衝突、フラグメンテーションまたは反応セル４を含む質量分析計を開示する。衝突、フラグメンテーションまたは反応セル４は、高フラグメンテーション動作モードと低フラグメンテーション動作モードとの間で繰り返し切り替えられる。質量スペクトルデータセットがこの２つの動作モードで得られる。小数質量フィルタを１つまたは両方のデータセットに適用する。特に、対象の親または前駆イオンに関係するフラグメントイオンまたは代謝産物を、該対象の親または前駆イオンと同様の小数質量を有することに基づいて同定する。 （もっと読む）

【課題】簡易かつ廉価に電子−イオンコインシデンス分光を行うことができる、新規な電子−イオンコインシデンス分光器及び電子−イオンコインシデンス分光法を提供する。
【解決手段】放出極角が26±2度の範囲にある電子のみを分析する円筒鏡電子エネルギー分析器を準備し、この円筒鏡電子エネルギー分析器内に飛行時間型イオン質量分析器を配置する。前記円筒鏡電子エネルギー分析器の前方に試料を設置し、前記試料からの電子を検出し、前記飛行時間型イオン質量分析器で前記試料からのイオンを検出する。この電子シグナルとイオンシグナルを利用して電子−イオンコインシデンス分光を行う。 （もっと読む）

【課題】試料上の二次元領域についての複数の質量数のイオン分布イメージを高速且つ高空間分解能で取得し、且つ装置のコストを抑える。
【解決手段】面状のレーザ光等を試料９に照射することで試料９上の二次元範囲の物質を一斉にイオン化し、発生したイオンをその出射位置の相互関係を保持するようにＴＯＦ質量分離部４で質量分離して二次元検出部６に導入する。二次元検出部６はマイクロチャンネルプレート７と蛍光板８と画素周辺記録型撮像素子である二次元アレイ検出器２０とから成る。二次元アレイ検出器２０は光電変換により得た信号電荷を複数フレーム分保持可能であるから、１回のイオン発生からの時間経過に伴って繰り返し高速に撮像したイメージに対応した画素信号を内部に保持し、撮像終了後にその画素信号を順次読み出してデータ処理部１１に送る。これにより、質量数の異なる複数のイオン分布イメージを取得することができる。 （もっと読む）

イオン流束を計算するためのシステムおよび方法。一実施形態において、質量分析器は、分析期間中に複数のパルスによってサンプルからイオンのビームを発するためのイオン源と、前記イオン源の下流に配置される検出器とを含む。すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックが提供される。さらに、検出器とクロックとに動作可能に結合され、分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置が提供される。制御装置はさらに、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つビンについて、分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成される。
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イオンが使用時に移送される開口を有する複数の電極を含む閉ループイオンガイド（１）が開示される。イオンは、閉ループイオンガイド（１）中へ注入され、イオンガイド（１）から排出される前に閉ループイオンガイド（１）を数回周回し得る。一動作モードにおいて、イオンガイド（１）は、イオンをそのイオン移動度にしたがって時間的に分離するように構成され得る。
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【課題】
【解決手段】電子衝突解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスが高フラグメンテーションモードと低フラグメンテーションモードとの間で繰り返し切り換えられる質量分析の方法が開示される。第１の試料からの親イオンがデバイスを通され、親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、第２の試料からの親イオンがデバイスを通され、第２セットの親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、質量スペクトルは、比較され、２つの試料における所定の親イオンまたは所定のフラグメンテーションイオンのいずれか一方が異なって表現される場合、さらなる分析が行われて、２つの異なる試料において異なって表現されるイオンを同定しようとする。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】親イオンが混合物から溶離するのと実質的に同時に生成されたと分かった娘イオンを照合することによって親イオンを同定する方法を開示する。イオン源（１）から出射されたイオンは、電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスを含むフラグメンテーションデバイス（４）へ移送される。フラグメンテーションデバイス（４）は、イオンが実質的にフラグメンテーションされ、娘イオンを生成する第１のモードとイオンが実質的にフラグメンテーションされない第２のモードとの間を交番しておよび繰り返し切り換えられる。質量スペクトルは、両方のモードにおいてとられる。１回の実験稼動の終了時に、親および娘イオンが２つの異なるモードにおいて得られた質量スペクトルを比較することによって認識される。娘イオンは、それらの溶離時間の一致度にしたがって特定の親イオンと照合され、次いでこれによって親イオンを同定することが可能となる。 （もっと読む）

