【課題】m/z範囲が限定された複数の測定モードが用意された質量分析装置において、インソース分解やクーリング時のイオン分解を利用した擬似ＭＳ³測定を実施する測定対象イオンのm/z範囲を広げることを可能とする。
【解決手段】全m/z範囲をカバーするように設定した複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対するＭＳ¹スペクトルを取得するとともに、同試料に対しＭＳ²スペクトルを取得する（Ｓ１、Ｓ２）。そして、ＭＳ²スペクトルに存在するイオンピークと同m/zのピークが全ＭＳ1スペクトルにあるかどうかを判定し、同一m/zのイオンを擬似ＭＳ³測定対象イオンとして抽出する（Ｓ３）。全ＭＳ¹スペクトルの中で擬似ＭＳ³測定対象イオンのピーク強度が最大となる測定モードと該イオンのm/zを測定条件として擬似ＭＳ³測定を実施し、擬似ＭＳ³スペクトルを取得する（Ｓ４、Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】 顕微質量分析装置は試料を観察し、測定部位を特定し、その部位にレーザー光を微小に絞り照射して顕微レーザー質量分析を行なうもので、レーザー光を分析対象である測定部位周囲にレーザー光が広がって照射しないようにして、測定部位の情報だけを的確に得る顕微レーザー質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料観察手段とレーザー光照射手段を同じ顕微鏡対物レンズを用い観察した部位にレーザー光を照射して測定するために、焦点距離の短い対物レンズにより、レーザー光を微小にしぼり、その対物レンズのセンター部に孔を開け、金属細管からなる微細イオン輸送管を挿入したイオン輸送管内蔵対物レンズを用いて微小部の顕微ＭＡＬＤＩの測定を可能とする。また、イオン輸送管は高分子イオンの通過率を向上させるために加熱機能を備えている。 （もっと読む）

【課題】試料に含まれる物質を網羅的に同定する際にＭＳ²分析する分画数を抑えることで分析時間を短縮しながら同定の正確性を確保する。
【解決手段】全ての分画試料をＭＳ¹分析した結果に基づき作成した、保持時間、m/z、信号強度を３軸とする３次元グラフに対し（S1-S2）、ωよりも大きな閾値θ_Nで強度を判定してピーク検出を行い、検出されたピークのピークトップが存在する分画試料をＭＳ²分析対象として選択する（S3-S5）。次に、選択された分画試料にピークトップが存在し、強度が閾値ω以上であるピークを検出し、検出されたピークをプリカーサイオン候補として挙げる（S6）。そして、選択された分画試料の含有物質が同定されるまでプリカーサイオン候補についてのＭＳ²分析を順次実行する（S7-S9,S14-S15）。１つの分画試料に対し多くのプリカーサイオン候補が挙げられるので、分画試料の含有物質の同定確率が高まる。 （もっと読む）

【課題】 サンプルを効率的にイオン化し、かつキャリーオーバーの少ない質量分析装置を実現する。
【解決手段】 サンプルを保持した試料容器の内部を減圧することにより、ヘッドスペースガス中におけるサンプル密度を上昇させ、サンプルを効率的にイオン化する。 （もっと読む）

【課題】従来の遅延引出し法ではイオンを加速する際にm/zの相違が考慮されないため、適切なエネルギ収束が達成されるm/z範囲が狭く、分解能が改善されるm/z範囲も狭い。
【解決手段】試料Ｓにレーザ光を照射してイオンを発生させる時点で、試料プレート１から引出し電極３に向けて緩やかに下がる電位勾配をもつ引出し電場を形成しておく（Ｕ）。この電場の作用により、イオンは引出し領域中でm/zに応じて略分離され、m/zが大きなイオンは試料Ｓ近くに残る。遅延時間ｔ経過後に試料プレート１及び補助電極２への印加電圧を上げて折れ線様の電位勾配Ｒを有する加速電場を形成する。この電場は理想的な電位勾配曲線Ｑに近いため、m/z毎に適切なポテンシャルエネルギ変化をイオンに与えることができ、幅広いm/zに亘ってエネルギ収束を適切に行い分解能を改善することができる。 （もっと読む）

