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Fターム[5C038JJ02]の内容

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Fターム[5C038JJ02]に分類される特許

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【課題】目的成分に対する最適なプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択することができるMS/MS型質量分析装置及び同装置用プログラムを提供する。
【解決手段】プリカーサイオンを選別する第1質量分離部3と、イオン開裂部4と、プロダクトイオンを選別する第2質量分離部6と、検出器7とを有するMS/MS型質量分析装置であって、目的成分のMS分析を行うMS分析実行部110と、MS分析の結果に基づき1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部120と、全プリカーサイオン候補のMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部130と、MS/MS分析結果に基づき目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部140を備える。 (もっと読む)


【課題】試料イオン化装置(イオン源)からの試料導入の際、イオン化が不充分であった試料が導入部細孔以外の部位に滞留し、熱などのエネルギーにより、酸化物ないし炭化物などの生成物として堆積する。その堆積する生成物は質量分析装置の性能劣化の原因となる。
【解決手段】本発明は、試料供給源と、試料供給源から供給される試料をイオン化する試料イオン化部と、イオン化された試料イオンが導入される試料導入抑制室と、試料導入抑制室の下流になる差動排気室と、差動排気室の下流側になる分析部を有する質量分析装置において、試料導入抑制室、前記差動排気室の少なくとも一方の内部で放電を生成する放電生成手段を有する。そして、放電生成手段は、試料導入抑制室で対向するように設けた対向する試料導入部電極と第一細孔部用部材(電極)、ないし前記差動排気室で対向するように設けた第一細孔部用部材(電極)と第二細孔部用部材(電極)を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】各段の四重極の間の空間のイオンの通過効率を向上させることにより分析感度の改善を図る。
【解決手段】第1段四重極15を出射したイオンが効率良く第2段四重極17に入射するように、第1段四重極15の出射端面におけるイオンのエミッタンス特性と第2段四重極17の入射端面におけるイオンのアクセプタンス特性とを一致させる。この一致は、四重極15、17に印加する高周波電圧の周波数を同一にし、位相差を質量電荷比に応じた適宜の関係に設定することで実現させる。 (もっと読む)


【課題】イオンの利用効率を高めたタンデム型飛行時間型質量分析計を提供する。
【解決手段】イオン蓄積手段2より吐き出されたイオン群をパルス的に加速する垂直加速部および加速されたイオンを分離する第1飛行時間型イオン光学系3と、所定のプリカーサイオンのみを選択的に通過させるイオンゲート4とイオンゲートを開閉する制御手段、プリカーサイオンの開裂手段および生成したプロダクトイオンを質量分析する第2飛行時間型イオン光学系6を備え、イオン蓄積手段より吐き出されたプリカーサイオンが第1飛行時間イオン光学系への通過率が最良となる位置に到達する到達時間に合わせて、プリカーサイオンをパルス的に加速する様にした。 (もっと読む)


【課題】CIDガスの供給に問題が生じていることや加熱キャピラリの目詰まりなどの装置不具合を事前に検知して分析者に知らせる。
【解決手段】中間真空室4内及びコリジョンセル12が配設された分析室10内にそれぞれ真空計31、32を設置し、ガス圧判定部34は分析に先立って真空計31、32で検出したガス圧がそれぞれ閾値以下であるか否かを判定し、閾値以下である場合に警告を出す。コリジョンセル12内へのCIDガスの供給が滞ると分析室10内に流出するCIDガス量が減るため、分析室10内の真空度が高くなり過ぎる。一方、加熱キャピラリ3が目詰まりすると大気圧雰囲気であるイオン化室1から中間真空室4内へ流れ込むガス量が減るため、中間真空室4内の真空度が高くなり過ぎる。従って、いずれもガス圧が低過ぎることを検知することで、不具合を認識することが可能である。 (もっと読む)


【課題】タンデム四重極型質量分析装置でスキャン測定によるMS分析を実行する際に、マススペクトルのm/z軸ズレや分解能低下を軽減する。
【解決手段】MS分析時に、質量走査を行うように前段四重極3を駆動するとともに、イオンガイド5にはイオンを加速させる直流バイアス電圧を印加することで、前段四重極3で選択されたイオンをCIDガスに衝突させプロダクトイオンを生成する。後段四重極6には前段四重極3に印加されるRF電圧よりも小さなRF電圧を印加してイオンガイドモードで動作させるとともに、イオンを加速するような直流バイアス電圧を印加する。これにより、低m/zのプロダクトイオンも遮断されずに短時間で後段四重極6を通過して検出器7に到達する。或る時点で前段四重極3を通過したイオン由来のプロダクトイオンはほぼ同時に検出器7に入射するから、この検出信号に基づきマススペクトルを作成することができる。 (もっと読む)


