イオントラップに保持されるイオンを冷却するための方法について開示する。種々の実施形態では、冷却ガスは、線形イオントラップ内に供給され、トラップの少なくとも一部分において、イオン保持時間未満の持続時間の間、約８ｘ１０^−５トールを超える非定常状態圧力上昇が引き起こされる。種々の実施形態では、圧力上昇の持続時間は、イオンが所望の量のその運動エネルギーを損失するのに必要な時間に基づくことが可能である。一実施形態において、方法におけるイオン閉じ込め装置は、４重極線形イオントラップを備えている。
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本発明の実施形態は、質量分析を行うための装置および方法を特徴とする。装置の一実施形態は、低圧の領域と高圧の領域との間の第１の壁に取り付けるための流入ハウジングを備える。流入ハウジングは、試料のプルームに基づいて調整可能な、あるいは代替えの流入ハウジングと差し替えることによって変更可能な通路と絞りを有する。
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【解決手段】 本発明は、液体金属イオン源、二次質量分析計、および対応する分析方法、ならびにこれらの利用に関する。特に、ジェントルＳＩＭＳ（Ｇ−ＳＩＭＳ）法に基づく質量分析方法に関する。
上記の目的を実現するべく、原子量が１９０Ｕ以上の第１の金属と、原子量が９０Ｕ以下の第２の金属とを有する液体金属イオン源を利用する。
本発明によれば、Ｇ−ＳＩＭＳ法に基づき、一次イオンビームから２つの種類のイオンのうち一方を交互にフィルタリングで取り出し、質量高純度一次イオンビームとしてターゲットに当てる。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的とするところは、マススペクトルデータにおいて特にイオンサプレッションの影響により定量結果の信頼性が低下しているマススペクトルデータを判別することで、定量信頼性を向上させることにある。
【解決手段】本発明は、成分のスペクトルが時間の経過順に並ぶように試料を分離する分離手段と、ススペクトルが質量対電荷比（Ｍ／Ｚ）の順に並ぶように前記各スペクトルの成分を分析する質量分析手段を含む質量分析システムにおいて、前記スペクトルの全部に及ぶ全マススペクトルの分析データより前記各スペクトルに存在する一定の質量対電荷比のピークを選択する機能と、前記全マススペクトルの分析データから前記各スペクトルの分析データにおける前記ピークの統計的指標を算出する機能と、前記統計的指標を判定基準として、前記各スペクトルの分析データの定量信頼性を判定する機能を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【解決手段】本発明は、質量分析計補助真空出口(30)を有する質量分析計補助真空室(20)を囲むハウジング(86)と、少なくとも２つの質量分析計高真空室(21,22,23)と、高真空室(21,22,23)と接続され、補助真空出口(89)を有する一体化されたターボ分子ポンプ(12)とを備えた質量分析計の配置(10)に関する。２つの補助真空出口(30,89) は、ハウジング(86)内の共通の補助真空空間(98)に延びており、補助真空空間はハウジング出口(88)に延びている。
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【課題】取得したマススペクトルに基づいて自動的に適切なピークを選択してプリカーサイオンとしてＭＳ²分析を実行する場合に、信号強度が低いイオンのＭＳ²分析の順番が来るまでに該当成分の溶出が終了してしまい十分なＭＳ²スペクトルが得られない場合がある。
【解決手段】マススペクトルのピーク選別条件として、信号強度の下限値ＬＬとともに上限値ＵＬを指定可能とする。データ処理部は、ＬＣＭＳ分析中に得られたマススペクトルに現れるピークのピーク強度が上限値ＵＬと下限値ＬＬとで決まる強度範囲Ａthに入っているか否かを判定し、入らないピークは除外し、残ったピークについて例えば強度順にプリカーサイオンに設定してＭＳ²分析を実行する。上限値ＵＬを適切に設定することで、ＭＳ²分析が不要な高強度成分を避けて低濃度の成分のＭＳ²分析を優先的に行うことができる。 （もっと読む）