【課題】Ｓ／Ｎ比と迅速性の向上を図った質量分析装置を提供する。
【解決手段】パルス幅がピコ秒またはフェムト秒の紫外線領域の超短パルスレーザ光を出力する超短パルスレーザ装置８と、真空排気された真空容器２と、この真空容器内に配設されて、前記超短パルスレーザ光を複数回往復可能に反射させるように複数の凹面鏡をそれぞれ設けた一対の多面鏡を対向配置し、これら多面鏡の焦点に、前記超短パルスレーザ光を複数回通す多面鏡システム４と、多面鏡システムの焦点に向けてサンプルを含有した高温のサンプルガスを間欠的に噴射する高温パルスバルブ３と、多面鏡システムによりイオン化されたサンプルの質量を測定する飛行時間型質量分析器７と、真空容器内でイオン化されたイオンを質量分析器に導入させる電場を形成する電極５ａ，５ｂと、を具備している。 （もっと読む）

【課題】紫外光を容易に真空紫外光から分離除去する真空紫外光発生及び真空紫外光／紫外光波長分離装置並びに方法を提供する。
【解決手段】真空紫外光発生部２は、紫外レーザー光ｒを受光しフォーカスする第１のレンズ１１と、フォーカスされた紫外レーザー光ｒを波長変換し真空紫外レーザー光ｒ１を発生するガスセル５と、発生した真空紫外レーザー光ｒ１をフォーカスする第２のレンズ１２と、を備え、紫外光分離部３は、フォーカスされた真空紫外レーザー光ｒ１を通過させる第１のアパーチャー２１と、第１のアパーチャー２１を通過した真空紫外レーザー光ｒ１を受光しフォーカスする第３のレンズ１３と、第３のレンズ１３でフォーカスされた真空紫外レーザー光ｒ１を通過させる第２のアパーチャー２２と、を備え、紫外レーザー光ｒ２の混合比を減少させ真空紫外レーザー光ｒ１を取り出す。 （もっと読む）

【課題】ユーザーの手間を軽減しながら、指定されたイオンの質量電荷比に応じた質の良いマススペクトルを得ることができる飛行時間質量分析装置及び飛行時間質量分析方法を提供すること。
【解決手段】記憶部５０は、既知物質の質量電荷比の値と、イオン源１０の遅延引き出し法に関連する遅延引き出しパラメーターを含む所与の調整パラメーターの値との対応関係を定義する調整テーブル５６を記憶する。パラメーター調整部４５は、調整テーブル５６に基づいて、指定された質量電荷比の値に対応付けられる調整パラメーターの値を算出する。パラメーター設定部４１は、パラメーター調整部４５が算出した調整パラメーターの値に基づいて、イオン源１０の遅延引き出しパラメーターを設定する。飛行時間計測部４２は、遅延引き出しパラメーターが設定されたイオン源１０で発生したイオンが検出器３０に到達するまでの飛行時間を計測する。 （もっと読む）

【課題】ＭＡＬＤＩ用サンプルの中で測定に最適であるスイートスポットを効率的に探索することにより、スループットの向上を図るとともにサンプル消費量を減らす。
【解決手段】サンプルプレート上に形成されているウェル１ａの中心点Ｏを起点Ｐとして、該起点Ｐから外方に渦巻き状の走査軌跡Ｑを描くように所定間隔で測定点を設定し、サンプルＳ上の各測定点に対する予備的な測定を実行してピーク強度、Ｓ／Ｎ等の指標値を取得する。指標値が規定値を下回る状態が所定回数続いたら、レーザ光照射がサンプルＳを外れたと判断し測定を打ち切る。そして、最大の指標値を与える測定点がスイートスポットであると判断し、該測定点に対し複数回の測定を実行して当該サンプルＳについてのマススペクトルを取得する。これにより、サンプルＳを外れた無駄な予備測定の実行を減らしながら的確にスイートスポットを見い出すことができる。 （もっと読む）

