【課題】小型軽量で、高精度な質量分析が可能な質量分析装置を提供する。
【解決手段】測定試料４をイオン化するために外部から流入するガス２３をイオン化するイオン源と、イオン化した測定試料４を分離する質量分析部１０２とを有し、イオン源は、質量分析部１０２からの差動排気によって内部が減圧され、ガス２３を取り込み内圧が上昇して略１００Ｐａ〜略１００００Ｐａのときにガス２３をイオン化し、質量分析部１０２は、ガス２３の取り込みに連動して上昇した内圧がガス２３の取り込み後に略０．１Ｐａ以下に低下したときに、イオン化した測定試料４を分離する。イオン源が取り込むガス２３の流量を抑制する抑制手段９と、イオン源が取り込むガス２３の流れを開閉する開閉手段８とを有する。 （もっと読む）

【課題】ＥＴＤプロダクトイオンまたはＥＴＤフラグメントイオンが有する比較的高い電荷状態を低減する質量分析計を提供する。
【解決手段】親イオンの電子移動解離フラグメンテーションによって生成された高電荷のフラグメントイオンの電荷状態が、当該フラグメントイオンをオクタヒドロピリミドールアゼピンなどの中性超強塩基試薬ガスと反応させることによってプロトン移動反応セル内で低減される質量分析計が開示される。 （もっと読む）

【課題】 電圧の制御により帯電粒子によるノイズ成分を排除して、高感度な測定を行う。また、微量成分の分析を実現する。
【解決手段】 正（負）イオン分析時には、多重極ロッド電極を挟んで設けられた、イオンが導入される第１の電極の静電位が、イオンが排出される第２の電極の静電位よりも高く（低く）なるような静電圧と、第２の電極に交流電圧を印加する制御をし、交流電圧の印加制御に応じた検出部における出力値を用いてデータ処理を行う。 （もっと読む）

【課題】イオンの利用効率を高めたタンデム型飛行時間型質量分析計を提供する。
【解決手段】イオン蓄積手段２より吐き出されたイオン群をパルス的に加速する垂直加速部および加速されたイオンを分離する第1飛行時間型イオン光学系３と、所定のプリカーサイオンのみを選択的に通過させるイオンゲート４とイオンゲートを開閉する制御手段、プリカーサイオンの開裂手段および生成したプロダクトイオンを質量分析する第２飛行時間型イオン光学系６を備え、イオン蓄積手段より吐き出されたプリカーサイオンが第1飛行時間イオン光学系への通過率が最良となる位置に到達する到達時間に合わせて、プリカーサイオンをパルス的に加速する様にした。 （もっと読む）

【課題】 イオンの真空部への導入損失率を低減し、感度を上昇させる。
【解決手段】 バリヤー放電、および、バリヤー放電で生じた励起分子またはイオンと試料との反応による試料のイオン化を、大気圧よりも低圧下で行う。 （もっと読む）

【課題】質量分析計(MS)システムにおいてイオン源を交換する方法を提供する。
【解決手段】イオン源は、イオン化容積、少なくとも１つのイオン化要素、及び少なくとも１つの収束要素を含み、MSシステムは、イオン源、イオン源を収容する真空チャンバ150、及びインターロックチャンバ120を含む。方法は、インターロックチャンバと真空チャンバとの間の弁140を開き、開いた弁を介してイオン源をインターロックチャンバの中へ移動して弁を閉じ、イオン源をインターロックチャンバから取り除くことを含む。イオン源は更に、実質的に１回の動作でドッキングステーションにプラグ接続するための手段を含み、ドッキングステーションは、イオン源とプラグ接続する際にイオン源の動作のために十分な電気接続を行う。 （もっと読む）

【課題】質量分析計の大気圧イオン源から真空ステージへのイオンの効率的な移送を実現する、改良された質量分析計を提供する。
【解決手段】サンプリングコーン３とコーン−ガスコーン４とを含み、サンプリングコーン３を通過し、質量分析計の後続ステージに入り、当該ステージを通過する分子質量が高いイオンの移送を向上させるために、使用時に、六フッ化硫黄（「ＳＦ₆」）をコーンガス５としてコーン−ガスコーン４とサンプリングコーン３との間の環状部へ供給する質量分析計が開示される。 （もっと読む）