電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスが高フラグメンテーションまたは反応モードと低フラグメンテーションまたは反応モードとの間で繰り返し切り換えられる質量分析の方法が開示される。第１の試料からの親イオンがデバイスを通され、親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、第２の試料からの親イオンがデバイスを通され、第２セットの親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、質量スペクトルは、比較され、２つの試料における所定の親イオンまたは所定のフラグメンテーションイオンのいずれか一方が異なって発現される場合、さらなる分析が行われて、２つの異なる試料において異なって発現されるイオンを同定しようとする。 （もっと読む）

本発明は、低真空雰囲気の下でも、高質量電荷比を持つイオンを高いイオン通過効率で以て輸送することができるイオンレンズを有する質量分析装置を提供する。従来の大気圧イオン化質量分析装置又は同様の質量分析装置では、イオンレンズに高すぎる電圧を印加すると不所望の放電が起こる。したがって、高質量電荷比のイオンの通過効率をあまり上げることができず、検出感度が犠牲となっている。この問題を解決するために、本発明に係る質量分析装置は、イオンレンズ（５）の各レンズ電極に印加される高周波電圧の振幅と周波数の両方が分析対象のイオンの質量電荷比に応じて変化されるように可変高周波（ＲＦ）電圧発生部（２４）を制御する電圧制御部（２１）を備える。この制御により、たとえ高質量電荷比のイオンを分析する場合であっても、イオンレンズ（５）はイオンを収束させて高い通過効率で以て後段に輸送することができる。それによって、検出感度が改善される。上述した制御は、電圧制御データ記憶部（２２）に記憶されている制御データに基づいて行われる。それらデータは、質量電荷比が既知である物質を含む試料を、分析条件を変化させながらイオン検出器の信号強度が保たれるように予め測定することにより得られたものである。
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第１のイオントラップまたはイオンガイド（２）、単一のイオン移動度分光計またはセパレータステージ（３）、およびイオン移動度分光計またはセパレータ（３）の下流に配置される第２のイオントラップまたはイオンガイド（４）を含む質量分析計が開示される。一動作モードにおいて、第２のイオントラップまたはイオンガイド（４）からのイオンは、第２のイオントラップまたはイオンガイドから逆戻りに上流へイオン移動度分光計またはセパレータ（３）へ渡される。 （もっと読む）

開口を有する複数の電極を含む質量分析器（２）が提供される。使用時にイオンはその開口を通って移送される。複数の擬ポテンシャル波形が質量分析器（２）の軸に沿って生成される。擬ポテンシャル波形の振幅または深さは、イオンの質量電荷比に反比例する。イオンを質量分析器（２）の長さに沿って駆動するために１つ以上の過渡ＤＣ電圧が質量分析器（２）の電極に印加される。電極に印加される過渡ＤＣ電圧の振幅は、時間とともに増加され、イオンは、質量電荷比の逆順に質量分析器（２）から出射される。
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本教示は、親娘イオン遷移モニタリング（ＰＤＩＴＭ）を使用した、試料中のタンパク質に関する質量分析ベースの検定を開発する方法を提供する。種々の態様において、本教示内容は、試料中のタンパク質に関する質量分析ベースの検定を、タンパク質の標準物質を使用せずに開発する方法を提供する。種々の実施形態において、試料は、その試料の由来元となる生理学的流体に少量しか存在しないタンパク質のタンパク質分解断片を含む。本教示内容の方法は、例えば、約１アトモル／マイクロリットル未満の濃度の血中タンパク質に関する質量分析ベースの検定を開発するのに応用することができる。 （もっと読む）

