【課題】分析装置の精度を向上させる。
【解決手段】走査型アトムプローブ２００は、試料３の表面を走査する引出電極５と、試料３に電圧を供給する直流高圧電源２と、直流高圧電源２により供給された電圧により引出電極５と試料３の間に生じた電界によって、試料３の表面の原子又は原子団を試料３から脱離させたときに、脱離したイオン８を検出する位置感知型イオン検出器１１とを備える。位置感知型イオン検出器１１は、イオン８の入射により電子を放出する電子増倍板２５と、電子増倍板２５から放出された電子の一部が入射する螺旋状の遅延回路線４１と、電子増倍板２５から放出された電子のうち、遅延回路線４１の線間を通過した電子が入射する導電板４２とを含む。 （もっと読む）

【課題】 イオン放出体と基準電圧印加部の間の電位差の変動の発生を抑制し、イオン放出量を安定化させ、精度の高い質量分析を行えるイオン付着質量分析装置を提供する。
【解決手段】 放出体１２と、この放出体にバイアス電圧を印加する電圧印加部１１とを有し、放出体を加熱して正電荷の金属イオンを放出させ、金属イオンを被検出ガスに付着させて被検出ガスをイオン化するイオン源を備えたイオン付着質量分析装置である。放出体１２の材質を変えることにより、放出体のイオン放出点と電圧印加部の基準電圧印加部１１ａとの間の電気抵抗を低減する。基準電圧印加部とイオン放出点との間の距離を短くすることにより、放出体のイオン放出点と電圧印加部の基準電圧印加部との間の電気抵抗値を１０¹⁰Ω以下に低減する。また基準電圧印加部の表面に薄膜状放出体を形成することもできる。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で、高い精度で効率よく測定対象物質の質量分析を行うことができる質量分析装置を提供することにある。
【解決手段】レーザ光が照射されることでプラズモンを励起し得る金属体が形成された表面を有し、表面に測定対象物質を付着させる質量分析用デバイスと、質量分析用デバイスの表面にレーザ光を照射して、表面に付着している測定試料をイオン化するとともに、表面から脱離させる光照射手段と、質量分析用デバイスの表面から脱離されイオン化された測定試料の飛行時間から測定試料の質量を検出する検出手段とを有し、光照射手段は、レーザ光の偏光方向を調整する偏光調整機構を有することで上記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】検出感度を向上させたレーザーイオン化質量分析装置およびレーザーイオン化質量分析方法を提供することにある。
【解決手段】真空チャンバー２と、真空チャンバー２内に試料分子線を放射する分子線発生装置１と、真空チャンバー２内に配置された１対の平面鏡４，５と、真空チャンバー２内にレーザー光６を入射するレーザー光発生装置７と、真空チャンバー２内に配置される、イオン化されたイオンを加速する１対の電極８，９と、加速されたイオンを検出するイオン検出器１２とを備え、レーザー光６が平面鏡４，５間で反射を繰り返しながら平面鏡４，５における反射位置を移動する光路において前記試料分子線をイオン化することを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置である。 （もっと読む）

【課題】レーザーにより特定分子を選択的にイオン化し、質量分析する質量分析方法において、ターゲットのイオン化ポテンシャルを高精度で予測し、レーザーの波長を調整する。
【解決手段】レーザーを照射し、ターゲットを選択的にイオン化し、質量分析する質量分析方法において、量子化学的計算手法を用いて、(ｉ) ターゲットの電子基底状態の最安定構造Q₀、構造Q₀における零点振動エネルギーzp₀、イオン化状態の最安定構造Q_i、構造Q_iにおける零点振動エネルギーzp_iを求め、(ii) 電子基底状態の構造Q₀におけるポテンシャルエネルギーE₀(Q₀)、イオン化状態の構造Q_iにおけるポテンシャルエネルギーE_i(Q_i)を、少なくとも長距離交換相互作用に補正がなされた密度汎関数法を用いて求め、(iii ) IP = E_i(Q_i) - E₀(Q₀) + zp_i - zp₀により断熱的イオン化ポテンシャルIPを算出し、このIPに基づいて、ターゲットをイオン化させるレーザーの波長を調整する。 （もっと読む）

【課題】超音波分子ビーム中のサンプルの改良された電子イオン化液体クロマトグラフィ質量分光測定のための毛管で分離された蒸発チェンバーおよびノズルの方法および装置の提供。
【解決手段】装置は、超音波ノズルの上流に配置された蒸発チェンバー；毛管で分離された蒸発チェンバーおよび超音波ノズル；流れる液体中のサンプルからのスプレイ形成用手段；超音波ノズルが、振動冷却サンプル分子および蒸発した溶媒を含む超音波分子ビームを形成するための蒸発したサンプル化合物および溶媒蒸気の超音波膨張を誘導する真空系；フライ・スルー電子イオン化イオン源；質量分析器；イオン検出器およびサンプルの化学的含有物の同定および／または定量のための得られた質量スペクトルの情報のデータ処理用の手段を含む。 （もっと読む）

