【課題】質量分析においてイオンを処理するための改善された装置を提供する。
【解決手段】 セグメント化ロッド多重極装置10は、その間に細長い空間を画定する１組の細長いセグメント化ロッド20、22、24、26と、空間が長手方向の軸を有し、各細長いセグメント化ロッド20、22、24、26が複数のセグメント30、31、32、34を有し、細長いセグメント化ロッドにRF電圧を適用して、空間内にRF電界をもたらす回路と、セグメントにDC電圧を適用する回路と、このDC電圧を適用する回路が複数のリード線を有し、各リード線が細長いセグメント化ロッドの個々のセグメント30、31、32、34に接続され、第１のリード線に接続されている第１の個々のセグメントへの電圧が、第２のリード線に接続されている第２の個々のセグメントへの電圧とは別個に制御することができ、細長い空間と連通する反応試薬源82とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 荷電粒子を衝突セルに導入するための装置を提供する。
【解決手段】 本発明の装置は、イオンと荷電粒子とを混合するための装置であって、イオン出口端を有する多重極装置と、イオン出口端に接続されている質量分析器と、質量分析器に接続されている荷電粒子源とを備え、荷電粒子源によって生成される荷電粒子が質量分析器を通って、イオン出口端を介して、多重極装置内に入るように構成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】試料プレートの試料を含む領域を、他の領域から容易に識別できるようにするための有効な手段を提供する。
【解決手段】イオン源（４）は、試料をイオン化するためのレーザと、レーザから間隔をあけて配置され、試料を受け入れるようになっている試料プレート（１２）表面と、試料プレート表面に隣接し、試料プレート表面に照射される光ビーム（８）を、試料プレート表面との間にかすめ角（１４）をなすように発生させる照射装置（６）とを備える。かすめ角１４は、例えば、約０°〜約１５°の範囲とすることが可能であるが、それより大きな角度とされても良い。照射装置としては、ハロゲンまたはＬＥＤ灯を含む種々の光源が用いられ得る。 （もっと読む）

【課題】微量なタンパク質由来のペプチドなどを、ユーザの欲するタンデム質量分析ターゲットとして計測の無駄なく自動的に判定処理する。
【解決手段】測定対象物質をイオン化し、生成した種々のイオン種を質量分析し、生成した種々のイオン種の中から特定の質量対電荷比を持つイオン種を選択して解離させ、イオンの質量分析測定をｎ段階（ｎ＝１，２，…）繰り返すタンデム型の分析システムである。ｎ段階目の質量分析であるＭＳⁿ結果で、イオンの質量対電荷比に対するピークで表されたイオン強度に基づき、ＭＳⁿの次の分析の制御内容を分析対象イオン毎に判定するデータ処理する。イオン化検出部１４は試料から計測されイオン化されたデータを高精度に照合、同位体ピーク判定する。データ処理部１５は、ある一定期間に測定した、例えば親イオンペプチドのＭＳ^１のカウント数をＩとするとき、ペプチドのＭＳ^２の積算回数又は分析時間を１／Ｉに比例させる。 （もっと読む）

【解決手段】ある実施例では、小型化された構造とそれに関連する方法が、マススペクトロメータ又は分析器として機能し、変更が加えられるとイオンジェネレータとして機能する。小型化された構造は、略平板である平行に離間された一対の電極と出射口を有しており、電極には突出する壁があって、これら電極は協同して、イオン生成チャンバーを与える。加えられた磁場に垂直に向いた電場を制御することで、イオンビームは、質量電荷比に基づいて複数のビームに分離されて、装置の出口から出る。装置がマススペクトロメータ又は分析器として機能している場合、イオンコレクタの衝撃が応答して、関連するプロセッサに情報を送る。イオナイザとしての機能を有することが望まれる場合、イオンの出口に隣接して配置されるイオンコレクタは除かれる。
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【課題】 He由来バックグラウンドの主原因であるHe^*を根本的に除去することができるガスクロマトグラフ質量分析装置を提供する。
【解決手段】 MS部３０の真空チャンバ３１内に配設されたイオン化室３２とQMF３６の間にHe^*電離用電子源３８を設け、イオン化室３２から出てきたHe^*に適当なエネルギーを持つ電子を照射することにより電離させてHe⁺に変える。あるいは、イオン化室３２とQMF３６の間に衝突室を設け、ガス供給部によって該衝突室内をN₂ガスで満たしておき、イオン化室３２から出てきたHe^*を衝突室内でN₂と相互作用させて基底状態のHeに変える。 （もっと読む）

【課題】電子増倍管を使用する質量分析器の感度およびダイナミック・レンジを最適化する。
【解決手段】質量分析システムなどのイオン検出器制御電圧を最適化する方法において、質量走査データのアレイを取得する。アレイ、またはアレイの一部内の最大ピークの大きさに基づいて、現在の検出器利得を新しい検出器利得に変更すべきか否かについて決定される。現在の検出器利得を変更すべきならば、後続の質量走査の制御電圧が、新しい検出器利得に対応する新しい制御電圧に調整される。データは、現在の検出器利得に基づいてスケーリングされる。他の方法では、較正のために利得対制御電圧曲線を作成する。これらの方法は、ハードウェア、ソフトウェア、アナログもしくはデジタル回路および／またはコンピュータ読み取り可能媒体または信号保持媒体で実現されうる。 （もっと読む）

