【課題】試料に含まれる物質を網羅的に同定する際にＭＳ²分析する分画数を抑えることで分析時間を短縮しながら同定の正確性を確保する。
【解決手段】全ての分画試料をＭＳ¹分析した結果に基づき作成した、保持時間、m/z、信号強度を３軸とする３次元グラフに対し（S1-S2）、ωよりも大きな閾値θ_Nで強度を判定してピーク検出を行い、検出されたピークのピークトップが存在する分画試料をＭＳ²分析対象として選択する（S3-S5）。次に、選択された分画試料にピークトップが存在し、強度が閾値ω以上であるピークを検出し、検出されたピークをプリカーサイオン候補として挙げる（S6）。そして、選択された分画試料の含有物質が同定されるまでプリカーサイオン候補についてのＭＳ²分析を順次実行する（S7-S9,S14-S15）。１つの分画試料に対し多くのプリカーサイオン候補が挙げられるので、分画試料の含有物質の同定確率が高まる。 （もっと読む）

【課題】 サンプルを効率的にイオン化し、かつキャリーオーバーの少ない質量分析装置を実現する。
【解決手段】 サンプルを保持した試料容器の内部を減圧することにより、ヘッドスペースガス中におけるサンプル密度を上昇させ、サンプルを効率的にイオン化する。 （もっと読む）

【課題】解決しようとする問題点は、ＬＣ／ＭＳなどに用いられる大気圧イオン化（ＡＰＩ）質量分析装置において、インターフェース部のクリーニング作業が複雑でユーザーの負担になる点である。
【解決手段】本発明は、電極表面が拭き取り材により自動的にクリーニングされるため、ユーザーの負担を低減させた（使い易い）質量分析装置の提供を最も主要な特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 本発明により、高感度でかつフラグメンテーションの少ないイオン化をハイスループットで行うことができる。
【解決手段】 試料を配置させる試料配置部材と、試料配置部材の導入口と試料イオンを発生させるイオン源とを備えたイオン化室と、試料イオンの分析をする質量分析部を有する真空チャンバーと、イオン化室と真空チャンバーとの間に設けられた開閉機構とを有し、開閉機構は、イオン化室内に試料配置部材が導入された後、閉から開への状態に制御されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】長時間に亘り安定に高感度分析が実現し、再現性の高いデータを取得できるガス噴霧支援型のインターフェースを有する質量分析装置を提供する。
【解決手段】気体状のイオンを細孔に導く穴又は穴構造を、細孔のイオン導入口側に取り付けた質量分析装置を提案する。ここでの穴又は穴構造は、気体状のイオンが導入される側の断面積が導出される側の断面積よりも大きい構造を有する。 （もっと読む）

【課題】移動する針電極を用いてサンプリングとイオン化を繰り返すエレクトロスプレー等で、安定したイオン化を行い、濃度測定のダイナミックレンジを低下させることなく、分析の定量精度を向上する。
【解決手段】複数の針電極１を有する試料搬送電極７に高圧電源４から電圧を印加し、駆動部３で回転駆動する。試料溶液５が付着した複数の針電極１が、質量分析装置２０の導入口２１に順次移動し、連続してエレクトロスプレーイオン化が行われる。 （もっと読む）

【課題】ネブライザーガスによる液滴の微細化をより効率的に行うことができる質量分析装置用イオン化装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る質量分析装置用イオン化装置では、イオン化プローブ１２のキャピラリ１２１Ａがキャピラリ内管１２１１とキャピラリ外管１２１２の二重管構造を有し、キャピラリ内管１２１１をネブライザーガスが、キャピラリ外管１２１２を試料液が、それぞれ流れる構造を有する。このような構造を有することにより、ネブライザーガスにより直接剪断される試料液の表面積が増加すると共に、噴出後の試料液の幅が従来よりも狭くなり、ネブライザーガスが試料液の内部にまで作用しやすくなる。 （もっと読む）

【課題】 イオンの真空部への導入損失率を低減し、感度を上昇させる。
【解決手段】 バリヤー放電、および、バリヤー放電で生じた励起分子またはイオンと試料との反応による試料のイオン化を、大気圧よりも低圧下で行う。 （もっと読む）