【課題】未知成分の試料でも各成分を最適なＭＳ／ＭＳ条件で開裂させ、一回の分析操作で低分子量成分から高分子量成分まで種々の構造的特徴を持つ分析対象成分のＭＳ／ＭＳ測定を可能とし、対象成分の詳細な構造情報を簡便に取得できる質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料中の分析目的成分をイオン化する手段と、生成された該イオンの精密質量数を検知するイオン検出器と、生成された該イオンと衝突ガスとの衝突誘起開裂反応を行う衝突セルと、該イオンと衝突ガスとの衝突誘起開裂反応における衝突誘起開裂エネルギーを調節するための制御手段と、生成されたイオンの精密質量を検出するイオン検出部と、検出された該イオンの質量より分子組成を演算する演算部を備え、演算部は、検出された該イオンをその構造上の特徴により分類可能である。 （もっと読む）

【解決手段】開示される質量スペクトルデータの処理方法は、イオン検出器から出力される第１の信号をデジタル処理して、第１のデジタル信号を生成する。第１のデジタル信号に含まれる第１のピーク群を検出して、第１のピーク群に含まれる１つ以上のピークの到達時間Ｔ₀とピーク面積Ｓ₀とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の第１のリストを作成する。第１のリストに含まれる１つ以上のデータ対をフィルタリング除去して、より小さな第２のリストを作成する。ここで、第１のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、第１のリストからそのデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる。 （もっと読む）

【課題】高い圧力でもスペクトルのノイズを抑え、基線オフセットおよびスペクトル分解能の損失が小さい、イオンとラップを提供する。
【解決手段】
第１および第２の対向ミラー電極６，７ならびにミラー電極６，７間の中央レンズ３を含む電極構造体を含み、電極構造体は、イオンを固有振動周波数において軌跡に閉じ込める静電電位を生成し、閉じ込め電位は非調和である。さらに、イオンの固有振動周波数の約２倍の周波数で閉じ込められたイオンを励起させる励起周波数ｆを有するＡＣ励起源２１を含み、ＡＣ励起周波数源は、好ましくは、中央レンズ３に接続される。 （もっと読む）

【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、オンサイト・リアルタイムでターゲット分子を異性体識別を含め、完全に特定してｐｐｔレベルの高感度で測定し、ほぼ同じタイミングで試料中に存在する他のターゲット分子群の質量数分布を把握することが可能な分析装置及び分析方法を提供する。
【解決手段】ターゲット分子群を一括して１光子でイオン化して分析するイオン化分析装置１は、イオン化部２０、レーザー照射系３０、分析検出部（質量分析部４０、イオン検出部５０）を具備し、イオン化部２０は、レーザー照射系３０の紫外レーザー光３３及び真空紫外レーザー光３４をほぼ同時に照射することにより、ターゲット分子の異性体識別を行いながら、所定のターゲット分子群をイオン化する。そして、イオン化部２０によりイオン化されたイオンを、分析検出部で質量分析して検出する。 （もっと読む）

サンプル調製と前処理とを組み合わせうるシステムおよび方法、ならびにサンプルの分析に圧縮空気の支援も溶媒の連続流も必要としない、サンプルを質量分析するためのイオン化プロセスに対する満たされていないニーズが存在する。本発明は、一般にサンプルの質量分析分析のためのシステムおよび方法に関する。ある実施形態において、本発明は、高電圧源に接続された少なくとも１つの多孔質材料であって、溶媒の流れとは分離している多孔質材料、を含む質量分析プローブを提供する。
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【課題】衝突室中での減衰を伴うタンデム飛行時間型質量分析計およびその使用のための方法を提供すること。
【解決手段】第一の飛行時間型質量分析計の、衝突減衰を伴う衝突室の使用によって、直交加速を伴う時間飛行型質量分析計を含む、種々のタイプのいずれか１つの第２の質量分析計への有効な結合を提供する。本発明のタンデム質量分析計の一般的な好ましい実施態様は以下を備える：飛行時間型質量分析計に連結されたイオンのパルス発生器；時限式イオンセレクタ；投入されたイオンビームを衝突によって減衰させるため、そして飛行時間型質量分析計および時限式イオンセレクタと連絡してフラグメンテーションを誘起するために、十分に高圧の気体で充填された衝突室；ならびにフラグメントイオンを分析するための第二の質量分析計。 （もっと読む）

【解決手段】開示される質量分析計において、イオントラップ型質量分析器（２０）の上流側にイオンビーム減衰器（２３）が配置される。上流側のイオン減衰部（２１）と下流側のイオン蓄積部（２２）とを備えるイオントンネル型イオントラップは、イオンビーム減衰器（２３）の上流側に配置される。イオントンネル型イオントラップからイオンが放出され、イオントラップ型質量分析器（２０）に送られたイオンビームの強度をイオンビーム減衰器（２３）により制御する。イオントラップ型質量分析器（２０）にイオンを入射可能な充填時間は、ほぼ一定に保たれ、イオンビームの強度とは実質的に独立である。 （もっと読む）

