【課題】質量分析計(MS)システムにおいてイオン源を交換する方法を提供する。
【解決手段】イオン源は、イオン化容積、少なくとも１つのイオン化要素、及び少なくとも１つの収束要素を含み、MSシステムは、イオン源、イオン源を収容する真空チャンバ150、及びインターロックチャンバ120を含む。方法は、インターロックチャンバと真空チャンバとの間の弁140を開き、開いた弁を介してイオン源をインターロックチャンバの中へ移動して弁を閉じ、イオン源をインターロックチャンバから取り除くことを含む。イオン源は更に、実質的に１回の動作でドッキングステーションにプラグ接続するための手段を含み、ドッキングステーションは、イオン源とプラグ接続する際にイオン源の動作のために十分な電気接続を行う。 （もっと読む）

本明細書中に記載の特定の実施形態は、源アセンブリの構成要素を源ハウジング内に整列させる際に利用することが可能なデバイスに関する。いくつかの例において、各整列フィーチャを通じて前記ハウジングに接続するように構成された終端レンズを用いて、前記源ハウジング内の源構成要素を保持して、源アセンブリを提供することができる。 （もっと読む）

【課題】電子サイクロトロン共鳴現象を用いて高分子の試料をイオン化し、対電荷質量比を分析するイオン化装置等を提供する。
【解決手段】イオン化装置１０１において、チャンバー部１０２には、注入部１０３から試料が単位時間当たり一定の注入量で注入され、導波部１０４から指定されたパワーの高周波を入射され、電子サイクロトロン共鳴現象によりチャンバー部１０２内にプラズマを生じさせた後、取得部１０６は、高周波のパワーを下げて、プラズマが維持できるパワーの下限を求め、制御部１０７は、求められたパワーの下限から次第にパワーを上昇させて、試料のイオン化、フラグメント化を試み、分析部１０８は、排出部１０５から排出される物質の対電荷質量比の分布を分析する。 （もっと読む）

本発明の実施形態は、質量分析を行うための装置および方法を特徴とする。装置の一実施形態は、低圧の領域と高圧の領域との間の第１の壁に取り付けるための流入ハウジングを備える。流入ハウジングは、試料のプルームに基づいて調整可能な、あるいは代替えの流入ハウジングと差し替えることによって変更可能な通路と絞りを有する。
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【課題】イオン化可能な試料に汎用性をもたせるとともに、イオン化までの時間の短縮を図る。
【解決手段】分子をイオン化し、イオン化により生成した分子イオンを分離し、分離した分子イオンを検出して質量を分析するようにした質量分析装置において、分子をイオン化するイオン源が、電子サイクロトロン共鳴現象により分子量が１０００以上の高分子の分子量に適した低エネルギー電子を有するＥＣＲプラズマを発生させ、上記ＥＣＲプラズマにより上記高分子をイオン化するＥＣＲイオン源であるようにした。 （もっと読む）

イオン誘導装置の軸に沿って配設された対称磁界を有する高周波数４極子イオン誘導装置であって、このシステムは、イオン誘導装置のイオン化容積内で電子と帯電していない化合物との間で長い相互作用を提供し、イオン生成の増大をもたらす。
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【課題】 He由来バックグラウンドの主原因であるHe^*を根本的に除去することができるガスクロマトグラフ質量分析装置を提供する。
【解決手段】 MS部３０の真空チャンバ３１内に配設されたイオン化室３２に排気用開口を設け、該排気用開口に接続された真空ポンプ３８によって生じる圧力差を利用して、イオン化室３２に導入されたHe及びイオン化室３２内で発生したHe^*を信号イオンの取り出し方向とは異なる方向に排出する。 （もっと読む）

【課題】 ２個以上の原子からなる粒子団を試料表面に照射することにより、試料表面から放出される２次粒子量を大幅に増大させるようにすること。
【解決手段】 炭素非粒子団及び粒子団荷電粒子ａを、質量分析器１により粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２とに選別し、これらの粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２を物質表面に照射する。荷電粒子を粒子団で物質に照射すると、粒子団が被照射物質と衝突する際に、粒子の有するエネルギーが物質表面の狭い領域に集中し、エネルギー密度の高い場が生じる。このような荷電粒子団の照射による特異的な高密度エネルギー場の中では、イオン化反応が促進され、非粒子団照射時に比べて生成される２次粒子の量が増加する。また、荷電粒子団の代わりに中性粒子団を用いた場合にも同様の効果を奏する。 （もっと読む）

結合されたシリコンオン絶縁物（ＢＳＯＩ）ウエハから、マイクロエンジニアリングされた質量分析器を製造する方法が、四極子分析器を参照して記載される。四極子幾何形状は、モノリシックブロック４１０を形成するようにともに結合される２つのＢＳＯＩウエハ２００を使用して達成される。外側シリコン層に形成されたディープエッチングされた特徴及びばねは、円筒状金属電極ロッド３００を位置付けるために使用される。アセンブリの精度は、リソグラフィとディープエッチングとの組み合わせにより、かつ結合されたシリコン層の機械的構成度合により決定される。内側シリコン層に形成されディープエッチングされた特徴は、イオン入口及びイオン収集光学部品を画定するために使用される。また、流体チャネルなどの他の特徴を組み込むことができる。
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本発明は、コンパクトかつ広範なイオン質量の範囲にわたって高度な質量分解能を有する飛行時間型質量分析器、および、それを設計する方法を提供する。本飛行時間型質量分析器において、本設計方法は、所定の連続関数を用いて時間依存性のある抽出ポテンシャルの強度を低減してイオンのエネルギ分布を拡大させ、質量の範囲にわたる高質量分解能を実現し、他方、加速領域からイオン・ミラーにおいて適用されるポテンシャルの時間依存性およびその大きさ、ならびに、時間依存性のある抽出ポテンシャルを変更することはなく、質量分析器の物理的寸法を変化させることもなく、被分析イオンの高分解能分析を実現する。本設計方法により、全長４６センチメートル未満の飛行時間型質量分析器において質量の大きさのオーダーでおよそ５オーダーにわたり、およそ１０，０００もしくはそれ以上の質量分解能が実現される。
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質量分析計に使用されるイオン源で、電子ビームを放出する電子エミッタアセンブリ、イオン化室、電子レンズおよび少なくとも１つの電極を具備する。前記電子エミッタアセンブリは、基板に固定されており前記電子ビームを放出するカーボンナノチューブ束と、前記電子ビームの放出を制御する第１制御格子と、前記電子ビームのエネルギーを制御する第２制御格子を含む。前記イオン化室は、前記電子ビームを導入させる電子ビーム入口と、試料を導入する試料入口と、イオン化試料分子を出すイオンビーム出口を含む。前記電子レンズは、前記電子エミッタアセンブリと前記イオン化室の間に配置され、前記電子ビームを集束する。前記少なくとも１つの電極は、前記イオンビーム出口の近傍に配置され、前記イオン化室から出る前記イオン化試料分子を集束する。

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