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Fターム[5C038GH11]の内容

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Fターム[5C038GH11]に分類される特許

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【課題】イオン化効率(感度)の低下と凝縮・吸着の両問題を改善する。
【解決手段】金属イオンを放出するエミッタを有するチャンバーと、前記チャンバー内に中性分子を導入する分子導入部と、前記チャンバー内に他のガスを導入するガス導入部と、前記チャンバー内における前記中性分子に前記金属イオンを付着させる領域の温度を制御する制御部と、前記金属イオンが付着した中性分子の質量を分析する質量分析計とを有し、前記制御部は、前記中性分子に前記金属イオンが付着したときの付着エネルギーを横軸、前記金属イオンを付着させる領域の温度[℃]を縦軸とすると、前記領域の温度[℃]=150×付着エネルギー[eV]及び100×付着エネルギー[eV]−50、20℃並びに、付着エネルギー[eV]=2.1及び0.5で囲まれる範囲から、前記領域の温度150℃以上かつ200℃以下の範囲を除いた範囲にあるように前記領域の温度を調整する。 (もっと読む)


【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、被測定ガス中の注目する有機分子をオンサイトで連続的にかつ高感度で定量分析できるガス分析用Jet−REMPI装置を提供する。
【解決手段】ガス導入系1からイオン化室2内に被測定ガス5を飛行時間型質量分析計4の方向に連続的に導入して超音速分子ジェット流6を形成するとともに、レーザ照射系3からレーザ光7を超音速分子ジェット流6に対して照射して被測定ガス5中の特定分子を共鳴多光子吸収過程でイオン化し、生成イオンをイオン化室2内のイオン光学系36により加速偏向させた後、飛行時間型質量分析計4で被測定ガス5中の特定分子を分析するJet−REMPI装置であって、対向電極11先端を局部的に加熱可能な赤外線導入部41を順次配置し、引き出し電極12の先端から仕切り板18までの範囲の電極部材の一部または全てをメッシュ構造とする。 (もっと読む)


【課題】高効率で安定性が良く安全なイオン化を実現可能なイオン化装置及び方法を提供する。
【解決手段】X線管1と、ガス流路を流れるガスに接触する状態で設けられた金属薄膜2aとを備え、前記金属薄膜2aに前記X線管1からのX線5を照射して前記ガス流路中に光電子を放出するように構成する。金属体の金属薄膜にX線を照射したときに生じる電子をガス流路中に放出し、電界加速する構成を採用しているので、ガス流路によって形成される限定された空間(イオン化室をなす空間)内において電子とガス流路を流れる分子とを接触させることができ、ガス流路の流路断面積や断面形状等を適宜に設定することにより、安定したイオン化を容易に実現することができる。 (もっと読む)


【課題】本願発明の課題は、試料にレーザーを照射することにより、試料をイオン化し、該イオン化した試料を質量分析器に導き、試料の同定を行う方法において、簡便な装置により感度を向上させることである。
【解決手段】本願発明は、イオン化剤を混合した液体試料を噴霧装置により微細液滴(ミスト状)とし、該微細液滴試料にレーザー光を照射した。これにより、単に液滴にレーザー光を照射するのに比べて、感度が数百倍向上した。 (もっと読む)


【課題】分析装置の精度を向上させる。
【解決手段】走査型アトムプローブ200は、試料3の表面を走査する引出電極5と、試料3に電圧を供給する直流高圧電源2と、直流高圧電源2により供給された電圧により引出電極5と試料3の間に生じた電界によって、試料3の表面の原子又は原子団を試料3から脱離させたときに、脱離したイオン8を検出する位置感知型イオン検出器11とを備える。位置感知型イオン検出器11は、イオン8の入射により電子を放出する電子増倍板25と、電子増倍板25から放出された電子の一部が入射する螺旋状の遅延回路線41と、電子増倍板25から放出された電子のうち、遅延回路線41の線間を通過した電子が入射する導電板42とを含む。 (もっと読む)