【課題】高いイオン輸送効率を示すファンネル構造の電極部にイオンを導入する効率を高めることで、総合的な輸送効率一層高める。
【解決手段】大気圧下で試料のイオン化を行うイオン化室１から、直管状のキャピラリ管３を通してイオンを、第１中間真空室４内に配置されたファンネル構造の電極部１０の内部空間に導入する。複数のリング電極の一部を、周方向に一部を切り欠いた略Ｃ形状の電極に置き換えることでキャピラリ管３を配設する空間を確保し、イオンの導入方向をイオン輸送方向と略直交させる。導入されたイオンは衝突冷却によりエネルギーを減じ、高周波電場の閉じ込め作用によりイオン光軸Ｃ近傍に収束し、直流電場の電位勾配に従って出口開口に向かって効率良く移動する。ガス流はリング電極間の空隙を抜けるのでリング電極内空間の出口付近のガス圧が高くならず、後段の真空を損なうことも防止できる。 （もっと読む）

質量分析システムには、低圧分離領域および微分移動度分光計が含まれる。微分移動度分光計には、イオンフロー経路を画定する少なくとも一対のフィルタ電極が含まれ、このイオンフロー経路において、フィルタ電極は、サンプルイオンのイオン移動度特性に基づいてサンプルイオンの選択された部分を通過させるための電界を生成する。微分移動度分光計にはまた、ＤＣおよびＲＦ電圧をフィルタ電極の少なくとも１つに供給して、電界を生成する電圧源と、低圧分離領域を通過したサンプルイオンを受け取るイオン入口と、サンプルイオンの選択された部分を出力するイオン出口と、が含まれる。質量分光計は、サンプルイオンの選択された部分のいくらかまたは全てを受け取る。
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【課題】ＥＳＩイオン源において噴霧口近傍での電場強度を高めるとともに、生成された微細帯電液滴やイオンをイオン取り込み口まで移動させる効率を高めることで検出感度の向上を図る。
【解決手段】イオン化プローブ１０のノズル１１の先端に設けられた電極１２の周囲を包囲するように、円筒部１３１と円板部１３２が一体化されたカバー電極１３を設け、円板部１３２にあって中心軸Ｃと同軸の開口１３３を通して液体試料を噴霧する。カバー電極１３の電位をイオン取り込み口と同じ接地電位とすることで、カバー電極１３とイオン取り込み口２１との間の空間をほぼ一様にゼロ電位とし、カバー電極１３で囲まれる空間と噴霧口１１３付近に強い電場を形成する。これにより、帯電液滴の生成効率が上がるとともに、帯電液滴やイオンの移動に対する電場の悪影響がなくなるので、効率よく微細帯電液滴やイオンがイオン取り込み口まで輸送される。 （もっと読む）

【課題】イオン液体を含有する溶液をエレクトロスプレー用細管の先端からエレクトロスプレー法により気相中に放出させることを用いるイオンビーム発生装置において、エレクトロスプレー用導電性細管の先端から溶液が流れ出ることによる溶液の損失や溶液供給ラインへの空気の混入に起因するイオンビーム電流の不安定性を改善することを課題とする。
【解決手段】本発明においては、エレクトロスプレー用細管にイオン液体を含有する溶液を供給する溶液供給ラインに開閉用バルブ等を設け、停止中において開閉用バルブを閉じることにより溶液が流れ出ることを防止し、また空気の混入をも防止できる構造とした。 （もっと読む）

【課題】
APCI用のイオン化インタフェイスの分解をせずに、分析対象物の融点等、物性に応じて有機溶媒の導入量や、加熱温度等によって、噴霧部２２周辺に付着したすすを除去することを目的とする。
【解決手段】
すす除去作業時にすす除去装置４１を取り付ける。噴霧部２２から液体試料は噴霧せず、ネブライザガスのみを噴出し、噴出したネブライザガスを中空棒電極４３に噴きつける。中空棒電極４３に噴きつけられたネブライザガスは、噴霧部２２の方へ逆流し、噴霧部２２周辺に付着したすすをスプレー部から離し、浮遊させる。浮遊したすすは、中空棒電極４３に発生した静電気に捕集される。分析時はすす除去装置４１を取り外して分析を行う。 （もっと読む）

