イオン移動度分光計は、静電ゲート（２１）によってドリフト領域（２０）から分離された反応領域（５）を有する。ドーピング回路（８）が、反応領域（５）にドーパントを供給するが、ドリフト領域（２０）はドープされない。2つの高電場イオンモディファイア（３０、３１）が、ドリフト領域（２０）に前後して設けられている。ドリフト領域に入ったイオンからドーパント付加体を除去するために、一つのモディファイア（３０）を用いることができ、又は、両方のモディファイア（３０、３１）を用いて、イオンをフラグメント化することができる。このようにして、幾つかの異なる反応を生じさせることで、測定物質の性質に関し、追加の情報を提供し、干渉物質から識別することができる。
（もっと読む）

二つのドリフトチャンバとそれらに共通のドープされた反応領域とを有するイオン移動度スペクトロメータである。各ドリフトチャンバは、高電場を用いてドープされたイオンを解離させるようなイオン改質手段を含む。ドリフトチャンバのうち、一方はドープされ、他方はドープされない。このようにして、ドーパント付加物はイオン改質処理により除去されて、ドープされたチャンバ内でのみドーパントとの再結合がなされ、二つのドリフトチャンバから異なる出力が生成される。
（もっと読む）

質量分析機器システムにおける混入を減らすための装置および方法が開示される。システムは、レーザ脱離／イオン化でイオンを生成する第１圧力にあるイオン源と、イオン源の第１圧力よりも低い第２圧力にある真空チェンバへの入口開口部とを含む。イオン源内のサンプルプレートが、上に堆積させたサンプルを支持し、レーザが、質量分析計の第１イオン光学軸の中心線に対して約０から約８０度の入射角でサンプルの少なくとも一部に当たるレーザパルスを生成し、プルームを生成するように構成できる。レーザパルスの入射角と、サンプルプレートと入口領域開口部との間の距離との組み合わせが、入口開口部に引き込まれるプルームにおける中性混入物を減らすことができる。
（もっと読む）

【課題】従来のTOF/TOF装置および方法の利点を生かし、欠点を克服した、新しいTOF/TOF装置および方法を提供する。
【解決手段】らせん軌道型飛行時間型質量分析装置は、らせん軌道の周回ごとに飛行方向およびその垂直な面に対する空間的な収束を満たすと共に、プリカーサイオンを選択するイオンゲートは、前記らせん軌道型飛行時間型質量分析装置のらせん軌道内に置かれ、イオンゲートの後段に扇形電場が配置されている。 （もっと読む）

【課題】レーザ脱離装置、マススペクトロメトリー組立、及び大気圧下で液体試料を直接、質量分析することができる質量分析法を提供する。
【解決手段】ノズルを有するエレクトロスプレーユニット、前記ノズルとレシービングユニットとの間に、前記ノズルで形成されるエレクトロスプレー用溶媒の液滴が帯電し、移動経路に沿ってノズルから前記レシービングユニットに強制的に向かうような電位差を生じさせる電圧供給部、試料にレーザーを照射するために設けられたエレクトロスプレー支援レーザー脱離ユニットであって、レーザー照射時に前記試料に含まれる分析物が脱離し、前記移動経路と交差する飛行経路に沿って飛行することにより前記多価帯電液滴に閉じ込められ、前記移動経路に沿って移動し液滴のサイズがだんだん小さくなり、前記液滴の電荷が前記液滴に閉じ込められた分析物の少なくとも一つに移動してイオン化分析物を形成するレーザー脱離ユニット。 （もっと読む）

生体分子を分析するための方法および装置について説明する。本方法は、一方の種のイオン化分子を線形イオントラップに注入および貯蔵するステップと、第２の種類の反対極性のイオン化分子を注入し、貯蔵された第１の種を第２の種が透過するステップとを含む。結果として生じた反応生成物は、残りの電荷値を考慮して質量分析器によって分析され得る。ある側面において、線形イオントラップは、反応容積として使用されてもよく、イオン化された種は、実質的に共線的にトラップの軸に沿って注入されてもよい。質量分析は、質量選択的軸方向射出または質量分析計によって実行されてもよい。
（もっと読む）

【課題】広範囲な分子量の物質を高精度で簡単に質量分析することができる質量分析用基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析に用いる質量分析用の基板であって、基板上に配列したワイヤ状の金属からなるワイヤ状金属層を有する質量分析用基板。基板上に、チューブ状のメソ細孔が実質的に一方向に配向して設けられているメソポーラスシリカ薄膜を形成する工程と、該チューブ状の細孔内に金属を導入する工程と、金属を導入しら後にシリカを除去する工程とを有する質量分析用基板の製造方法。 （もっと読む）