２つの独立した多極を交錯した形で組み合わせて合成多極構造を形成する方法及び装置を紹介する。このような構成により、２つの別個のイオン源からのイオンを所定の長手方向に沿って合流できるようになるだけでなく、逆経路では、単一のイオン源からの所定のイオン部分を１又はそれ以上のイオンチャネル経路に沿って導くこともでき、例えば飛行時間（ＴＯＦ）質量分析器及びイオントラップによる同時収集も可能になる。 （もっと読む）

【課題】イオン透過率を改善することなく、サンプリング周期に関係のない、ガイド法及びピーク値記録法よりも高い感度を実現する質量分析装置及び質量分析法を提供する。
【解決手段】連続イオン源１２とイオン蓄積器１３を備える質量分析装置において、第１データ処理部１７は、イオン蓄積器１３から周期的に排出されたイオンパルスを含む時間的出現プロファイルを取得する。第２データ処理部１８はこれらの時間的出現プロファイルの中で、当該選択イオンのイオンパルスが出現する時間の強度のみを抽出して積分し、イオン強度を算出する。 （もっと読む）

質量弁別のための分析装置を開示する。分析装置は、気体試料を保持するための試料チャンバと、試料チャンバから試料気体を受け取るように構成された分析チャンバと、分析チャンバ内で試料気体から発生したイオン種を弁別するように構成された質量弁別器と、試料チャンバを分析チャンバから分離する壁とを含み、壁は、破断しそれによって試料チャンバから分析チャンバに試料気体を放出するように制御可能な破断ゾーンを含む。１実施形態では、破断ゾーンは、電流または機械的力を加えると破断するように適応される。壁はミクロ機械加工することができる。質量弁別の方法も開示する。 （もっと読む）

ＭＳｎ質量分析計においてイオンを多重化するための方法および装置を提供する。イオンは、関心のイオン群であって、ＭＳｎ質量分析計の空間電荷制限を下回るイオン群を生成するようにフィルタリングされる。イオン群の少なくとも一部分は、断片化したイオン群を形成するように断片化される。断片化した群の少なくとも一部分は、質量分析のために、断片化した群の複数の部分を連続的に選択することができるように貯蔵される。断片化した群の複数の部分のそれぞれは、質量分析の前に、連続的に選択され、再断片化される。いったん断片化した群の複数の部分のそれぞれが断片化されると、断片化した群の複数の部分のそれぞれは、質量分析を介して分析される。
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【課題】 被検出ガス分子の正確な分子量を十分な感度で計測すると共に同時に分子構造の解析を十分な感度で行える質量分析装置を提供する。
【解決手段】 イオン化した被検出ガスを質量分析する質量分析機構を備える質量分析装置であり、正電荷の金属イオンを付着させてイオン化する第１イオン源１１と、電子を衝撃させてイオン化する第２イオン源１７の２つのイオン源を独立して備え、さらに第１のイオン源と第２のイオン源との間の位置には隙間領域を有している。この構成により被検出ガスに関する分子量の計測と分子構造の解析とを高い感度で行うことが可能となる。第１イオン源と質量分析機構の間に第２イオン源を位置させるとともに、被検出ガスを第１イオン源に導入する。 （もっと読む）

【課題】ＭＳ／ＭＳ分析のためのプリカーサの選択の自動的に行うとともにその選択の精度を上げ、未知成分の同定の効率化と精度向上とを図る。
【解決手段】目的試料に対する１回目のＬＣ／ＭＳ分析により、m/z、強度、時間の３次元データを収集し（Ｓ１、Ｓ２）、分析終了後に予め設定されたm/z範囲のデータを用いてマスクロマトグラムを作成する（Ｓ３）。そのマスクロマトグラムに対しピーク検出を行い、ピークに対応するm/zを含むピーク情報を収集する（Ｓ４、Ｓ５）。ピーク強度が所定の閾値以上のものを抽出し、同一成分に由来するとみなせるピークを除いて、プリカーサイオンリストを作成するとともに、同一時間に出現する複数のピークに対応した成分のＭＳ／ＭＳ分析を実行できるようにスケジュールを設定する（Ｓ７）。このスケジュールに従い目的試料に対して１回以上のＬＣ／ＭＳ／ＭＳ分析を実行し、それにより得られたデータに基づいて成分同定を実行する（Ｓ８〜Ｓ１１）。 （もっと読む）