅、およびパルス繰り返し速度などの、加えられるパルスの特性を制御することによって、制御可能である。
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【課題】 レーザーイオン化質量分析装置の分析感度を高める。
【解決手段】 レーザーイオン化質量分析装置は、測定対象ガス分子のビーム7を生成するビーム生成手段3、4と、ガス分子のビームにレーザー光8を照射して分子をイオン化するイオン化手段と、イオン化したガス分子を引き出すイオン引き出し電極9、10と、イオン引き出し電極9、10によって引き出されたガス分子が通過するイオンレンズ11、12と、イオンレンズ11、12を通過したガス分子が入射して通過する四重極電極14と、四重極電極14を通過したガス分子のイオン信号を時間分解計測により検出する検出器15、20と、を有する。 (もっと読む)


試料に含まれる検体の質量を正確に測定し、機器間でおよび単一の機器で経時的に一貫した方法で試料に存在する検体の量も測定する、レーザー脱離/イオン化飛行時間型質量分析(「LDI−TOF−MS」)装置、および方法。特に、本発明は、1)レーザーパルスのエネルギーおよび照射される試料の領域(フルエンス)が、検体の脱離およびイオン化のための一貫した状況を生成するために、一貫性がありかつ制御され、2)質量分析器が再現可能な方法で機能し、そして3)検出システムが、異なる質量のイオンの到達を一貫して示す信号を生成する、LDI―TOF―MS装置および方法を提供する。
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本発明は、タンデム質量分析を実施する装置および方法を提供する。本発明のタンデム質量分析計(400)は、第1質量分析器(420)および第2質量分析器(430)を備える。少なくとも1つの質量分析器は、飛行時間型質量分析器であり、少なくとも1つの電気セクタ(250、350、450、550)を備える。1つの局面において、本発明のタンデム質量分析計は、以下を備える:イオン供給源;第1質量分析器;第2質量分析器;およびイオン検出器。このイオン供給源は、第1質量分析器とイオン連絡しており;この第1質量分析器は、第2質量分析器とイオン連絡しており;この第2質量分析器は、イオン検出器とイオン連絡しており;そして質量分析器のうちの少なくとも1つは、少なくとも1つの電気セクタを備える飛行時間型質量分析器である。
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レーザ原子プローブ(100)には、試料台および検出器(106)間に対極が配置され、対極(108)の開口(110)を通して試料(104)に照射を行うようビーム(122)が位置合わせされたレーザ(116)が設けられる。そして検出器および試料台(102)は、試料のイオン化のためにパルス駆動される。イオン出発時間および到着時間を定めるのにレーザパルスのタイミングを用いることで、イオンの質量/電荷比の決定が可能となり、従ってその同定が可能となる。レーザが自動的に対象エリアに向けられるようにした自動化位置合わせ方法が記載される。
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本発明は、コンパクトかつ広範なイオン質量の範囲にわたって高度な質量分解能を有する飛行時間型質量分析器、および、それを設計する方法を提供する。本飛行時間型質量分析器において、本設計方法は、所定の連続関数を用いて時間依存性のある抽出ポテンシャルの強度を低減してイオンのエネルギ分布を拡大させ、質量の範囲にわたる高質量分解能を実現し、他方、加速領域からイオン・ミラーにおいて適用されるポテンシャルの時間依存性およびその大きさ、ならびに、時間依存性のある抽出ポテンシャルを変更することはなく、質量分析器の物理的寸法を変化させることもなく、被分析イオンの高分解能分析を実現する。本設計方法により、全長46センチメートル未満の飛行時間型質量分析器において質量の大きさのオーダーでおよそ5オーダーにわたり、およそ10,000もしくはそれ以上の質量分解能が実現される。
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【解決手段】液体試料中の低濃度の検体を特定する方法及び装置を提供する。液体試料は、連続流動膜入口システムを介して導入される。膜を透過する検体は、光イオン化飛行時間型質量分析によって分析される。膜を透過しない液体試料中に残る検体は、液体試料及び他の検体を小滴として光イオン化領域へ導入する毛細管入口へ導かれる。膜上に吸収又は吸着されて残る検体は、熱を加えることで、膜を通過させる。検体は、共鳴多光子イオン化(REMPI)又は単光子イオン化(SPI)によって分析してよく、その両方を装置で提供し、代替ソースとして選択可能である。 (もっと読む)


本発明は、化学分析又は生物分析用の基板としてカーボンナノチューブを利用することに関する。本発明はさらにこの材料を、化学的又は生物学的試料の分離、付着及び検出に利用することに関する。カーボンナノチューブは、固定基板の表面材料として、又は検査液中での利用が予想される。用途は、試料の吸着-イオン化、より詳細には質量分析を含む過程を有するが、それに限定されるわけではない。

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