【課題】同位体標識法を用いないで定量解析する場合、分析データの信頼性を評価する手法を提供する。
【解決手段】分析成分と同時に検出される内部標準物質を液体クロマトグラフの移動相や溶出液に混合させ、定量分析阻害要因が発生しない条件下で、内部標準物質由来イオンのマスクロマトグラムを取得し、データ解析部に記録させる。次に、分析サンプルを混合して試料の分析データを取得し、データ解析部において分析実時間で内部標準物質由来イオンの強度をブランク試料のものと比較する。不一致が検出されると定量分析阻害要因が発生したと判断し、分析モードをタンデム質量分析の優先度が低い定量分析モードからタンデム質量分析を優先させる定性分析モードに変更させて、分析実時間で内部標準物質由来イオンの強度をブランク試料のものと一致すれば、再度定量分析モードに変更させる。一致する時間帯には分析データを収集して高効率・高精度に分析を行う。 （もっと読む）

【課題】質量分析の結果を比較し、異なる試料に含まれる個々の成分を対応付け、その結果を確認し、変動成分を抽出する。
【解決手段】複数成分が含まれている試料をクロマトグラフィー質量分析した結果得られる保持時間と質量電荷比に対応するイオン強度について、少なくとも２つの試料を比較する。そこで、質量スペクトルとして観測したイオン群において、それぞれの質量電荷比の一致と、イオン強度が指定した変動内に収まること等を以って、同じ成分が観測されているであろう保持時間として対応付ける。 （もっと読む）

【課題】試料から汚染成分を除去するための高温熱処理等の処理を要することなく、簡便且つ迅速に正確な試料分析を行なう。
【解決手段】ホルダー板１２の表面のうち、試料１から散乱したイオン等が衝突し易い、試料１との対向面を絶縁性薄膜１３で被覆する。この絶縁性薄膜１３により、その被覆部分が帯電して試料と異なる電位となり、所謂チャージアップ現象により絶縁性薄膜１３の部分からの二次イオンの放出が抑止される。 （もっと読む）

【課題】二次イオン検出手段の先端部分の汚染成分となる付着物を効率良く除去し、高精度の二次イオン質量分析を確実に行う。
【解決手段】ガス導入手段２０によりガスを真空チャンバー１０内に導入し、引き出し電極４の近傍を局所的に低真空状態に調節し、この状態で、プラズマ発生機構３０により、引き出し電極４に所定の電圧を印加することでグロー放電によりプラズマ１１を発生させ、引き出し電極４をプラズマ１１に晒して清浄化する。 （もっと読む）

【課題】従来のTOF/TOF装置および方法の利点を生かし、欠点を克服した、新しいTOF/TOF装置および方法を提供する。
【解決手段】らせん軌道型飛行時間型質量分析装置は、らせん軌道の周回ごとに飛行方向およびその垂直な面に対する空間的な収束を満たすと共に、プリカーサイオンを選択するイオンゲートは、前記らせん軌道型飛行時間型質量分析装置のらせん軌道内に置かれ、イオンゲートの後段に扇形電場が配置されている。 （もっと読む）

【課題】糖鎖修飾ペプチドから糖鎖を遊離することなく、糖鎖及びペプチドシーケンス解析を行う。
【解決手段】シアル酸やフコースの脱離が起こりにくい負イオンモードCIDで糖鎖構造解析を行い、正イオンモードECDでペプチドシーケンス解析を行う。 （もっと読む）

複数のアパーチャを備えるバッフルであって、複数のアパーチャのうちの少なくとも１つが先細り部と末広がり部とを備えるバッフルを提供する。例によっては、少なくとも２つの同心の円錐を備えるバッフルが用いられてもよい。他の例では、バッフルは、質量分析計などの分析装置用のオイル拡散ポンプにおいて用いられてもよい。
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【課題】プリカーサイオンの運動エネルギー分布および空間的な拡がりを、共に小さく抑えつつ、プリカーサイオンを減速させるタンデム型質量分析装置を実現する。
【解決手段】第１の質量分析装置１１で生成および抽出されるプリカーサイオンを、第１〜３の電極１２〜１４に対して、これら電極より形成される減速電場の方向と若干の角度を有する斜め方向に入射し、減速電場方向の速度が零となる第２の電極１３および第３の電極１４の中心位置にプリカーサイオンが到達するタイミングで、減速電場と直交する加速電場を印可し、開裂手段１７に入力させることとしているので、プリカーサイオンの運動エネルギー分布を小さなものとし、ひいては開裂手段１７によりプリカーサイオンから形成されるプロダクトイオンの運動エネルギー分布も小さなものとすることを実現させる。 （もっと読む）