【課題】ＭＳ²スペクトル上で観測されるイオンピークに目的化合物に由来しないピークが混じることを防止し、データベース検索による化合物同定の信頼性を向上させる。
【解決手段】ペプチドに対し質量分析を行って得られたマススペクトル上で、所定の選択条件に照らしてプリカーサイオンを選択しＭＳ²分析を実行する（Ｓ１〜Ｓ３）。取得されたＭＳ²スペクトル上でプリカーサイオンピークのm/z（Ｍp）とそれより５７[Da]低いm/z（Ｍp-５７）との範囲内にＭp−１７又はＭp−１８以外のイオンピークが存在したならば（Ｓ５、Ｓ６）、同位体ピーククラスタの一部が外れるように選択条件を変更した上でプリカーサイオンの選択を行い、再びＭＳ²分析を実行する（Ｓ８、Ｓ２−Ｓ３）。これにより、同位体ピーククラスタに重畳している夾雑ピークをプリカーサイオンから除外し、純度の高いＭＳ²スペクトルを取得することができる。 （もっと読む）

【課題】 安全かつ長寿命であるイオン源を提供する。
【解決手段】 イオン源１は、円形薄板又は芯線からなるアノード電極２と、その一端３ａと他端３ｂとの間に円環形状又は円筒形状に形成された本体部３ｃを有し、該本体部３ｃの中心軸上にアノード電極２を位置させるカソード電極３と、該カソード電極３の一端と他端との間に電源供給して加熱する加熱電源４と、アノード電極２の電位がカソード電極３の電位より高くなるように、アノード電極２とカソード電極３との間に電圧を印加する主電源５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】装置条件を変更した場合でも、常に最適なイオンゲートの時間設定が可能なタンデム型飛行時間型質量分析法および装置を提供する。
【解決手段】所望のプリカーサイオンをイオンゲートで選択し、開裂させてプロダクトイオンを生成させて測定する際に、予め質量電荷比の異なる複数の基準物質を用いて、該基準物質の質量電荷比に対する遅延引き出し条件、およびイオンゲートのオープン時間の最適値を測定して記憶させたテーブルを用意しておき、所望のプリカーサイオンの質量電荷比について質量分解能が最適となるような遅延引き出し条件およびイオンゲートのオープン時間を前記テーブルの記憶値に基づいて求め、求めた前記遅延引き出し条件と前記イオンゲートのオープン時間の最適値をタンデム型飛行時間型質量分析装置に設定するようにした。 （もっと読む）

【課題】従来のＦＡＩＭ装置に比べて、選択イオンの流れをより高速、かつ高精度で制御して、サンプルのスペクトルを作成するＦＡＩＭフィルタおよび検出システムを提供する。
【解決手段】検出システム用の超小型非対称電界イオン移動度フィルタ（２４）であって、サンプル入口（１６）および出口の間において基板間で流路を画定する、間隔を空けた1対の基板と、流路内に配置され、各電極が各基板にそれぞれ結合された間隔を空けた１対のフィルタ電極（２０，２２）を有するイオン・フィルタと、イオン・フィルタ電極の両端にバイアス電圧および非対称の周期的電圧を印加して、フィルタを通過するイオン流路を制御する電子コントローラ（３０）とを備える。 （もっと読む）

【課題】レーザー脱離イオン化質量分析法において、測定試料を壊さずに脱離させてイオン化する。
【解決手段】有機分子の自己組織化単分子膜を表面に有する金属ナノ微粒子を分散あるいは２次元最密充填固着した基板の表面上に、測定試料を付着させる。そこに、金属ナノ微粒子に固有の波長のレーザー光を照射する。そして、金属ナノ微粒子に表面プラズモンを励起させて、有機分子を金属原子との化合物として金属ナノ微粒子の表面から脱離させる。この離脱のエネルギーにより、測定試料を脱離イオン化する。 （もっと読む）