【課題】従来の金ナノ微粒子分散基板においては、ミクロな立場で基板表面を観察すると、表面プラズモン励起効率が非常に不均一になってしまう。例えば、金ナノ微粒子が存在する場所、存在しない場所、共鳴的に高まった場所、そうでない場所が存在する。このような不均一性は、質量分析測定において再現性を損なわせるものである。
【解決手段】上記課題を解決するためには、均一な表面プラズモン励起が基板表面上で展開する必要がある。本願発明においては、粒子径の揃った金属ナノ微粒子の分散溶液を用いて、金属ナノ微粒子を２次元最密充填させることにより上記課題を解決した。 （もっと読む）

質量分光分析システムにおいて用いるための試薬イオンおよび生成イオンを発生するシステムおよび方法について記載する。また、極微小濃度の揮発性有機化合物を検出するための本システムおよび方法の応用についても記載する。マイクロ波または高周波ＲＦエネルギ源が、試薬蒸気の粒子をイオン化して、試薬イオンを形成する。試薬イオンは、ドリフト・チェンバのようなチェンバに流入し、流体サンプルと相互作用する。電界が試薬イオンを誘導し、流体サンプルとの相互作用を促進して生成イオンを形成する。次いで、試薬イオンおよび生成イオンは、質量分光計モジュールによる検出のために、電界の影響下においてチェンバから流出する。本システムは、システム・パラメータの値を設定する種々の制御モジュールと、分光分析中におけるイオン種の質量およびピーク強度値の検出ならびにシステム内部における異常の検出のための解析モジュールとを含む。 （もっと読む）

【課題】従来のグラファイト基板は、検出感度が悪く、またイオン化には高レーザーパワーが必要であり、さらに問題なのはグラファイト由来のピークが数多く観測されてしまうといった、致命的ともいえる欠点を多数有していた。
【解決手段】グラファイト基板表面のグラファイト試料を除去すれば、非常に高い性能をもつイオン化基板として用いることが期待される。すなわち、グラファイト微結晶から構成されるグラファイト薄膜を基板上に固着させ、その固着している層の上に堆積しているグラファイト部分を除去することにより上記課題を解決した。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、試料ガスを低パルス発光レートのレーザ光源で、効率良くイオン化できるイオン源とそれを用いた濃縮装置を提供することにある。
【解決手段】イオン源３Ａは、電極１１Ａやイオン引き出し電極２１Ａなどで形成された試料セルＳと、静電レンズ２２Ａと、レーザ光源２３Ａ、２３Ｂ、ミラー２５Ａおよびレンズ２７Ａを含むレーザ照射手段とから構成されている。電極１１Ａは、冷媒で冷却される。内周面１１ｂに向けられたノズル１５ａまで連通する試料ガス通路１５が形成されている。レンズ２７Ａは１対のシリンドリカルレンズで構成され、所定の間隔を設けて設置されている。レンズ２７Ａは、平行ビームである脱離用のレーザ光Ｒ_Ａとイオン化用のレーザ光Ｒ_Ｂを、凸レンズの作用で開口部２１ａ、２２ａを通過するように絞り込み、開口部２１ａ、２２ａを通過後に広がって、内周面１１ｂを広く照射する。 （もっと読む）

【課題】レーザ光照射による試料のアブレージョンを抑制しつつアナライトイオンの生成効率を高め、高感度、高精度の質量分析を行う。
【解決手段】大気圧雰囲気であるイオン化室１内において、レーザ光７の照射によって試料３から放出された各種のクラスタ（マトリックスのみ、或いはアナライトを含むマトリックスの集合体）が存在する領域に向けて、別のレーザ光３０から発し、反射鏡３１、集光レンズ３２を経たレーザ光３３を照射する。大気圧雰囲気下では試料３から放出されたクラスタは周囲の空気に触れて冷却されるが、レーザ光３０の照射によりエネルギーを付与されてクラスタの分解が促進され、それに伴って単離したアナライトのイオン化も促進される。そのため、アナライトイオンの絶対的な生成量を増やすことができる。 （もっと読む）

【課題】サンプルプレートの個別管理や、サンプルプレートのゆがみ情報に基づく質量較正を容易に行なうことのできるMALDIイオン源を備えた質量分析装置およびMALDIイオン源用サンプルプレートを提供する。
【解決手段】サンプルプレートのＩＤ情報と、サンプルプレート表面の凹凸によるゆがみ情報とをサンプルプレート表面に彫刻し、また電子ファイルとして登録することで、測定時に観察手段で読み取って、サンプルプレートの個別管理や、マススペクトルの質量較正に利用するようにした。 （もっと読む）

【課題】大気圧下で行うことができ、自立した形状を有する試料のイメージング・プロファイルを迅速且つ正確に得ることができる質量分析イメージング法を提供する。
【解決手段】連続的に生じる帯電液滴を、移動経路に沿って質量分析器のレシービングユニットに向けて移動させるステップと、試料に含まれる分析物を脱離させて、複数の飛行経路の各々に沿って飛行させるに十分な照射エネルギーを有するレーザービームで前記試料を走査するステップと、前記複数の飛行経路のそれぞれに沿う前記複数の分析物がそれぞれ前記帯電液滴に閉じ込められ、それによって対応するイオン化分析物が形成されるべく、前記複数の飛行経路と前記移動経路が交差するようにレーザービームを位置決めするステップとを備えて成る質量分析イメージング法。 （もっと読む）