【課題】MSⁿ分析によって得られたデータを基に未知物質の構造推定を容易に行うことのできる質量分析データ解析方法を提供する。
【解決手段】未知物質のプリカーサイオンの質量電荷比からその組成式を推定し（Ｓ１２）、該未知物質に類似する既知物質の構造式と所定の構造変化パターンを組み合わせることで該組成式と同様の組成式が得られる構造候補を作成する（Ｓ１４）。該構造候補から発生するフラグメントイオンピークを推定し（Ｓ１５）、それを基に前記構造候補を蓋然性の高い順にランク付けする(Ｓ１６）。次に、未知物質と既知物質のマススペクトルを比較し、両者に共通するフラグメントイオンピークを探索する（Ｓ１９）、共通するピークが存在した場合には該ピークに対応する既知物質の部分構造が未知物質にも含まれているものと推定し、該部分構造情報を基に上記構造候補の絞り込みを行う（Ｓ２１）。 （もっと読む）

【課題】イオン検出システムにおいて、中性子ノイズを抑制することである。
【解決手段】イオン検出システムは、イオンビーム長手方向軸線３．２に沿ってイオンビームを生成する質量分析器３．６を含む。場生成装置３．３は、前記イオンビーム長手方向軸線３．２から離れるようにイオンビーム内のイオンの方向を変更する場を生成する。変換ダイノードは、変換ダイノード表面３．７上にイオン衝突領域３．４を含む。変換ダイノードの軸３．５は、イオン衝突領域３．４を通り、前記変換ダイノード表面３．７と垂直な軸であるが、イオンビーム長手方向軸線３．２と交差しないように前記イオンビーム長手方向軸線３．２からオフセットされる。電子倍増管３．８は、前記変換ダイノード表面３．７に対するイオンの衝突によって生成される二次荷電粒子を前記変換ダイノードから受け取る。 （もっと読む）

【課題】個別質量スペクトロメータについて説明する。
【解決手段】分析器構成要素をモジュール上に作製し、そのモジュールにそのモジュールの識別子を含むことにより、ユーザ又はタスクを１つ又は複数のモジュールに一意に関連付けることができる。モジュールは、ハウジング内で取外し可能な状態で受入れられるので、必要な場合は別のモジュールと交換することができる。 （もっと読む）

イオン流束を計算するためのシステムおよび方法。一実施形態において、質量分析器は、分析期間中に複数のパルスによってサンプルからイオンのビームを発するためのイオン源と、前記イオン源の下流に配置される検出器とを含む。すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックが提供される。さらに、検出器とクロックとに動作可能に結合され、分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置が提供される。制御装置はさらに、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つビンについて、分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成される。
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【課題】解離スペクトルデータにおけるスペクトルピークを分類して、分子の配列決定における効率を改善する。
【解決手段】複数のスペクトルピークを含む解離スペクトルデータにアクセスするステップを含み、親分子が、複数の分子のサブユニットと、各々が複数の分子のサブユニットの第１のものと複数の分子のサブユニットの第２のものとを連結する複数の開裂場所とを含み、複数のスペクトルピークが、それぞれの複数のピーク強度と関連付けられており、複数のスペクトルピークの一部を、複数の頂点として表わすステップと、複数の重み付け縁を複数の頂点に割り当てるステップと、複数の重み付け縁に応じて、信頼重み付け分類を複数の頂点に適用するステップと、それぞれの複数のピーク強度を調整するステップと、それぞれの複数のピーク強度を提示するステップとを含むコンピュータにより制御される方法。 （もっと読む）

【課題】実質的な計器ノイズおよび／またはドリフトの存在下で最適化に要する時間を最小限にするために取るステップを含む、分析機器の操作用パラメータ（例えば、質量分析計のレンズ電圧）の最適化方法を提供する。
【解決手段】最適化方法は、初期設定の計器パラメータセット（ベクトル）と最新の最適パラメータとの間の最良点を選択し、パラメータ空間において、選択された最良点で開始シンプレックスを構築し、シンプレックスを進行させて最適パラメータベクトルを求めることを含む。最良のシンプレックスの点を定期的に再測定し、結果の読み込みを使用して前の測定値を置換および／または平均化する。アルゴリズムの収束速度はシンプレックスの収縮を徐々に減少させて調節してもよい。本発明の方法は、全て整数のパラメータ値を用いて機能し、機器範囲外のパラメータ値を認識し、関連する制御用コンピュータではなく機器自身の制御下で機能する。 （もっと読む）