【課題】0.1Torr未満の圧力で、サンプルおよび試薬ガスをイオン源へと流すことにより、化学イオン化によってサンプルをイオン化する。
【解決手段】イオン源を0.1Torr未満の圧力に維持しながら、電子イオン化により、試薬ガスをイオン源内でイオン化して、試薬イオンを生成する。0.1Torr未満の圧力で、サンプルを試薬イオンと反応させて、サンプルの生成イオンを生成する。質量分析のために、生成イオンをイオントラップへと移送する。 (もっと読む)


【課題】ユーザビリティーに優れたアルカリ金属導入装置を提供する。
【解決手段】アルカリ金属導入装置1は、アルカリ金属ガスを使用する実験に供されるものであり、破砕専用チャンバー10および真空チャンバー20と、破砕専用チャンバー10および真空チャンバー20の内部を真空引きする真空ポンプ60a・60bと、破砕専用チャンバー10の内部において、アンプル16に封入されたアルカリ金属を、そのアンプル16を変形させて外部に露出させるアンプル破砕部18と、真空チャンバー20の内部に配設され、アンプル16の導入が可能なコリジョンセル40と、アンプル16に封入されたアルカリ金属が、変形されたアンプル16の外部に露出する露出位置と、アンプル16がコリジョンセル40に導入される導入位置との間でアンプル16を移動させるアンプル導入部12と、を備える。それゆえ、ユーザビリティーに優れたアルカリ金属導入装置を提供することができる。 (もっと読む)


運動エネルギー識別(KED)およびダイナミックリアクションセル(DRC)の両方で操作するように構成可能な質量分析計システムを提供する。質量分析計に含まれる加圧セルまたは衝突セルは四重極を含み、不活性ガスおよび反応性ガスの両方の源に結合される。KEDモードで操作するために、衝突セルがある量の不活性ガスで充填され、エネルギー障壁が衝突セルと下流質量分析器との間に形成され得る。代わりにDRCモードで操作するために、衝突セルは、干渉イオンのみと反応性であるある量のガスで充填され得る。次いで、生成物イオンの質量フィルタリングは、比例的に多くの分析物イオンを下流質量分析器に送ることができる。モード制御器は、2つの操作モードを協調させる。 (もっと読む)


【課題】広い質量電荷比に渡るイオンに対して高感度化とハイスループット化を実現する飛行時間型質量分析装置を提供すること。
【解決手段】イオン輸送部10は、イオン源50で生成されたイオンの少なくとも一部を蓄積し、蓄積したイオンを光軸140(z軸)の方向に排出する衝突室(イオン蓄積部)54と、衝突室(イオン蓄積部)54から排出されたイオンが通過する時の電位が一定である定常電位領域56と、定常電位領域56を通過したイオンが入射する時の定常電位領域56との電位差がイオンの質量電荷比が大きいほど大きくなるように電位が時間的に変化する変動電位領域57と、を含む。飛行時間型質量分析部60は、イオン輸送部10を介して輸送されたイオンを所定の加速タイミングで光軸141(x軸)の方向に加速して検出器160に導く。 (もっと読む)