質量分析計に界接する大気圧化学イオン化(APCI)源は、APCI注入プローブアセンブリ内にコロナ放電針を備える。APCI注入プローブに流入する液体試料がコロナ放電区域を通過する前に霧化/気化され、APCI注入プローブアセンブリに収容される。コロナ放電区域生成イオンは、APCIプローブ出口を通るイオン搬送を最大化すべくAPCIプローブ中心線に集束される。APCIプローブ出口開口に進入する外部電界は、APCIプローブからの試料イオンを集束させる追加中心線を提供する。APCIプローブは、コロナ放電区域から電界を遮蔽する一方、外部電界の進入を許してAPCI生成イオンを質量電荷比分析のための真空へのオリフィス内に集束させる。APCIプローブから出るイオンは、外部電界とガス流によってのみ質量電荷比分析器内へのイオン搬送を最大化するように方向づけられる。
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【課題】 イオン放出体と基準電圧印加部の間の電位差の変動の発生を抑制し、イオン放出量を安定化させ、精度の高い質量分析を行えるイオン付着質量分析装置を提供する。
【解決手段】 放出体12と、この放出体にバイアス電圧を印加する電圧印加部11とを有し、放出体を加熱して正電荷の金属イオンを放出させ、金属イオンを被検出ガスに付着させて被検出ガスをイオン化するイオン源を備えたイオン付着質量分析装置である。放出体12の材質を変えることにより、放出体のイオン放出点と電圧印加部の基準電圧印加部11aとの間の電気抵抗を低減する。基準電圧印加部とイオン放出点との間の距離を短くすることにより、放出体のイオン放出点と電圧印加部の基準電圧印加部との間の電気抵抗値を1010Ω以下に低減する。また基準電圧印加部の表面に薄膜状放出体を形成することもできる。 (もっと読む)


イオン体積部、レンズスタック、及び取り外された多極イオンガイドと同様に協働するイオン光学系を組み合わせる方法及び装置は、ここでは、通気することなしに質量分析計器から取り外すことができる単一のサブアセンブリに組み込まれる。このような構成により、操作者は、システムを通気する必要なしに、通常の操作時に汚染されるイオン経路のすべての部品を洗浄し、適時に再組立し、再挿入し、次に許容可能な真空までポンプで排気することが可能である。
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【課題】CI専用イオン化室よりも密閉度の低いEI/CI兼用イオン化室を用いた場合でも試料分子のイオン化に際する開裂を少なくして分子量関連イオンの信号強度を高くする。
【解決手段】CIの試薬ガスとしてメタンを用いる場合には、各種の試薬ガスイオンの中でもm/z41に着目し、該イオンの信号強度が最大になるようなリペラー電圧を探索し(S5)、リペラー電圧をその値に固定した状態で、分析担当者により指定されたm/zの信号強度が最大となるようにレンズ電圧等の他のパラメータを決定する(S6)。m/z41のイオンは信号強度のリペラー電圧依存性が高いため、適切なリペラー電圧を容易に且つ確実に見い出すことができる。 (もっと読む)


【課題】プラズマのイオン密度を低減して、イオンビーム中に含有される被分析物元素のイオンの量を増加させ、分析装置としての感度の向上を図る。
【解決手段】スキマーコーン33の背面側でプラズマの側方への広がりを制限するように軸線方向に沿ってプラズマを包囲して延びる側壁35と、当該側壁35の後側に位置してイオンビームを通過可能にした開口57を備えた第1の電極53の平坦部56とによって画定される小衝突室36が設けられる。当該小衝突室36では、追加のガスを導入することなく、その内部の圧力が高められるので、イオンと電子の衝突・再結合によってアルゴンイオンが中和されプラズマのイオン密度が低減される。これによって、イオンの引出・輸送時のビーム径が比較的小さく抑えられる。 (もっと読む)


分圧分析器用のイオン源装置、および、イオン源の内側で中空陰極放電(HCD)を誘導することに基づいた、その原位置洗浄方法。HCDは、陽極電極、レンズフォーカスプレートおよび少なくとも1つの他のレンズもしくは他の形態のプレート、例えば全圧収集機プレート、を含む、イオン源の1つ以上の部品に高い負電圧を加えることにより、形成される。
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【課題】低質量から高質量まで幅広い質量範囲のイオンを高い強度で検出する。
【解決手段】ノズル12から噴霧する噴霧流の進行方向の前方で、噴霧口121に近い位置に第1放電電極131を配置し、イオンや液滴を吸い込んで後段に輸送する加熱パイプ14の吸込口141に近い位置に第2放電電極132を配置する。第1放電電極131によるコロナ放電によっては主として高質量化合物が効率良くイオン化され、これに対し、第2放電電極132によるコロナ放電によっては主として低質量化合物が効率良くイオン化される。これにより、従来はイオン強度が低くなる傾向にあった低質量化合物のイオン強度も高くすることができる。 (もっと読む)


【課題】高精度な全圧および分圧測定を容易に実現することができる質量分析計を提供する。
【解決手段】被測定ガスの分子をイオン化するイオン源9と、イオン源9で生成されたイオンの進路を質量電荷比ごとに決定する質量分離部5と、質量分離部5を通過した特定の質量電荷比のイオンを捕捉する分圧測定用集イオン電極7とを備えた質量分析計11であって、イオン源9を挟んで質量分離部5の反対側に、イオン源9で生成された全種類のイオンを捕捉する全圧測定用集イオン電極8を設け、全圧測定用集イオン電極8が板状に形成され、かつ開口が形成されている。 (もっと読む)