【課題】 多種類のバックグラウンド成分中に少数の疾患マーカー成分が含まれる試料について、ＭＳを用いた疾患マーカー探索を行うには、ＡＰＣＩ／ＭＳとＥＩ／ＭＳを併用する方法が有用であるが、２台のＭＳを必要とし、装置コストが高いという問題があった。
【解決手段】 ＡＰＣＩとＥＩを切り替え可能なイオン源を有する質量分析装置において、ＡＰＣＩイオン源の上流に、ＡＰＣＩ測定に適した条件で試料を分離できる第１のＧＣを接続する。第１のＧＣで分離した試料の一部を、流路を分岐させることにより第２のＧＣに導入する。第２のＧＣにおいて、試料中に含まれる目的物質とバックグラウンド成分をさらに分離し、ＥＩイオン源に導入する。目的物質とバックグラウンド成分を分離することで、バックグラウンド成分の影響を受けることなく、目的物質のＥＩスペクトルを取得する。 （もっと読む）

【課題】光学的な顕微観察画像で試料上の各組織が明瞭でなく、組織の有無や組織を構成する分子等についての予見がない場合でも、煩雑な手間を要することなく、組織のマッピング画像を提示する。
【解決手段】試料上の所定の二次元範囲内に設定された多数の微小領域の質量スペクトルデータが得られると（Ｓ１）、このデータを主成分分析することにより二次元範囲に特徴的な質量ピークを抽出する（Ｓ２）。そして、特定の質量ピークが観察される微小領域の二次元的な集中の度合いを例えば座標の分散値などを算出することで調査し（Ｓ３）、集中度が高い場合に、それら微小領域が同一組織を形成しているとみなし、各組織を識別可能なマッピング画像を作成して表示する（Ｓ４、Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】無機微粒子をマトリクスとするＭＡＬＤＩ質量分析法において、妨害イオンピークの原因となる物質を介在させることなく、試料物質をマトリクス粒子に直接保持させて、特に低分子量の有機化合物が精度良く分析できる質量分析技術を提供する。
【解決手段】平均粒子径１００ｎｍ以下のＣｕＯ一次粒子が集合してなる二次粒子であって、最表層を構成する一次粒子の形状に起因した凹凸表面を有するＣｕＯ二次粒子を、レーザー光吸収マトリクスとして備えたＭＡＬＤＩ質量分析用の試料ホルダを使用する。前記ＣｕＯ二次粒子は、炭酸水素アンモニウム水溶液と硝酸銅水溶液を混合する工程で生成する塩基性炭酸銅を、２００〜３００℃で大気焼成することにより合成されるＣｕＯ粉末に由来するものが使用でき、そのＣｕＯ二次粒子は例えば平均粒子径が０.３〜１０μｍである。 （もっと読む）

【課題】大がかりな装置を必要とせず、マトリックスとともに測定対象物をも十分に単離し且つ励起し得る質量分析用試料基板を提供する。
【解決手段】導電性基体と、該導電性基体の上方に積層された、発光材料を含有する発光層と、を有する質量分析用試料基板であって、前記発光材料は、量子ドットであることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】試料を高効率にイオン化するコロナ放電を用いたイオン源を提供する。
【解決手段】高電圧を印加することにより針電極先端に生成するコロナ放電において、該コロナ放電の領域に対する試料の導入方向とコロナ放電によりイオンを引き出す方向をほぼ対向させることにより、イオン生成効率を向上させる。 （もっと読む）

【課題】Ｈ₂Ｏなどの特定の分子に付着した金属イオンを脱離させ、被測定ガスのみに金属イオンを付着させた状態を形成することができ、被測定ガスの測定の信頼性を向上させるイオン付着質量分析装置を提供する。
【解決手段】付着室１０２内で正電荷の金属イオンを被測定ガスの分子に付着させて付着イオンを生成させ、質量分析室１０３にて付着イオンの質量分析を行なうイオン付着質量分析装置１０において、付着室１０２内に、被測定ガス中に混在する特定の分子の吸収帯に合致する周波数の電磁波を照射し、特定の分子に付着した金属イオンを離脱させ又は特定の分子への金属イオンの付着を阻止する電磁波発生装置を設ける。 （もっと読む）

質量分析機器システムにおける混入を減らすための装置および方法が開示される。システムは、レーザ脱離／イオン化でイオンを生成する第１圧力にあるイオン源と、イオン源の第１圧力よりも低い第２圧力にある真空チェンバへの入口開口部とを含む。イオン源内のサンプルプレートが、上に堆積させたサンプルを支持し、レーザが、質量分析計の第１イオン光学軸の中心線に対して約０から約８０度の入射角でサンプルの少なくとも一部に当たるレーザパルスを生成し、プルームを生成するように構成できる。レーザパルスの入射角と、サンプルプレートと入口領域開口部との間の距離との組み合わせが、入口開口部に引き込まれるプルームにおける中性混入物を減らすことができる。
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