【課題】SALDI-MSに有用な質量分析用基板であって、イオン化剤として有機多価カルボン酸を添加しなくてもMALDI-MSに匹敵するイオン化効率を達成でき、しかもMALDI-MSに匹敵するソフトイオン化を達成できる質量分析用基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】粗面化された半導体基板上に樹枝状白金ナノ構造体が形成されている質量分析用基板であって、前記樹枝状白金ナノ構造体は、前記粗面化された半導体基板を白金溶液に浸漬することにより自己成長により形成されることを特徴とする質量分析用基板。 （もっと読む）

【課題】弱い化学結合を分子内にもつ分子を含む生体組織や薬剤などを測定対象物とする場合であっても、質量分析の分解能やＳ／Ｎ比を高めて、正確な二次元画像を得ることができる二次元イメージング装置を提供すること。
【解決手段】レーザ光源１１と、測定対象物を含む試料９０が載置される試料台１３を備える。レーザ光源１１からの赤外レーザ光を試料９０へ導く光学系３０を備える。光学系３０と試料台１３とを相対移動させる移動機構を備える。赤外レーザ光を受けて試料９０が発生したイオンを、イオンの質量電荷比に応じて分離する質量分析部１４を備える。イオンを検出するイオン検出器１７を備える。試料９０のマトリックスが付着された複数の部位について部位毎に質量スペクトルを得て、各部位の座標位置と対応づけて記憶する。測定対象物に含まれる特定分子の質量を表すピークの強度に応じた濃度マップを作成する。 （もっと読む）

【課題】 外部電源が無い場所や移動しながらでも、環境負荷ガスを高感度に検出する。
【解決手段】 バッテリーボックス２０と環境測定装置３０をワンボックスカー１０に載せる。環境測定装置３０は、一つのフレームにより車内に固定される。環境測定装置３０は、バッテリー２１又は外部電源からの電力の供給を受けて動作する。環境測定装置３０では、レーザー発生部３１で発生した紫外光３５を真空紫外光発生部３３で真空紫外光３７に変換してイオン化部３８に導入する。イオン化部３８には大気ガス導入部５０で取り込まれた測定対象ガスも導入する。イオン化部３８に導入された測定対象ガスは真空紫外光３７によりイオン化され、飛行時間型質量分析部３４でイオン７３の質量スペクトルを測定する。 （もっと読む）

【課題】基板上の試料分子の質量に関する情報を取得するための質量分析装置において、試料成分やマトリックスより産出されるプロトンを無駄なく捕獲し、該プロトンを飛翔中の中性試料分子に有効に付着させることにより、試料分子の検出感度を向上させる質量分析装置を提供すること。
【解決手段】一次ビームの軌跡を一次ビーム軸とし、該一次ビーム軸と基板上の試料表面が交わる点を中心点とし、中心点を通り基板法線方向に延びる軸を中心軸としたときに、中心軸に対し該一次ビーム軸と線対称をなす軸に対して３０度の角度で円錐状に広がる領域内に電極を配置する。この電極を使い発生させた電界により、一次ビームの照射により飛翔するプロトンを捕獲し、該プロトンを同様に飛翔する中性試料分子に付着させる。 （もっと読む）

【課題】高分子材料を高感度に分析可能であり、且つ、質量スペクトルと高分子の種類の選択性も高いレーザイオン化質量分析装置を提供する。
【解決手段】高分子材料をイオン化してその質量を分析するレーザイオン化質量分析装置は、試料台１０とイオンビーム源２０とレーザ光源３０と分析部４０とからなる。試料台１０は、高分子材料が配置される。イオンビーム源２０は、試料台に配置される高分子材料にイオンビームを照射する。レーザ光源３０は、試料台の表面に平行にレーザ光を照射するものであり、イオンビーム源からのイオンビームにより試料台に配置される高分子材料から放出される高分子材料由来の分子にレーザ光を照射し、高分子材料由来の分子をイオン化する。分析部４０は、レーザ光源からのレーザ光によりイオン化される試料を質量分析する。 （もっと読む）