イオン移動度分光計または質量分析計におけるガス分析用に正および／または負にイオン化したガス検体を生成するための方法を解決手段とし、この方法を用いて、従来のイオン化方式が伴う制約なしに、イオン移動度分光計または質量分析計におけるガス分析用にガス検体をイオン化して、正イオンおよび／または負イオンを形成することができる。これは、正および／または負のガスイオンがプラズマ（６）によって生成され、このプラズマが誘電体バリア放電によって引き起こされ、この誘電体バリア放電が、誘電体材料から成る毛細管（２）を通じて希ガスが誘導されることによって生成され、その際、毛細管の出口領域に隣接して前記毛細管に配置された、電気絶縁された２つの電極（３、４）を用いて交流電圧が印加され、前記ガス検体が前記毛細管の外側の前記出口領域へ誘導されることによって実現される。
（もっと読む）

二極性質量分析計は、イオン源と、陰イオン質量分析計と、陽イオン質量分析計とを備え、試料の陰及び陽イオンスペクトル双方を同時に測定する。イオン源は試料が配置される供試面を備え、試料は、レーザ光又はエネルギ粒子流によって励起されると、陽イオン及び陰イオンを提供する。第１抽出電極は、供試面より高い電圧に接続され、試料電極から陰イオンを引きつける。第２抽出電極は、供試面より低い電圧に接続され、試料電極から陽イオンを引きつける。陰及び陽イオンは、それぞれ陰イオン質量分析計及び陽イオン質量分析計によって同時に分析される。
（もっと読む）

【課題】軟Ｘ線を用いて試料分子をイオン化する際のイオン密度を高めることができるイオン化装置を提供する。
【解決手段】イオン化装置１は、本体部２１、軟Ｘ線管３、及び電極４，５を備える。本体部２１は、所定の軸方向に延びており試料分子をイオン化するイオン化室２と、イオン化室２に試料分子を導入する導入口２２と、試料分子イオンを排出する排出口２３とを有する。軟Ｘ線管３は、電子源３１と、電子源３１からの電子を受けて軟Ｘ線を発生するターゲット部３２とを有する。電極４，５はイオン化室２の一端側、他端側にそれぞれ設けられている。軟Ｘ線管３の軟Ｘ線出射軸方向は、上記所定の軸方向と交差している。ターゲット部３２に設けられた電極３２ｂと電極５とは、互いに短絡されている。導入口２２の中心軸方向は、軟Ｘ線出射軸方向と交差している。 （もっと読む）

【課題】軟Ｘ線を用いてベースガスイオンを生成し、このベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応により試料分子イオンを生成することによって、安全性が高く、装置の汚染、試料の分解、及びイオン化室の電界への影響などを抑制でき、試料分子を効率よくイオン化できるイオン移動度計およびイオン移動度計測方法を提供する。
【解決手段】イオン移動度計１は、試料分子をイオン化するイオン化装置２と、イオン化された試料分子の移動度を計測するドリフト室１１とを備える。イオン化装置２は、ベースガスをイオン化するとともにベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応を促すイオン化室２０と、イオン化室２０内へ軟Ｘ線を照射する軟Ｘ線管３とを有する。軟Ｘ線管３は、軟Ｘ線の照射量を増減可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】イオン化可能な試料に汎用性をもたせるとともに、イオン化までの時間の短縮を図る。
【解決手段】分子をイオン化し、イオン化により生成した分子イオンを分離し、分離した分子イオンを検出して質量を分析するようにした質量分析装置において、分子をイオン化するイオン源が、電子サイクロトロン共鳴現象により分子量が１０００以上の高分子の分子量に適した低エネルギー電子を有するＥＣＲプラズマを発生させ、上記ＥＣＲプラズマにより上記高分子をイオン化するＥＣＲイオン源であるようにした。 （もっと読む）

【課題】 少なくとも２種類の同質量・異成分の被測定ガスのガス分子を正確に区別して定性・定量分析できるイオン付着質量分析方法を提供する。
【解決手段】 このイオン付着質量分析方法は、イオン放出体１８により発生させたイオンを被測定ガスの分子に付着させて付着イオンを生成し、Ｑポール質量分析器３０で付着イオンの質量を計測し、被測定ガスの定性・定量を行う方法であり、さらに、少なくとも２種類の同質量・異成分の被測定ガスの分子に、被測定ガスの分子の各々が有するイオン付着特性の差を生じさせる所定のイオンを付着させるステップと、被測定ガスの分子の各々が有するイオン付着特性の差に基づいて被測定ガスの同質量・異成分を区別して計測するステップとを有する。 （もっと読む）