イオン移動度スペクトロメータは、ドリフト室（７）の中央に一対の電極（１３Ａ及び１３Ｂ）を具える。かかる電極（１３Ａ）と電極（１３Ｂ）との間にて高電界が印加され、かかる電界は、イオンを充分に修飾（フラグメント化など）し、イオンの捕集プレート（８）への移動度が変化する。このことにより、選択されたイオン又はイオンクラスタの飛行時間が修正され、ＩＭＳスペクトルにおける不明瞭なピークを同定することが可能となる。
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開示される質量分析計は、エレクトロスプレーイオン化イオン源（１１）と電界非対称イオン移動度分光分析デバイス（１３）とによって、燃焼室（１６）と同位体比質量分析器（１９）とのインターフェースがとられる高圧液体クロマトグラフィシステム（１０）を備える。検体分子と溶媒分子は、イオン源（１１）によってイオン化される。所望の検体イオンは、電界非対称イオン移動度分光分析デバイス（１３）によって燃焼室（１６）へ実質的に前向きに移送され、他方、望ましくない溶媒イオンは、電界非対称イオン移動度分光分析デバイス（１３）によって実質的に減衰される。
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イオン誘導装置の軸に沿って配設された対称磁界を有する高周波数４極子イオン誘導装置であって、このシステムは、イオン誘導装置のイオン化容積内で電子と帯電していない化合物との間で長い相互作用を提供し、イオン生成の増大をもたらす。
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【課題】質量分析計で使用されるＲＦ単独多重極構造を提供する。
【解決手段】ＲＦ単独多重極は、各多重極ロッド本体の周りに形成された螺旋状の抵抗経路を含む。イオンを多重極内部を通してその縦方向軸線に沿って推進させるのを助ける半径方向に閉じ込めるＲＦ場及び軸方向ＤＣ場を生成するために、ＲＦ電圧が、ロッド本体及び抵抗経路に印加され、ＤＣ電圧が、抵抗経路に印加される。１つの実施例では、抵抗経路は、ロッド本体上に形成されたネジ山間に形成された溝に敷かれたニクロムのような抵抗性材料のワイヤの形態を取る。本発明のＲＦ単独多重極は、補助ロッド又は類似の補足的構造を使用して軸方向ＤＣ場を発生させる必要性を排除する。 （もっと読む）

電界強度の関数としてのイオン移動度の差に従ってイオンを分離する装置６が開示される。装置６は、上側電極７ａ、下側電極７ｂ、および複数の中間電極８を含む。非対称電圧波形が上側電極７ａに印加され、ＤＣ補償電圧が下側電極７ｂに印加される。 （もっと読む）

本発明は、１つ又は複数の化合物をイオン化するための、複数の部品を含むイオナイザと、前記１つ又は複数の化合物のイオンを分離するための、複数の部品を含む質量分離器と、前記１つ又は複数の化合物を同定するための、複数の部品を含む検出器と、を含むイオン光学系を提供する。前記イオナイザ、前記質量分離器及び前記検出器のうちの少なくとも１つの前記複数の部品の１つは、酸化ジルコニウム及び酸化アルミニウムの組成物を含む。
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多様な実施形態において、イオン光学システムが提供され、イオン光学システムは、対に配置された偶数個のイオンミラーを備えたイオン光学システムであって、イオン光学システムを出るイオンの軌道であって、イオンがイオン光学システムに入るときに持っていたイオンの運動エネルギから実質的に独立した位置で、イオン光学システムの像焦点面に実質的に平行である面と交わるイオンの軌道が提供され得るように、偶数個のイオンミラーが配列されている。多様な実施形態において、イオン光学システムが提供され、イオン光学システムは、前記イオンミラーは、複数の対に配列されており、各対の第１の要素と第２の要素とは、その対の該第１の要素が、その対の該第２の要素の位置に対して、第１の平面に対して鏡面対称である位置を有するように、該第１の平面の対向する側に配置されている。
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マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源又はイオンイメージングデバイスであって、レーザ（１）及びズームレンズ（３、４、５）を備えるものを開示する。ズームレンズ（３、４、５）は、イオン源又はイオンイメージングデバイスの標的領域、試料表面又は標的プレート（１３）に方向付けられたレーザビームの倍率を変動できるように配置される。 （もっと読む）