サンプル調製と前処理とを組み合わせうるシステムおよび方法、ならびにサンプルの分析に圧縮空気の支援も溶媒の連続流も必要としない、サンプルを質量分析するためのイオン化プロセスに対する満たされていないニーズが存在する。本発明は、一般にサンプルの質量分析分析のためのシステムおよび方法に関する。ある実施形態において、本発明は、高電圧源に接続された少なくとも１つの多孔質材料であって、溶媒の流れとは分離している多孔質材料、を含む質量分析プローブを提供する。
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デュアルソース質量分析システム（１０）におけるまたはそのための、システムの質量分析計に着脱可能に連結するためのイオンソースハウジング（１６）。イオンソースハウジングは、質量分析計の真空領域に連結するための出口ポートと、ガスクロマトグラフィ［ＧＣ］カラムを受容するためのサンプルポートと、前記ＧＣカラムから放出されたアナライト分子を荷電するための手段とを有するソースチャンバ（２２）を備えるとともに、ＧＣインタフェースプローブがハウジングに解放可能に係合され得るようにするドッキング手段を備える。
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デュアルソース質量分析計システム（１０）におけるまたはそのための、ＬＣソース［ＬＣ／ＭＳ］（１２）を用いて第１のモードで動作可能でありかつＧＣソース［ＧＣ／ＭＳ］（１８）を用いて第２のモードで動作可能である。ＧＣソースは、イオン化出力をＧＣソースから質量分析計に送出するためのイオンソースチャンバ（２２）内に入力し、ＧＣソースユニット（１８）はＧＣインタフェースプローブ（３０）を備える。ＧＣソースユニットは、ＧＣインタフェースプローブを、それがシステムの質量分析計から係合解除され、システムは前記第１のＬＣ／ＭＳモードで動作可能となる後退位置からＧＣインタフェースプローブが質量分析計のイオンソースチャンバに動作可能に連結され、システムは前記第２のＧＣ／ＭＳモードで動作可能となる使用位置にまで持っていくために、引き込み可能に取り付けられる。ＧＣインタフェースプローブは、ＧＣイオンソースチャンバを用いて第２のモードで動作可能となるように、イオンソースチャンバのハウジングによって提供される相補的ドッキング手段と解放可能に係合するためのドッキング手段（４２、４６、４８）を有する。
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デュアルソース質量分析計システム（１０）は、ＬＣソース［ＬＣ／ＭＳ］（１２）を用いて第１のモードで動作可能でありかつＧＣソース［ＧＣ／ＭＳ］（１８）を用いて第２のモードで動作可能である。ＧＣソースは、イオン化出力をＧＣソースから質量分析計に送出するためのイオンソースチャンバ（２２）内に入力する。ＧＣソースはＧＣインタフェースプローブ（３０）を備えており、ＧＣインタフェースプローブ（３０）は、ＧＣインタフェースプローブを、それが質量分析計から係合解除され、それによりシステムは第１のＬＣ／ＭＳモードで動作可能となる後退位置からＧＣインタフェースプローブが質量分析計のイオンソースチャンバに動作可能に連結され、それによりシステムは前記ＧＣ／ＭＳモードで動作可能となる使用位置にまで持っていくために、イオンソースチャンバに後退可能に連結される。
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【課題】エミッタからの安定したエミッション量を維持する。
【解決手段】本発明の一実施形態は、固体試料あるいは液体試料を加熱して、固体試料又は液体試料に含まれている測定対象物をガス化して中性気相分子とし、酸化表面を持つエミッタから放出された金属イオンを、前記中性気相分子に付着させることにより、前記中性気相分子をイオン化して、質量分析する。上記固体試料又は前記液体試料は加熱により還元性ガスを放出する試料である。上記測定対象物のガス化のための加熱は、固体試料又は液体試料の気化温度よりも低くかつ測定対象物の気化温度以上の温度で行われ、かつ、エミッタに酸化性ガスを付与する。 （もっと読む）

本発明の技術分野は大気圧質量分析法（MS）であり、より詳細には、赤外レーザアブレーションとエレクトロスプレーイオン化（ESI）を組み合わせた方法及び装置である。
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本発明は、概して、分析のためにイオンを移動させるためのシステムおよび方法に関する。特定の実施形態において、本発明は、ほぼ大気圧の領域の中で試料の分子を気相イオンに変換するためのイオン化源と、イオン分析装置と、気体流生成装置に動作可能に連結されるイオン移動部材とを含み、気体流生成装置は、イオン移動部材を通してイオン分析装置の入口に気相イオンを移動させる層状気体流を産生する、試料を分析するためのシステムを提供する。
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