携帯用質量分析のための方法および装置を開示する。装置は、少なくとも1つのイオン化被分析物源と、少なくとも1つの周波数走査サブシステムと、少なくとも1つの検出器と、随意で、少なくとも1つの真空ポンプとを備え、携帯用である。いくつかの実施形態では、装置は、複数のイオン化被分析物源を備え、および/または少なくとも10のm/z比を伴う被分析物、あるいは少なくとも10Daの分子量を伴う被分析物等の大型被分析物の質量スペクトル、ならびに小分子被分析物の質量スペクトルを取得するように構成されている。いくつかの実施形態では、方法は、上記で説明される携帯用装置を用いて質量スペクトルを取得するステップを含む。
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高エネルギー、中エネルギー、低エネルギーの生成物イオンの混合物を含む生成物イオンスペクトルをもつフラグメントイオンを得る方法。この方法は、(a)イオン封込場の上流にあるイオン光学素子に、選択したRF場を提供することと;(b)選択したRF場が、イオン封込場内にあるイオンの選択した運動エネルギープロファイルを少なくとも部分的に決定するように、このイオン光学素子を通ってイオン封込場へとイオンを移動させ、この選択した運動エネルギープロファイルが、イオンをフラグメント化するとともに複数の生成物イオン群を与えるように選択されることと;(c)この複数の生成物イオン群のそれぞれの生成物イオン群を検出することとを含む。
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複数の標的イオン特性および電荷減少量が受信される。複数の標的イオン特性のそれぞれの特性に対応する試料のイオン化分子の一部が、第1の位置から第2の位置に伝送され、複数の選択されたイオン化分子を産生する。試薬イオンが、選択されたイオン化分子の荷電状態を減少させるために、第2の位置に伝送される。選択されたイオン化分子の荷電状態減少は、荷電状態減少量で停止され、第2の位置に複数のパーキングした標的イオンを産生する。標的イオン特性は、移動度または質量電荷比を含むことができる。検体定量情報は、複数の標準物質について標的イオンパーキングを行い、キャリブレーション関数を生み出し、試料について標的イオンパーキングを行い、試料中の検体の濃度を決定するためにキャリブレーション関数を用いることにより得ることができる。
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イオンをフィルタリングするための方法および質量分析計が提供される。質量分析計は、概して、イオンガイドと、四重極質量フィルタと、衝突セルと、飛行時間(ToF)検出器とを備え、かつイオンビームをToF検出器に透過することが可能である。質量分析計は、イオンビームの中のイオンが実質的に断片化されないままであり、四重極質量フィルタが、イオンガイドおよび記衝突セルのうちのいずれかの中の圧力よりもかなり低い圧力で動作するように、MSモードで動作する。四重極質量フィルタは、関心のある範囲外のイオンをイオンビームからフィルタリングして、イオンビームの中の関心のある範囲内のイオンを残すように、帯域通過モードで動作する。関心のある範囲内のイオンは、ToF検出器で分析される。
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イオンの移動度に基づいて大気圧で作動する前置フィルターと、イオン流をイオン検出器の中へと配向させるイオン集束アセンブリ、例えば、質量分析計(MS)とを備える、イオンを分析するための方法および装置。移動度に基づくフィルターは、円筒状電場非対称波形イオン移動度分析計(FAIMS)、平面または吸引示差移動度分析計(DMS)、またはイオン移動度分析計(IMS)であり得る。イオン集束アセンブリは、イオンが通って流れる開口部を有する2つのグリッドと、2つのDC電源と、グリッド間に電場を生成するための時変電源とを備える。
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本発明は、微分型イオン移動度分析及び質量分析を実行するイオン分析装置に関する。実施形態において、装置は、微分型イオン移動度デバイスを質量分析器の真空空間内の、質量分析器よりも前段に備える。また、装置の排気システムは微分型イオン移動度デバイスを0.005kPaから40kPaの圧力で操作するように構成される。さらに装置は、50kHzから25MHzの周波数帯域の周波数を与えるデジタル非対称波形生成器を含む。実施例は優れた分解能とイオン通過を示す。イオン移動度デバイスは多重極、例えば十二重極とすることができ、径方向のイオン収束は双極子場に加えて四重極電場をデバイスに与えることにより達成できる。
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タンデム質量分析計において、複数の前駆体イオンを処理する方法は、イオン源によって、複数の前駆体イオンを発生させるステップを含む。複数の前駆体イオンのうちの少なくとも一部は、イオントラップ内に捕捉される。少なくとも2つの着目前駆体イオンが、濾波雑音場によって、複数の前駆体イオンから隔離される。着目前駆体イオンは、衝突セルに向かって連続的に放出される。連続的に放出された着目前駆体イオンは、衝突セル内で分裂される。次いで、分裂されたイオンの質量対電荷比スペクトルが、質量分析計によって決定される。
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試料分析システムは、試料分析システムから残留イオンを除去するためのイオン除去機構を組み込む。イオン除去機構は、イオン移動度フィルタを質量分析器計に接続する、イオン光学アセンブリの中に含むことができる。試料分析システムによって分析される試料は、イオン移動度フィルタの中へ進入させられ得る。イオン移動度フィルタは、試料のイオンを濾過して、濾過したイオン群をイオン光学アセンブリに通す。イオン光学アセンブリは、イオン群の中のイオンのうちのいくつかまたは全てが検出される質量分析器に、濾過したイオン群を輸送する。イオン除去機構は、次いで、第2の濾過した群を通過させる前に、第1の濾過した群から残った全てまたは実質的に全ての残留イオンをイオン光学系から除去する。
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【課題】
【解決手段】開示される質量分析計は、イオントラップ(14)と、フラグメンテーション装置(15)と、を備える。イオントラップ(14)内でイオンがフラグメント化されて、第1世代フラグメントイオンが形成される。イオントラップ(14)は、比較的高質量のカットオフを有する。第1世代フラグメントイオンを、比較的低い低質量カットオフを有するフラグメンテーション装置(15)に送る。第1世代フラグメントイオンは、フラグメンテーション装置(15)内でフラグメント化され、必要に応じてイオン蓄積領域(18)内に貯蔵された後に、質量分析を行なうために質量分析器(16)に送られる。 (もっと読む)


【解決手段】開示される質量分析計において、イオントラップ型質量分析器(20)の上流側にイオンビーム減衰器(23)が配置される。上流側のイオン減衰部(21)と下流側のイオン蓄積部(22)とを備えるイオントンネル型イオントラップは、イオンビーム減衰器(23)の上流側に配置される。イオントンネル型イオントラップからイオンが放出され、イオントラップ型質量分析器(20)に送られたイオンビームの強度をイオンビーム減衰器(23)により制御する。イオントラップ型質量分析器(20)にイオンを入射可能な充填時間は、ほぼ一定に保たれ、イオンビームの強度とは実質的に独立である。 (もっと読む)


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