【課題】 試料を高効率かつ長時間安定にイオン化するコロナ放電を用いたイオ
ン源を提供する。
【解決手段】 高電圧を印加することにより針電極先端に生成するコロナ放電に
おいて、該コロナ放電の領域から試料ガス中の中性分子が移動する方向と、放電
により生じたイオンの引き出し方向が異なる構成とすることにより、イオン生成
効率を向上させると共に安定な放電を長時間持続させる。 (もっと読む)


イオン移動度分光計または質量分析計におけるガス分析用に正および/または負にイオン化したガス検体を生成するための方法を解決手段とし、この方法を用いて、従来のイオン化方式が伴う制約なしに、イオン移動度分光計または質量分析計におけるガス分析用にガス検体をイオン化して、正イオンおよび/または負イオンを形成することができる。これは、正および/または負のガスイオンがプラズマ(6)によって生成され、このプラズマが誘電体バリア放電によって引き起こされ、この誘電体バリア放電が、誘電体材料から成る毛細管(2)を通じて希ガスが誘導されることによって生成され、その際、毛細管の出口領域に隣接して前記毛細管に配置された、電気絶縁された2つの電極(3、4)を用いて交流電圧が印加され、前記ガス検体が前記毛細管の外側の前記出口領域へ誘導されることによって実現される。
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二極性質量分析計は、イオン源と、陰イオン質量分析計と、陽イオン質量分析計とを備え、試料の陰及び陽イオンスペクトル双方を同時に測定する。イオン源は試料が配置される供試面を備え、試料は、レーザ光又はエネルギ粒子流によって励起されると、陽イオン及び陰イオンを提供する。第1抽出電極は、供試面より高い電圧に接続され、試料電極から陰イオンを引きつける。第2抽出電極は、供試面より低い電圧に接続され、試料電極から陽イオンを引きつける。陰及び陽イオンは、それぞれ陰イオン質量分析計及び陽イオン質量分析計によって同時に分析される。
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【課題】軟X線を用いて試料分子をイオン化する際のイオン密度を高めることができるイオン化装置を提供する。
【解決手段】イオン化装置1は、本体部21、軟X線管3、及び電極4,5を備える。本体部21は、所定の軸方向に延びており試料分子をイオン化するイオン化室2と、イオン化室2に試料分子を導入する導入口22と、試料分子イオンを排出する排出口23とを有する。軟X線管3は、電子源31と、電子源31からの電子を受けて軟X線を発生するターゲット部32とを有する。電極4,5はイオン化室2の一端側、他端側にそれぞれ設けられている。軟X線管3の軟X線出射軸方向は、上記所定の軸方向と交差している。ターゲット部32に設けられた電極32bと電極5とは、互いに短絡されている。導入口22の中心軸方向は、軟X線出射軸方向と交差している。 (もっと読む)


【課題】軟X線を用いてベースガスイオンを生成し、このベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応により試料分子イオンを生成することによって、安全性が高く、装置の汚染、試料の分解、及びイオン化室の電界への影響などを抑制でき、試料分子を効率よくイオン化できるイオン移動度計およびイオン移動度計測方法を提供する。
【解決手段】イオン移動度計1は、試料分子をイオン化するイオン化装置2と、イオン化された試料分子の移動度を計測するドリフト室11とを備える。イオン化装置2は、ベースガスをイオン化するとともにベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応を促すイオン化室20と、イオン化室20内へ軟X線を照射する軟X線管3とを有する。軟X線管3は、軟X線の照射量を増減可能に構成されている。 (もっと読む)


【課題】APCIによるイオン化を安定させ、ノイスレベルを低減して検出信号のSN比を向上させる。
【解決手段】APCIのためのニードル電極12に高電圧を印加する際に流れる電流を電流値モニタ48により検出し、この実際の電流値と制御部34より指示される電流目標値との誤差を比較器46により求め、電圧発生部47はこの誤差がゼロになるようにニードル電極12に印加する高電圧V2を調整する。電流値はAPCI領域17に存在する溶媒イオン量に依存するから、電流値が一定になるように電圧を制御することにより、APCI領域17での目的成分のイオン化が安定して行われるようになる。 (もっと読む)


本発明は、電子(21)を放出するための陰極装置(6)と、中性粒子(20)の供給用の入口(14)と接続しており、中性粒子(20)のイオン化のために陰極装置(6)と作動接続している反応帯(3)と、反応帯(3)の作動領域と連通するように配置されているイオン抽出構造(4)と、検出システム(12)へイオン(22)を案内するための手段と、質量分析装置を真空にするための手段とを含む質量分析装置に関する。ここでは陰極装置(6)はエミッタ面(7)を有する電解放出陰極を含み、このエミッタ面(7)とわずかに間隔をあけて電子の抽出のための抽出グリッド(9)が配置されており、これはエミッタ面(7)を実質的に覆っている。エミッタ面(7)は、管状の構造が構成されるように、少なくとも部分的に中空部(13)を取り囲んでいる。
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