本発明は、凝縮相のサンプルの成分から気体状イオンを発生させ、それを分析するための方法及び装置に関する。１つ又は複数の液体噴射が、調査するサンプルの表面に向けられ、そこで液体噴射をサンプル表面に衝突させることにより、液体の蒸発によって、又は必要に応じて蒸発後の後続のイオン化によって気体状イオンに変えられるサンプル粒子を運ぶ液滴を発生させ、得られたサンプル粒子を周知の方法で分析する。
（もっと読む）

種々の局面において、イオン源、質量分析計システム、およびフィードバック回路に連結される電力供給回路が提供される。少なくとも電力供給回路を含み、かつ電荷を負荷に移動するように動作可能である電力供給部が提供される。フィードバック回路は、第１のフィードバックループにおいて、電力供給部によって供給される出力電圧のＤＣ成分に応答し、また、第２のフィードバックループにおいて出力電圧のＡＣ成分に応答して、電力供給部のコンデンサから負荷への電荷移動前の出力電圧の値、電力供給部のコンデンサから負荷への電荷移動中の出力電圧の値、および電力供給部のコンデンサから負荷への電荷移動後の出力電圧の値、のうちの少なくとも１つを表すフィードバック信号を生成する。
（もっと読む）

ガス噴霧器チューブ（２）に取り囲まれているキャピラリーチューブ（３）を備えたエレクトロスプレーイオン化イオン源が開示される。１つ以上のワイヤー（４）がキャピラリーチューブ（３）内に設けられている。被分析物溶液がキャピラリーチューブ（３）に供給され、噴霧ガスがガス噴霧器チューブ（２）に供給される。 （もっと読む）

【課題】大気雰囲気下、試料の表層のみを分析でき、しかも構成物質の分子量まで測定することのできる大気雰囲気測定表面分析装置を提供する。
【解決手段】先端から末端まで内部を貫通する貫通孔を有し、その先端部が試料表面に近接するように配置される探針と、前記探針の先端部周辺にプラズマを供給する手段と、前記探針と試料の間にパルス電圧を印加するための電源と、前記探針−試料間へのパルス電圧印加に起因して前記探針先端部と対する試料表面から脱離すると共に前記プラズマによる作用を受けて生成された試料イオンを前記貫通孔を介して真空室内へ導入するために前記探針の末端部の貫通孔開口部に近接して配置されるイオン導入手段と、前記真空室内に配置され前記イオン導入手段により導入された試料イオンを質量分析するための質量分析器とを備えた。 （もっと読む）

【課題】 デソープションイオン化方法において、試料台表面近傍のイオンを最大限に捕集する機構を提供する。
【解決手段】 生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口を設け、これを試料台に接するように位置させる。または、試料台に段差をつけて試料の積載された面よりも低い面を設け、生じたイオンの広がり以上の幅および高さをもつイオン取り込み口の開口部底面を、試料の積載された面よりも低く設置する。 （もっと読む）

【課題】ＥＳＩ方式の質量分析計において、部品点数が少なく、絶縁性、耐薬品性に優れたＥＳＩプローブを備えた質量分析計を提供する。
【解決手段】送液流路系統とネブライザーガス流路系統を、ＰＥＥＫを材料とするマニホールド１に形成し、マニホールド１に高電圧を印加されたスプレー部３を取り付け、マニホールド１内に具えたキャピラリ５をスプレー部３のノズルに配設する。マニホールド１にはスプレー部３と同体に具えられた端子６が挿入され、高電圧ケーブル１０から高電圧がスプレー部３に印加される。 （もっと読む）

【課題】ＥＳＩプローブの先端に印加されている高電圧によるイオン化の際、試料の上流側へ該高電圧がリークしイオン化が阻害され分析が停止することを解決し、またＥＳＩプローブの上流側に配設されている金属配管部品を介して感電する可能性を解決する。
【解決手段】ＥＳＩプローブ１の入口に配設されたジョイント２は金属製とし内部を通る試料が装置本体のアースに導通される手段を備え、ＥＳＩプローブ１の出口に配設されたキャピラリ４と前記ジョイント２の間は樹脂製のチューブ３を含む配管部品で配管し絶縁する。また、前記チューブ３は内部の試料の電気抵抗を大きくするためコイル状に形成し全長を長くする。したがって、ＥＳＩプローブ１の上流側での感電の可能性はなく、高電圧のリークが減少する。 （もっと読む）