【課題】装置の大型化の抑制及び測定時間の短縮化を図りながら、分析対象成分の詳細な構造情報を、取得可能な質量分析装置を実現する。
【解決手段】エンドキャップ電極２とリング電極３と絶縁物４とで３ＤＱ部が形成され絶縁物４にガス導入口８が形成される、ガス導入口８には一本から複数管に分岐されるガス導入路７が接続される。各分岐管はマスフローメータ６を介して衝突ガス発生装置５に接続される。各衝突ガス発生装置５は互いに異なる種類の衝突ガスが封入されマスフローメータ６で混合ガス流量を設定し経路７内で混合した後３ＤＱ内に導入する。ガスは初めキセノンに設定しＭＳ/ＭＳ測定を開始し時間経過と共に分析対象の分子量は小さくなるため導入ガスにヘリウムを混合しガス種比率を勾配させる。単独の衝突セルを使用した一回のＭＳ/ＭＳ法で高分子から低分子量成分まで効率よく開裂し各分子の構造情報を取得できる。 （もっと読む）

非線形伝達関数を有する信号増幅器。入力信号の限られた範囲にわたって非線形関数を有する高速（高帯域）回路が提供される。コンポーネントの適切な選択により、非線形伝達関数は、平方根伝達関数など、任意の単調関数の近似値を正確に求めるために使用され得る。別の側面において、入力信号の拡張されたダイナミックレンジにわたって望ましい非線形伝達関数を正確に生成するために、非線形サブ回路のセットを使用する区分非線形回路配置が提供される。そのような回路の一実装において、サブ回路のそれぞれは、入力範囲の一部にわたって望ましい非線形関数を近似する。
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使用中、イオンが経路に沿って運ばれる第１及び第２の圧力チャンバを有する質量分光計を備えた差動排気質量分光計システム。チャンバ（62,66,68）を差動排気するポンプ組立体（10）は質量分光計に取付けられる。ポンプ組立体は、質量分光計に取付けられたハウジング（12）と、ハウジングに挿入されたカートリッジ（14）を有する。カートリッジは、それぞれの圧力チャンバ（62,66,68）から流体を各々受け入れる複数の流入口（16,18,20）と、チャンバから流体を差動排気する排気機構（30,32,34）を有する。カートリッジは、排気機構（10）がイオン経路（76）に対して傾けられるように、しかし少なくとも１つの流入口（16,18）がイオン経路を横切ることなく、少なくとも部分的にそれぞれの圧力チャンバ（62,66）内に突入する程度まで質量分光計内に突入してハウジングに挿入される。 （もっと読む）

時間的に指標が付けられたスペクトル走査によって分光計から生成されたデータからスペクトルを抽出するシステム及び方法が提供される。該方法は、分光計からデータ・マトリクスを受け取る操作を含む（３０２）。次いで、ノイズがデータ・マトリクスから除去される（３０４）。更なる操作は、情報内容に基づいてデータ・マトリクスにおいて所定のスペクトルを識別することである（３０６）。更に、データ・マトリクスから所定のスペクトルを抽出するために、デニゼン変換に基づいて、所定のスペクトルに基づき、データ・マトリクスに還元変換が適用される（３０８）。
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本発明は、電子移動解離の使用による質量分析計における新規のイオン断片化方法ならびに質量分析によるペプチドおよびタンパク質の配列分析方法に関する。ペプチドの場合、本発明により、ペプチド骨格に沿った断片化が促進され、ＲＦ場デバイスの使用によってサンプル（修飾アミノ酸残基が含まれる）のアミノ酸配列を予想することが可能になる。
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本発明は、リボン型イオンビーム内の多数の種から所望のイオン種を選択する一対の永久磁石を構成する質量分析器を使用する。永久磁石は、所望の方向に特定の力を加える電磁石で達成できない小さい領域に適切な大きさのほぼ均一な磁界を与える。この力は、リボン型イオンビームの通過粒子に印加され、この粒子の経路をそれぞれの質量に応じて変化させる。その結果、拒絶された種および／または汚染物質が質量分析器を通過できないように（例えば、分析器にある磁石および／または他の障壁に衝突して）する力によってビームから選択されたイオン種が得られる。質量分析器により、多数の種を発生させるドーパント／種のイオン源が単一のドーパント／種を供給するイオン源の代わりに用いることができる。
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減圧チャンバー内のイオンのような陽性粒子および陰性粒子両方を測定するために適切な質量分析計。この質量分析計は、この陽性粒子および陰性粒子を分離するために適切な方向を有する適切な磁束をもつ継鉄のギャップを提供する整調可能な常磁性セグメントを備える。極性を変えることは、これらイオンの飛行を調節する。従って、負に荷電したイオンおよび正に荷電したイオンは、反対の極性の下で類似の飛行経路に従い、単一アレイの検出器の使用を可能にする。上記ギャップに適切な磁束を提供するために、上記整調可能な常磁性セグメントに代えて、またはそれに加えて、１つ以上のコイルが用いられ得、そして／またはこの整調可能な磁性セグメントの整調プロセスを容易にする。検出器は、検出器領域、２荷電モード増幅器、第１および第２のＣＣＤシフトレジスターを備え得る。
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漏れレート測定装置は、各々のガスのイオン経路（２１）が少なくとも１つの可変の作用量によって影響を及ぼされるイオントレース（飛跡）型スペクトロメータ（Ｂａｈｎ−Ｓｐｅｋｔｒｏｍｅｔｅｒ）（８）を有している。質量Ｍ４のガスが検出される必要があるが、スペクトロメータの選択度が十分にないために、質量Ｍ２又はＭ３のガスの特性の末端部が、質量Ｍ４のガスの検出期間に重畳している場合、作用量を正弦波状に変調し、それに続いて、有効信号をロックイン増幅器で選択することが提案されている。従って、「ウォータベース」（”Ｗａｓｓｅｒｕｎｔｅｒｇｒｕｎｄ”）、つまり、測定結果に及ぼす水分の影響の妨害となる作用を、テストガスとしてヘリウムを用いて漏れレートを測定する際に除去することができる。
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